CN103257182A - 一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统 - Google Patents

一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统,该检测方法主要包括:步骤1.对被测试件在已知缺陷深度或宽度的情况下,获得响应信号之间的时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式或者响应信号之间的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式;步骤2.对被测试件的缺陷深度或宽度进行定量评估,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线,得到测试信号与参考信号之间的时域信号差分峰值或频域信号基频差分峰值,并代入步骤1中求得的曲线代数式中,求得缺陷深度或宽度。本发明通过采用差分运算处理信号之间的关系不仅可以检测缺陷的存在,还可定量求得缺陷的深度或宽度,方法简便易于操作。

Description

一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统
技术领域
本发明属于无损检测技术领域,涉及一种脉冲涡流缺陷检测方法及检测系统,具体是一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统的设计。
背景技术
涡流无损检测技术,作为五大常规无损检测技术之一,以电磁感应原理为基础,适用于检测导电材料表面或近表面裂纹。它可以弥补其它无损检测方法的不足:与液体渗透检测法相比,它获得结果快,测试时不需要对样品进行清洗,能显示近表面裂纹;与超声检测相比,它不像超声波检测需要使用耦合剂,而且探头比较简单和易于制造,测试结果又比射线法快;与磁粉检测相比,涡流检测对磁性和非磁性材料都非常有效;而且,相比其它检测方法,涡流检测更易实现自动化,特别是对管、棒和线材等型材有很高的检测效率。因此,随着现代工业的发展,它在冶金、化工、电力、航天、核工业等部门和领域的关键零部件的检测与评估中得到日益广泛的应用。
脉冲涡流无损检测技术作为它的一个新兴分支,最近被越来越多的研究者所关注。区别于传统的以单频或多频涡流检测仅以单一频率或几个频率信号作为激励,它以包含无限多个频率谐波的脉冲矩形波信号作为激励信号,通过分析反馈磁场信号的特征来对缺陷进行定量检测。因此,激励信号本身就含有丰富的频率信息,从而使系统操作更方便,成本更低,同时,也提高了检测系统的响应速度和检测效率,也不像扫频检测需要专门的扫频设备。
清华大学的李路明等人给出了一种表面裂纹的谐振涡流检测方法,专利号为CN200610113299.7,其利用谐振电路产生脉冲谐振信号,激励传感器线圈,通过检测线圈获得涡流场来判断裂纹缺陷的存在,但是其存在的问题是只能对缺陷的存在进行识别,而不能对缺陷的大小进行定量的估算。南京航空航天大学的王平等人提出了脉冲涡流应力裂纹集成检测系统及方法,专利号为CN201010204577.6,其在脉冲涡流激励线圈与应变片结合的基础上,取得应变测量所需的差分稳定值以及脉冲涡流测量所需的差分瞬态值,并在此基础上采用二维磁传感器阵列进行高分辨率的磁场响应成像,虽然此方法解决了上述无法对缺陷进行定量估算的问题,但是采用此种方法需要传感器阵列的磁场响应成像,实现的过程相当复杂,并且成本也较高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统,其能够实现表面缺陷的检测以及表面缺陷的深度和宽度单一变量的定量评估,并且操作简便。
本发明解决其技术问题采用的技术方案是:一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,具体包括:
步骤1、对被测试件在已知缺陷深度或宽度的情况下,获得响应信号之间的时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式或者响应信号之间的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式,具体包括如下分步骤:
S11、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号;
S12、激励探头线圈,产生激励磁场,在被测试件内部产生涡流,由此获取参考信号和检测信号;所述参考信号为被测试件表面不存在缺陷时的响应信号,所述检测信号为被测试件在已知缺陷深度或宽度时的响应信号;
