CN200947029Y - 微生物附着膜的测厚仪 - Google Patents

微生物附着膜的测厚仪 Download PDF

Info

Publication number
CN200947029Y
CN200947029Y CN 200620088458 CN200620088458U CN200947029Y CN 200947029 Y CN200947029 Y CN 200947029Y CN 200620088458 CN200620088458 CN 200620088458 CN 200620088458 U CN200620088458 U CN 200620088458U CN 200947029 Y CN200947029 Y CN 200947029Y
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
microbial
micrometer
micrometric screw
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 200620088458
Other languages
English (en)
Inventor
王伟
王燕华
芦永红
徐海波
王佳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ocean University of China
Original Assignee
Ocean University of China
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ocean University of China filed Critical Ocean University of China
Priority to CN 200620088458 priority Critical patent/CN200947029Y/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN200947029Y publication Critical patent/CN200947029Y/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种微生物附着膜的测厚仪，其包括：螺旋测微器，探针，测量支架和显示电路。该测微器通过固定套管垂直安装在测量支架上，该测微器的测微螺杆下端垂直固定有细金属质的探针，该测微螺杆及其探针通过导线，绝缘地从该测微器的固定套管处串接在包括有待测微生物附着膜金属片的直流测量电路中，该金属片通过水平移动平台电连接在测量支架的砧台上。该显示电路由探针，测微螺杆，电阻，直流电源，零内阻电流计，砧台和待测微生物附着膜的金属片依次串接构成了回路电路。本测厚仪结构简单，使用方便，能够在现场实时、在线地对研究金属材料表面进行微生物膜测量，而且能够对含有大量不透明杂质的微生物膜进行观察。

