CN201149540Y - Led光学检测器 - Google Patents

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CN201149540Y CNU200720058687XU CN200720058687U CN201149540Y CN 201149540 Y CN201149540 Y CN 201149540Y CN U200720058687X U CNU200720058687X U CN U200720058687XU CN 200720058687 U CN200720058687 U CN 200720058687U CN 201149540 Y CN201149540 Y CN 201149540Y
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张卫东
李绍楷
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Zhuhai Higrand Electronic Technology Co Ltd
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Zhuhai Higrand Electronic Technology Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种LED光学检测器,包括镜头座、光学镜头组、衰减片、光度探测器和光纤传感器,所述光学镜头组、衰减片、光度探测器安装在所述镜头座上;在所述镜头座的一端设有入光口,在所述镜头座的另一端安装有光纤传感器;在所述的镜头座上还增设有衰减片转换装置,所述衰减片设置在所述衰减片转换装置上。所述光学检测器更换衰减片简易方便快速。另外,如果将所述衰减片设置在光学镜头组与光纤传感器之间,可以提高光强测定的精度。

Description

LED光学检测器
技术领域
本实用新型涉及光学检测领域,尤其涉及检测LED光参数的光学检测器。
背景技术
目前,业内所公知的LED光强和波长检测器是一个镜头座内设置一个平面的分光镜,待测LED发出的光通过衰减片后射在平面分光镜的表面分成两部分,一部分被分光镜反射,另一部分被平面分光镜折射,经反射的LED光照射在光度探测器上,再由光强显示电路将光度探测器输出的光电流信号转化成反映光强的电压信号,由电压值即可确定被测LED光强度。经折射后的光照在衰减片的表面,折射光经过衰减后,又依次投射在两凸透镜上,两个凸透镜共同将折射后的LED光聚焦成为一个亮光斑,此亮光斑射在光纤传感器上,光纤传感器通过光电转换器将信号转变成电信号来测量LED的波长。
这种LED光学镜头的缺点是:1:对LED光强度、波长测量有误差。在LED测试中,当一些LED产品光路信号超出光谱卡测量范围后光谱图饱和的情况下才使用衰减片,而光学探测器在一般LED检测情况下是不需要用衰减片把光信号减弱的,加衰减片只会适得其反,影响其光源的真实性。2:测调试中更换衰减片操作过于繁锁。由于市场的需要,各厂家生产各种不同规格的衰减片来配合不同的产品满足市场的需要。由于产品不同,而测量的光纤传感器的测量范围是一定的。这就需要用各种不同衰减度的衰减片来减弱其光信号,使之能达到光纤传感器的测量范围之内。每检测一种LED产品都要把固定衰减片的零件拆下加入不同的衰减度的衰减片后再安装上去。操作过程繁锁复杂,大大浪费了调试时间,且不利于衰减片的保管与清洁。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种更换衰减片简易方便快速的LED光强和波长检测器。
本实用新型所采用的技术方案是:一种LED光学检测器,包括镜头座、光学镜头组、衰减片、光度探测器和光纤传感器,所述光学镜头组、衰减片、光度探测器安装在所述镜头座上;在所述镜头座的一端设有入光口,在所述镜头座的另一端安装有光纤传感器;在所述的镜头座上还增设有衰减片转换装置,所述衰减片设置在所述衰减片转换装置上。
所述衰减片转换装置设置在镜头座上部,位于光学镜头组与光纤传感器之间。
所述衰减片转换装置设置在镜头座下部,位于光学镜头组与所述镜头座下端的入光口之间。
所述的衰减片转换装置由转盘底座、旋转盘、旋转轴、压紧盖和防尘盖组成;从上至下旋转轴分别穿过旋转盘和转盘底座,将旋转盘和转盘底座固定在镜头座的上部,旋转盘以旋转轴为中心转动,旋转盘上至少开有一孔,孔内放置衰减片,衰减片上装有压紧盖和防尘盖。
本实用新型的有益效果是,能够在更换衰减片时,做到快速、简单、方便,制作成本低。另外,如果将所述衰减片设置在光学镜头组与光纤传感器之间,可以提高光强测定的精度。
附图说明
图1为本实用新型的主视图;
图2为本实用新型的光路示意图;
图3为本实用新型的俯视图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步详细描述:
实施例一
如图1至3所示,本实用新型所述的LED光学检测器,由镜头座31、光学镜头组、衰减片6、光度探测器4和光纤传感器7组成外,还增设有衰减片转换装置,所述衰减片6设置在所述衰减片转换装置上,所述衰减片转换装置设置在镜头座31上部,位于光学镜头组与光纤传感器7之间;所述镜头座31下端设有一入光口1,镜头座31内部设有一组光学镜头组,光学镜头组由从下至上依次设置的第一平凸透镜2、平面分光镜3、第二平凸透镜5组成;所述光纤传感器7安装在所述LED光学检测器的上端;所述光度探测器4位于所述平面分光镜3的侧部。
所述衰减片转换装置安装在镜头座31的上部,该装置位于光学镜头组与光纤传感器7之间,所述衰减片转换装置由转盘底座32、旋转盘33、旋转轴36、压紧盖34和防尘盖35组成;从上至下旋转轴36分别穿过旋转盘33和转盘底座32,将旋转盘33和转盘底座32固定在镜头座31的上部,旋转盘33以旋转轴36为中心转动,其外圆侧面上排列有定位窝,旋转盘33上开有四个孔,孔内分别装有四种衰减度不同的衰减片6,衰减片6上装有压紧盖34及防尘盖35。在旋转盘33的一侧设有手拉把手38、一端圆弧头的定位销39及弹簧40,定位销39圆弧头的一端穿过手拉把手38和弹簧40插入旋转盘33的侧面定位窝。在工作状态,所述衰减片6与所述光学镜头组同轴设置。
当接通电源检测LED光源8时,LED的光线从入光口1射入,光线经过第一平凸透镜2,光线被聚焦成一个较强的光束,经过平面分光镜3把一部分光反射给光度探测器4,经过光强显示电路将光度探测器4输出的光电流信号转换成反映光强的电压信号,由电压值即可确定被测LED光强度。另一部分光束穿过平面分光镜3射向第二平凸透镜5,并再次把光路聚集为一个光斑,射向衰减片6表面,而衰减片6可根据LED的特点设有四个不同衰减程度的衰减片,需要转换时,轻轻拉动手拉把手38,使定位销39脱离旋转盘33的定位窝,转动旋转盘33,选择恰当的衰减度衰减片6后松开手拉把手38,使定位销39在弹簧40的作用下回复插紧旋转盘33外圆侧面的定位窝内,锁紧旋转盘,快速地完成更换衰减片6的目的。光斑通过可调衰减片6得到适当的衰减后射向光纤传感器7。光纤传感器7将光信号转换成电信号来测量LED的波长。
实施例二
本实施例与实施例一的区别在于,所述衰减片转换装置设置在镜头座31下部,位于光学镜头组与所述镜头座下端的入光口1之间。
本实用新型除了上述实施例外,还有其他变形或改进,如所述衰减片转换装置可以是包括设置有多个衰减片安装位的滑动架,和供所述滑动架滑动的滑轨;所述滑轨安装在所述镜头座31上;如果滑动架和滑轨为长条状,则所述滑动架可以左右滑动;如果滑动架为盘形和滑轨为圆形,则滑动架做圆周运动,对比实施例一只是没有转轴而已。因此,对于本技术领域的普通技术人员来说,只要不离开本实用新型的精神和范围可作各种变化或修正是显然的,均应包括在本实用新型权利要求的保护范围之内。

