CN200982989Y - 一种薄膜电阻测试仪 - Google Patents

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张鹏
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Abstract

本实用新型公开了一种薄膜电阻测试仪,包括电阻测试仪主体、与测试仪主体引出的测试线相连的测试头(5)和固定测试头(5)的测试支架,所述测试头(5)的上端和测试仪主体引出的测试线相连,下端用于和待侧元件接触,测试头(5)可在所述测试支架上移动。采用这种结构的薄膜电阻测试仪可提高测试结果的稳定性和准确性。

Description

一种薄膜电阻测试仪
【技术领域】
本实用新型涉及电阻元件的测试仪器,尤其涉及用于薄膜电阻元件的测试仪。
【背景技术】
现有的薄膜电阻测试是采用四线制的金属夹子或测试笔,用夹子的夹力来夹住待侧元件进行测试,或者手持测试笔直接测试待侧元件。使用夹子进行测试时,由于夹子的力度大,容易破坏薄膜电阻元件的表面,影响测试出来的电阻结果的真实性。比如常见的鳄鱼钳式测试夹,直接夹在待测元件上测试,由于鳄鱼钳式夹子的力度过大且夹子与元件的接触面是齿状的,鳄鱼钳式夹子在测试时也没有固定,在测试时鳄鱼钳式夹子会有一定的移动,很容易把薄膜电阻元件表面的薄膜夹破或划破,会影响到待侧元件测试结果的真实性和准确性。还有常见的手持测试笔测试时,首先、人的手施加在每支测试笔上的力度很难掌握至同一力度,且每次测试时的力度都不同;其次、在测试过程中测试人员的手存有抖动现象,这样,一是元件表面薄膜层很容易被划破,二是测试的结果不稳定,影响待侧元件测试结果的真实性、准确性及稳定性。
【发明内容】
本实用新型要解决的技术问题是提供一种可靠性高、稳定性好的薄膜电阻测试仪。
为了解决上述技术问题,本实用新型采取的技术方案是:薄膜电阻测试仪包括电阻测试仪主体、与测试仪主体引出的测试线相连的测试头和固定测试头的测试支架,所述测试头的上端和测试仪主体引出的测试线相连,下端用于和待侧元件接触。因为测试头放置在测试支架上,所以避免测试时测试触头的晃动,提高了测试的稳定性。
为了保护待侧的薄膜电阻表面不被损坏,保证测试的准确性,测试头的下端优选为半圆形,且表面光滑。
为了将原有的直接在产品上进行测试,改进为把产品放置在定位治具上进行测试,从而避免因为产品容易晃动而导致测试结果不稳定,以进一步提高测试的稳定性,提高测试结果的准确性,薄膜电阻测试仪还包括用于固定待测元件的定位治具。
所述测试支架优选为:包括底座、垂直固定在底座上的导柱、依次安装在导柱上的第一调节机构、横导杆、绝缘板和第二调节机构,所述第一调节机构位于横导杆的下部用来调节横导杆的水平高度;所述第二调节机构位于绝缘板的上部,所述绝缘杆和绝缘板的端部通过部件固定在一起;绝缘板上设有通道用于引出测试头上的数据线;测试支架还包括位于横导杆和绝缘板之间的用于放置测试头的滑块、滑块可在横导杆上移动。
所述横导杆优选为:上部设有凹槽,凹槽的中间为空心平板型的结构;滑块的上端设有凸出的两翼,架在横导杆的凹槽上,并可在凹槽上左右移动;滑块上还设有用于放置测试头的空腔,所述测试头上端设有凸出部,且通过凸出部卡在滑块上,当测试头下端受力时,所述测试头可以在滑块的空腔中向上移动。
滑块结构优选为:其中的空腔的为上大下小的空心圆筒形,测试头的凸出部卡在小口径空腔的顶部。
为了使测试触头与待侧产品有良好的接触,测试头的上端固定有弹性物。优选为弹簧。
为了防止绝缘板变形,对绝缘板提供支撑作用,从而保证测试结果的准确。测试支架还包括位于绝缘板上的压板,压板上设有通道用于引出测试头上的数据线。
所述固定部件优选为结构简单且常见的螺钉,所述横导杆、绝缘板和压板的两端通过所述螺钉固定在一起。
所述第一调节机构优选为包括定位块、定位块导套和定位块锁紧螺钉,所述定位导套套在定位块的外面,定位块锁紧螺钉将定位块和定位导套锁定在导柱上。该调节装置可在导柱上移动位置并固定在导柱上,从而调整横导杆的高度。
所述第二调节机构优选为包括压力弹簧和弹簧销,该压力弹簧通过弹簧销固定在导柱上。
采用上述技术方案,可以提高测试薄膜电阻时的稳定性和准确性。
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明:
【附图说明】
图1是本实用新型的一个实施例中测试支架的立体图。
图2是图1所示测试支架的主视图。
图3是图1所示第一调节机构的结构示意图。
图4是图1所示测试支架的装配示意图。
图5是图1所示滑块和测试头的结构主视图。
图6是图5的剖视图。
【具体实施方式】
一种薄膜电阻测试仪,包括数字电桥仪、与数字电桥仪引出的测试线相连的测试头5和固定测试头5的测试支架,所述测试头5的上端和测试仪主体引出的测试线相连,下端用于和待侧元件接触。
测试支架的结构如图1所示,包括底座3、垂直固定在底座3上的导柱13、依次安装在导柱13上的第一调节装置、横导杆7、绝缘板8、压板9和第二调节机构,所述绝缘杆7、绝缘板8和压板9通过螺钉10固定在一起,所述第一调节机构和第二调节机构用于调节和限制横导杆7以及与其固定连接的绝缘板8和压板9的水平位置,该测试支架还包括设有阶梯形空腔的滑块4、设有托台且放置在滑块4空腔中的测试头5,测试头5通过托台卡在滑块4中的小口径空腔的顶部;测试头5的上端固定有四线调平弹簧6,四线调平弹簧6的上部抵在绝缘板的下部;测试头5的下端为半圆形且表面光滑、穿过滑块4的底部伸出、用于和待侧元件相接触;测试出头5可以在向上压力的作用下在滑块4中向上移动;滑块4可在横导杆7上左右移动,绝缘板8和压板9上设有通道用于引出用于引出测试头上的数据线。
其中,横导杆7中间设有凹槽、凹槽中间为中空的平板型结构;滑块4的上端设有凸出的两翼,可架在横导杆7的凹槽上,并可在凹槽上左右移动。第一调节机构包括定位块1、定位块导套2和定位块锁紧螺钉12;第一调节机构可在导柱13上移动位置并固定在导柱13上,从而调整横导杆7的高度;第二调节机构包括压力弹簧11和弹簧销15,压力弹簧11通过弹簧销15固定在导柱13上。该测试支架还包括用于固定待侧元件的定位治具。为了增加稳定性在导柱13和横导杆7之间还设置有横导杆导套14。
使用该薄膜电阻测试仪对薄膜电阻进行测试的具体工作过程为:进行测量之前,首先确保连接测试头5通过数据线与数字电桥仪连接良好。
第一步:根据不同的产品和固定产品的定位治具高低调节定位块1的高低,其目的一是使测试头5都能接触到待测元件的待测表面;二是调节压力弹簧的弹力,使其受力均匀;
第二步:调节滑块4,使测试头5调节到待测元件的待测位置;
第三步:将待测元件放置到定位治具上,并将其一并放到底座3上;
第四步:调节横导杆7及与其连接的零部件向上移动到适当的距离,因两压力弹簧11的弹力不可能达到理论上的平行力,因此,横导杆7会保持在导柱13的适当位置处;
第五步:将带有产品的定位治具移动至测试头下方适当位置;
第六步:双手控制横导杆7致使能够在压力弹簧11的弹力下,向下缓慢移动,使其轻轻的放置于已调节好的定位块1上,此时,测试头5在四线调平弹簧6的弹力下很好的接触到待测产品的表面;
第七步:观察数字电桥仪上的数字的变化,待其稳定后,记录下当前数字电桥仪上显示的数据,完成测试。

