CN202307072U - Oled模组检测系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及OLED模组检测系统。在检测系统中具有包含图像存储器的驱动集成电路模块,还包括测试信号发生模块和输入高/低测试电平的控制模块,控制模块通过测试信号发生模块与所述的驱动集成电路模块连接,测试信号发生模块的输出连接所述的图像存储器。本实用新型的OLED模组检测系统,简化了OLED模组的检测系统,能够通过简单的高/低电平输入和模块对OLED模组进行检测,并且不需要专门的软件编程,明显的降低了系统的开发周期和成本,同时还简化了操控方式,使系统运行效率得到了明显的提高。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测系统,具体的讲是OLED模组的检测系统。
背景技术
在OLED(有机电致发光面板)模组的生产过程中需要对OLED模组进行检测。传统的OLED模组检测系统如图1所示,包括驱动集成电路模块、微处理器(MCU)、测试信号发生器、人机交互模块。其中驱动集成电路模块支持8080、6800、SPI三种总线方式。
传统的OLED模组检测系统以微处理器为控制枢纽,其工作原理是:微处理器首先从测试信号发生器中读取测试图片,然后通过接口总线将信号送到驱动集成电路模块内部的图像存储器(GDDRAM)中,最后通过图像存储器将其依次输送到面板阵列的数据线上(未示出)驱动面板发光。传统检测系统的主要特点有:1、整个检测系统的控制枢纽为MCU。2、测试信号从OLED模组外部的工装(JIG)系统输入。3、人机交互模块的控制方式灵活,测试功能强大。这种检测模式是从模组外部输入测试信号进行驱动检测的模式。
近年来随着OLED的产业化,各种技术已相对成熟,模组检测系统的功能需求已大幅度得到了简化,并且检测信号的类型等也比较固定了,控制检测的人机交互模块的灵活性和功能的复杂性要求都已降低。同时传统的OLED模组检测系统还存在系统复杂、成本高、开发周期长等问题。如测试信号发生器为专用的信号发生器,由于应用领域狭窄,开发的厂家少,开发周期长、价格也高;整个系统用MCU来控制,需要专业的软件设计师编程,进一步增加了开发时间和成本。这种功能过于强大和灵活的传统检测系统已经不适合为目前的OLED模组进行检测了。
实用新型内容
本实用新型提供了一种OLED模组检测系统,简化了OLED模组的检测系统,能够通过简单的输入控制和模块对OLED模组进行检测,并且不需要专门的软件编程,降低了系统的开发周期和成本。
本实用新型的OLED模组检测系统,具有包含图像存储器的驱动集成电路模块,还包括测试信号发生模块和输入高/低测试电平的控制模块,控制模块通过测试信号发生模块与所述的驱动集成电路模块连接,测试信号发生模块的输出连接所述的图像存储器。
本实用新型的检测系统是通过控制模块确定输入高/低测试电平,该测试电平输入到测试信号发生模块中,控制该模块电路的工作,从而产生相应的测试信号并输出到驱动集成电路模块内部的图像存储器(GDDRAM)中,最后驱动集成电路模块将信号依次输出到面板阵列的数据线上驱动面板发光。由于简化了检测信号的类型,不再需要复杂灵活的人机交互控制,只需要对电平信号进行简单的判断和处理,因此本实用新型检测系统的测试信号的控制可以由驱动集成电路模块进行控制,不需要传统模式中的外部MCU,简化了系统组成的同时也省去了专门的MCU编程。其中测试信号发生模块中的电路为常规的信号发生电路,与传统测试信号发生器的电路结构相同,在此不做详述。
为了进一步简化系统,充分利用集成电路版的功能,优选的一种方式是将测试信号发生模块包含在所述的驱动集成电路模块中,这样通过在驱动集成电路模块内部集成测试信号发生模块,使测试信号是由驱动集成电路模块产生的,这样从OLED模组的角度来看,检测是由模组自身完成的,而不是同传统的检测方式测试信号是由模组外部的信号发生器产生,属于“自检”方式。这样使得各模块件的运行效率更高,集成度更好,结构更为简单。
进一步的,所述的控制模块为开关模组。由于本实用新型检测系统的测试信号只需要通过高/低电平来控制,因此只需要控制输入不同的电平类型即可,而不需要传统系统的功能强大但结构复杂、操作繁琐的人机交互模块。
根据实际的应用场合和需求,通常优选的是在开关模组中包括4个开关。
同时根据具体的电路设计,测试信号发生模块可以通过内部的位移寄存器与图像存储器连接。
本实用新型的OLED模组检测系统,简化了OLED模组的检测系统,能够通过简单的高/低电平输入和模块对OLED模组进行检测,并且不需要专门的软件编程,明显的降低了系统的开发周期和成本,同时还简化了操控方式,使系统运行效率得到了明显的提高。
以下结合由附图所示实施例的具体实施方式,对本实用新型的上述内容再作进一步的详细说明。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实例。在不脱离本实用新型上述技术思想情况下,根据本领域普通技术知识和惯用手段做出的各种替换或变更,均应包括在本实用新型的范围内。
附图说明
图1是传统OLED模组检测系统的结构示意图。
图2是本实用新型OLED模组检测系统的结构示意图。
具体实施方式
如图2所示本实用新型OLED模组检测系统,具有测试信号发生模块与包含图像存储器(GDDRAM)和控制模块的驱动集成电路模块,控制模块用于输入高/低测试电平,控制模块与驱动集成电路模块内的测试信号发生模块连接,测试信号发生模块通过其内部的位移寄存器与图像存储器连接。其中控制模块为包含4个开关的开关模组,根据不同的测试环境输入相应的高/低电平。在驱动集成电路模块内部集成测试信号发生模块,使测试信号是由驱动集成电路模块产生的,这样从OLED模组的角度来看,检测是由模组自身完成的,属于“自检”方式。这样使得各模块件的运行效率更高,集成度更好,结构更为简单。
本实用新型的检测系统是通过开关模组形式的控制模块确定输入高/低测试电平,该测试电平输入到测试信号发生模块中,控制该模块电路的工作,从而产生相应的测试信号并输出到驱动集成电路模块内部的图像存储器(GDDRAM)中,最后驱动集成电路模块将信号依次输出到面板阵列的数据线上(未示出)驱动面板发光进行检测。其中测试信号发生模块中的电路为常规的信号发生电路,与传统测试信号发生器的电路结构相同,在此不做详述。
Claims (5)
1.OLED模组检测系统,具有包含图像存储器的驱动集成电路模块,其特征为:还包括测试信号发生模块和输入高/低测试电平的控制模块,控制模块通过测试信号发生模块与所述的驱动集成电路模块连接,测试信号发生模块的输出连接所述的图像存储器。
2.如权利要求1所述的OLED模组检测系统,其特征为:所述的测试信号发生模块包含在所述的驱动集成电路模块中。
3.如权利要求1所述的OLED模组检测系统,其特征为:所述的控制模块为开关模组。
4.如权利要求3所述的OLED模组检测系统,其特征为:在所述的开关模组中包括4个开关。
5.如权利要求1至4之一所述的OLED模组检测系统,其特征为:测试信号发生模块通过内部的位移寄存器与图像存储器连接。
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CN102831851A (zh) * | 2012-09-07 | 2012-12-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种oled基板的测试方法和装置 |
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