CN200947026Y - 数显测厚规 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种数显测厚规，包括尺架，尺架一端设置有显示部及活动测砧，所述活动测砧的一端位于显示部内并与读数检测机构配合，活动测砧另一端与尺架一端的固定测砧相对设置构成测量部分，其特征在于：还设置有第二固定测砧，所述第二固定测砧位于固定测砧与活动测砧之间，并与尺架活动连接，第二固定测砧的端部相对于活动测砧一侧的端面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率。本实用新型既可以测量物体的外径或外型厚度，也可以用于测量管壁厚度，拓宽了使用范围，提高了测量精度。

Description

数显测厚规

                          技术领域

本实用新型涉及一种测量仪器，具体涉及一种用于测管壁厚度及外径或外型厚度的测厚规。

                        背景技术

测厚规(也称厚度测量器)是一种用来测量薄膜、纸张等物体外形厚度，或是测量物体外径的测量仪器。如中国实用新型公开的《厚度测量器》(CN2385308)，包括显示部、夹持部及活动测砧，该显示部前面设有校正环，侧边设有按压部，按压部固定于活动测砧上，活动测砧顶部连动显示部内的指针偏转，底端设有上夹部，而位于显示部下方的夹持部上设有对应于上夹部的下夹部，测量时，将物体自夹持部一侧的开口处置于上、下夹部之间，调整按压部，使活动测砧的上夹持抵于被测物体上，读取显示部上的数据，得到物体厚度。

上述结构的测厚规仅适合于测量被测部为平面的物体，对环形管壁的厚度就无法精确测量，这是由于普通测厚规的固定测砧、活动测砧在一条直线上，无法测量管壁的厚度。因此中国实用新型又公开了一种《管壁测厚仪》(CN2689167)，与普通的测厚规相比较，其上、下夹部均呈锥形，且锥尖相对，因此在测量环形管壁厚度时，卡头可与管壁紧帖，测得数据更为准确。但该种测厚规在测量普通平面物体时，便有不易夹持的问题，因而不适合于测量物体的外径或是外型厚度。

基于上述两种结构的测厚规，分别适用于测量物体的厚度和管壁的厚度，因此在使用时必须配备两种类型的测厚规，以适应被测物体的外形，得到相对精确的测量值，给测量带来不便。

                        发明内容

本实用新型目的是提供一种既能用来测量物体外径，也可用来测量管壁厚度的测厚规。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种数显测厚规，包括尺架，尺架一端设置有显示部及活动测砧，所述活动测砧的一端位于显示部内并与读数检测机构配合，活动测砧另一端与尺架另一端的固定测砧相对设置构成测量部分，还设置有第二固定测砧，所述第二固定测砧位于固定测砧与活动测砧之间，并与尺架活动连接，第二固定测砧的端部相对于活动测砧一侧的端面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率。

上文中，所述显示部与活动测砧配合，可以测定活动测砧的位置变化，从而给出所测厚度，在现有技术中，显示部可分为指针式和数显式两种，在本实用新型中均可使用。尺架的一侧设有开口的U型槽，所述固定测砧通常位于U型与活动测砧相对的一侧壁上，固定测砧可以是平面的，活动测砧的顶端也可以是平面的，构成测量部分；第二固定测砧位于该U型槽的中部、固定测砧与活动测砧之间，且与尺架活动连接，所述的活动连接可以是可拆式连接，也可以是可调位置的连接，例如，第二固定测砧有2个限位位置，其一位于固定测砧与活动测砧的连线上，是测量位，其二收缩于尺架U型槽底；测量时，若是测量物体外径或外型厚度时，调整第二固定测砧的位置，使其避开活动测砧(可采用拔出测砧或调至活动测砧的下方等方式)，固定测砧与活动测砧端部实现厚度测量；若是测量管壁厚度时，则使第二固定测砧进入测量位，与活动测砧配合，由于第二固定测砧端面曲率大于被测管腔内壁对应位置的曲率，两者接触面相切，便能精确地测得弧形管壁的厚度。