Claims (10)

1.一种薄膜电阻测试仪,包括电阻测试仪主体、与测试仪主体引出的测试线相连的测试头(5),其特征是:还包括固定测试头(5)的测试支架,所述测试头(5)的上端和测试仪主体引出的测试线相连,下端用于和待侧元件接触。
2.如权利要求1所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述测试头(5)具有圆滑的下端部。
3.如权利要求1所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:还包括用于固定待测元件的定位治具。
4.如权利要求1所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述测试支架包括底座(3)、垂直固定在底座(3)上的导柱(13)、依次安装在导柱(13)上的第一调节机构、横导杆(7)、绝缘板(8)和第二调节机构,所述第一调节机构位于横导杆(7)的下部用来调节横导杆(7)的水平高度;所述第二调节机构位于绝缘板(8)的上部,所述绝缘杆(7)和绝缘板(8)的端部通过固定部件(10)固定在一起;测试支架还包括位于横导杆(7)和绝缘板(8)之间的用于放置测试头(5)的滑块(4)、滑块(4)可在横导杆(7)上移动,绝缘板上设有通道用于引出连接在测试头(5)上的数据线。
5.如权利要求4所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述横导杆(7)上设有凹槽,凹槽的中间为空心平板型结构;所述滑块(4)的上端设有凸出的两翼,架在横导杆(7)的凹槽上,并可在凹槽上左右移动;滑块(4)上还设有用于放置测试头(5)的空腔,所述测试头(5)上端设有凸出部,且通过凸出部卡在滑块(4)上,当测试头(5)下端受力时,所述测试头(5)可以在滑块(4)的空腔中向上移动。
6.如权利要求5所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述滑块(4)中的空腔的为上大下小的空心圆筒形,测试头(5)的凸出物卡在小口径空腔的顶部。
7.如权利要求4~6任一所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述测试头(5)的上部设有弹性物(6),该弹性物(6)的上端抵压在绝缘板(8)的下部。
8.如权利要求4~6任一所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:还包括位于绝缘板(8)上的压板(9),该压板上设有通道用于引出连接在测试头(5)上的数据线。
9.如权利要求4所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述第一调节机构包括定位块(1)、定位块导套(2)和定位块锁紧螺钉(12),所述定位导套(2)套在定位块(1)的外面,定位块锁紧螺钉(12)将定位块(1)和定位导套(2)锁定在导柱(13)上。
10.如权利要求4所述薄膜电阻测试仪,其特征在于:所述第二调节机构包括压力弹簧(11)和弹簧销(15),该压力弹簧(11)通过弹簧销(15)固定在导柱(13)上。
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