CN202351275U - 轴向半导体器热阻测试接口 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种轴向半导体器热阻测试接口，包括绝缘底座（1），其特征在于：在绝缘底座（1）上设有开尔文测试夹具（2），在开尔文测试夹具（2）上连接有4个电极（3），在每个电极（3）上分别连接有一个散热片（4）及一根检测电缆（5）；在绝缘底座（1）上设有夹具拉杆（6），夹具拉杆（6）与开尔文测试夹具（2）的一端连接。本实用新型采用开尔文测试夹具来加持待测器件，并通过其电极将待测器件产生的热量散热到环境中的结构，使待测器件与测试夹具接触的位置的温度就等于环境温度（25℃）；从而满足了热阻抗测试方法要求的前提条件，因此能准确的测试器件结到引线与测试夹具接触位置的热阻。本实用新型结构简单，使用效果好。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置，尤其是一种轴向半导体器热阻测试接口。
背景技术
目前，随着产品质量等级的不断提高、与国际接轨的日趋紧密，产品参数的日趋规范，轴向二极管同样要求提供热阻参数；一方面，热阻参数对于指导用户正确使用器件非常重要，另一方面，考核产品可靠性的“稳态工作寿命试验”必须按GJB33A的要求，也就是在规定的额定功率、规定的最高结温老化规定的时间，然后下机测试，器件的参数及参数变化要符合要求，因此也必须要测试出每支器件的热阻才能推算出结温，只有这样“稳态工作寿命试验”才能考核到产品的最大额定值指标；测试大功率三极管、大功率二极管的热阻，其相关资料和测试设备都比较多，其测试结果很明确，就是管芯到管壳的热阻（Rth(j-c)）； 而关于轴向二极管热阻测试方面的研究、介绍几乎找不到。
目前，所有的热阻抗测试设备及其测试原理和测试方法有一个重要前提，就是在测试过程中基准点（环境）的温度要保持不变，而且温度要保持在25℃，这就要求基准点有相当大的热容量。
大功率器件的底座都为体积较大的金属，其热容量相当大，是很好的基准点；这样设备测出的数值就是结到底座的热阻。但是，结产生的热主要是通过引线向外传递，引线每个位置的热容量都很小，找不到合适的基准点，测出的数值就不知道是结到什么位置的热阻。现在，建立基准点的一个办法就是在引线上焊一个热容量很大的散热器，如：要测结到离引线根部10mm处的热阻，就可以在离引线根部10mm处各焊一个热容量很大的散热器，然后再用热阻抗测试设备进行测试。这样也只能作为科研时采用，不能作为产品筛选用，因为引线焊过后产品就没法出厂。
发明内容
本实用新型的目的是：提供一种轴向半导体器热阻测试接口，它能快速、准确的测试器件结到引线与测试夹具接触位置的热阻，并且不对产品造成影响，以克服现有技术的不足。
本实用新型是这样实现的：轴向半导体器热阻测试接口，包括绝缘底座，在绝缘底座上设有开尔文测试夹具，在开尔文测试夹具上连接有4个电极，在每个电极上分别连接有一个散热片及一根检测电缆；在绝缘底座上设有夹具拉杆，夹具拉杆与开尔文测试夹具的一端连接。
开尔文测试夹具的夹持前端为圆弧形。这样开尔文测试夹具在夹持待测器件时，可以实现了很好的配合。
在绝缘底座上设有调节滑道，在开尔文测试夹具的底部设有穿过调节滑道的调节螺栓。这样就可以调节夹具的位置，能很方便的测试管芯到引线不同位置的热阻。
在开尔文测试夹具的中部设有固定在绝缘底座上的辅助定位板。可以方便调节不同位置的夹具，对不同规格的产品进行快速定位。
由于采用了上述技术方案，与现有技术相比，本实用新型采用开尔文测试夹具来加持待测器件，并通过其电极将待测器件产生的热量散热到环境中的结构，使待测器件与测试夹具接触的位置的温度就等于环境温度（25℃）；从而满足了热阻抗测试方法要求的前提条件，这样的方式不需要对产品进行任何改动，不会影响产品出厂，因此能快速、准确的测试器件结到引线与测试夹具接触位置的热阻。本实用新型结构简单，使用效果好。
附图说明
附图1为本实用新型的结构示意图；
附图2为本实用新型的绝缘底座的底部结构示意图。
具体实施方式
本实用新型的实施例：轴向半导体器热阻测试接口的结构如图1所示，制作出一个绝缘底座1，在绝缘底座1上安装开尔文测试夹具2，并将开尔文测试夹具2的夹持前端为圆弧形，在开尔文测试夹具2上连接有4个电极3，在每个电极3上分别连接有一个散热片4及一根检测电缆5；在绝缘底座1上设有夹具拉杆6，夹具拉杆6与开尔文测试夹具2的一端连接；在绝缘底座1上设有调节滑道7，在开尔文测试夹具2的底部设有穿过调节滑道7的调节螺栓8；在开尔文测试夹具2的中部设有固定在绝缘底座1上的辅助定位板9。
在使用时，将器件10夹持在开尔文测试夹具2上，将检测电缆5连接到瞬态热阻抗测试设备上，就可以测试器件10结到引线与测试夹具接触位置的热阻。
夹具拉杆6利用杠杆原理，可以方便夹持及取下器件10。
Claims (4)
1.一种轴向半导体器热阻测试接口，包括绝缘底座（1），其特征在于：在绝缘底座（1）上设有开尔文测试夹具（2），在开尔文测试夹具（2）上连接有4个电极（3），在每个电极（3）上分别连接有一个散热片（4）及一根检测电缆（5）；在绝缘底座（1）上设有夹具拉杆（6），夹具拉杆（6）与开尔文测试夹具（2）的一端连接。
2.根据权利要求1所述的轴向半导体器热阻测试接口，其特征在于：开尔文测试夹具（2）的夹持前端为圆弧形。
3.根据权利要求1所述的轴向半导体器热阻测试接口，其特征在于：在绝缘底座（1）上设有调节滑道（7），在开尔文测试夹具（2）的底部设有穿过调节滑道（7）的调节螺栓（8）。
4.根据权利要求1所述的轴向半导体器热阻测试接口，其特征在于：在开尔文测试夹具（2）的中部设有固定在绝缘底座（1）上的辅助定位板（9）。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN 201120517273 CN202351275U (zh) | 2011-12-10 | 2011-12-10 | 轴向半导体器热阻测试接口 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN 201120517273 CN202351275U (zh) | 2011-12-10 | 2011-12-10 | 轴向半导体器热阻测试接口 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN202351275U true CN202351275U (zh) | 2012-07-25 |
Family
ID=46540271
Family Applications (1)
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| CN 201120517273 Expired - Lifetime CN202351275U (zh) | 2011-12-10 | 2011-12-10 | 轴向半导体器热阻测试接口 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN202351275U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102540043A (zh) * | 2011-12-10 | 2012-07-04 | 中国振华集团永光电子有限公司 | 轴向半导体器热阻测试方法及接口 |
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2011
- 2011-12-10 CN CN 201120517273 patent/CN202351275U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
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|---|---|---|---|---|
| CN102540043A (zh) * | 2011-12-10 | 2012-07-04 | 中国振华集团永光电子有限公司 | 轴向半导体器热阻测试方法及接口 |
| CN102540043B (zh) * | 2011-12-10 | 2014-06-18 | 中国振华集团永光电子有限公司 | 轴向半导体器热阻测试方法及接口 |
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