上述技术方案中，为实现所述的曲率大小，一般地，所述第二固定测砧为一端部呈球形弧面或圆柱的杆件。

第二固定测砧与尺架的活动连接结构可以是，所述杆件下端由尺架上的一个通孔限位，尺架上与所述通孔垂直设有一螺孔，一螺栓经该螺孔锁紧所述杆件。

或者，所述杆件为一表面设有外螺纹的螺杆，所述尺架上设有一与螺杆配合的螺孔。

另一种使曲率配合的方案是，所述第二固定测砧的端部一侧呈锥形，其锥尖与所述活动测砧相对。

由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有的优点是：

由于本实用新型设置了与尺架活动连接的第二固定测砧，可以根据被测物体的类型调整第二固定测砧的位置，选择相应的固定测砧或第二固定测砧与活动测砧配合完成测量，从而既能用来测量物体外径或外型厚度，同时也可用于对管壁厚度的测量，拓宽了使用范围，提高了测量精度。

                       附图说明

附图1为本实用新型实施例一的结构示意图；

附图2为本实用新型实施例一中另一种使用状态结构示意图。

其中：1、显示部；2、尺架；3、活动测砧；4、固定测砧；5、第二固定测砧；6、螺栓；7、测头；8、调节部。

                      具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

实施例一：参见附图1、2所示，一种数显测厚规，包括尺架，尺架一端设置有数显式的显示部1及活动测砧3，所述活动测砧3的一端位于显示部1内并与读数检测机构配合，活动测砧的位置可由调节部8调节，另一端与尺架另一端上的固定测砧4相对设置构成测量部分，所述尺架2带有一U型槽，与尺架的U型槽底部活动连接设置有第二固定测砧5，所述第二固定测砧5位于固定测砧4与活动测砧3之间，第二固定测砧5为一顶部设置有测头7的杆件，所述测头7呈球形弧面或圆柱，球面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率，所述杆件下端由尺架2上的一个通孔限位，尺架上与所述通孔垂直设有一螺孔，一螺栓6经该螺孔锁紧所述杆件。

当测量物体外径或外型厚度时，旋松锁紧第二固定测砧杆件的螺栓，拔出杆件或塞入杆件使测头调至U型槽底，避开活动测砧，将被测物体置于U形槽内，调节显示部上的调节部，调整活动测砧的位置，利用尺架左侧壁上的固定测砧与活动测砧前端的活动配合，完成对待测物体的测量。

当测量物体管壁厚度时，旋松螺栓，调整第二固定测砧杆件的位置，使其顶端的测头位于固定测砧和活动测砧构成的连线上，将被测管件套于测头上，调整活动测砧的位置，测得待测管壁的厚度。

实施例二：一种数显测厚规，包括尺架，尺架一端设置有数显式的显示部及活动测砧，所述活动测砧的一端位于显示部内并与读数检测机构配合，活动测砧另一端与尺架一端的固定测砧相对设置构成测量部分，所述尺架带有一U型槽，与尺架的U型槽底部活动连接设置有第二固定测砧，所述第二固定测砧位于固定测砧与活动测砧之间，第二固定测砧为一顶部设置有测头的杆件，所述测头一侧呈锥形，其锥尖与所述活动测砧相对，所述杆件下端为外表面设有外螺纹的螺杆，所述夹持部上设有一与螺杆配合的螺孔。

Claims (5)

1.一种数显测厚规，包括尺架，尺架一端设置有显示部[1]及活动测砧[3]，所述活动测砧[3]的一端位于显示部[1]内并与读数检测机构配合，活动测砧另一端与尺架另一端的固定测砧[4]相对设置构成测量部分，其特征在于：还设置有第二固定测砧[5]，所述第二固定测砧[5]位于固定测砧与活动测砧之间，并与尺架[2]活动连接，第二固定测砧[5]的端部相对于活动测砧一侧的端面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率。

2.根据权利要求1所述的数显测厚规，其特征在于：所述第二固定测砧[5]为一端部呈球形弧面或圆柱的杆件。

3.根据权利要求2所述的数显测厚规，其特征在于：所述杆件下端由尺架[2]上的一个通孔限位，尺架上与所述通孔垂直设有一螺孔，一螺栓[6]经该螺孔锁紧所述杆件。

4.根据权利要求2所述的数显测厚规，其特征在于：所述杆件为一表面设有外螺纹的螺杆，所述尺架上设有一与螺杆配合的螺孔。

5.根据权利要求1所述的数显测厚规，其特征在于：所述第二固定测砧的端部一侧呈锥形，其锥尖与所述活动测砧相对。