S13、提取参考信号和检测信号,获得参考信号和检测信号的时域信号曲线或频域信号曲线;
S14、对参考信号的时域信号曲线与检测信号的时域信号曲线进行差分处理,获得时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线,所述关系曲线代数式为:y=kx+b;其中y为所提取的差分峰值,x为与之对应的表面缺陷深度或宽度,k为二者线性曲线的斜率,b为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k与b的值,对应的换算关系为:
Figure BDA00003316343100021
或者对参考信号与检测信号的频域信号曲线提取基频峰值进行差分处理,获得频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线,所述关系曲线代数式为:y'=k'x'+b';其中y'为所提取的检测信号的基频差分峰值,x'为与之对应的表面缺陷深度或宽度,k'为二者线性曲线的斜率,b'为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k'与b'的值,对应的换算关系为:
Figure BDA00003316343100022
步骤2、对被测试件的缺陷深度或宽度进行定量评估,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线,得到测试信号与参考信号之间的时域信号差分峰值或频域信号基频差分峰值,具体包括如下分步骤:
S21、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号;
S22、激励探头线圈,产生激励磁场,在被测试件内部产生涡流,由此获取测试信号;
S23、提取测试信号,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线;
S24、对测试信号的时域信号曲线与参考信号的时域信号曲线进行差分处理,获得时域信号差分峰值,即得到y,代入上述公式:
Figure BDA00003316343100023
求出被测件缺陷深度或宽度x;
或者对测试信号的频域信号曲线与参考信号的频域信号曲线提取基频峰值进行差分处理,获得频域信号基频差分峰值,即得到y',代入上述公式:
Figure BDA00003316343100024
求出被测件缺陷深度或宽度x'。
进一步的,在所述步骤S14之前,还包括对所述参考信号和检测信号的放大滤波处理。
进一步的,在所述步骤S23之前,还包括对所述测试信号的放大滤波处理。
进一步的,所述步骤S12中包括在至少对三个不同的缺陷深度或宽度的检测信号的测量,所述至少三个不同的缺陷深度或宽度中包括最小的缺陷深度或最小的缺陷宽度。
进一步的,当所述表面缺陷宽度单一变化时,采用时域信号差分峰值与表面缺陷宽度的曲线关系实现对未知缺陷宽度的定量分析。
进一步的,当所述表面缺陷深度单一变化时,采用频域信号基频差分峰值与表面缺陷宽度的曲线关系实现对未知缺陷宽度的定量分析。
本发明解决其技术问题还提供了一种脉冲涡流缺陷定量检测系统,包括:脉冲激励信号源、传感器探头、数据采集模块以及数据转换处理模块;
所述脉冲信号源用于产生脉冲激励信号;
所述传感器探头包括激励线圈以及位于线圈内的霍尔传感器,激励线圈用于在被测试件导体内部产生涡流,霍尔传感器用于将磁场信号转化为电信号,所述电信号即为响应信号;
所述数据采集模块用于对响应信号进行提取和保存,提取出参考信号、检测信号和测试信号的时域信号,所述参考信号为被测试件在无缺陷时得到的响应信号,所述检测信号为被测试件在已知缺陷深度或宽度时得到的响应信号,所述测试信号为被测试件在未知缺陷深度或宽度时得到的响应信号;
所述数据转换处理模块用于将所述参考信号、检测信号和测试信号的时域信号转换为频域信号,并且对所述参考信号、检测信号和测试信号之间的时域峰值和频域信号基频峰值进行差分处理,最后提取所述信号之间的关系曲线。
进一步的,还包括信号调理模块,所述信号调理模块用于对霍尔传感器输出的电信号进行放大滤波处理,并输出到数据采集模块。
更进一步的,所述信号调理模块包括放大器AD620、运算放大器OP07。
进一步的,所述脉冲激励信号源采用SPF40型数字合成函数信号发生器实现。
本发明的有益效果是:采用本发明一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统,通过搭建脉冲涡流无损检测实验系统,利用霍尔传感器获得激励线圈产生的一次场与感应涡流产生的二次场的叠加磁场的大小,提取其差分信号特征值,利用已知缺陷深度或宽度的测试结果拟合差分峰值与缺陷深度或宽度关系曲线,然后比对未知深度或宽度缺陷点处差分峰值,得到该位置缺陷深度或宽度的近似值,从而实现了在仅有表面缺陷深度或宽度变化时缺陷的近似评估,相对于现有技术该检测方法及检测系统不仅能够实现对裂纹存在与否的判断,还可以对单一变化的裂纹进行定性估算,实现的方法过程简便,易于在实际中进行操作,并且成本较低。
