CN201974608U - 一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及晶体波片,尤其涉及一种一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片。本实用新型采用的技术方案是:一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片,包括:晶体波片本体、在该晶体波片两个相对的非通光面的两侧胶合的两个TEC制冷片、设置于两个TEC制冷片外侧的散热片、以及接于每个TEC制冷片的电极的一路恒温控制电路。本实用新型通过采用上述的技术方案,具有的有益效果:较大程度地排除环境温差对晶体波片的折射率的影响,使得晶体波片适用于精度要求更高的场合。
Description
技术领域
本实用新型涉及晶体波片,尤其涉及一种一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片。
背景技术
在目前要求较高的晶体波片的使用场合,尤其是在对晶体波片的折射率的精度要求很高的测量场合,环境温度的变化会对晶体波片的折射率产生较大的影响,使之不稳定。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型提出一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片,以在较大程度上排除环境温差对晶体波片的折射率的影响。
本实用新型采用的技术方案如下:
一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片,包括:晶体波片本体、在该晶体波片两个相对的非通光面的两侧胶合的两个TEC制冷片、设置于两个TEC制冷片外侧的散热片、以及接于每个TEC制冷片的电极的一路恒温控制电路。
进一步的,所述的一路恒温控制电路包括:传感器、TEC制冷片驱动电路,该传感器设置于晶体波片上靠近该恒温控制电路所控制的TEC制冷片的一侧。
本实用新型通过采用上述的技术方案,具有的有益效果:能够显著地排除环境温差范围为5-50摄氏度在对晶体波片的折射率的影响,使得晶体波片适用于精度要求更高的场合。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。
一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片,由晶体波片本体1、在该晶体波片两个相对的非通光面的两侧胶合的两个TEC制冷片2、设置于两个TEC制冷片外侧的散热片3、以及接于每个TEC制冷片的电极的一路恒温控制电路4构成。
进一步的,所述的一路恒温控制电路4是由传感器401和TEC制冷片驱动电路402构成的闭环控制系统,该传感器401设置于晶体波片1上靠近该恒温控制电路4所控制的TEC制冷片2的一侧,所述TEC制冷片2和温度传感器401分别接于TEC制冷片驱动电路402,作为一优选的实施方式,该TEC制冷片驱动电路的驱动IC的型号是ADN8831,所述的另一路恒温控制电路同于上述恒温控制电路4,其接于另一个TEC制冷片,在此不再赘述。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。
Claims (2)
1.一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片,包括:晶体波片本体、在该晶体波片两个相对的非通光面的两侧胶合的两个TEC制冷片、设置于两个TEC制冷片外侧的散热片、以及接于每个TEC制冷片的电极的一路恒温控制电路。
2.如权利要求1所述的一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片,其特征在于:所述的一路恒温控制电路包括:传感器、TEC制冷片驱动电路,该传感器设置于晶体波片上靠近该恒温控制电路所控制的TEC制冷片的一侧。
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CN2011200360901U CN201974608U (zh) | 2011-01-30 | 2011-01-30 | 一种设置有半导体制冷器件的恒温晶体波片 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN103885265A (zh) * | 2012-12-20 | 2014-06-25 | 福州高意通讯有限公司 | 低成本光开关或光可变光学衰减器 |
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2011
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