CN206756937U - 电缆介损老化状态测试仪 - Google Patents
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Abstract
一种电缆介损老化状态测试仪，其要点在于它由超低频电源、信号采集电路、CPU处理器三个部分组成，三部分顺序相接，信号采集电路具有外接头，所述的超低频电源频率为0.02‑0.1Hz。本实用新型体积小，携带方便，它是在现有的电缆介损老化状态测试仪基础上进行改进，将工频电源改为超低频电源，电源的频率由50Hz下降到0.02‑0.1Hz，减小了500‑2500倍，也就意味着同样一根电缆比用工频50Hz电流要小500‑2500倍，这样就可以带着很长的电缆进行试验，不受容量的影响。
Description
技术领域
本实用新型为电缆介损老化状态测试仪。
背景技术
通过定量测量高压电缆的介损及介损变化率，能有效评估重要电缆的绝缘老化状态。现有测电缆老化的方法是用介质损耗测试法测量。其原理如图1所示，由工频电源1、信号采集电路2、CPU处理器3组成，三部分顺序相接，信号采集电路2具有外接头，由工频电源1通过信号采集电路2的外接头对被测电缆进行加压。以工频50Hz为例，设备在加压时所要输出的高压电流I=2πfCU,由于π、f、U都是固定量，所以这时决定电流I大小的就只有电容量C了，由于电缆的电容量和电缆本身的长度有关，电缆越长其电容量越大，这时电流I就越大，仪器所要承受的负载就越重，如果电缆太长则设备就会因为负载过大而无法升压，如果一定要升压就要加大设备容量，则体积就变得很大、制造难度增加，成本高。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种体积小的电缆介损老化状态测试仪。
本实用新型所采用的技术方案为一种电缆介损老化状态测试仪，其要点在于它由超低频电源、信号采集电路、CPU处理器三个部分组成，三部分顺序相接，信号采集电路具有外接头，所述的超低频电源频率为0.02-0.1Hz。
所述的超低频电源频率为0.02Hz。
本实用新型体积小，携带方便，它是在现有的电缆介损老化状态测试仪基础上进行改进，将工频电源改为超低频电源，电源的频率由50Hz下降到0.02-0.1Hz，减小了500-2500倍，也就意味着同样一根电缆比用工频50Hz电流要小500-2500倍，这样就可以带着很长的电缆进行试验，不受容量的影响。
附图说明
图1为现有的电缆介损老化状态测试仪的原理方框图
图2为本实用新型的原理方框图
其中：1工频电源2信号采集电路3CPU处理器4超低频电源5电缆。
具体实施方式
下面结合视图对本实用新型进行详细的描述，所列举的实施例可以使本专业的技术人员更理解本实用新型，但不以任何形式限制本实用新型
一种电缆介损老化状态测试仪，它由超低频电源4、信号采集电路2、CPU处理器3三个部分组成，三部分顺序相接，信号采集电路2具有外接头，所述的超低频电源4频率为0.02-0.1Hz。如选用0.02Hz的超低频电源4通过信号采集电路2的外接头对被测电缆5进行加压，电流能控制在很小的范围内，同样一根电缆比用工频50Hz电流要小2500多倍。其余未述部分与现有技术相同。
Claims (2)
1.一种电缆介损老化状态测试仪，其特征在于，它由超低频电源（4）、信号采集电路（2）、CPU处理器（3）三个部分组成，三部分顺序相接，信号采集电路（2）具有外接头，所述的超低频电源（4）频率为0.02-0.1Hz。
2.根据权利要求1所述的一种电缆介损老化状态测试仪，其特征在于，所述的超低频电源（4）频率为0.02Hz。
Priority Applications (1)
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| CN201720195113.0U CN206756937U (zh) | 2017-03-02 | 2017-03-02 | 电缆介损老化状态测试仪 |
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| CN201720195113.0U CN206756937U (zh) | 2017-03-02 | 2017-03-02 | 电缆介损老化状态测试仪 |
Publications (1)
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| CN206756937U true CN206756937U (zh) | 2017-12-15 |
Family
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Family Applications (1)
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| CN201720195113.0U Active CN206756937U (zh) | 2017-03-02 | 2017-03-02 | 电缆介损老化状态测试仪 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN206756937U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108828410A (zh) * | 2018-08-22 | 2018-11-16 | 西南交通大学 | 一种基于vlf电压谱的电缆径向损伤的检测方法 |
| CN109061315A (zh) * | 2018-11-01 | 2018-12-21 | 伟宸科技（武汉）有限公司 | 一种超低频介质损耗测试仪 |
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2017
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108828410A (zh) * | 2018-08-22 | 2018-11-16 | 西南交通大学 | 一种基于vlf电压谱的电缆径向损伤的检测方法 |
| CN108828410B (zh) * | 2018-08-22 | 2019-06-04 | 西南交通大学 | 一种基于vlf电压谱的电缆径向损伤的检测方法 |
| CN109061315A (zh) * | 2018-11-01 | 2018-12-21 | 伟宸科技（武汉）有限公司 | 一种超低频介质损耗测试仪 |
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