附图说明
图1为本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法的流程框图;
图2为本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测系统的结构框图;
图3为本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测系统中传感器探头的结构示意图;
图4(a)为被测件为铝合金7075所得的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线;
图4(b)为被测件为铝合金2024所得的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线;
图5(a)为被测件为铝合金7075所得的时域信号差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线;
图5(b)为被测件为铝合金2024所得的时域信号差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的实施例作进一步的说明。
本发明实施例的脉冲涡流缺陷定量检测方法的流程框图如图1所示,具体包括:
步骤1、对被测试件在已知缺陷深度或宽度的情况下,获得响应信号之间的时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式或者响应信号之间的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式,具体包括如下分步骤:
S11、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号;
S12、激励探头线圈,产生激励磁场,在被测试件内部产生涡流,由此获取参考信号和检测信号;所述参考信号为被测试件表面不存在缺陷时的响应信号,所述检测信号为被测试件在已知缺陷深度或宽度时的响应信号;
S13、提取参考信号和检测信号,获得参考信号和检测信号的时域信号曲线或频域信号曲线;
S14、对参考信号的时域信号曲线与检测信号的时域信号曲线进行差分处理,获得时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线,所述关系曲线代数式为:y=kx+b;其中y为所提取的差分峰值,x为与之对应的表面缺陷深度或宽度,k为二者线性曲线的斜率,b为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k与b的值,对应的换算关系为:
Figure BDA00003316343100041
或者对参考信号与检测信号的频域信号曲线提取基频峰值进行差分处理,获得频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线,所述关系曲线代数式为:y'=k'x'+b';其中y'为所提取的检测信号的基频差分峰值,x'为与之对应的表面缺陷深度或宽度,k'为二者线性曲线的斜率,b'为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k'与b'的值,对应的换算关系为:
Figure BDA00003316343100051
步骤2、对被测试件的缺陷深度或宽度进行定量评估,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线,得到测试信号与参考信号之间的时域信号差分峰值或频域信号基频差分峰值,具体包括如下分步骤:
S21、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号;
S22、激励探头线圈,产生激励磁场,在被测试件内部产生涡流,由此获取测试信号;
S23、提取测试信号,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线;
S24、对测试信号的时域信号曲线与参考信号的时域信号曲线进行差分处理,获得时域信号差分峰值,即得到y,代入上述公式:
Figure BDA00003316343100052
求出被测件缺陷深度或宽度x;
