CN201527411U - 二维低频脉冲涡流探头 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及二维低频脉冲涡流探头，包括一探头接触端面，激励线圈，探头外壳，测量线圈的接线端头，探头外壳后端盖的开口处，二维霍尔元件组的接线端头，二维霍尔元件组；所述探头外壳是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处，所述的激励线圈的接线端头和所述的二维霍尔元件组的接线端头从所述圆管的后端盖开口处穿出；所述的探头接触端面和所述的探头外壳连接，所述的激励线圈和所述的二维霍尔元件组固定在所述的探头接触端面上；所述的激励线圈是空心线圈，所述二维霍尔元件组放置在所述的激励线圈中间空心处。采用本实用新型探头的低频脉冲涡流检测系统，可以应用于多种行业、多种产品的快速在线检测。
Description
所属技术领域
本实用新型涉及一种二维低频脉冲涡流探头，特别用于各种工件表面下缺陷的快速检测工作。
背景技术
涡流检测作为五大常规无损检测方法之一，在各种行业中应用非常广泛。最近，随着人们对涡流检测技术的深入了解及计算机技术、仪器仪表技术和数字信号处理技术的发展，涡流无损检测技术的应用取得了很大的突破。低频脉冲涡流是近年发展起来的新检测技术，主要用于表面、亚表面缺陷检测，是涡流检测的一种新的应用领域。传统的涡流检测技术由于集肤效应的影响，很难有效的检测多层结构中的缺陷，而低频脉冲涡流则可以很好的解决部分多层结构中的问题。低频脉冲激励信号由一组正弦信号组成，通过频谱分析和涡流技术分析可得，响应信号中也会有多个正弦频率成分。理论上，通过分析响应信号，就可以得到缺陷在不同频率下的响应，从而大大提高检测效率。低频脉冲涡流的数据分析主要是基于检测信号的特征提取：如检测信号的尾部特征、检测信号的最大值、检测信号的最大值的出现的时间等。现有的低频涡流探头用单个检测器件来检测信号，检测速度慢。本实用新型探头采用二维霍尔元件组来测量低频磁场信号，检测速度快，为涡流检测系统提供准确数据。
实用新型内容
本实用新型的目的在于改进上述现有技术中的不足而提供一种新型二维低频脉冲涡流探头。
本实用新型的目的通过以下措施来达到：
低频脉冲涡流探头包括一探头接触端面，激励线圈，探头外壳，测量线圈的接线端头，探头外壳后端盖的开口处，二维霍尔元件组的接线端头，二维霍尔元件组；所述探头外壳是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处，所述的激励线圈的接线端头和所述的二维霍尔元件组的接线端头从所述圆管的后端盖开口处穿出；所述的探头接触端面和所述的探头外壳连接，所述的激励线圈和所述的二维霍尔元件组固定在所述的探头接触端面上；所述的激励线圈是空心线圈，所述二维霍尔元件组放置在所述的激励线圈中间空心处。
二维霍尔元件组测量磁场的方法很简单，只要给其中的每个霍尔元件加上稳定直流电压，霍尔元件就可以给出它所在处磁场强度的模拟或数字信号。计算机通过分析低频脉冲涡流的数据，提取检测信号的特征：如检测信号的尾部特征、检测信号的最大值、检测信号的最大值的出现的时间等，可以得到工件缺陷信息。现在，低频脉冲涡流技术可以应用于多种行业、多种产品的在线检测，特别是多层结构中的缺陷检测、结构件疲劳裂纹探伤等。
本实用新型的优点在于：
本实用新型可以探测金属工件表面下的缺陷；因为采用二维霍尔元件组，低频测量效果好，测量迅速。
附图说明
图1：本实用新型二维低频脉冲涡流探头的剖面结构示意图。
图2：本实用新型二维霍尔元件组与激励线圈的位置示意图。
具体实施方式
如图1所示为本实用新型二维低频脉冲涡流探头的结构示意图。新型涡流探头，包括一探头接触端面1，激励线圈2，探头外壳3，激励线圈的接线端头4，探头外壳后端盖的开口处5，二维霍尔元件组的接线端头6，二维霍尔元件组7。所述探头外壳3是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处5，所述的激励线圈的接线端头4和所述的二维霍尔元件组的接线端头6从所述圆管的后端盖开口处5穿出；所述的探头接触端面1和所述的探头外壳3连接，所述的激励线圈2和所述的二维霍尔元件组7固定在所述的探头接触端面1上；所述的激励线圈2是空心线圈；所述的二维霍尔元件组7放置在所述的激励线圈2中间空心处。
激励线圈2安装在探头壳体3中，并且激励线圈的接线端头4和二维霍尔元件组的接线端头6从探头外壳后端盖的开口处5伸出。
使用涡流探头探测缺陷时，探头接触端面1放在被测元件上，激励线圈发射脉冲信号，霍尔元件组检测周围磁场信息，产生一组探测信号；这组探测信号经过放大、滤波等电路后输入到计算机中进行数据处理；然后就可以得到工件表面及表面下一组位置的缺陷信息。
采用本实用新型探头的低频脉冲涡流监测系统，可以应用于多种行业、多种产品的快速在线检测，特别是金属多层结构中的缺陷检测、金属结构件疲劳裂纹探伤等。
Claims (1)
1.新型涡流探头，其特征在于：包括一探头接触端面(1)，激励线圈(2)，探头外壳(3)，激励线圈的接线端头(4)，探头外壳后端盖的开口处(5)，二维霍尔元件组的接线端头(6)，二维霍尔元件组(7)；所述探头外壳(3)是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处(5)，所述的激励线圈的接线端头(4)和所述的二维霍尔元件组的接线端头(6)从所述圆管的后端盖开口处(5)穿出；所述的探头接触端面(1)和所述的探头外壳(3)连接，所述的激励线圈(2)和所述的二维霍尔元件组(7)固定在所述的探头接触端面(1)上；所述的激励线圈(2)是空心线圈；所述的二维霍尔元件组(7)放置在所述的激励线圈(2)中间空心处。
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| CN2009201638832U CN201527411U (zh) | 2009-07-06 | 2009-07-06 | 二维低频脉冲涡流探头 |
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| CN201527411U true CN201527411U (zh) | 2010-07-14 |
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| CN2009201638832U Expired - Fee Related CN201527411U (zh) | 2009-07-06 | 2009-07-06 | 二维低频脉冲涡流探头 |
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|---|---|
| CN (1) | CN201527411U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103760227A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-30 | 兰州空间技术物理研究所 | 深空探测器无损检测方法 |
| CN103760224A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-30 | 兰州空间技术物理研究所 | 航天器无损检测传感器及无损检测系统 |
| CN103760226A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-30 | 兰州空间技术物理研究所 | 航天器无损检测方法 |
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2009
- 2009-07-06 CN CN2009201638832U patent/CN201527411U/zh not_active Expired - Fee Related
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| CN103760227A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-30 | 兰州空间技术物理研究所 | 深空探测器无损检测方法 |
| CN103760224A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-30 | 兰州空间技术物理研究所 | 航天器无损检测传感器及无损检测系统 |
| CN103760226A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-04-30 | 兰州空间技术物理研究所 | 航天器无损检测方法 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20100714 Termination date: 20110706 |