CN201251431Y - 电子组件透视检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电子组件透视检测装置，包含：光源组件，承载组件，以及成像组件；该成像组件包含X光转换/影像增强部件，镜头；CCD照相机，以及影像辨识组件。所述电子组件透视检测装置应用于电子组件透视检测环境中，该电子组件透视检测装置利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，用于检测该电子组件是否为良品。
Description
技术领域
本新型涉及一种透视检测装置，尤其涉及一种电子组件透视检测装置。
背景技术
目前，一些高能量光源，例如，X光光源，伽玛射线源，常应用于计算机断层影像系统中，用以检测待测物的生化及病理特性。一般而言，计算机断层扫瞄(CT)中，利用X光做为光源并照射一待测检测物，以得出该待测检测物的结构性影像。而单光子发射计算机断层扫瞄(SPECT)则使用放射性同位素伽玛射线造影，以得出该待测检测物的功能性影像，例如，中国台湾专利公报的公告/公开号00,565,437《整合结构性及功能性造影之计算机断层影像系统》中使用X光、伽玛射线做为光源、幅射源来检测待测物的生化及病理特性。因此，高能量光源(例如，X光光源)的应用上常仅局限于计算机断层影像系统，并常仅用于检测待测物的生化及病理特性，而并未应用于电子组件透视检测上。
即便如中国台湾专利公报的公告/公开号0,056,023《使用光及X射线的观察装置、曝光装置及曝光方法》中所述，然而，该专利仅适用于电路基板/光罩基板上，而并非是针对电子组件而言，况且，于该专利中曝光装置必须予以移动以进行曝光方法，因此，该专利仅是利用可见光、以及X光当成曝光光源，而并非是用来检测透视电子组件的结构。
另外，如于中国台湾专利公报的公告/公开号I273275《控制幅射的传感器装置、具此传感器装置之计算机断层扫瞄装置及其制造方法》中所述，该专利仅为应用于计算机断层扫瞄装置中的传感器装置、及其制造方法，其适用范围也仅局限于计算机断层扫瞄方面。
所以如何寻求一种电子组件透视检测装置，特别是应用于，例如，检测发光二极管LED组件，利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的LED电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，用以检测该电子组件是否为良品，乃是待解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的主要目的便是在于提供一种电子组件透视检测装置，特别是应用于检测发光二极管LED组件及/或其它电子组件，利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的LED电子组件及/或其它电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，以检测该电子组件是否为良品。
为了实现上述目的，本新型提供了一种电子组件透视检测装置，在无须移动电子组件的情况下对电子组件进行检测，所述电子组件透视检测装置包含：
光源组件，该光源组件用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或可见光光源；
承载组件，该承载组件用以承载该电子组件，并让该X光光源及/或该可见光光源照射该电子组件；以及
成像组件，该成像组件包含
X光转换/影像增强部件，该X光转换/影像增强部件会将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强；
镜头；
CCD照相机；于该X光转换/影像增强部件下方的该镜头以及该CCD照相机，将所照射出的该电子组件的影像传送到影像辨识组件；
以及；
影像辨识组件，该影像辨识组件分析、判断所得的电子组件的影像，而以检测该电子组件是否为良品。
所述光源组件包含：
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及
可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需的可见光光源。
所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合后的迭合影像。
所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像。
所述电子组件的影像为该电子组件的内部透视影像。
所述电子组件的该外形轮廓影像的形成先于该内部透视影像。
所述电子组件的该内部透视影像的形成先于该外形轮廓影像。
所述电子组件为发光二极管LED。
本新型的有益效果是：利用本新型的电子组件透视检测装置进行检测LED电子组件及/或其它电子组件时，于LED电子组件及/或其它电子组件无须移动的情况下，可用光源组件所产生的X光光源及/或可见光光源照射于承载组件上的LED电子组件及/或其它电子组件；当X光光源穿透于承载组件上的LED电子组件及/或其它电子组件后，于承载组件下方之X光转换/影像增强部件会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像予以增强；此时，于该X光转换/影像增强部件下方的输出面，已呈现正常可观看的影像；最后，于该X光转换/影像增强部件下方的镜头以及CCD照相机，将所照射出的LED电子组件及/或其它电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合，并将迭合后的影像传送到影像辨识组件，利用影像辨识组件而检测该电子组件是否为良品。
附图说明
图1为一系统示意图，用以显示说明本新型实施例中电子组件透视检测装置的结构；
图2为一示意图，用以显示说明图1中本新型实施例中电子组件透视检测装置的一更详细结构；
图3为一示意图，用以显示说明图2中本新型实施例中电子组件透视检测装置的X光光源取像情形；
图4为一示意图，用以显示说明图2中本新型实施例中电子组件透视检测装置的可见光源取像情形；
图5为一示意图，用以显示说明LED电子组件的内部透视影像；
图6为一示意图，用以显示说明LED电子组件的外形轮廓影像；
图7为一示意图，用以显示说明由LED电子组件的外形轮廓影像以及内部透视影像所组成的迭合影像；
图8为一示意图，用以显示说明利用图3中的X光光源取像所得出的另一LED电子组件的内部透视影像；
