CN202330603U - 石英晶体器件工艺优化测试平台 - Google Patents
石英晶体器件工艺优化测试平台 Download PDFInfo
- Publication number
- CN202330603U CN202330603U CN2011205158047U CN201120515804U CN202330603U CN 202330603 U CN202330603 U CN 202330603U CN 2011205158047 U CN2011205158047 U CN 2011205158047U CN 201120515804 U CN201120515804 U CN 201120515804U CN 202330603 U CN202330603 U CN 202330603U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- network
- quartz crystal
- frequency
- peak
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
本实用新型涉及一种石英晶体器件工艺优化测试平台,其包括:计算机,与该计算机相连的信号发生器,与该信号发生器的频率信号输出端相连的π网络和第一峰值检波器,与π网络的频率信号输出端相连的第二峰值检波器,与第一、第二峰值检波器的输出端相连的A/D转换器。计算机通过接口电路控制信号发生器输出信号的频率和幅值,信号发生器的输出信号激励π网络,峰值检波电路用于将π网络两端的交流电压信号的峰值转换成与之成一定比例关系的直流信号,A/D转换器将这个直流信号转换成数字信号后,通过接口电路送入计算机。
Description
技术领域
本实用新型涉及石英晶体器件的自动测试的技术领域,特别涉及一种石英晶体器件工艺优化测试平台。
背景技术
石英晶体振荡器(简称石英晶体)是一种提供基准时基的器件。一般具有极高的频率稳定度,通常用来作为频率控制和频率基准。其广泛应用于各种民用和军事设施和装置。
随着计算机、微电子等行业的飞速发展,对石英晶体元器件的性能提出了更高的要求,主要表现在谐振频率向高端发展、谐振频率精度要求提高、激励功率更低等。对石英晶体的性能要求的提高,要求测试的频率范围更宽,激励功率更小。国内普遍使用的石英晶体测试仪器主要是阻抗计型。因其制造成本较低,操作简单,广泛应用于石英晶体生产过程中的检测以及出厂前的检验。但其测试精度低,测试范围也较小。因此其不能达到用户使用要求,所以对测试高频谐振频率的石英晶体的测试仪器的研究具有非常重要的现实意义。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构简单、测试精度高,测试频率范围较宽的石英晶体器件工艺优化测试平台。
为了解决上述技术问题,本实用新型提供了一种石英晶体器件工艺优化测试平台,包括:计算机,与该计算机控制信号输出端相连的信号发生器,与该信号发生器的频率信号输出端相连的π网络和第一峰值检波器,与所述π网络的频率信号输出端相连的第二峰值检波器,与所述第一、第二峰值检波器的输出端相连的A/D转换器。
本实用新型的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:本实用新型的石英晶体器件工艺优化测试平台中,计算机通过接口电路控制信号发生器输出信号的频率和幅值,信号发生器的输出信号激励π网络,峰值检波电路用于将π网络两端的交流电压信号的峰值转换成与之成一定比例关系的直流信号,A/D转换器将这个直流信号转换成数字信号后,通过接口电路送入计算机。测试时,将石英晶体插入π网络,计算机根据石英晶体测试参数的设置,在设定的扫频范围内,按照一定的频距,控制信号发生器的输出信号频率从低到高变化,每变换一次频率,计算机都检测π网络输出端信号的电压峰值,由计算机分析判断电压值是否为最大值,如果是最大值,则说明这时信号发生器输出信号的频率为石英晶体的串联谐振频率,再将π网络输入端的电压峰值采集进计算机,计算出串联谐振电阻。
附图说明
为了使本实用新型的内容更容易被清楚的理解,下面根据的具体实施例并结合附图,对本实用新型作进一步详细的说明,其中
图1为本实用新型的石英晶体器件工艺优化测试平台的电路框图;
图2为所述石英晶体器件工艺优化测试平台中的π网络的电路图。
具体实施方式
见图1-2,本实施例的石英晶体器件工艺优化测试平台,包括:计算机,与该计算机控制信号输出端相连的信号发生器,与该信号发生器的频率信号输出端相连的π网络和第一峰值检波器,与所述π网络的频率信号输出端相连的第二峰值检波器,与所述第一、第二峰值检波器的输出端相连的A/D转换器。
信号发生器采用直接数字频率合成技术,其输出频率范围为1-200MHz,且为双通道信号发生器,信号发生器在计算机的控制下输出扫频信号,信号发生器的信号要同时输出给π网络。
π网络由对称的双π型回路组成,M0为石英晶体器件,R1、R2和R3构成输入衰减器,R4、R5和R6构成输出衰减器,它们的作用是使π网络的阻抗与测量仪表的阻抗相匹配,并衰减来自测量仪器的反射信号。
测试时,在π网络一端输入一个交流电压信号VA,不断改变VA的频率,在π网络另一端测试输出信号的电压值VB,当VB的电压幅值达到最大值或π网络两端信号的相位差为零时,π网络处于谐振状态。如果不考虑杂散电容的影响,此时输入到π网络的信号频率即为石英晶体的串联谐振频率。以VB的电压幅值达到最大值为判据测试石英晶体的串联谐振频率的测试方法为π网络最大传输法。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例,而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而这些属于本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。
Claims (1)
1.一种石英晶体器件工艺优化测试平台,其特征在于包括:计算机,与该计算机控制信号输出端相连的信号发生器,与该信号发生器的频率信号输出端相连的π网络和第一峰值检波器,与所述π网络的频率信号输出端相连的第二峰值检波器,与所述第一、第二峰值检波器的输出端相连的A/D转换器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011205158047U CN202330603U (zh) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 石英晶体器件工艺优化测试平台 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2011205158047U CN202330603U (zh) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 石英晶体器件工艺优化测试平台 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN202330603U true CN202330603U (zh) | 2012-07-11 |
