CN201207070Y - 平板显示面板电极线缺陷检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型针对采用Ag、Al电极等电极结构的等离子体显示板,在制程中产出的Ag、Al电极等电极的断线缺陷、连线缺陷,提出一种快速、可靠的检测装置,其特征是它由检测台(4)、支架(10)、控制系统(11)、检测头(8)和带有放电空腔体(6)的待检测单元组成,带有放电空腔体(6)的待检测单元放置在检测台(4)上并连接有加压电源(5),支架(10)位于检测台(4)的上方,检测头(8)活动安装在滑杆(9)上并能沿滑杆(9)作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统(11)相连,滑杆(9)活动支承在支架(10)上并能沿支架(10)作Y方向的前后移动。本实用新型具有能够快速准确地找出前后基板电极线的断线和连线缺陷点以及制作工艺简单,成本低的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种利用气体放电腔体中的气体放电检测平板显示面板电极线缺陷的检测装置,尤其涉及一种荫罩式等离子体显示器面板上电极线的检测,具体地说是一种表面放电型荫罩式等离子体显示器上电极线的检测装置。
背景技术
目前采用的荫罩式等离子体显示板主要包括前基板、后基板和荫罩。前基板从玻璃基板起,分别是扫描电极、介质层以及在介质层表面形成的保护层;后基板从玻璃基板起,分别是与扫描电极垂直的寻址电极,介质层以及在介质层上形成的保护层;夹在前、后基板中间的荫罩是由导电材料(例如铁或其合金)加工而成的包含网孔阵列的金属薄网板。
前后基板上的电极线一般采用印刷,烘干,曝光,显影,烧结的工艺。但电极线由于工艺控制的难以把握的影响,容易出现断线和连线等缺陷情况。
目前检测前后基板电极线开短路的装置基本都是进口的光学检测装置,这样的装置精密复杂,不仅价格昂贵,而且检测速度也较慢,同时很多部件国内难以买到,需要厂商派人前来维护,维护费用高不说,周期还很长,对于装置维护使用不利。
发明内容
本实用新型的目的是针对现有的荫罩式等离子体前后基板电极线的开短路检测速度较慢,装置昂贵,维护不方便等问题,提出一种基于气体放电对电极缺陷进行判定的检测装置,它可广泛用于具有Ag电极的PDP基板的生产中。
本实用新型的技术方案是:
一种平板显示面板电极线缺陷检测装置,其特征是它由检测台4、支架10、控制系统11、检测头8和带有放电空腔体6的待检测单元组成,带有放电空腔体6的待检测单元放置在检测台4上并连接有加压电源5,支架10位于检测台4的上方,检测头8活动安装在滑杆9上并能沿滑杆9作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统11相连,滑杆9活动支承在支架10上并能沿支架10作Y方向的前后移动。
所述的放电空腔体6由测试用的玻璃基板1a、在玻璃基板1a上形成的测试电极1b、在电极1b上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层1c、待测面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组2b以及侧边3组成,以测试电极1b为一电极、以待测导电电极组2b为另一电极的单边介质放电腔体,也可以是由测试用的玻璃基板1a、在玻璃基板1a上形成的测试电极1b、在电极1b上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层1c、与绝缘介质层1c有一定间距的绝缘介质层12、待测面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组2b以及侧边3组成,以测试电极1b为一电极、以待测导电电极组2b为另一电极的双边介质放电腔体,其中侧边3可以是和测试面板的基板2a连为一体的相同介质材料,也可以是相互独立的不同介质材料,测试电极1b可以是在基板2a之上,也可以是在基板2a下面〔若电极1b在基板2a下面,则可去除介质层4〕。
本实用新型的有益效果:
1、本实用新型为快速准确地检出前后基板电极线的断线和连线缺陷点提供了实用的成套装置。
2、具有制作工艺简单,成本低的优点。
相比于目前进口的光学检测设备价格昂贵,检测较慢,维护困难等缺点,本实用新型的优势明显,是一个良好的替代选择。
四.附图说明
图1是与本实用新型相配的具有电极图案的测试面板示意图之一。
图2是与本实用新型相配的具有电极图案的测试面板示意图之二。
图3是本实用新型的具有电极图案的待测面板示意图。
图4是本实用新型的单边介质放电电极线图案缺陷检测装置的意图。
图5是本实用新型的双边介质放电电极线图案缺陷检测装置的示意图。
图6是本实用新型的平板显示器面板电极线图案缺陷种类示意图。
图7是本实用新型的待测面板引线区电极线分类示意图。
五.具体实施例
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的说明。
如图1-7所示
一种平板显示面板电极线缺陷检测装置,其特征是它由检测台4、支架10、控制系统11、检测头8和带有放电空腔体6的待检测单元组成,带有放电空腔体6的待检测单元放置在检测台4上并连接有加压电源5,支架10位于检测台4的上方,检测头8活动安装在滑杆9上并能沿滑杆9作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统11相连,滑杆9活动支承在支架10上并能沿支架10作Y方向的前后移动。