图9为一示意图，用以显示说明利用图4中的可见光源取像所得出的另一LED电子组件的外形轮廓影像；以及
图10为一示意图，用以显示说明由另一LED电子组件的外形轮廓影像以及内部透视影像所组成的迭合影像。
具体实施方式
图1为一系统示意图，用以显示说明本新型的电子组件透视检测装置的结构。如图1中所示，电子组件透视检测装置1包含光源组件2、承载组件3、成像组件4、以及影像辨识组件5。
在此，以LED电子组件6为例，但并非用以限定电子组件的种类，而仅是以LED电子组件6做为施行对象，用以说明本新型的电子组件透视检测装置1确实可实施并用以检测电子组件，其它的电子组件也可以利用本新型的电子组件透视检测装置1而予以检测。
光源组件2用以产生出照射LED电子组件6所需的X光光源及/或可见光光源。
承载组件3用以承载LED电子组件6，并让X光光源及/或可见光光源照射LED电子组件6。
成像组件4包含X光转换/影像增强部件41、镜头42、以及CCD照相机43。当X光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于承载组件3下方的X光转换/影像增强部件41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像予以增强。此时，于该X光转换/影像增强部件41下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该X光转换/影像增强部件41下方为镜头42以及CCD照相机43。于该X光转换/影像增强部件41下方的镜头42以及CCD照相机43，将所照射出的LED电子组件6的外形轮廓影像61、以及LED电子组件6的内部透视影像62予以迭合，并将迭合后的影像63传送到影像辨识组件5。
影像辨识组件5分析、判断所得的LED电子组件6外表与内层的清晰迭合影像63的电子组件外形轮廓影像61、以及该电子组件内部透视影像62，而检测该LED电子组件6是否为良品。
图2为一示意图，用以显示说明如图1中本新型的电子组件透视检测装置的一更详细结构。如图2中所示，电子组件透视检测装置1包含光源组件2、承载组件3、成像组件4、以及影像辨识组件5。
在此，光源组件2包含一个X光产生器21、以及一个可见光灯源22，该个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日光灯，环形LED等等。光源组件2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/或可见光光源。
承载组件3为一工作台，用以承载LED电子组件6并让X光光源及/或可见光光源照射LED电子组件6。
成像组件4包含X光转换/影像增强部件41、镜头42、以及CCD照相机43。当X光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于承载组件3下方的X光转换/影像增强部件41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像予以增强。此时，于该X光转换/影像增强部件41下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该X光转换/影像增强部件41下方的镜头42以及CCD照相机43，将所照射出的LED电子组件6的外形轮廓影像61、以及内部透视影像62予以迭合，并由CCD照相机43输出迭合影像63至影像辨识组件5。
影像辨识组件5分析、判断所得的LED电子组件6外表与内层的清晰迭合影像63的电子组件外形轮廓影像61、以及该电子组件内部透视影像62，而检测该LED电子组件6是否为良品。
图3为一示意图，用以显示说明图2中的本新型的电子组件透视检测装置的X光光源取像情形。在此，X光光源的取像动作可先于可见光源的取像动作，或者，后于可见光源的取像动作，或者，与可见光源取像动作同时进行。如图3中所示，光源组件2包含一个X光产生器21、以及一个可见光灯源22，该个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日光灯，环形LED等等。光源组件2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/或可见光光源。
成像组件4包含X光转换/影像增强部件41、镜头42、以及CCD照相机43。当X光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于承载组件3下方的X光转换/影像增强部件41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像予以增强。此时，于该X光转换/影像增强部件41下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该X光转换/影像增强部件41下方的镜头42以及CCD照相机43将内部透视影像62输出至影像辨识组件5，可得出如图5中所示的内部透视影像62。
图4为一示意图，用以显示说明如图2中的本新型的电子组件透视检测装置的可见光源取像情形。在此，可见光源的取像动作可先于X光光源的取像动作，或者，后于X光光源的取像动作，或者，与X光光源取像动作同时进行。如图4中所示，光源组件2的可见光灯源22可为环形灯具；例如，环形日光灯，环形LED等等，用以产生出照射检测物所需的可见光光源。
承载组件3为一工作台，用以承载LED电子组件6并让可见光光源照射LED电子组件6。
这里，由于光源为可见光，因此，于成像组件4中无须应用到X光转换/影像增强部件41，可将X光转换/影像增强部件41置于镜头42、以及CCD照相机43的左侧。当可见光光源穿透于承载组件3上的LED电子组件6后，于该承载组件3下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该承载组件3
下方的镜头42以及CCD照相机43将外形轮廓影像61输出至影像辨识组件5，可得出如图6中所示的外形轮廓影像61。
图5为一示意图，用以显示说明LED电子组件的内部透视影像。如图5中所示，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自于镜头42以及CCD照相机43的LED电子组件6的内部透视影像62。