Family
ID=46442579
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2011205158047U Expired - Fee Related CN202330603U (zh) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 石英晶体器件工艺优化测试平台 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN202330603U (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103001627A (zh) * | 2012-11-22 | 2013-03-27 | 北京信息科技大学 | 石英晶体谐振频率微调控制系统 |
CN103983854A (zh) * | 2014-04-30 | 2014-08-13 | 北京信息科技大学 | 石英晶体电参数测试系统 |
CN108614153A (zh) * | 2016-01-22 | 2018-10-02 | 浙江大学台州研究院 | 基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法 |
CN109307799A (zh) * | 2018-10-26 | 2019-02-05 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种石英晶体激励电平跳频特性判定方法 |
-
2011
- 2011-12-12 CN CN2011205158047U patent/CN202330603U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103001627A (zh) * | 2012-11-22 | 2013-03-27 | 北京信息科技大学 | 石英晶体谐振频率微调控制系统 |
CN103001627B (zh) * | 2012-11-22 | 2015-12-09 | 北京信息科技大学 | 石英晶体谐振频率微调控制系统 |
CN103983854A (zh) * | 2014-04-30 | 2014-08-13 | 北京信息科技大学 | 石英晶体电参数测试系统 |
CN108614153A (zh) * | 2016-01-22 | 2018-10-02 | 浙江大学台州研究院 | 基于波形匹配的石英晶片研磨控制与在线测频方法 |
CN108614153B (zh) * | 2016-01-22 | 2020-07-07 | 浙江大学台州研究院 | 基于波形匹配的石英晶片研磨控制方法 |
CN109307799A (zh) * | 2018-10-26 | 2019-02-05 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种石英晶体激励电平跳频特性判定方法 |
CN109307799B (zh) * | 2018-10-26 | 2020-08-07 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种石英晶体激励电平跳频特性判定方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100495074C (zh) | 核磁共振与瞬变电磁联用仪及其方法 | |
CN102096111B (zh) | 收发天线分离式核磁共振找水装置及找水方法 | |
CN202330603U (zh) | 石英晶体器件工艺优化测试平台 | |
CN104849649A (zh) | 一种计量用电流互感器二次回路状态的检测系统及方法 | |
CN204613359U (zh) | 一种计量用电流互感器二次回路状态的检测系统 | |
CN102749606B (zh) | 一种用于光学电压互感器动态性能研究的测试方法及装置 | |
CN102375106A (zh) | 一种电子式互感器谐波影响测试装置 | |
CN102155905B (zh) | 一种锚杆长度的无损测量装置及方法 | |
CN201429580Y (zh) | 管式土壤水分测量传感器 | |
CN201126458Y (zh) | 电力线线路检测装置 | |
CN206019711U (zh) | 一种同步采样的无线振弦采集系统 | |
CN201417296Y (zh) | 一种指针表集成电路测试装置 | |
CN202837415U (zh) | 一种幅频特性测试系统 | |
CN202285032U (zh) | 一种电子式互感器谐波影响测试装置 | |
CN202217016U (zh) | 无线电高度表中心频率测试系统 | |
CN204129211U (zh) | 一种基无源无线多参数传感器智能电能表温升检测装置 | |
CN207910788U (zh) | 一种无线射频自动化测试生产系统 | |
CN115825546A (zh) | 一种直流暂态电流宽频数字标准器实现方法 | |
CN201319063Y (zh) | 继电保护测试仪检测分析装置 | |
CN106249122B (zh) | 可调控注入比的高频光电导寿命测试仪及其测试方法 | |
CN204008885U (zh) | 一种电子式同塔多回输电线路工频参数测试仪 | |
CN202471644U (zh) | 矿用本安型煤样水分测定仪 | |
CN206601099U (zh) | 一种变压器绕组变形故障检测装置 | |
CN206323392U (zh) | 一种车载网络物理层测试板卡 | |
CN203014827U (zh) | 一种通用接收激励模块测试器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120711 Termination date: 20121212 |