Description

微生物附着膜的测厚仪
技术领域
本实用新型涉及海洋环境监测装置、冷凝水管道、食品生产等设备的表面附着发生的微生物膜测量研究技术的改进，具体讲是一种微生物附着膜的测厚仪，其属于微生物腐蚀，环境微生物和微生物生态相互交叉的技术领域。
背景技术
现有技术中，微生物膜在材料表面的附着发生的领域十分广泛，如海洋开发设施、海洋环境监测装置、冷凝水管道、食品生产设备等。其附着所带来的危害包括：材料腐蚀、生物污损、换热系数下降、流动阻力增大、食品污染等。在对微生物膜的研究中，微生物膜的厚度一直是人们所关心的问题。因为微生物膜的厚度代表着微生物附着时间的长短、生长的阶段、对传热系数影响的大小等信息。目前对微生物膜厚度的测量只有扫描激光共聚焦显微镜可以得到直观信息，因为扫描激光共聚焦显微镜可以对微生物膜的内部进行观察，所以也可以得到膜厚信息。原子力显微镜也可以测量微生物膜的粗糙度以及金属表面的点蚀深度，同样该技术也可以测量微生物膜的厚度。通过对材料表面微生物膜重量的变化也可以估计出微生物膜的厚度，该法叫称重法。以上三种方法缺点很明显：1)、扫描激光共聚焦显微镜和秤重法只能在实验室内对微生物膜进行测量，从理论上对微生物膜进行研究，不能在现场实时、在线对材料表面进行测量。设备昂贵，操作人员须经过特殊培训。2)、扫描激光共聚焦显微镜操作繁琐，对微生物膜的厚度、结构有一定要求，而实际的微生物膜却是结构复杂、厚度从几个微米到几个毫米；对含有大量不透明杂质的微生物膜很难观察。3)、原子力显微镜仪器昂贵，操作复杂，不适合现场测量。4)、秤重法：这种方法测得的只是一种平均值。因为要估计微生物膜的密度，所以误差较大，而且不能反映微生物膜不均匀性的特点。
发明内容
本实用新型的目的是要提供一种微生物附着膜的测厚仪。该测厚仪要结构简单，使用方便，能够在现场实时、在线地对材料表面进行微生物膜测量，能够对含有大量不透明杂质的微生物膜进行观察。
本发明的目的是由以下技术方案实现的，研制了一种微生物附着膜的测厚仪，其包括：由固定套管、微分筒、测微螺杆和测量旋钮构成的螺旋测微器，探针，测量支架和显示电路。所述的螺旋测微器通过固定套管垂直安装在测量支架上，该测微器的测微螺杆下端垂直固定有细金属质的探针，该测微螺杆及其探针通过导线，绝缘地从该测微器的固定套管处串接在包括有待测微生物附着膜金属片的直流测量电路中，该金属片通过水平移动平台电连接在测量支架的砧台上。
所述的显示电路，其由探针，测微螺杆，电阻，直流电源，零内阻电流计，测量支架的砧台和待测微生物附着膜的金属片依次串接构成的回路电路。
所述的螺旋测微器，其中的微分筒和测量旋钮与测微螺杆的连接是电绝缘连接；固定套管与测微螺杆的连接也是电绝缘连接。
所述的螺旋测微器，其中的微分筒，测量旋钮和固定套管是由绝缘材料制成的。
本发明的优点在于：由于研制了一种微生物附着膜的测厚仪，主要选择了测量长度的精密仪器——螺旋测微器(千分尺)的部分机构，即包括由固定套管、微分筒、测微螺杆和测量旋钮构成的螺旋测微器，配以探针，测量支架和显示电路组成了本实用新型的微生物附着膜的测厚仪。由于将所述的螺旋测微器通过固定套管垂直安装在测量支架上，该测微器的测微螺杆下端垂直固定有细金属质的探针，该测微螺杆及其探针通过导线，绝缘地从该测微器的固定套管处串接在包括有待测微生物附着膜金属片的直流测量电路中，该金属片通过水平移动平台电连接在测量支架的砧台上；又由于所述的显示电路，其由探针，测微螺杆，电阻，直流电源，零内阻电流计，测量支架的砧台和待测微生物附着膜的金属片依次串接构成的回路电路；使得使用本测厚仪时，旋动螺旋测微器的测量旋钮，使测微螺杆及其垂直固定的探针向下移动，当探针针尖接触到微生物膜时，显示电路即可导通，该电路中的电流计显示了一定的电流值，此时既可记下螺旋测微器微分筒的刻度X1。当探针针尖继续向下移动穿过微生物膜，进而触及金属表面时，因为该金属的电阻远小于该微生物膜的电阻，所以电流计显示的电流值必然会进一步增大，记下此时螺旋测微器微分筒的刻度X2，两个刻度的差值M＝X1-X2就是微生物膜的厚度。本实用新型的测厚仪结构简单，使用方便，能够在现场实时、在线地对研究金属材料表面进行微生物膜测量，而且能够对含有大量不透明杂质的微生物膜进行观察。
附图说明
图1为微生物附着膜测厚仪结构示意图(探针刚触到膜的读数X1)。
图2为微生物附着膜测厚仪结构示意图(探针刚触到金属片的读数X2)。
具体实施方式
本实用新型的实施例结合实验及其附图进一步说明如下：
参见图1-2，制成的一种微生物附着膜的测厚仪，其包括：由固定套管11，微分筒12，测微螺杆13和测量旋钮14构成的螺旋测微器1，探针5，测量支架8和显示电路。所述的螺旋测微器1通过固定套管11垂直安装在测量支架8上，该测微器1的测微螺杆13下端垂直固定有细金属质的探针5，该测微螺杆13及其探针5通过导线，绝缘地从该测微器1的固定套管11处串接在包括有待测微生物附着膜6金属片7的直流测量电路中，该金属片7通过水平移动平台9电连接在测量支架8的砧台10上。
所述的显示测量电路，其由探针5，测微螺杆，电阻2，直流电源3，零内阻电流计4，测量支架8的砧台10和待测微生物附着膜6的金属片7依次串接构成的回路电路。
所述的螺旋测微器1，其中的微分筒11和测量旋钮14与测微螺杆13的连接是电绝缘连接；固定套管11与测微螺杆13的连接也是电绝缘连接。所述的螺旋测微器1，其中的微分筒12，测量旋钮14和固定套管11是由绝缘材料制成的。
实施例1：
将10块待研究不锈钢金属片7(5×5cm)放置在流动海水中，5天后取出测量微生物膜6厚度。将不锈钢金属片7取出后，放置在本测厚仪的可移动平台9上，缓慢旋动螺旋测微器1的测量旋钮14，使测微螺杆13带动探针5慢慢向下移动，等到零内阻电流计4显示有电流流过时，记下螺旋测微器1的微分筒12刻度X1＝2.501mm，继续缓慢的旋动螺旋测微器1的测量旋钮14，使测微螺杆13带动探针5继续向下移动，等到零内阻电流计4显示电流突然增大时，记下此时螺旋测微器1的微分筒12的刻度X2＝2.383mm。将两个读数相减即可得到该位置上微生物膜6的厚度0.118mm。结果M＝2.501-2.383显示海水中浸泡5天微生物膜6可以达到M＝118微米。
实施例2：
将4块待研究不锈钢金属片7(5×5cm)放置在实验室内的静止海水中，每隔一天取出1片测量微生物膜6厚度(每片上取10个点测量，取平均值M)。测量步骤同例1所示。结果显示海水中浸泡5天微生物膜6平均值可以达到68微米(101，45，56，21，35，89，78，96，63，94微米)。
实施例3：
对实施例2中浸泡3天的不锈钢金属片7电极进行测量，其数据为38，64，65，32，61，26，39，47，45，13微米。最大值为65微米，最小值为13微米。该结果显示微生物膜6的不均匀。
本领域的普通技术人员都会理解，在本实用新型的保护范围内，对于上述实施例进行修改，添加和替换都是可能的，其都没有超出本实用新型的保护范围。

