CN202404026U - 多波段勘验采集仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种用于痕迹提取的光学装置。其目的是为了提供一种结构简单、成本低、操作简便的多波段勘验采集仪,能够在明视场的环境下快速高质量的采集痕迹。实用新型多波段勘验采集仪,包括多波段光源和暗室仓组件,暗室仓组件包括暗室、滤色镜和反光元件,滤色镜固定安装在暗室内,暗室的右侧开设有安装孔,多波段光源固定安装在暗室的右侧外部,暗室的下底面开设有采集口,反光元件固定安装在暗室内,能够改变多波段光源的发射光线方向,使发射光线穿过采集口后照射到目标物上。本实用新型通过设置暗室,使该装置在明视场环境下,能够阻挡外部光线对多波段光源激发痕迹荧光产生的干扰,实现快速及高质量的采集痕迹。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种利用光学手段进行检测的装置,特别是涉及一种用于痕迹提取的光学装置。
背景技术
目前,在刑事案件现场勘查中,对痕迹提取较为优选的方法为激发荧光提取法,常采用紫外灯、多波段光源或激光激发荧光,紫外灯及多波段光源须在暗室操作,激光法装置结构复杂,不便于现场操作。中国专利CN2348380公开了一种指纹检测仪,主要由手持灯和截止波滤光片双目观察镜组成,其中手持灯由光源及宽带干涉滤光片构成,使用时利用手持灯激发指纹表面附着的荧光物质发出荧光,再通过特定波长的截止波滤光片消除背景光,以实现检测。但是,该装置在现场明视场环境下采集荧光时,外部环境的会对荧光痕迹产生干扰,甚至出现荧光湮没,即便使用了截止波滤光片,所采集到的痕迹的质量也不高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单、成本低、操作简便的多波段勘验采集仪,能够在明视场的环境下高质量的采集痕迹。
本实用新型一种多波段勘验采集仪,包括多波段光源和暗室仓组件,暗室仓组件包括暗室、滤色镜和反光元件,暗室的上顶面设置有孔,滤色镜固定安装在暗室内,暗室的右侧开设有安装孔,多波段光源固定安装在暗室的右侧外部,且多波段光源的出光镜头安装在安装孔内,暗室的下底面开设有采集口,反光元件固定安装在暗室内,反光元件能够改变多波段光源的发射光线的方向,使发射光线穿过采集口后均匀照射到目标物上。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述反光元件为灯罩形反光罩,反光罩的大口端固定安装在固定安装在暗室的下底面上,反光罩的小口端与滤色镜相连接,采集口位于滤色镜的正下方,反光罩的右侧开设有镜头孔,多波段光源的出光镜头位于镜头孔内。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述反光元件包括圆台形反光罩,反光罩的上下端面均敞口,反光罩的大端固定安装在暗室的下底面上,反光罩的小端位于滤色镜的正下方,反光罩的内表面为粗糙面,反光罩的右侧开设有镜头孔,多波段光源的出光镜头位于镜头孔内。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述反光元件还包括凸面反光镜,反光罩的左侧开设有反光孔,凸面反光镜固定安装在暗室的左侧,凸面反光镜的上端从左向右倾斜,凸面反光镜正对反光孔。通过设置凸面反光镜,使光线经凸面反光镜发散后,能够使照射到痕迹表面的光线更加均匀。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述反光元件为半反射半透射平面镜,半反射半透射平面镜的上端从左向右倾斜,半反射半透射平面镜位于采集口的正上方。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述暗室的底面固定安装有暗室底盖,采集口开设在暗室底盖上。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述暗室仓组件还包括固定筒,固定筒固定安装在暗室的孔上,滤色镜固定安装在固定筒内。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述固定筒的上端固定安装有数码相机,数码相机的镜头位于固定筒内。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述暗室仓组件还包括放大镜,放大镜固定安装在固定筒内。
