CN1996443A - 显示装置及其测试电路 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示装置及其测试电路，该显示装置包含一像素阵列、一前端电路、一测试电路以及一致能电路，该测试电路用以测试该像素阵列，该致能电路根据一定电压以决定是否致能该测试电路。当该像素阵列测试完毕后，该定电压由该前端电路所提供以非致能该测试电路。

Description

显示装置及其测试电路
技术领域
本发明涉及一种显示装置及其测试电路，特别是涉及一种根据一定电压以决定是否致能测试电路，并可在测试完成后非致能该测试电路的显示装置及其测试电路。
背景技术
近年来，平面显示器的发展越来越迅速，已经逐渐取代传统的阴极射线管显示器。现今的平面显示器主要有下列几种：有机发光二极管显示器(OrganicLight-Emitting Diodes Display；OLED)、等离子体显示器(Plasma DisplayPanel；PDP)、液晶显示器(Liquid Crystal Display；LCD)以及场发射显示器(Field Emission Display；FED)等。不论是上述何种平面显示器，制作时皆须对其显示阵列电路进行测试，以确定制作出来的平面显示器能够正常工作。
图1为公知对于平面显示器进行测试的电路图。平面显示器包含显示阵列101以及测试单元103。显示阵列101包含了多条电极配线，测试单元103则通过致能单元105电性连接至显示阵列101，致能单元105经致能信号100来决定是否输入测试信号至这些电极配线用以对平面显示器的显示阵列进行测试。
公知的平面显示器在进行完测试之后，会将测试单元103以及显示阵列101的电性连接切断，或者是使致能单元105不连接任何的信号而呈现浮接(floating)的状态。并且以异方性导电胶膜(anisotropic conductive film；ACF)来连接显示阵列101以及其它印刷电路板或驱动集成电路(IC)。但是，呈现浮接状态的致能单元105仍然置放在平面显示器中，由于异方性导电胶膜连接其它组件及/或信号可能会导致其它信号耦合(coupling)至致能单元105，此耦合信号可能会使致能单元105开启，进而造成显示阵列101所显示的画面异常。因此如何在平面显示器测试之后，消除显示画面因原先的测试单元103以及致能单元105所产生的异常是此领域亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示装置及其测试电路，来解决上述公知技术中存在的问题。
为了实现上述目的，本发明提供了一种应用于一显示装置的测试电路，该显示装置包含一像素阵列及一前端电路。该测试电路包含一测试单元及一致能单元，该测试单元用以测试该像素阵列，该致能单元根据一定电压以决定是否致能该测试单元。当该像素阵列测试完毕后，该定电压由该前端电路所提供以非致能该测试单元。
为了实现上述目的，本发明还提供了一种显示装置，包含一像素阵列、一前端电路、一测试电路及一致能电路。该测试电路用以测试该像素阵列，该致能电路根据一定电压以决定是否致能该测试电路。当该像素阵列测试完毕后，该定电压由该前端电路所提供以非致能该测试电路。
本发明提供一定电压来决定致能电路是否致能测试电路，并在测试完毕后，定电压持续的被提供(但电压电位改变)使致能电路在显示装置运行时呈现非致能状态。因此显示装置的像素阵列不会被测试电路以及致能电路影响而造成显示异常，进而达到让显示装置正常运行的目的。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1为公知的平面显示器的示意图；
图2为本发明的较佳实施例的示意图；以及
图3为本发明的较佳实施例的另一示意图。
其中，附图标记：
100：致能信号    101：显示阵列
103：测试单元    105：致能单元
2：显示装置      20：测试信号
21：像素阵列     22：定电压
23：测试电路     25：致能电路
27：前端电路    29：测试机具
30：低电压电位的定电压
具体实施方式
本发明的一较佳实施例如图2所示，为一种显示装置2，其包含一像素阵列21、一测试电路23、一致能电路25以及一前端电路27。要测试时，显示装置2连接至一测试机具29，测试机具29提供一定电压22来决定是否致能测试电路23。例如本较佳实施例中，当定电压22为高电压电位时，致能电路25即被致能，并使得测试电路23提供的测试信号20输入至像素阵列21，使像素阵列21可以被测试。而当定电压22为低电压电位时，致能电路25即被非致能，使测试电路23提供的测试信号20无法输入至像素阵列21，使得像素阵列21无法被测试。
当要测试像素阵列21时，定电压22是由测试机具29所提供，以控制测试电路23何时将测试信号20送入像素阵列21。当像素阵列21测试完毕之后，其它组件要置入于显示装置2中时，如图3所示，测试机具29会停止提供定电压22至致能电路25，前端电路27将会被连接至致能电路25，并提供一低电压电位的定电压30以确保测试电路23处于非致能状态，防止致能电路25或者是测试电路23因浮接而影响显示装置2的像素阵列21的正常运行。
本发明并不限定前端电路27的种类，上述实施例的前端电路27可以是驱动像素阵列21的一驱动电路、连接像素阵列21与系统端的一柔性印刷电路(Flexible Printed Circuit；FPC)或其它类型可以提供一固定电压的任何电路，例如位于玻璃上直接压合集成电路芯片(IC Chip on Glass)上的电路。
由上述可知，本发明在测试时，借助一定电压来决定致能电路的开启。在显示装置测试完毕后，定电压则持续的被前端电路所提供以使得致能电路在显示装置运行时呈现非致能状态，因此显示装置的像素阵列不会受致能电路或测试电路浮接的影响而造成显示异常，进而达成让显示装置正常运行的目的。
当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (8)

1、一种测试电路，应用于一显示装置，该显示装置包含一像素阵列及一前端电路，其特征在于，该测试电路包含：
一测试单元，用以测试该像素阵列；以及
一致能单元，根据一定电压以决定是否致能该测试单元；
其中，当该像素阵列测试完毕后，该定电压由该前端电路所提供以非致能该测试单元。
2、根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，该前端电路为驱动该像素阵列的一驱动电路。
3、根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，该前端电路为一柔性印刷电路。
4、根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，该前端电路位于玻璃上直接压合的集成电路芯片上。
5、一种显示装置，其特征在于，包含：
一像素阵列；
一前端电路；
一测试电路，用以测试该像素阵列；以及
一致能电路，根据一定电压以决定是否致能该测试电路；
其中，当该像素阵列测试完毕后，该定电压由该前端电路所提供以非致能该测试电路。
6、根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，该前端电路为驱动该像素阵列的一驱动电路。
7、根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，该前端电路为一柔性印刷电路。
8、根据权利要求5所述的显示装置，其特征在于，该前端电路位于玻璃上直接压合的集成电路芯片上。
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US9985087B2 (en) 2015-11-18 2018-05-29 Everdisplay Optronics (Shanghai) Limited Display device with panel test circuit

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102339581A (zh) * 2011-09-28 2012-02-01 深圳市华星光电技术有限公司 虚拟负载板及液晶显示控制板的测试系统和测试方法
CN102339581B (zh) * 2011-09-28 2014-04-09 深圳市华星光电技术有限公司 虚拟负载板及液晶显示控制板的测试系统和测试方法
US9985087B2 (en) 2015-11-18 2018-05-29 Everdisplay Optronics (Shanghai) Limited Display device with panel test circuit

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