CN202075060U - 数字控制消毒柜测温装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种数字控制消毒柜测温装置。通过MCU将采集温度数据信息转换为数字信号，在程式中对数字信号进行算法处理，然后进行温度的数字控制，其特征是：测温装置包括热敏电阻、基准电阻、检测电阻和充放电电容，组成一个RC充放电电路；通过热敏电阻与基准电阻对振荡电容的充电时间比较，运用MCU进行运算法处理，得到测温值；温度控制上采用时间嵌入式的控制，层层嵌入，每层再分别进行单独的控制，使控制更加精确。电路简单实用，无需A/D转换，成本低廉。

Description

数字控制消毒柜测温装置
技术领域
本实用新型涉及一种数字控制消毒柜测温装置。
背景技术
目前家电领域对于涉及到高温度的，都对安全性能有严格要求，且要求控制准确。通常，在MCU温度测量中，都会通过A/D转换得到采集温度值，这种采集方法虽然简单，但要求MCU内部自带A/D转换器或外围增加A/D转换电路，成本较高；在对温度的控制方式上，设置单一的控制点，未考虑机器因负载、环境不同而造成高温加热的温度偏差较大，且在高温加热的时间上没有控制，这样常常就造成长时间的工作不停机。如消毒柜的高温消毒，因长时间的高温消毒不停机，负载不同、环境不同造成的温度偏差较大，这些因素都会对餐具，机器有很大影响。
发明内容
为了克服上述缺陷，本实用新型提供了一种数字控制消毒柜测温装置，该测温装置电路简单，成本低廉，安全性高。
本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种数字控制消毒柜测温装置，其包括MCU、热敏电阻、基准电阻、检测电阻和充放电电容，所述热敏电阻、基准电阻和检测电阻的一端分别与所述MCU的输入/输出端口电连接，所述热敏电阻、基准电阻和检测电阻的另一端分别与所述充放电电容的一端电连接，所述充放电电容的另一端电连接于地；所述热敏电阻、基准电阻和检测电阻受控于所述MCU。这样，由热敏电阻、基准电阻、检测电阻和充放电电容，组成一个RC充放电电路；通过热敏电阻与基准电阻对振荡电容的充电时间比较，运用MCU进行运算法处理，得到测温值；温度控制上采用时间嵌入式的控制，层层嵌入，每层再分别进行单独的控制，使控制更加精确。电路简单实用，无需A/D转换，成本低廉。
本实用新型的有益效果是：通过热敏电阻、基准电阻、检测电阻和充放电电容，组成一个RC充放电电路；通过热敏电阻与基准电阻对振荡电容的充电时间比较，运用MCU进行运算法处理，得到测温值；温度控制上采用时间嵌入式的控制，层层嵌入，每层再分别进行单独的控制，使控制更加精确。电路简单实用，无需A/D转换，成本低廉。
附图说明
图1为本实用新型所述RC充放电原理示意图；
图2为本实用新型所述RC充放电曲线图；
图3为本实用新型实施例的MCU侦测电路图。
具体实施方式
下面结合附图进行详细说明。
温度采集工作原理：根据附图1，将电容C的电压充到Uc所需要的时间为t＝R*ln(1-U/Uc)(U为MCU输出电压)。可以看到，充电时间t正比于电阻R。假设先用一个基准电阻Rref对电容C充电到Uc，需要时间为Tref，然后利用热敏电阻Rntc对电容C充电到Uc，记录得到时间为Tntc，则可计算出当前的热敏阻值Rntc＝Tntc*Rref/Tref，根据这一原理，MCU侦测电路可以设计如附图2所示。
温度控制方式：在采集温度值时，每次采集值都采集N次，对每次采集值进行计算，出现不符合值，则记录1次，N次采集的值都符合要求则判为采集值正确，同样出现N次不符合的值则判为采集值无效，然后进入相应的控制方式。机器工作时，当热敏电阻温度从T′上升到T″，计算温度上升率，k＝(T″-T′)/(t″-t′)，计算出负载率为多少，再根据负载率设置多级时间控制点的温度值T1、T2、T3……、时间值t1、t2、t 3……和全局时间t。如消毒柜三段温度点对应时间t1、t2、t3；当进入温度T1时间t1时，开启其控制方式，同时也是启动温度T2时间t2的控制的条件，开启温度T2时间t2控制，是启动开启温度T3时间t4控制的条件，后面也是如此类推；当其中一个控制方式到达指定的控制点，都会进行相应的动作，这样的控制方式只要第一关的条件不符合就无法再进行下去，每关条件开启与下一关控制有条件与结果之间的关系，但同时开启后，之间又不会相互影响，又有各自独立的控制方式，即层层进入方式，层层联系，却又独立控制，使功能，动作控制上准确无误，达到要求标准，安全性能更高。
本实用新型不限于本实施例，还可以有许多变化设计。例如，设置更多的温度控制点，增加更多级的时间控制保护等等。凡采用等同替代或等效变换形式的技术方案，均落在本发明要求的保护范围内。

Claims (1)

1.一种数字控制消毒柜测温装置，其特征在于：其包括MCU、热敏电阻(Rntc)、基准电阻(Rref)、检测电阻(Rchk)和充放电电容(C)，所述热敏电阻、基准电阻和检测电阻的一端分别与所述MCU的输入/输出端口(I/O)电连接，所述热敏电阻、基准电阻和检测电阻的另一端分别与所述充放电电容的一端电连接，所述充放电电容的另一端电连接于地；所述热敏电阻、基准电阻和检测电阻受控于所述MCU。
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