Claims (4)

1、一种微生物附着膜的测厚仪，其包括：由固定套管、微分筒、测微螺杆和测量旋钮构成的螺旋测微器，探针，测量支架和显示电路，其特征在于：所述的螺旋测微器通过固定套管垂直安装在测量支架上，该测微器的测微螺杆下端垂直固定有细金属质的探针，该测微螺杆及其探针通过导线，绝缘地从该测微器的固定套管处串接在包括有待测微生物附着膜金属片的直流测量电路中，该金属片通过水平移动平台电连接在测量支架的砧台上。
2、根据权利要求1所述微生物附着膜的测厚仪，其特征在于：所述的显示测量电路，其由探针，测微螺杆，电阻，直流电源，零内阻电流计，测量支架的砧台和待测微生物附着膜的金属片依次串接构成的回路电路。
3、根据权利要求1所述微生物附着膜的测厚仪，其特征在于：所述的螺旋测微器，其中的微分筒和测量旋钮与测微螺杆的连接是电绝缘连接；固定套管与测微螺杆的连接也是电绝缘连接。
4、根据权利要求1或3所述微生物附着膜的测厚仪，其特征在于：所述的螺旋测微器，其中的微分筒，测量旋钮和固定套管是由绝缘材料制成的。
CN 200620088458 2006-08-23 2006-08-23 微生物附着膜的测厚仪 Expired - Fee Related CN200947029Y (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200620088458 CN200947029Y (zh) 2006-08-23 2006-08-23 微生物附着膜的测厚仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 200620088458 CN200947029Y (zh) 2006-08-23 2006-08-23 微生物附着膜的测厚仪

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN200947029Y true CN200947029Y (zh) 2007-09-12