或者对测试信号的频域信号曲线与参考信号的频域信号曲线提取基频峰值进行差分处理,获得频域信号基频差分峰值,即得到y',代入上述公式:
Figure BDA00003316343100053
求出被测件缺陷深度或宽度x'。
在现有技术中,脉冲涡流检测一般应用较多的是对航天器材的检测,采用本发明所述检测方法对被测试件进行检测时,只需在第一次对被测试件所属材料的已知缺陷深度或宽度进行测量分析,得出其时域信号差分峰值或频域信号基频差分峰值与缺陷深度或宽度的关系曲线,在下一次需要对该材料的表面缺陷深度或宽度进行检测时,可直接使用上一次得出的关系曲线,避免了重复劳动。在缺陷深度和宽度单一变化时,通过缺陷产生的响应信号的时域信号曲线或者频域信号曲线,可以实现对缺陷的深度或宽度的定量估计,其信号之间的处理计算也较为简便,易于在实际中进行操作。
如图2所示为本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测系统的结构框图,所述一种脉冲涡流缺陷定量检测系统采用上述方法对被测试件缺陷的深度或宽度进行定量检测;所述脉冲涡流缺陷定量检测系统包括:脉冲激励信号源、传感器探头、数据采集模块以及数据转换处理模块;所述脉冲信号源用于产生脉冲激励信号;所述传感器探头包括激励线圈以及位于线圈内的霍尔传感器,激励线圈用于在被测试件导体内部产生涡流,霍尔传感器用于将磁场信号转化为电信号,所述电信号即为响应信号;所述数据采集模块用于对响应信号进行提取和保存,提取出参考信号、检测信号和测试信号的时域信号,所述参考信号为被测试件在无缺陷时得到的响应信号,所述检测信号为被测试件在已知缺陷深度或宽度时得到的响应信号,所述测试信号为被测试件在未知缺陷深度或宽度时得到的响应信号;所述数据转换处理模块用于将所述参考信号、检测信号和测试信号的时域信号转换为频域信号,并且对所述参考信号、检测信号和测试信号之间的时域峰值和频域信号基频峰值进行差分处理,最后提取所述信号之间的关系曲线。
其中还包括信号调理模块,所述信号调理模块用于对霍尔传感器输出的电信号进行放大滤波处理,并输出到数据采集模块。
为了便于本领域技术人员能够理解并实施本发明方案,下面对本发明一种脉冲涡流缺陷定量检测方法及检测系统进行详细说明:
上述步骤S11和步骤S21中所述的激励信号的获取可以利用SPF40型数字合成函数信号发生器,由它直接得到频率、占空比及幅值均可调的高精度稳定脉冲信号f(t),它可用式(1)进行傅里叶展开:
Figure BDA00003316343100061
式中,A0为直流分量,An为对应的各谐波分量的幅值,ω1为基波角频率,
Figure BDA00003316343100062
为脉冲波初始相位。
如图3所示为本发明实施例一种脉冲涡流缺陷定量检测系统中传感器探头的结构示意图,上述步骤S12和步骤S22中对所述参考信号、检测信号、测试信号的获取由传感器探头实现,所述传感器探头由激励线圈和霍尔传感器组成。激励线圈为激励磁场源,由它产生构成涡流效应的一次磁场;霍尔传感器置于激励线圈底部中间位置,作为探头的检测部分,用于获取线圈激励磁场和涡流反馈磁场叠加后磁场的大小,并将其转化为电压信号反馈给后续处理部分。
但是由于激励磁场比较微弱,因此,霍尔传感器所输出的电压信号同样比较小,往往只有几十毫伏,而且里面还掺杂了很多高频干扰信号,因此,需要对传感器探头输出的信号进行放大滤波处理,也就是对所获得的参考信号、检测信号以及测试信号进行放大滤波处理,滤除信号中的杂波干扰信号并对其进行放大,使其达到后续数据采集模块的测量范围。为实现这一功能,在本发明实施例中可以使用以仪表放大器AD620为核心的放大电路实现信号的放大,并利用高精度运算放大器OP07组成二阶低通滤波器滤除干扰信号。
在完成了对参考信号、检测信号以及测试信号的获取之后,需要将所得到的数据进行提取和保存,以方便对结果进行分析对比,为实现检测系统与上位机的连接,在本发明实施例中可利用上位机控制数据采集卡来实现对信号的采集和存储。对获取的信号需要提取单周期信号,并实现不同信号之间的对比,频谱分析以及微分处理等,这个过程中本发明实施例通过编写图形化程序来实现,并结合Matlab程序实现对信号的差分处理以及特征值提取。
下面对所获得的参考信号、检测信号以及测试信号的具体的数据处理过程进行详细描述:
由于在缺陷深度不变,宽度作为单一变量时,所获得的时域信号差分峰值与表面缺陷宽度的关系曲线的线性度较好,无需再做频域信号的差分处理,所以在本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法中,当表面缺陷宽度单一变化时,采用时域信号差分峰值与表面缺陷宽度的曲线关系实现对未知缺陷宽度的定量分析;而在缺陷宽度不变,深度作为单一变量时,采用频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线的线性度相对于时域信号差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线的线性度较好,所以在本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法中,当表面缺陷深度单一变化时,采用频域信号基频差分峰值与表面缺陷宽度的曲线关系实现对未知缺陷宽度的定量分析。
如图4(a)、(b)所示为被测件分别为铝合金7075和铝合金2024所得的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线,由图可以得出对于仅有深度单一变化的表面缺陷而言,在涡流效应的作用范围内,以被测试件在无缺陷时的响应信号为参考,检测信号幅值随着缺陷深度的增加而增加,且其差分信号峰值随表面缺陷深度的增加呈线性增加,其线性关系曲线公式(2):
y=kx+b                        (2)
式中,y为所提取的基频差分峰值,x为与之对应的表面缺陷深度,k为二者线性曲线的斜率,b为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k与b的值。
由公式(2)变换得到求解表面缺陷深度表达式(3):
x = y - b k - - - ( 3 )
根据式(3),在对某一未知深度缺陷进行检测时,提取出对应的基频差分峰值y1,将y1值代入其中,即可得到该测点处的缺陷深度评估值x1为:
Figure BDA00003316343100072
如图5(a)、(b)所示为被测件分别为铝合金7075和铝合金2024所得的时域信号差分峰值与表面缺陷深度的关系曲线,由图可以得出对于只有表面缺陷宽度单一变化时,在系统测试范围内,以无缺陷时检测信号为参考,检测信号幅度亦会随着表面缺陷宽度的增加而增加,而且其与参考信号差分后的峰值与缺陷宽度亦呈现出一定的线性关系,其线性关系曲线公式(4):
y'=k'x'+b'                               (4)
式中,y'为所提取的时域信号差分峰值,x'为与之对应的表面缺陷宽度,k'为二者线性曲线的斜率,b'为其关系曲线截距。
由公式(4)变换得求解表面缺陷宽度的表达式(5):
x ′ = y ′ - b ′ k ′ - - - ( 5 )
根据式(5),在对某一未知宽度缺陷进行检测时,根据检测处理得到的时域信号差分峰值y1',将其代入其中,即可得到该测点出的缺陷宽度评估值x1':
Figure BDA00003316343100082
为了保证得到的检测信号的准确性,在本发明实施例的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法应至少对三个不同的缺陷深度或宽度的检测信号的测量,所述至少三个不同的缺陷深度或宽度中包括最小的缺陷深度或最小的缺陷宽度,以避免将未知缺陷的深度或宽度的时域曲线或频域曲线的特征值带入获得的代数表达式中时出现负值,其对应的数据可用d1、d2、d3表示,再利用最小二乘法对三点数据进行线性拟合,即可确定出时域或频域差分峰值与表面缺陷深度或宽度的线性关系曲线公式。

Claims (10)

1.一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,其特征在于,具体包括:
步骤1、对被测试件在已知缺陷深度或宽度的情况下,获得响应信号之间的时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式或者响应信号之间的频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线代数式,具体包括如下分步骤:
S11、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号;
S12、激励探头线圈,产生激励磁场,在被测试件内部产生涡流,由此获取参考信号和检测信号;所述参考信号为被测试件表面不存在缺陷时的响应信号,所述检测信号为被测试件在已知缺陷深度或宽度时的响应信号;
S13、提取参考信号和检测信号,获得参考信号和检测信号的时域信号曲线或频域信号曲线;
S14、对参考信号的时域信号曲线与检测信号的时域信号曲线进行差分处理,获得时域信号差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线,所述关系曲线代数式为:y=kx+b;其中y为所提取的差分峰值,x为与之对应的表面缺陷深度或宽度,k为二者线性曲线的斜率,b为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k与b的值,对应的换算关系为:
