CN201242560Y - 一种边缘电压值的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种边缘电压值的测试装置,包括:用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的数字电压的测试卡,该测试卡的输出端连接待测试电脑主板;与测试卡的输入端连接控制装置,用于向测试卡发送命令参数,并接收待测试电脑主板反馈的测试数据,显示待测试电脑主板上中央处理器或内存的边缘电压值。本实用新型测试装置可以根据实际情况输出任意想要输出的电压此电压即可取代待测试主板上的参考电压(VREF),从而达到取代、测试和验证的目的,实现自动化测试中央处理器或内存的边缘电压值;另外,本实用新型测试装置可提供3.3V以下的毫伏级精确电压,可取代任何3.3V以下的电路电压,而无需修改待测试主板上的原来电路。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试装置,尤其是涉及一种可以自动对中央处理器或内存进行边缘(Margin)电压值的测试装置。
背景技术
针对当前主流电脑制造商在电脑主板制造过程中的测试项目需求,需要对电脑主板上的中央处理器(CPU)或内存(Memory)进行边缘(Margin)电压值的测试。
然而,目前国内尚无自动对中央处理器或内存进行边缘电压值的测试装置,因此急需开发此类测试装置。
实用新型内容
本实用新型公开一种边缘电压值的测试装置,以能够自动实现自动化测试中央处理器或内存的边缘电压值。
为达成上述目的,本实用新型公开的边缘电压值的测试装置包括:用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的输出电压的测试卡,该测试卡的输出端连接待测试电脑主板;与测试卡的输入端连接控制装置,用于向测试卡发送命令参数,并接收待测试电脑主板反馈的测试数据,显示待测试电脑主板上中央处理器或内存的边缘电压值。
所述测试卡包括:分别用于与待测试电脑主板和控制装置连接的USB接口;可调电阻单元,连接在主控制模块与输出接口之间;用于将命令参数进行解码处理并控制可调电阻单元输出对应的输出电压的主控模块,其连接可调电阻单元;用于将USB接口输出的5V电压转换成3.3V电压为主控模块供电的低电压输出模块,连接在主控模块与其中一个USB接口之间;用于接收待测试电脑主板的信息的自动测试模块,连接在主控模块与另一个USB接口之间;用于将数字电压输出至待测试电脑主板的输出接口,其连接保护电路;用于对可调电阻单元输出的数字电压进行过流和过压保护的保护电路,其连接在可调电阻单元与输出接口之间。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益技术效果:
本实用新型测试装置可以根据实际情况输出任意想要输出的电压此电压即可取代待测试主板上的VREF从而达到取代、测试和验证的目的,实现自动化测试中央处理器或内存的边缘电压值;另外,本实用新型测试装置可提供3.3V以下的毫伏级精确电压,可取代任何3.3V以下的电路电压,而无需修改待测试主板上的原来电路。
附图说明
图1是本实用新型测试装置的结构示意图;
图2是图1中测试卡的电路结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,当需要测试待测试电脑主板上10的中央处理器(CPU)、或内存(Memory)的边缘(Margin)电压值时,需要将测试卡20连接待测试电脑主板10,且使测试卡20的输出端连接控制装置30,该控制装置可以为一台个人电脑或服务器。
结合图2所示。该测试卡20主要包括:分别用于连接到待测试电脑主板10和控制装置30的USB接口21和22,该USB接口21和22均包括USB连接器和型号为PDIUSBDL2的USB1.1驱动芯片;与USB接口22连接的自动测试模块29,该自动测试模块29可采用P89C52的单片机实现,用于接收待测试电脑主板10的信息;与USB接口21连接的低电压输出模块23,该低电压输出模块23采用低压降(Low DropOut,LDO)线性管理芯片来实现,用于将USB接口21输出的+5v电压转变成3.3v电压并输出给主控模块24,为主控模块24提供工作电源;当控制装置30设置命令参数后,通过USB接口21传送给主控模块24,由主控模块24将命令参数进行解码处理,输出对应的命令控制可调电阻单元25输出对应命令参数的数字电压;数字电压通过保护电路26后,从两个输出接口28和29输出给待测试电脑主板10;待测试电脑主板10将测试结果反馈至控制装置30,由控制装置30显示中央处理器或内存的边缘电压值。
另外,在进行测试时,需要从待测试电脑主板10上引出3根信号线:VTT、VREF、GND信号线,按如图2所示方式与测试卡20连接;另外,工程师只需在控制装置30上填写必要的软件设置即可由控制装置30产生命令参数输出。并且,该测试卡20既可以粗调输出电压(0~255步任意调配),也可以微调输出电压;并在掉电后,仍然有记忆保持上次配置功能。
综上,本实用新型测试装置可以根据实际情况输出任意想要输出的电压此电压即可取代待测试主板10上的VREF从而达到取代、测试和验证的目的,实现自动化测试中央处理器或内存的边缘电压值。另外,本实用新型测试装置可提供3.3V以下的毫伏级精确电压,可取代任何3.3V以下的电路电压,而无需修改待测试主板10上的原来电路。
Claims (3)
1、一种边缘电压值的测试装置,其特征在于,包括:
测试卡,用于将命令参数进行解码处理并控制输出对应的输出电压,该测试卡的输出端连接待测试电脑主板;
控制装置,与测试卡的输入端连接,用于向测试卡发送命令参数,并接收待测试电脑主板反馈的测试数据,显示待测试电脑主板上中央处理器或内存的边缘电压值。
2、根据权利要求1所述的边缘电压值的测试装置,其特征在于,所述测试卡包括:
两个USB接口,用于分别与待测试电脑主板和控制装置连接;
可调电阻单元,连接在主控制模块与输出接口之间;
主控模块,用于将命令参数进行解码处理并控制可调电阻单元输出对应的数字电压,其连接可调电阻单元;
低电压输出模块,用于将USB接口输出的5V电压转换成3.3V电压为主控模块供电,连接在主控模块与其中一个USB接口之间;
自动测试模块,用于接收待测试电脑主板的信息,连接在主控模块与另一个USB接口之间;
输出接口,用于将数字电压输出至待测试电脑主板,其连接可调电阻单元。
3、根据权利要求2所述的边缘电压值的测试装置,其特征在于,所述测试卡还包括:
保护电路,用于对可调电阻单元输出的数字电压进行过流和过压保护,其连接在可调电阻单元与输出接口之间。
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CN103575953A (zh) * | 2012-07-19 | 2014-02-12 | 名硕电脑(苏州)有限公司 | 主板输出电压测量机台及其测量方法 |
CN106844117A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-06-13 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 一种内存电压拉偏测试系统 |
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CN103575953B (zh) * | 2012-07-19 | 2016-04-20 | 名硕电脑(苏州)有限公司 | 主板输出电压测量机台及其测量方法 |
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GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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