图6为一示意图，用以显示说明LED电子组件的外形轮廓影像。如图4中所示，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自于镜头42以及CCD照相机43的LED电子组件6的外形轮廓影像61。
图7为一示意图，用以显示说明由LED电子组件的外形轮廓影像以及内部透视影像所组成的迭合影像。在此，外形轮廓影像61可先于内部透视影像62而产生出来，或者，后于内部透视影像62，或者，外形轮廓影像61与内部透视影像62同时产生出来。迭合影像63由图5中的内部透视影像62以及如图6中的外形轮廓影像61所组成。通过于影像辨识组件5上的迭合影像63，可检测出LED电子组件6是否为良品。
图8为一示意图，用以显示说明利用于图3中的X光光源取像所得出的另一LED电子组件的内部透视影像。在此，由于其X光光源取像同理于图3，是故在此不再赘述。如第8图中所示之，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自于镜头42以及CCD照相机43的LED电子组件6的另一LED电子组件6的内部透视影像62。
图9为一示意图，用以显示说明利用于图4中的可见光源取像所得出的另一LED电子组件的外形轮廓影像。在此，由于其可见光源取像同理于图4，是故在此不再赘述如图9中所示，于影像辨识组件5上，可清楚的得出来自于镜头42以及CCD照相机43的另一LED电子组件6的外形轮廓影像61。
图10为一示意图，用以显示说明由另一LED电子组件的外形轮廓影像以及内部透视影像所组成的迭合影像。在此，外形轮廓影像61可先于内部透视影像62而产生出来，或者，后于内部透视影像62，或者，外形轮廓影像61与内部透视影像62同时产生出来。迭合影像63由图8中的内部透视影像62以及如图9中的外形轮廓影像61所组成。通过于影像辨识组件5上的迭合影像63，可检测出LED电子组件6是否为良品。
以上所述实施例，本新型的电子组件透视检测装置用以检测发光二极管LED电子组件，电子组件并非仅限于发光二极管LED电子组件，而是可为任何的电子组件，而用于其它电子组件的透视检测装置将包含于本新型，其原理相同、类似于本新型，因此，在此不再赘述。
综合以上的实施例，我们可以得到本新型的一种电子组件透视检测装置，用于电子组件透视检测环境中，该电子组件透视检测装置利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，以检测该电子组件是否为良品，在此，该电子组件可为，例如，发光二极管LED组件。本新型的电子组件透视检测装置的优点为：利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的LED电子组件及/或其它电子组件，在无须移动电子组件检测物的情况下，分析、判断所得的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像，以检测该电子组件是否为良品。
以上所述仅为本新型的较佳实施例而已，并非用以限定本新型的范围；凡其它未脱离本新型所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在下述的新型范围内落千丈。
Claims (11)
1.一种电子组件透视检测装置，在无须移动电子组件的情况下对电子组件进行检测，其特征在于，所述电子组件透视检测装置包含：
光源组件，该光源组件用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或可见光光源；
承载组件，该承载组件用以承载该电子组件，并让该X光光源及/或该可见光光源照射该电子组件；以及
成像组件，该成像组件包含
X光转换/影像增强部件，该X光转换/影像增强部件会将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强；
镜头；
CCD照相机；于该X光转换/影像增强部件下方的该镜头以及该CCD照相机，将所照射出的该电子组件的影像传送到影像辨识组件；
以及；
影像辨识组件，该影像辨识组件分析、判断所得的电子组件的影像，而以检测该电子组件是否为良品。
2.如权利要求1所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述光源组件包含：
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及
可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需的可见光光源。
3.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合后的迭合影像。
4.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像。
5.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的影像为该电子组件的内部透视影像。
6.如权利要求3所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的该外形轮廓影像的形成先于该内部透视影像。
7.如权利要求3所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件的该内部透视影像的形成先于该外形轮廓影像。
8.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件为发光二极管LED。
9.如权利要求3所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件为发光二极管LED。
10.如权利要求4所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件为发光二极管LED。
11.如权利要求5所述的电子组件透视检测装置，其特征在于，所述电子组件为发光二极管LED。
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102944567A (zh) * | 2012-11-29 | 2013-02-27 | 中国航空综合技术研究所 | 塑封电子元器件x射线造影检测方法 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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