CN201141874Y - 陶瓷四边引线片式载体元器件老化测试插座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种微电子元器件老化试验插座，尤其能对陶瓷四边引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。该插座按照44线陶瓷四边引线片式载体元器件结构设计和尺寸要求，将插座设计成插座体、接触件和定位装置三大组成部分，座和盖选用进口耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体。选用铍青铜材料经冲压成型的簧片，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金为接触件，由轴向对称的44线、1.27mm细节距结构技术设计成前、后脚对称组成的四面簧片排列组成，分别嵌装于座的四面凹槽中，与被试器件引出线相对应，安装于插座体座上。定位装置由定位板和压块组成，改变了以往“座”定位的形式，同时定位板四个脚上的压簧有很强的弹性力，可达到更好的锁紧效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试插座，尤其能对陶瓷四边引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。
背景技术
目前，在我国可靠性技术领域，公知的老化试验插座本体材料采用的是非耐高温普通工程塑料，而在对陶瓷四边引线片式载体元器件可靠性进行高温老化试验和测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，且老化工作时间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，这种陶瓷四边引线片式载体元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验和测试的专用装置，不能满足对器件性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。
发明内容
为克服陶瓷四边引线片式载体元器件现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种高温老化试验测试插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃提高到-65℃～+150℃、一次老化连续工作时间长达1000h150℃以上、插拔寿命5000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、零插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。
本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照44线陶瓷四边引线片式载体元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成插座体、接触件和定位装置三大组成部分，插座体主要由座、盖、钩组成，座和盖选用进口PPS耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位压紧。选用QBe2铍青铜材料经冲压成型的簧片，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金为接触件，由轴向对称的44线、1.27mm细节距结构技术设计成前、后脚对称组成的四面簧片排列组成，分别嵌装于座的四面凹槽中，与被试器件引出线相对应，安装于插座体座上。定位装置由定位板和压块组成，改变了以往“座”定位的形式，同时定位板四个脚上的压簧有很强的弹性力，可达到更好的锁紧效果。当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件，通电进行高温老化试验和性能测试。当钩受力向上翻转与座啮离时，接触件复位初始。这种翻盖式机构把接触件设计成零插拔力的结构，以避免接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点；且该实用新型可满足被试器件不同引线的要求。
本实用新型的有益效果是：可以满足44线及其它同类陶瓷四边引线片式载体元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代了进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
附图说明
下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。
图2是本实用新型外型结构俯视图。
图1：1前脚簧片2后脚簧片3座4定位板5压簧6大扭簧7轴8压板9轴10盖11压簧12钩
具体实施方式
在图1中，第一步：将接触件即前脚簧片1和后脚簧片2按与被试器件引出线相对应结构插入座3中，将钩12、压簧11、轴9和压板8装入盖10内；第二步：装入压簧5，将定位板4装入座3中；第三步：再将装好的盖10、大扭簧6和轴7装入座3内。
该方案中，插座体用于被试器件的自动压紧，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件自动压紧接触件，采用定位板和压块组成的定位装置安装于座，改变了以往“座”定位的形式，同时定位板四个脚上的压簧有很强的弹性力，可达到更好的锁紧效果。当钩受力向上翻转与座啮离时，接触件复位初始。
Claims (3)
1.一种适用于陶瓷四边引线片式载体元器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体、接触件和定位装置三个部分统一组成，插座体由座(3)、盖(10)和钩(12)组成，座(3)、盖(10)选用进口PPS耐高温型工程塑料经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2.根据权利要求1所述的陶瓷四边引线片式载体元器件老化测试插座，其特征是：插座体和接触件是一个统一整体，接触件由轴向对称的44线、1.27mm细节距结构技术设计成前后脚对称组成的四面簧片排列组成，分别嵌装于座(3)的四面凹槽中，与被试器件引出线相对应，安装于插座体座(3)上。
3.根据权利要求1所述的陶瓷四边引线片式载体元器件老化测试插座，其特征是：插座的压紧装置由座(3)、钩(12)和定位板(4)组成，以翻盖式结构把接触件设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构，定位装置由压块(8)和定位板(4)组成。
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