Claims (8)

1、一种LED光学检测器,包括镜头座、光学镜头组、衰减片、光度探测器和光纤传感器,所述光学镜头组、衰减片、光度探测器安装在所述镜头座上;在所述镜头座的一端设有入光口,在所述镜头座的另一端安装有光纤传感器;其特征在于,在所述的镜头座上还设有衰减片转换装置;所述衰减片设置在所述衰减片转换装置上。
2、根据权利要求1所述的LED光学检测器,其特征在于,所述衰减片转换装置设置在镜头座上部,位于光学镜头组与光纤传感器之间。
3、根据权利要求1所述的LED光学检测器,其特征在于,所述衰减片转换装置设置在镜头座下部,位于光学镜头组与所述镜头座下端的入光口之间。
4.根据权利要求1或2或3所述的LED光学检测器,其特征在于,所述的衰减片转换装置由转盘底座、旋转盘、旋转轴、压紧盖和防尘盖组成;从上至下旋转轴分别穿过旋转盘和转盘底座,将旋转盘和转盘底座固定在镜头座的上部,旋转盘以旋转轴为中心转动,旋转盘上至少开有一孔,孔内放置衰减片,衰减片上装有压紧盖和防尘盖。
5.根据权利要求4所述的LED光学检测器,其特征在于,所述的旋转盘上开有四个孔,孔内分别装有四种衰减度不同的衰减片。
6.根据权利要求4所述的LED光学检测器,其特征在于,所述的衰减片转换装置的侧面还装有定位装置;定位装置由手拉把手、定位销和弹簧组成,定位销穿过弹簧及手拉把手安装在旋转转盘的侧面。
7.根据权利要求4所述的LED光学检测器,其特征在于,所述的旋转盘的外圆侧面排列有定位窝。
8、根据权利要求1或2或3所述的LED光学检测器,其特征在于,所述光学镜头组包括从下至上依次设置的第一平凸透镜、平面分光镜、第二平凸透镜。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102487062A (zh) * 2010-12-04 2012-06-06 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 发光二极管
CN102650567A (zh) * 2011-02-23 2012-08-29 致茂电子股份有限公司 丛集式led芯片的检测系统及检测方法
TWI465666B (zh) * 2012-01-10 2014-12-21 Ind Tech Res Inst 模組化照明裝置與光源模組
CN108896173A (zh) * 2018-07-09 2018-11-27 哈尔滨工业大学 自动化扫描式辐照度测量系统及方法

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