本实用新型多波段勘验采集仪,其中所述多波段光源与暗室的连接方式为磁力连接、卡扣连接或螺栓连接。
本实用新型多波段勘验采集仪与现有技术不同之处在于本实用新型通过设置暗室,使该装置在明视场环境下,能够阻挡外部光线对多波段光源激发的痕迹荧光的干扰,实现高质量的采集痕迹,解决在野外等明亮环境下荧光痕迹提取的难题。
下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
附图说明
图1为本实用新型多波段勘验采集仪的主视剖视图(实施例1);
图2为本实用新型多波段勘验采集仪的左视图(实施例1);
图3为本实用新型多波段勘验采集仪的俯视图(实施例1);
图4为本实用新型多波段勘验采集仪的分解图(实施例1);
图5为本实用新型多波段勘验采集仪的暗室仓组件和数码相机的立体图;
图6为本实用新型多波段勘验采集仪的多波段光源的立体图;
图7为本实用新型多波段勘验采集仪的主视剖视图(实施例2);
图8为本实用新型多波段勘验采集仪的主视剖视图(实施例3)。
具体实施方式
实施例1:
如图1、图2、图3、图4所示,本实用新型多波段勘验采集仪包括多波段光源1、暗室仓组件2和数码相机16,其中暗室仓组件2包括暗室3、暗室底盖14、固定筒15、滤色镜4、放大镜17、反光元件和转接筒19。本实施例中反光元件使用上下贯通的灯罩形反光罩9,反光罩9的内表面为粗糙的反光面。
暗室3呈长方体状,暗室3的下底面敞口,暗室3的上顶面设置有孔5,孔5为螺纹孔,圆管状固定筒15通过螺纹固定安装在暗室3的孔5上,固定筒15的上端位于暗室3外部,固定筒15的下端位于暗室3内部。滤色镜4固定安装在滤色镜座21内,滤色镜4通过滤色镜座21螺接在固定筒15的下端,放大镜17固定安装在放大镜座20内,放大镜17通过放大镜座20螺接在固定筒15内,本实施例中放大镜17位于滤色镜4上方,实际使用中,放大镜17也可以设置在滤色镜4的下方。固定筒15的上端与转接筒19的下端通过螺纹连接,数码相机16通过转接筒19固定在暗室3上,数码相机16的相机镜头18位于固定筒15内,且相机镜头18与固定筒15同轴。
暗室底盖14用螺钉固定安装在暗室3上,使暗室3的下底面闭合,在暗室底盖14上开设有采集口8,反光罩9的大口端固定安装在暗室底盖14上,反光罩9的小口端与滤色镜座21的下端相连接。
在暗室3的右侧开设有安装孔6,在反光罩9的右侧,与安装孔6相对的位置开设有镜头孔10。结合图5、图6所示,在暗室3的右端面外侧上设置有磁铁22,在多波段光源1的左端面上也设置有磁铁23,多波段光源1通过磁铁23与暗室3的磁铁22吸合,多波段光源1和暗室3接合面设置有定位孔和定位销,多波段光源1的出光镜头7位于安装孔6和镜头孔10内,且出光镜头7与安装孔6和镜头孔10均同轴。
本实施例中多波段光源1与暗室3的连接方式为磁力连接,其连接方式还可是卡扣连接或螺栓连接。本实施例中的放大镜17可以根据实际需要选择不同的放大倍数,也可以不设置放大镜17。若在提取痕迹中,不需要数码照相,本装置可以不安装转接筒19和数码相机16,使用时,直接通过固定筒15观察痕迹。
本实施例中该装置的工作原理是:多波段光源1的出光镜头7射出的光线射入暗室3内的反光罩9上,在反光罩9内,入射的光线形成漫反射,光线穿过采集口8后照射到底部的痕迹面上,痕迹面反射的荧光光线依次穿过采集口8、反光罩9的小端的开口、滤色镜4、放大镜17后,进入数码相机16的相机镜头18或者人的视野,从而获取痕迹数码图像,或不使用数码相机,直接进行观察。
实施例2:
如图7所示,本实用新型多波段勘验采集仪包括多波段光源、暗室仓组件2和数码相机16,其中暗室仓组件2包括暗室3、暗室底盖14、固定筒15、滤色镜4、放大镜17、反光元件和转接筒19。其中反光元件包括上下贯通的圆台形反光罩9和凸面反光镜12,反光罩9的内表面为粗糙的反光面。
暗室3呈长方体状,由多块面板通过螺钉固定,组合而成的中空腔体,暗室3的下底面敞口,暗室3的上顶面设置有螺纹圆孔5,圆管状固定筒15通过螺纹固定安装在暗室3的孔5上,固定筒15的上端位于暗室3外部,固定筒15的下端位于暗室3内部。滤色镜4固定安装在滤色镜座21内,滤色镜4通过滤色镜座21螺接在固定筒15的上端,放大镜17固定安装在放大镜座20内,放大镜17通过放大镜座20螺接在固定筒15内,放大镜17位于滤色镜4下方,实际使用中,放大镜17也可以设置在滤色镜4的上方。固定筒15的上端与转接筒19的下端通过螺纹连接,数码相机16通过紧固螺钉24和相机底孔螺钉25,固定连接在L形相机固定座26的竖面上,相机固定座26的横面上开设有通孔27,相机固定座26的横面的下表面上固定安装有螺环28,其中相机固定座26横面上的通孔27位于螺环28正上方,螺环28的上端焊接或用螺钉固定在相机固定座26上,螺环28的下端通过螺纹固定安装在转接筒19的上端,数码相机16的相机镜头18穿过通孔27后,位于转接筒19内,且相机镜头18与转接筒19同轴。
暗室底盖14用螺钉固定安装在暗室3上,使暗室3的下底面闭合,在暗室底盖14上开设有采集口8,反光罩9的大端固定安装在暗室底盖14上,反光罩9的小端与固定筒15的下端相连接。
在暗室3的右侧开设有安装孔6,在反光罩9的右侧,与安装孔6相对的暗室3的侧面上开设有镜头孔10,反光罩9的左侧开设有反光孔11,凸面反光镜12用螺钉和固定架29固定安装在暗室3的左侧,凸面反光镜12的上端从左向右倾斜,凸面反光镜12正对着反光孔11。
本实施例中多波段光源与暗室3的连接方式采用实施例1的磁力连接方式,连接方式还可是卡扣连接或螺栓连接,多波段光源的出光镜头位于安装孔6和镜头孔10内,且出光镜头与安装孔6和镜头孔10均同轴。
本实施例中该装置的工作原理是:多波段光源的出光镜头射出的光线射入反光罩9后,投射到凸面反光镜12上,凸面反光镜12向下有一定的倾角,对光线进一步发散后反射光经采集口8投射到需要采集的痕迹部位,同时暗室3内设置的反光罩9让暗室3内的光进一步匀化。痕迹图像激发的荧光光线依次穿过采集口8、反光罩9的小端的开口、放大镜17、滤色镜4后,进入数码相机16的相机镜头18,从而获取痕迹数码图像。
本实施例也可以只使用凸面反光镜12或反光罩9,多波段光源的出光镜头射出的光线经凸面反光镜12或反光罩9形成漫反射,均匀照射到需要采集的痕迹部位,激发荧光,从而达到获取痕迹的目的。
实施例3:
如图8所示,本实施例与实施例1的不同之处在于,本实施例的反光元件为半反射半透射平面镜13,在暗室3内由上至下设置有上端固定衬套30和下端固定衬套31,半反射半透射平面镜13被夹持于上端固定衬套30和下端固定衬套31之间,半反射半透射平面镜13与竖直面及水平面的夹角均为45度,上端固定衬套30的下端面、下端固定衬套31的上端面均与半反射半透射平面镜13的表面平行,半反射半透射平面镜13位于采集口8的正上方,下端固定衬套31的右侧开设有镜头孔10,上端固定衬套30通过暗室上端的台阶固定,下端固定衬套31通过螺接在暗室3下端的螺环32固定。
本实施例中该装置的工作原理是:多波段光源的出光镜头射出的光线进入暗室3的安装孔6和下端固定衬套31的镜头孔10后,投射到半反射半透射平面镜13上,其中部分光线经过半反射半透射平面镜13后,经90°反射向下照射到底部的痕迹图像上,痕迹反射的光线向上穿过半反射半透射平面镜13继续经过放大镜、滤色镜后进入数码相机或视野,以获取痕迹数码图像或目视观察。