所述的放电空腔体6由测试用的玻璃基板1a、在玻璃基板1a上形成的测试电极1b、在电极1b上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层1c、待测面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组2b以及侧边3组成,以测试电极1b为一电极、以待测导电电极组2b为另一电极的单边介质放电腔体,也可以是由测试用的玻璃基板1a、在玻璃基板1a上形成的测试电极1b、在电极1b上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层1c、与绝缘介质层1c有一定间距的绝缘介质层12、待测面板的玻璃基板2a、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组2b以及侧边3组成,以测试电极1b为一电极、以待测导电电极组2b为另一电极的双边介质放电腔体,其中侧边3可以是和测试面板的基板2a连为一体的相同介质材料,也可以是相互独立的不同介质材料,测试电极1b可以是在基板2a之上,也可以是在基板2a下面〔若电极1b在基板2a下面,则可去除介质层4〕。
实例一
利用本实用新型的装置进行检测时,首先将待测面板2上电极线2b的引线区电极线相应分为A、B、C三类,将待测面板2与测试用面板1面向组合,中间保持一定的间隙,充入一定的工作气体;在测试电极1b和待测导电电极组2b的一端加上一定的交流电压,然后依次给A类(或B类或C类)电极线加上适当的交流电压,在控制系统11作用下,检测头8在X、Y方向以适当的光斑对所检测的面板2进行扫描检测,若某根A(或B或C)类电极线出现出现不发光区域,则亮暗交接点即是这条电极线的完全断线点13处,若是发现某根A(或B或C)类测电极线的中间某处发光偏弱,即该电极线的发光线条有凹陷等,则凹陷处即为该电极线的不完全断线缺口处,系统给出提示,通过CCD进一步确定断线性质,以确定是需修补的不完全断线15还是不影响显示效果而不需要修补的不完全断线14,并在控制系统11中记录断线点的位置,为后道的切断修补程序提供指令,并在控制系统11中记录断线缺点的位置,然后用修补机对断线点进行修补;若在两相邻待测电极之间的暗区检测到发光点,则该发光点即为电极间短路点16或电极边缘不整点17;在控制系统11中记录短路点16或电极边缘不整点17的位置,最后采用激光进行切断。
实施例二
考虑给加压电源5的夹具制备A、B、C三类电极线比较困难,则考虑仅给加压电源5的夹具制备一类电极线,假设为A类(空出B、C类电极线的位置),然后将加压电源5的夹具制备成可左右精确移动的装置,分三次检测(假设加压电源5的夹具在测试时朝同一个方向移动),然后将待测面板2上电极线2b的引线区电极线相应分为A、B、C三类,将待测面板2与测试用面板1面向组合,中间保持一定的间隙,充入一定的工作气体;在测试电极1b和待测导电电极组2b的一端加上一定的交流电压,在控制系统13作用下,检测头11在X、Y方向以适当的光斑对所检测的面板18进行扫描检测,第一次加压时将加压电源5的夹具的电极线与待测面板上A类电极线相重叠,若某根A类电极线出现出现不发光区域,则亮暗交接点即是这条电极线的完全断线点13处,若是发现某根A类测电极线的中间某处发光偏弱,即该电极线的发光线条有凹陷等,则凹陷处即为该电极线的不完全断线缺口处,系统给出提示,通过CCD进一步确定断线性质,以确定是需修补的不完全断线15还是不影响显示效果而不需要修补的不完全断线14,并在控制系统11中记录断线的位置,为后道的切断修补程序提供指令,并在控制系统11中记录断线缺点的位置,然后用修补机对断线点进行修补;若在两相邻待测电极之间的暗区检测到发光点,则该发光点即为电极间短路点16或电极边缘不整点17;在控制系统11中记录短路点16或电极边缘不整点17的位置,最后采用激光进行切断。测试完后将电源的夹具上电极线向右移动至待测面板C类电极线位置,加压检测,原理与给A类电极线加压检测时相同,最后再电源夹具向右移动至待测面板B类电极线位置,加压检测,同样原理与给待测面板A类电极线加压检测时相同,这样便可完成整个面板电极线的断连线缺陷的检测。
本实施例仅给出了部分具体的应用例子,但对于从事平板显示器的专业人员而言,还可根据以上启示设计出多种变形产品,这仍被认为涵盖于本实用新型之中。
Claims (2)
1、一种平板显示面板电极线缺陷检测装置,其特征是它由检测台(4)、支架(10)、控制系统(11)、检测头(8)和带有放电空腔体(6)的待检测单元组成,带有放电空腔体(6)的待检测单元放置在检测台(4)上并连接有加压电源(5),支架(10)位于检测台(4)的上方,检测头(8)活动安装在滑杆(9)上并能沿滑杆(9)作X方向的左右移动,它通过连接线与控制系统(11)相连,滑杆(9)活动支承在支架(10)上并能沿支架(10)作Y方向的前后移动。
2、根据权利要求1所述的平板显示面板电极线缺陷检测装置,其特征是所述的放电空腔体(6)由测试用的玻璃基板(1a)、在玻璃基板(1a)上形成的测试电极(1b)、在电极(1b)上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层(1c)、待测面板的玻璃基板(2a)、在玻璃基板(2a)上形成的待测导电电极组(2b)以及侧边(3)组成,以测试电极(1b)为一电极、以待测导电电极组(2b)为另一电极的单边介质放电腔体,也可以是由测试用的玻璃基板(1a)、在玻璃基板(1a)上形成的测试电极(1b)、在电极(1b)上局部测试区域内覆盖的绝缘介质层(1c)、与绝缘介质层(1c)有一定间距的绝缘介质层(12)、待测面板的玻璃基板(2a)、在玻璃基板2a上形成的待测导电电极组(2b)以及侧边(3)组成,以测试电极(1b)为一电极、以待测导电电极组(2b)为另一电极的双边介质放电腔体,其中侧边(3)可以是和测试面板的基板(2a)连为一体的相同介质材料,也可以是相互独立的不同介质材料,测试电极(1b)可以是在基板(2a)之上,也可以是在基板(2a)下面。
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