或者对参考信号与检测信号的频域信号曲线提取基频峰值进行差分处理,获得频域信号基频差分峰值与表面缺陷深度或宽度的关系曲线,所述关系曲线代数式为:y'=k'x'+b';其中y'为所提取的检测信号的基频差分峰值,x'为与之对应的表面缺陷深度或宽度,k'为二者线性曲线的斜率,b'为其关系曲线截距,在此过程中,即可确定出k'与b'的值,对应的换算关系为: x ′ = y ′ - b ′ k ′ ;
步骤2、对被测试件的缺陷深度或宽度进行定量评估,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线,得到测试信号与参考信号之间的时域信号差分峰值或频域信号基频差分峰值,具体包括如下分步骤:
S21、产生频率和占空比均可调的脉冲激励信号;
S22、激励探头线圈,产生激励磁场,在被测试件内部产生涡流,由此获取测试信号;
S23、提取测试信号,获得测试信号的时域信号曲线或频域信号曲线;
S24、对测试信号的时域信号曲线与参考信号的时域信号曲线进行差分处理,获得时域信号差分峰值,即得到y,代入上述公式:
Figure FDA00003316343000013
求出被测件缺陷深度或宽度x;
或者对测试信号的频域信号曲线与参考信号的频域信号曲线提取基频峰值进行差分处理,获得频域信号基频差分峰值,即得到y',带入上述公式:
Figure FDA00003316343000014
求出被测件缺陷深度或宽度x'。
2.如权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,其特征在于:在所述步骤S14之前,还包括对所述参考信号和检测信号的放大滤波处理。
3.如权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,其特征在于:在所述步骤S23之前,还包括对所述测试信号的放大滤波处理。
4.如权利要求1所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,其特征在于:所述步骤S12中包括在至少对三个不同的缺陷深度或宽度的检测信号的测量,所述至少三个不同的缺陷深度或宽度中包括最小的缺陷深度或最小的缺陷宽度。
5.如权利要求1至4任一项权利要求所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,其特征在于:当所述表面缺陷宽度单一变化时,采用时域信号差分峰值与表面缺陷宽度的曲线关系实现对未知缺陷宽度的定量分析。
6.如权利要求1至4任一项权利要求所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测方法,其特征在于:当所述表面缺陷深度单一变化时,采用频域信号基频差分峰值与表面缺陷宽度的曲线关系实现对未知缺陷宽度的定量分析。
7.一种脉冲涡流缺陷定量检测系统,其特征在于,包括:脉冲激励信号源、传感器探头、数据采集模块以及数据转换处理模块;所述脉冲信号源用于产生脉冲激励信号;所述传感器探头包括激励线圈以及位于线圈内的霍尔传感器,激励线圈用于在被测试件导体内部产生涡流,霍尔传感器用于将磁场信号转化为电信号,所述电信号即为响应信号;所述数据采集模块用于对响应信号进行提取和保存,提取出参考信号、检测信号和测试信号的时域信号,所述参考信号为被测试件在无缺陷时得到的响应信号,所述检测信号为被测试件在已知缺陷深度或宽度时得到的响应信号,所述测试信号为被测试件在未知缺陷深度或宽度时得到的响应信号;所述数据转换处理模块用于将所述参考信号、检测信号和测试信号的时域信号转换为频域信号,并且对所述参考信号、检测信号和测试信号之间的时域峰值和频域信号基频峰值进行差分处理,最后提取所述信号之间的关系曲线。
8.如权利要求7所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测系统,其特征在于:还包括信号调理模块,所述信号调理模块用于对霍尔传感器输出的电信号进行放大滤波处理,并输出到数据采集模块。
9.如权利要求8所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测系统,其特征在于:所述信号调理模块包括放大器AD620、运算放大器OP07。
10.如权利要求7所述的一种脉冲涡流缺陷定量检测系统,其特征在于:所述脉冲激励信号源采用SPF40型数字合成函数信号发生器实现。
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