CN202329988U - 光耦传感器测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种光耦传感器测试装置。其包括滑板I(1)、滑板II(2)、连接板(3)、滑块(4)、支撑架(5)、基座(6)、指针(7)、刻度尺(8)、滑动导轨(9)、对管LED安装板(10)、对管LED线路板(11)、磁石(12)。本实用新型实施的一种光耦传感器测试装置，作为一种可实施方式，实现大量对射型LED光电传感器集中、高效、快速的测试处理。

Description

光耦传感器测试装置

技术领域：

本实用新型技术涉及一种光耦传感器测试技术领域，具体地涉及一种对射型LED光耦传感器测试装置。 

背景技术：

目前光电传感器的检测模式之一是对射式，射式检测方式的发射器和接收器相互对射安装，发射器的光直接对准接收器，当被测物挡住光束时，传感器输出产生变化以指示被测物被检测到。 

对射式是最早使用的一种光电检测模式。在调制光出现之前，发射器和接收器的对准是一个很大的难题。今天，对于使用高能调制光的光电传感器，将发射器和接收器对准已非常容易。 

对射式包含光路对准方式，光路对准可使最大数量的发射光到达接收器，但是，发射光要位于接收区域的中央位置。本实用新型的优点是采用光路对准对射式，发射器和接收器可以不在同一轴线上，在一定距离、一定角度内也可进行精确检测，解决了因设备本身存在的偏差导致的检测不准确或无法检测的技术问题。 

实用新型内容：

本实用新型的目的在于克服现有生产检测技术中检测质量与检测速度的缺陷，提供一种简洁高质量的测试装置，实现大量对射型LED光电传感器集中、高效、快速的测试处理。 

为了解决上述问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的： 

本实用新型的一种光耦传感器测试装置包括滑板I、滑板II、连接板、滑块、支撑架、基座、指针、刻度尺、滑动导轨、对管LED安装板、对管LED线路板、磁石组成。 

所述支撑架与基座连接； 

所述支撑架与滑动导轨连接； 

所述滑动导轨与滑块连接； 

所述滑块与连接板连接； 

所述连接板分别与滑板I及滑板II连接； 

所述滑板I及滑板II分别与指针连接； 

所述基座上装有刻度尺； 

所述滑板I、滑板II装有磁石，并在滑动导轨上运动； 

所述对管LED线路板安装在对管LED安装板； 

所述磁石和对管LED安装板靠磁性相吸，LED圆柱和滑板I、滑板II圆孔配合。 

较优地，对管LED发射与接收辐射角单边0°至15°范围； 

更优地，检测范围按发射角单边0°至7°检测。 

所述滑板I、滑板II中间各有一个LED对管安装孔，两块滑板中间的LED安装孔在同一轴线上； 

所述滑板I上有六个安装孔位，其中四个矩形分布，内侧两个； 

较优地，滑板I上的安装孔相对于滑板II安装孔上的LED对管红外光线在一定距离内形成7°夹角； 

本实用新型的有益效果是：本实用新型的光耦传感器测试装置，实现大量对射型LED光电传感器集中、高效、快速的测试处理。 

附图说明：

图1本实用新型的光耦传感器测试装置外形结构示意图； 

图2本实用新型的光耦传感器测试装置对管LED安装示意图； 

图3A、图3B是本实用新型的对管LED安装位在同一轴线上光线检测范围示意图； 

图4A、图4B是本实用新型的对管LED安装位不在同一轴线上光线检测范围示意图； 

图5A、图5B是本实用新型的对管LED安装位不在同一轴线上光线检测范围示意图。 

具体实施方式：

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型的光耦传感器测试装置进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型而不是对本实用新型的限制。 

本实用新型的光耦传感器测试装置是检测对管LED的装置，可以将大批量的对管LED以稳定、高效、快速的测试处理，以保证后续使用中的可控进行。 

如图1、图2所示，本实用新型的一种光耦传感器测试装置，包括滑板I1、滑板II2、连接板3、滑块4、支撑架5、基座6、指针7、刻度尺8、滑动导轨9、对管LED安装板10、对管LED线路板11、磁石12。 

本实用新型的光耦传感器测试装置，在先检测接收LED对管的前提下，首先将接收LED对管安装在滑板I1中心安装孔上，发射LED对管安装在滑板II2上。滑板I1固定不动，移动滑板II2，进行检测，指针7指到刻度尺8相应刻度位置，通过刻度尺8直观地了解到在具体相对位置时的检测结果。如检测没问题，继续将此接收LED对管安装在滑板I1四周安装孔分别检测。检测合格后，更换接收LED对管继续检测。反之，检测发射LED对管时，将发射LED对管安装在滑板I1，接收LED对管安装在滑板II2，方法同上。 

最后应当说明的是，很显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型。 

Claims (6)

1.一种光耦传感器测试装置，其特征在于，包括滑板I(1)、滑板II(2)、连接板(3)、滑块(4)、支撑架(5)、基座(6)、指针(7)、刻度尺(8)、滑动导轨(9)、对管LED安装板(10)、对管LED线路板(11)、磁石(12)组成；

所述支撑架(5)与基座(6)连接；

所述支撑架(5)与滑动导轨(9)连接；

所述滑动导轨(9)与滑块(4)连接；

所述滑块(4)与连接板(3)连接；

所述连接板(3)分别与滑板I(1)及滑板II(2)连接；

所述滑板I(1)及滑板II(2)分别与指针(7)连接；

所述基座(6)上装有刻度尺；

所述滑板I(1)、滑板II(2)装有磁石(12)，并在滑动导轨上运动；

所述对管LED线路板(11)安装在对管LED安装板(10)；

所述磁石和对管LED安装板靠磁性相吸，LED圆柱和滑板I(1)、滑板II(2)圆孔配合。

2.根据权利要求1所述的光耦传感器测试装置，其特征在于，所述滑板I(1)、滑板II(2)中间各有一个LED对管安装孔，两块滑板中间的LED安装孔在同一轴线上。

3.根据权利要求1所述的光耦传感器测试装置，其特征在于，所述滑板I(1)上另有六个安装孔位，其中四个矩形分布，内侧两个。

4.根据权利要求1所述的光耦传感器测试装置，其特征在于，对管LED发射与接收辐射角单边0°至15°。

5.根据权利要求4所述的光耦传感器测试装置，其特征在于，检测范围按发射角单边0°至7°检测。

6.根据权利要求1所诉的光耦传感器测试装置，其特征在于，所述滑板I(1)上的安装孔相对于滑板II(2)安装孔上的LED对管红外光线在一定距离内形成7°夹角。 

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