CN202361949U - 改良的测量投影仪结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种改良的测量投影仪结构，包括有投影仪和寻边器，该投影仪包括有投影屏和用于将被测物投影至该投影屏上的反光镜组，该反光镜组包括有若干块反光镜，其中，该反光镜组的最后一块反光镜位于投影屏后面；以及，该寻边器包括有探测头，该探测头对应安装于前述最后一块反光镜处；藉此，一方面，通过将寻边器的探测头安装于投影屏的后面，其有效解决现有之探测头旋转不方便、外露影响美观及挡住视线等问题；另一方面，前述探测头不需感测投影屏上的光信号，光信号可部分透过前述非全反射镜片直接进入探测头内，有效提高了测量精度。

Description

改良的测量投影仪结构

技术领域

本实用新型涉及光学测量设备领域技术，尤其是指一种改良的测量投影仪结构。 

背景技术

随着科学技术的不断进步以及工业化生产的飞速发展，人们能制造出更精密、更细小的产品，对这些精密细小的物品进行检测，要求也越来越高，一般采用专业的投影仪进行测量。 

现有之投影仪大多包括有投影仪和寻边器，该寻边器的探测头41’安装于投影仪的投影屏32前面以感测投影屏32上的光信号。在实际使用过程中会发现，该种结构的投影仪存在如下缺陷：一、需要旋转探测头41’，其旋转定位过程较麻烦，给操作人员带来了不便；二、前述探测头41’系外露于投影屏32前面，挡住了人们察看投影屏32的视线，同时，也影响美观。 

藉此，需要研究出一种新的技术方案来解决上述问题。 

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种改良的测量投影仪结构，其能有效解决现有之探测头旋转不方便、外露影响美观及挡住视线等问题。 

本实用新型的另一目的是提供一种改良的测量投影仪结构，其能有效提高测量精度。 

为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案： 

一种改良的测量投影仪结构，包括有投影仪和寻边器，该投影仪包括有投影屏和用于将被测物投影至该投影屏上的反光镜组，该反光镜组包括有若干块反光镜，其中，该反光镜组的最后一块反光镜位于投影屏后面；该寻边器包括有探测头，该探测头对应安装于前述最后一块反光镜处。

作为一种优选方案，所述最后一块反光镜上开设有一通孔，该通孔内嵌置有非全反射镜片，前述探测头对应安装于该非全反射镜片后面。 

作为一种优选方案，所述最后一块反光镜上至少有一非全反射区域，前述探测头安装于该非全反射区域后面。 

作为一种优选方案，进一步包括有寻边器主机，前述寻边器的探测头连接于该寻边器主机上。 

作为一种优选方案，包括有基座和设置于该基座上的工作平台，前述投影屏和反光镜组均位于工作平台的上方。 

本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知： 

一、通过将寻边器的探测头安装于投影屏的后面，其有效解决现有之探测头旋转不方便、外露影响美观及挡住视线等问题；

二、通过于反光镜组的最后一块反光镜上开设有一通孔，并于该通孔内嵌置有非全反射镜片，将前述探测头安装于该非全反射镜片后面，藉此，探测头不需感测投影屏上的光信号，光信号可部分透过前述非全反射镜片直接进入探测头内，有效提高了测量精度。

为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。 

附图说明

图1是现有技术中较具代表性的测量投影仪的立体结构示意图； 

图2是本实用新型之第一较佳实施例的立体结构示意图；

图3是本实用新型之第一较佳实施例中探测头安装结构示意图；

图4是本实用新型之第二较佳实施例中探测头安装结构示意图。

附图标识说明： 

10、基座                       20、工作平台

31、外壳                       32、投影屏

41、探测头                     41’、探测头    

42、寻边器主机                 50、最后一块反光镜

51、通孔                       60、非全反射镜片

70、非全反射区域。

具体实施方式

请参照图1至图3所示，其显示出了本实用新型之第一较佳实施例的具体结构，包括有基座10、工作平台20、投影仪及寻边器。 

该投影仪包括有投影屏32和用于将被测物投影至该投影屏32上的反光镜组，该投影屏32和反光镜组均位于前述工作平台20的上方，该投影屏32外罩于投影仪外壳31的前端开口处。 

前述反光镜组包括有若干块反光镜，其中，该反光镜组的最后一块反光镜50位于投影屏32后面，于该最后一块反光镜50上开设有一通孔51，该通孔51内嵌置有非全反射镜片60；前述寻边器包括有探测头41和寻边器主机42，该寻边器的探测头41连接于该寻边器主机42上，且该探测头41对应安装于前述非全反射镜片60后面（如图3所示）。 

使用时，将被测物放置于工作平台20上进行测量，被测物的光信号经反光镜组的多块反光镜反射后于投影屏32上成像。从图3可以看出，同时，光信号反射至反光镜组的最后一块反光镜50上时，部分光信号透过前述非全反射镜片60进入前述寻边器的探测头41内，以实现探测头41对光信号的精确感测。该探测头41感测的光信号输往至前述寻边器主机42，该寻边器主机42处理接收至的光信号并最终计算出测量结果。 

请参照图4所示，其显示出了本实用新型之第二较佳实施例的具体结构，本实施例的具体结构与前述第一较佳实施例的具体结构基本相同，其所不同的是：在本实施例中，该最后一块反光镜50上至少有一非全反射区域70，例如可在非全反射区域70上贴上非全反射膜等方式，同样可达到前述非全反射镜片60之作用，前述探测头41安装于该非全反射区域70后面；本实施例的工作原理与前述第一较佳实施例中工作原理相同，在此不作详细叙述。 

本实用新型的设计重点在于，通过将寻边器的探测头安装于投影屏的后面，其有效解决现有之探测头旋转不方便、外露影响美观及挡住视线等问题；以及，通过于反光镜组的最后一块反光镜上开设有一通孔，并于该通孔内嵌置有非全反射镜片，将前述探测头安装于该非全反射镜片后面，藉此，探测头不需感测投影屏上的光信号，光信号可部分透过前述非全反射镜片直接进入探测头内，有效提高了测量精度。 

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (5)

1.一种改良的测量投影仪结构，包括有投影仪和寻边器，其特征在于：该投影仪包括有投影屏和用于将被测物投影至该投影屏上的反光镜组，该反光镜组包括有若干块反光镜，其中，该反光镜组的最后一块反光镜位于投影屏后面；该寻边器包括有探测头，该探测头对应安装于前述最后一块反光镜处。

2.根据权利要求1所述的改良的测量投影仪结构，其特征在于：所述最后一块反光镜上开设有一通孔，该通孔内嵌置有非全反射镜片，前述探测头对应安装于该非全反射镜片后面。

3.根据权利要求1所述的改良的测量投影仪结构，其特征在于：所述最后一块反光镜上至少有一非全反射区域，前述探测头安装于该非全反射区域后面。

4.根据权利要求1所述的改良的测量投影仪结构，其特征在于：进一步包括有寻边器主机，前述寻边器的探测头连接于该寻边器主机上。

5.根据权利要求1所述的改良的测量投影仪结构，其特征在于：包括有基座和设置于该基座上的工作平台，前述投影屏和反光镜组均位于工作平台的上方。

Images