CN201543600U - 一种多芯发光led的分选装置 - Google Patents
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Abstract
一种多芯发光LED的分选装置,包括自动上料系统、电性能测试系统、光性能测试系统、分析系统、控制系统;还包括影像对比识别系统,所述影像对比识别系统主要包括供电系统、摄像头、CCD图像传感器、图像对比分析系统,所述摄像头通过CCD图像传感器与图像对比分析系统连接。在多芯LED分选装置中增加了影像识别对比系统能够对多芯LED的缺亮进行判断,确保LED产品的发光效果能够基本保持一致。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种LED的分选测试装置,具体说是一种实现多芯发光LED的分选装置。
背景技术
目前,功率型LED主要分两大类:一、支架上只固有单颗功率型LED芯片;二、支架上固有多颗小功率型LED芯片集成。现有的LED测试分光机一般具有两大测试功能:电性能测试和光性能测试,测试内容包括:正向压降、反向漏电流、发光强度或光通量、发光波长以及色温、色座标、显色指数等,可满足单颗或多颗LED芯片构成的发光品件对电性能和光性能的测试。但是,对于由多颗小功率LED芯片集成固定于一颗支架上组成的LED发光器件,除进行以上项目的测试外,由于产品的特殊结构还需对芯片的缺亮进行测试判定,目前的LED分光测试设备对于多颗芯片集成的LED,其中1颗或1颗以上的芯片不发光是无法判断的,LED品质的检测还不够完善。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种多芯发光LED的分选装置,能够对多芯LED的缺亮进行判断,确保LED产品的发光效果能够基本保持一致。
为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:一种多芯发光LED的分选装置,包括自动上料系统、电性能测试系统、光性能测试系统、分析系统、控制系统;还包括影像对比识别系统,所述影像对比识别系统主要包括供电系统、摄像头、CCD图像传感器、图像对比分析系统,所述摄像头通过CCD图像传感器与图像对比分析系统连接。
自动上料系统:由振动上料器、进料轨道和传感器组成,通过振动上料器和传感器将LED材料按照一定的顺序送入进料轨道,排队等待测试;
电性能测试系统:由供电系统和反馈测试电路组成,通过供电系统给LED器件提供一正向额定工作电流和反向额定电压,然后由反馈测试电路测试被测LED的正向工作压降和反向漏电流;
影像识别对比系统:包括供电系统、摄像头、CCD图像传感器、图像对比分析系统,通过供电系统给LED器件提供一额定的正向小电流,然后通过CCD图像传感器对小电流下LED器件的发光点进行影像对比识别,最后由图像对比分析系统判断LED器件是否存在缺亮不良;
光性能测试系统:由供电系统和光信号采集器组成,通过供电统率给LED器件提供一额定正向工作电流;
分析系统:由计算机构成,通过计算机对测试反馈数据进行分析判断并进行分档归类;
控制系统:由传感器构成,根据测试分析结果,通过传感器将LED器件传送到相对应的档位包装箱。
作为改进,所述CCD图像传感器为面阵CCD图像传感器。
本实用新型与现有技术相比所带来的有益效果是:
在多芯LED分选装置中增加了影像识别对比系统能够对多芯LED的缺亮进行判断,确保LED产品的发光效果能够基本保持一致。
附图说明
图1为多芯LED器件结构示意图;
图2为多芯LED器件电路原理图;
图3为影像对比识别系统的对比分析示意图的标准影像图;
图4为影像对比识别系统的对比分析示意图的缺光影像图;
图5为分选装置系统结构图;
图6为多芯LED分选装置的各个系统的运作流程图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本实用新型作进一步说明。
如图5、6所示,一种多芯发光LED的分选装置,所述分选装置的测试步骤依次包括自动上料系统、电性能测试系统、影像对比识别系统、光性能测试系统、分析系统、控制系统。
自动上料系统:由振动上料器、进料轨道和传感器组成,通过振动上料器和传感器将LED材料按照一定的顺序送入进料轨道,排队等待测试;
电性能测试系统:由供电系统和反馈测试电路组成,通过供电系统给LED器件提供一正向额定工作电流和反向额定电压,然后由反馈测试电路测试被测LED的正向工作压降和反向漏电流;
如图1至4所示,影像识别对比系统:包括供电系统、摄像头、面阵CCD图像传感器、图像对比分析系统,所述摄像头通过CCD图像传感器与图像对比分析系统连接;通过供电系统给LED器件提供一额定的正向小电流,本实施例中,多芯LED器件一共设有六个LED芯片,成两列布置,由于各个LED芯片为并联连接,因此各个LED芯片能够独立发光不受影响;若所有LED芯片为正常状态,LED器件通电后为全亮状态;若LED器件当中有部分芯片中存在不良,通电后虽然LED器件还是会通体发亮,但是其由于缺少光源,亮度会有所降低。由于LED发光器件本身的亮度值是一个范围值,如只有一颗LED芯片不良,则对LED器件整体亮度变化不大,这种亮度的降低仅仅是通过亮度的数值测试无法准确判断,所以只能通过CCD图像传感器对小电流下LED器件的发光点进行影像对比识别,最后由图像对比分析系统判断LED器件是否存在缺亮不良;
光性能测试系统:由供电系统和光信号采集器组成,通过供电统率给LED器件提供一额定正向工作电流;
分析系统:由计算机构成,通过计算机对测试反馈数据进行分析判断并进行分档归类;
控制系统:由传感器构成,根据测试分析结果,通过传感器将LED器件传送到相对应的档位包装箱。
在多芯LED分选装置中增加了影像识别对比系统能够对多芯LED的缺亮进行判断,确保LED产品的发光效果能够基本保持一致。
Claims (2)
1.一种多芯发光LED的分选装置,包括自动上料系统、电性能测试系统、光性能测试系统、分析系统、控制系统;其特征在于:还包括影像对比识别系统,所述影像对比识别系统主要包括供电系统、摄像头、CCD图像传感器、图像对比分析系统,所述摄像头通过CCD图像传感器与图像对比分析系统连接。
2.根据权利要求1所述的一种多芯发光LED的分选装置,其特征在于:所述CCD图像传感器为面阵CCD图像传感器。
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CN2009202382679U CN201543600U (zh) | 2009-11-02 | 2009-11-02 | 一种多芯发光led的分选装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN113237636A (zh) * | 2021-06-04 | 2021-08-10 | 东莞中之科技股份有限公司 | 一种led多晶产品检测方法 |
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2009
- 2009-11-02 CN CN2009202382679U patent/CN201543600U/zh not_active Expired - Fee Related
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