CN201653892U - 综合型多用比色皿架 - Google Patents

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陈圣杰
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Abstract

本实用新型提出一种综合型多用比色皿架，包括底座，其特征是，还包括第一组件、第二组件和滑杆，其中，第一组件和第二组件设置在底座上，且第一组件和第二组件中至少有一个组件与底座为滑动连接，在第一组件和第二组件上分别设置使滑杆穿过的孔洞。本实用新型提供的综合型多用比色皿架不仅适用于50mm光程以内的任意比色皿，而且适用于固体、玻片、薄膜等样品，对样品位置的重复性控制也更可靠。

Description

综合型多用比色皿架
技术领域
本实用新型应用于分析仪器领域，主要以附件形式应用于分光光度计中。
背景技术
目前，分光光度计中所采用的比色皿架都有很大的局限性，比如，对比色皿规格的变换使用没有适应性，对比色皿放入位置的重复性控制也较差，通常采用了一种比色皿架之后只能使用一种或少数几种规格的比色皿，使用了液体样品的比色皿架就无法对固体、玻片、薄膜等样品进行分析。众多的限制使分光光度计的应用范围和应用领域大打折扣，影响其应用推广。
实用新型内容
为了方便使用一台分光光度计对更多种类样品进行分析测试，本实用新型提供一种综合型多用比色皿架，该综合型多用比色皿架不仅适用于50mm光程以内的任意比色皿，而且适用于固体、玻片、薄膜等样品，对样品位置的重复性控制也更可靠。
本实用新型提出一种综合型多用比色皿架，包括底座，其特征是，还包括第一组件、第二组件和滑杆，其中，第一组件和第二组件设置在底座上，且第一组件和第二组件中至少有一个组件与底座为滑动连接，在第一组件和第二组件上分别设置使滑杆穿过的孔洞。
进一步，第一组件包括第一滑块和用于固定第一滑块的滚花螺钉。
进一步，第二组件的结构与第一组件相同。
进一步，第二组件包括定位块、弹簧、第二滑块以及限制件，其中，定位块、弹簧以及第二滑块依次连接，限制件将定位块、弹簧以及第二滑块连成整体。
进一步，第一组件的结构与第二组件相同。
进一步，所述滑杆上设置有刻度线。
进一步，滑杆为两个，且平行设置。
本实用新型的有益效果是，一台分光光度计就可对多种类样品进行分析测试，该综合型多用比色皿架不仅适用于50mm光程以内的任意比色皿，而且适用于固体、玻片、薄膜等样品，对样品位置的重复性控制也更可靠。有助于分光光度计在更多领域推广应用。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1为本实用新型综合型多用比色皿架的一实施例的结构图。
图2为本实用新型的应用实例。
具体实施方式
本实用新型提出了一种能够适用于各种不同类别样品的综合型多用比色皿架。该比色皿架包括底座、第一组件、第二组件和滑杆，其中，第一组件和第二组件设置在底座上，且第一组件和第二组件中至少有一个组件与底座为滑动连接，在第一组件和第二组件上分别设置使滑杆穿过的孔洞。在本实用新型中，第一组件和第二组件的结构可以相同，以利于批量生产。当然，第一组件和第二组件的结构也可以不同。在下面将结合图1中的实施例，对具有不同结构的第一组件和第二组件进行说明。所作的说明只是示例性的，不应理解为对本实用新型的限制。
由于第一组件和第二组件中至少有一个处于可滑动的状态，所以，在更换不同尺寸的比色皿和样品时，通过调节可滑动的组件并将其固定在滑杆上合适的位置，来适应多种规格比色皿、固体、玻片、薄膜等样品的装夹定位与检测。优选地，所述滑杆上设置有刻度线。其中，第一条刻度线代表了中心位置，即设备中光焦点的位置，其余几条刻度线代表常用几种规格比色皿对应放置的位置。可以根据刻度线调整并固定比色皿的位置。优选地，滑杆为两个，且平行设置。这样更有利于调整并固定比色皿的位置。当然，滑杆也可以为一个或者多于两个。
图1为本实用新型综合型多用比色皿架的一实施例的结构图，用于对具有不同结构的第一组件和第二组件进行说明。下面对图中的各个组成部分以及相应的附图标记进行说明。其中，第一滑块1、滚花螺钉2、第一滑杆3、底座4、限制件5、定位块6、第二滑杆7、弹簧8、第二滑块9。
在该实施例中，第一组件包括第一滑块1、以及用于固定第一滑块1的滚花螺钉2，第二组件包括限制件5、定位块6、弹簧8、以及第二滑块9。其中，定位块6、弹簧8以及第二滑块9依次连接，限制件5将定位块6、弹簧8以及第二滑块9连成整体，并且在该实施例中，具有两个平行设置的第一滑杆3和第二滑杆7。从图1中可以看出，限制件5、定位块6、以及弹簧8的数量都为两个，分别设置在第二滑块9的两端。然而，本领域技术人员应该可以理解，所述数量并不限于两个，可以是一个或多个。
在第二滑块9背对第一滑块1的方向，通过依次相连的定位块6以及弹簧8给样品施加一个固定的夹紧力，由限制件5将定位块6、弹簧8以及第二滑块9连成一个整体后固定在底座上。第二滑块9与比色皿贴合的方向为面对第一滑块1的方向，那么，另一面，也就是与弹簧贴合的方向为所说的背对第一滑块1的方向。于是，第二滑块9在弹簧8和其它外力作用下可沿第一滑杆3和第二滑杆7做小距离的位移调整，以更加精准的控制比色皿的固定位置，使固定力更加稳固。
本实用新型可以在更换不同尺寸的比色皿和样品时，只需要将第一组件和第二组件调节到合适的位置上固定即可。因此，一台分光光度计就可对多种类样品进行分析测试，该综合型多用比色皿架不仅适用于50mm光程以内的任意比色皿，而且适用于固体、玻片、薄膜等样品，对样品位置的重复性控制也更可靠。本实用新型有助于分光光度计在更多领域推广应用。
图2为本实用新型的应用实例。图2中样品容器(透明部分)为20mm光程玻璃比色皿。
拧松用于固定第一滑块的滚花螺钉，并移动第一滑块至第三条刻线处，移动第二滑块至贴紧比色皿(弹簧压缩0.5mm以内)，拧紧用于固定第一滑块的滚花螺钉，至此完成配合样品的位置调节，可以进行检测了，反复插拔比色皿也可保证每次插入样品位置一致。更换其它样品也一样方便简单。

Claims (7)

1.一种综合型多用比色皿架，包括底座，其特征是，还包括第一组件、第二组件和滑杆，其中，第一组件和第二组件设置在底座上，且第一组件和第二组件中至少有一个组件与底座为滑动连接，在第一组件和第二组件上分别设置使滑杆穿过的孔洞。
2.根据权利要求1所述的综合型多用比色皿架，其特征是，第一组件包括第一滑块和用于固定第一滑块的滚花螺钉。
3.根据权利要求2所述的综合型多用比色皿架，其特征是，第二组件的结构与第一组件相同。
4.根据权利要求1所述的综合型多用比色皿架，其特征是，第二组件包括定位块、弹簧、第二滑块以及限制件，其中，定位块、弹簧以及第二滑块依次连接，限制件将定位块、弹簧以及第二滑块连成整体。
5.根据权利要求4所述的综合型多用比色皿架，其特征是，第一组件的结构与第二组件相同。
6.根据权利要求1所述的综合型多用比色皿架，其特征是，所述滑杆上设置有刻度线。
7.根据权利要求1所述的综合型多用比色皿架，其特征是，滑杆为两个，且平行设置。
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