以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述,并非对本实用新型的范围进行限定,在不脱离本实用新型设计精神的前提下,本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进,均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。
Claims (10)
1.一种多波段勘验采集仪,其特征在于:包括多波段光源(1)和暗室仓组件(2),所述暗室仓组件(2)包括暗室(3)、滤色镜(4)和反光元件,所述暗室(3)的上顶面设置有孔(5),所述滤色镜(4)固定安装在暗室(3)内,所述暗室(3)的右侧开设有安装孔(6),所述多波段光源(1)固定安装在暗室(3)的右侧外部,且多波段光源(1)的出光镜头(7)安装在所述安装孔(6)内,所述暗室(3)的下底面开设有采集口(8),所述反光元件固定安装在暗室(3)内,所述反光元件能够改变多波段光源的发射光线的方向,使发射光线穿过所述采集口(8)后均匀照射到目标物上。
2.根据权利要求1所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述反光元件为灯罩形反光罩(9),所述反光罩(9)的大口端固定安装在暗室(3)的下底面上,所述反光罩(9)的小口端与滤色镜(4)相连接,所述采集口(8)位于滤色镜(4)的正下方,所述反光罩(9)的右侧开设有镜头孔(10),所述多波段光源(1)的出光镜头(7)位于镜头孔(10)内。
3.根据权利要求1所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述反光元件包括圆台形反光罩(9),所述反光罩(9)的上下端面均敞口,所述反光罩(9)的大端固定安装在暗室(3)的下底面上,所述反光罩(9)的小端位于所述滤色镜(4)的正下方,所述反光罩(9)的内表面为粗糙面,所述反光罩(9)的右侧开设有镜头孔(10),所述多波段光源(1)的出光镜头(7)位于镜头孔(10)内。
4.根据权利要求3所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述反光元件还包括凸面反光镜(12),所述反光罩(9)的左侧开设有反光孔(11),所述凸面反光镜(12)固定安装在暗室(3)的左侧,所述凸面反光镜(12)的上端从左向右倾斜,所述凸面反光镜(12)正对所述反光孔(11)。
5.根据权利要求1所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述反光元件为半反射半透射平面镜(13),所述半反射半透射平面镜(13)的上端从左向右倾斜,与水平面45°夹角,所述半反射半透射平面镜(13)位于采集口(8)的正上方。
6.根据权利要求1至5任一项所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述暗室(3)的底面固定安装有暗室底盖(14),所述采集口(8)开设在暗室底盖(14)上。
7.根据权利要求6所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述暗室仓组件(2)还包括固定筒(15),所述固定筒(15)固定安装在暗室(3)的孔(5)上,所述滤色镜(4)固定安装在固定筒(15)内。
8.根据权利要求7所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述固定筒(15)的上端固定安装有数码相机(16),所述数码相机(16)的镜头(18)位于固定筒(15)内。
9.根据权利要求8所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述暗室仓组件(2)还包括放大镜(17),所述放大镜(17)固定安装在固定筒(15)内。
10.根据权利要求9所述的多波段勘验采集仪,其特征在于:所述多波段光源(1)与所述暗室(3)的连接方式为磁力连接、卡扣连接或螺栓连接。
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