Family

ID=38734093

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 200620088458 Expired - Fee Related CN200947029Y (zh) 2006-08-23 2006-08-23 微生物附着膜的测厚仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN200947029Y (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103765156A (zh) * 2011-08-30 2014-04-30 三菱重工业株式会社 膜厚测定装置及膜厚测定方法
CN104236444A (zh) * 2013-06-18 2014-12-24 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种金属膜厚度测量方法
CN106500583A (zh) * 2016-11-28 2017-03-15 西北工业大学 燃烧室内壁面贴壁液膜形态测量系统
CN107044820A (zh) * 2017-04-10 2017-08-15 天津大学 环状流局部动态液膜平均厚度的直接测量系统
CN107192325A (zh) * 2017-04-10 2017-09-22 天津大学 环状流局部动态液膜平均厚度的直接测量方法
CN109269392A (zh) * 2018-10-31 2019-01-25 清华大学 电接触反馈的绝缘材料表面高度测量装置及方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103765156A (zh) * 2011-08-30 2014-04-30 三菱重工业株式会社 膜厚测定装置及膜厚测定方法
CN103765156B (zh) * 2011-08-30 2016-06-29 三菱日立电力系统株式会社 膜厚测定装置及膜厚测定方法
CN104236444A (zh) * 2013-06-18 2014-12-24 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种金属膜厚度测量方法
CN106500583A (zh) * 2016-11-28 2017-03-15 西北工业大学 燃烧室内壁面贴壁液膜形态测量系统
CN106500583B (zh) * 2016-11-28 2019-02-15 西北工业大学 燃烧室内壁面贴壁液膜形态测量系统
CN107044820A (zh) * 2017-04-10 2017-08-15 天津大学 环状流局部动态液膜平均厚度的直接测量系统
CN107192325A (zh) * 2017-04-10 2017-09-22 天津大学 环状流局部动态液膜平均厚度的直接测量方法
CN107192325B (zh) * 2017-04-10 2019-11-01 天津大学 环状流局部动态液膜平均厚度的直接测量方法
CN109269392A (zh) * 2018-10-31 2019-01-25 清华大学 电接触反馈的绝缘材料表面高度测量装置及方法
CN109269392B (zh) * 2018-10-31 2019-10-29 清华大学 电接触反馈的绝缘材料表面高度测量装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN200947029Y (zh) 微生物附着膜的测厚仪
CN107860707B (zh) 利用丝束电极表征铝合金表面微区电偶腐蚀非均匀性的方法
Kendig et al. Basic aspects of electrochemical impedance application for the life prediction of organic coatings on metals
Lou et al. Phase angle analysis for stress corrosion cracking of carbon steel in fuel-grade ethanol: experiments and simulation
CN107228823B (zh) 一种铝合金局部腐蚀评价装置
Mansfeld Electrochemical methods of corrosion testing
CA2743190C (en) Apparatus and method to measure electrochemical impedance
CN101000319A (zh) 一种粉体金属电阻率测量方法及装置
CN201285359Y (zh) 柔性电子基板上薄膜材料可靠性原位评价系统
CN108204922A (zh) 一种基于应变测量技术确定三点弯曲标准试样裂纹长度的方法
CN211785799U (zh) 一种扫描探针电阻测试系统
CN111307707A (zh) 一种可原位实时调控缝隙尺寸的缝隙腐蚀实验装置及方法
Zeng et al. Pitting and crevice corrosion evolution characteristics of 2205 duplex stainless steel in hot concentrated seawater
Aslam Potentiodynamic polarization methods for corrosion measurement
CN1297812C (zh) 薄膜材料及器件耐腐蚀性能的电阻变化率检测方法
CN201122140Y (zh) 一种杨氏弹性模量测量仪
Yusa et al. Four-terminal measurement of the distribution of electrical resistance across stress corrosion cracking
Tan et al. Review of critical issues in carbon dioxide corrosion testing and monitoring techniques
Jamali et al. An assessment of intrinsic noise of pseudo-reference electrodes and instrumental noise to enable reliable electrochemical noise measurements in situ on organically coated metal
CN102928307A (zh) 原位压/划痕测试装置
Mandache et al. Crack Growth Monitoring with Structure-Bonded Thin and Flexible Coils
Aslam et al. Electrochemical and Analytical Techniques for Sustainable Corrosion Monitoring: Advances, Challenges and Opportunities
Lister et al. Localized attack of a two-phase metal, scanning electrochemical microscopy studies of NiCrMoGd alloys
Deng et al. A practical method for fatigue crack initiation detection using an ion-sputtered film
Leinonen et al. Stress Corrosion Cracking—Crevice Interaction in Austenitic Stainless Steels Characterized By Acoustic Emission

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C19 Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee