CN201918561U - 56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 - Google Patents
56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 Download PDFInfo
- Publication number
- CN201918561U CN201918561U CN2010202819679U CN201020281967U CN201918561U CN 201918561 U CN201918561 U CN 201918561U CN 2010202819679 U CN2010202819679 U CN 2010202819679U CN 201020281967 U CN201020281967 U CN 201020281967U CN 201918561 U CN201918561 U CN 201918561U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- socket
- contact
- component
- wire
- socket body
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 16
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title abstract description 4
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 title abstract 4
- 229920006351 engineering plastic Polymers 0.000 claims abstract description 3
- 239000011295 pitch Substances 0.000 claims description 10
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 4
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 abstract description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 3
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000010974 bronze Substances 0.000 abstract description 2
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 abstract 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 abstract 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 abstract 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 abstract 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 3
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 2
- 230000008676 import Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000013590 bulk material Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，能对56线陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按56线1.27节距陶瓷四边引线片式载体封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件。插座体由座、盖和钩组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型，插座体还起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，被试器件压紧接触件。插座座体还有斜面对器件进行定位，可以方便器件放入或取出。接触件以铍青铜材料冲压成型，采用与被试器件引出线相对应的方式，并由中心对称、四面排列形式组成。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，是能对56线节距为1.27mm的56线陶瓷四边引线扁平封装元器件可靠性进行高温老化筛选试验和性能测试的插座。本实用新型属电子信息技术微电子元器件可靠性领域。
背景技术
目前，在我国电子元器件可靠性技术领域，公知的国内一般老化试验插座的本体材料大都采用的是非耐高温普通塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，工作时间短、接触件节距宽、引线根数少、结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、老化温度低、一致性差和使用寿命短的重大缺陷，不能满足对器件的质量筛选和性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。国内在可靠性技术领域内特别是对配套于神舟飞船、大推力火箭、卫星、核潜艇、洲际导弹及其它国防军工、航天、航空、航海、通信等重点国防尖端武器装备等重大项目的微电子元器件，尚无高低温老化可靠性试验和测试的专用测试装置，所使用的测试插座大量依赖国外进口，价格极为昂贵，国家每年要花费大笔外汇进口产品，订货周期较长，特殊规格的产品无法订货，部分重要产品还因禁运而影响我国军用电子元器件研发生产进度。
发明内容
为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种新型的专用于集成电路、微电子元器件在线通电状态下进行高低温老化、测试、筛选及可靠性试验的56线节距为1.27mm的56线陶瓷四边引线扁平封装元器件插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃扩展至-55℃～+150℃，一次老化连续工作时间长达1500h(150℃)以上，插拔寿命8000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有引线根数多、接触件节距细、接触电阻小、一致性好、低插拔力、表面耐磨和使用方便的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。
本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照56线陶瓷四边引线扁平封装元器件的结构设计和尺寸要求，将插座设计成两大组成部分，即插座体、接触件，插座体和接触件是一个统一整体。插座体由座、盖和钩组成，选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的自动压紧和接触件的固定。同时插座座体具有斜面定位作用，用于被试器件的定位安装，方便被试器件的放入和取出。插座体可起压紧装置作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，使盖产生位移，从而使被试器件压紧接触件。接触件以铍青 铜材料冲压成型，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，接触件由两边对称的56线、1.27mm细节距的镀金前后脚接触件交替排列组成，安装于插座体座中。即按与被试器件引出线相对应的方式，分别安装于座的4面凹槽中，通电后进行高温老化试验和性能测试。这种翻盖式结构把接触件设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构，避免了接触件插拔时磨损电镀层，影响电接触性能，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点，且可以满足被试器件不同引线数目(56线内)的要求。
本实用新型的有益效果是：该实用新型可以满足军民通用56线型和其它同类陶瓷四边引线扁平封装元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。
附图说明
下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。
图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。
图2是本实用新型外型结构俯视图。
图11后脚接触件 2座 3前脚接触件 4轴 5大扭簧 6盖 7小扭簧 8钩
具体实施方案
在图1中，第一步：将接触件即前脚接触件(3)和后脚接触件(1)按与被试器件引出线相对应结构插入座(2)中；第二步：将钩(8)、小扭簧(7)和轴(4)装入盖(6)内；第三步：再将装好的盖(6)、大扭簧(5)和轴(4)装入座(1)内。
该方案中，插座座体用于接触件固定，同时用于被试器件的安装定位；插座体起着压紧装置的作用，当钩受力向下翻转与座啮合时，盖受力向下运动，使被试器件自动压紧接触件；接触件由镀金簧片按与被试器件引出线相对应、自动压紧和零插拔力结构安装于插座体的座中。
Claims (3)
1.一种56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是：它是由插座体和接触件两个部分统一组成，插座体由座(2)、盖(6)和钩(8)组成，用于被试器件的自动压紧，插座体选用耐高温型工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造而成，接触件与被试器件引出线相对应并安装于插座体的座中。
2.根据权利要求1所述的56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是：插座体和接触件是一个统一整体，接触件(1)、(3)由两边对称的56线、1.27mm细节距的镀金前后脚接触件交替排列组成，分别安装于座(2)的4面凹槽中。
3.根据权利要求1所述的56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座，其特征是：当钩(8)受力与座(2)啮合时，盖(6)向下运动，使被试器件压紧接触件。这种翻盖式结构把接触件(1)、(3)设计成自动扣紧锁式、零插拔力结构。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010202819679U CN201918561U (zh) | 2010-08-02 | 2010-08-02 | 56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010202819679U CN201918561U (zh) | 2010-08-02 | 2010-08-02 | 56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN201918561U true CN201918561U (zh) | 2011-08-03 |
Family
ID=44418351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2010202819679U Expired - Fee Related CN201918561U (zh) | 2010-08-02 | 2010-08-02 | 56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN201918561U (zh) |
-
2010
- 2010-08-02 CN CN2010202819679U patent/CN201918561U/zh not_active Expired - Fee Related
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103959577B (zh) | 具有高密度导电单元的测试插座以及用于制造该测试插座的方法 | |
| CN104577394B (zh) | 同轴连接器装置 | |
| CN102608364A (zh) | 高频垂直式弹片探针卡结构 | |
| CN102478594B (zh) | 高频垂直式弹片探针卡结构 | |
| CN201927782U (zh) | 64线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 | |
| TW323406B (zh) | ||
| CN201054015Y (zh) | 表面安装型大功率器件老化试验插座 | |
| CN201112798Y (zh) | 36线陶瓷四边引线扁平封装集成电路老化试验插座 | |
| CN201910526U (zh) | 132线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 | |
| CN201112795Y (zh) | 16线陶瓷扁平封装集成电路老化试验插座 | |
| CN201918561U (zh) | 56线1.27节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 | |
| CN201112800Y (zh) | 84线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座 | |
| CN201112793Y (zh) | 48线扁平封装集成电路老化测试插座 | |
| CN201876477U (zh) | 100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 | |
| CN100357745C (zh) | 集成化探针卡及组装方式 | |
| CN109994862A (zh) | 导电端子及正反插usb插座 | |
| CN201112801Y (zh) | 160线陶瓷四边引线片式载体老化测试插座 | |
| CN201141874Y (zh) | 陶瓷四边引线片式载体元器件老化测试插座 | |
| CN201112803Y (zh) | 40线陶瓷无引线片式载体老化测试插座 | |
| CN201868650U (zh) | 6线0.95节距陶瓷无引线片式载体老化测试插座 | |
| CN201910525U (zh) | 144线0.635节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座 | |
| CN201112794Y (zh) | 44线陶瓷小外形封装集成电路老化测试插座 | |
| CN201918562U (zh) | 84线1.27节距陶瓷无引线片式载体老化测试插座 | |
| CN207181625U (zh) | 微电子测试模块及系统 | |
| CN201122166Y (zh) | Sot型封装元器件测试及老化试验插座 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: ZHEJIANG CHANGXING ELECTRONIC FACTORY CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: CAO HONGGUO Effective date: 20120416 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20120416 Address after: 313119 Electronic Industry Park, Changxing County, Zhejiang Province Patentee after: Zhejiang Changxing Electronic Factory Co., Ltd. Address before: 313119, Zhejiang, Changxing County province Huai Township Road, No. 86 vibration Patentee before: Cao Hongguo |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20110803 Termination date: 20140802 |
|
| EXPY | Termination of patent right or utility model |