CN1949943A - 一种有源有机发光二极管面板及其控制方法 - Google Patents

一种有源有机发光二极管面板及其控制方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种有源有机发光二极管面板及其控制方法,该有源有机发光二极管面板包括一像素阵列、温度传感器和反馈控制电路,其中,温度传感器是用来检测有源有机发光二极管面板的工作温度,而反馈控制电路则是依据温度传感器所感测的结果,来调整有源有机发光二极管面板的工作电流大小。本发明的工作电流的大小与温度传感器所检测的工作温度的大小呈反比,主要是避免有源有机发光二极管面板处于高温、高电流的情况下,而延长面板的使用寿命。

Description

一种有源有机发光二极管面板及其控制方法
技术领域
本发明涉及一种有源有机发光二极管面板,特别是涉及一种调整工作电流来控制有源有机发光二极管面板温度的方法。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode,OLED)面板相对于液晶显示面板具有快速反应时间、重量轻、无视角限制、高对比度等优点,因而成为近年来显示面板的主要研究焦点之一。依有机发光二极管的驱动方式,大致上可分为无源有机发光二极管(Passive Matrix Organic Light Emitting Diode,PMOLED)面板与有源有机发光二极管(Active Matrix Organic Light EmittingDiode,AMOLED)面板。其中,AMOLED面板适用于高分辨率与大尺寸的显示面板。
由于AMOLED面板的像素亮度正比于有机发光二极管的导通电流,而此一导通电流的大小是由晶体管决定。当AMOLED面板的工作温度持续增加时,晶体管的起始电压会逐渐降低,使得晶体管漏极端产生的电流会增加,又发光二极管的阳极端与晶体管的漏极端耦接,所以流经有机发光二极管的电流也会增加。然而AMOLED面板含有大量的有机材料,在高温、高电流的情形下,易使得AMOLED面板加速劣化,同时也会缩短面板的使用寿命。
图1所示为在不同的温度下,现有的面板整体驱动电流的趋势。请参照图1,在现有的技术中,随着AMOLED面板温度提高,其驱动电流也会随之增加,即AMOLED面板的温度与驱动电流为一正比关系。这表示随着AMOLED面板的温度升高,流经有机发光二极管的电流也会变大,使得AMOLED面板会加速劣化与缩短使用寿命。
发明内容
因此,本发明的目的是提供一种平板显示器与其AMOLED面板,可以依据其运作时温度的变化,而调整工作电流的大小。
从另一观点来看,本发明的目的是提供一种AMOLED面板的控制方法,可以控制AMOLED面板的驱动电流大小与其工作温度的大小呈反比。
本发明提供的AMOLED面板,包括一像素阵列、一温度传感器和一反馈控制电路。其中,像素阵列具有多个以阵列排列的像素单元,而温度传感器则是用来检测至少部分的像素单元的工作温度。藉此,反馈控制电路就可以依据温度传感器所感测的结果,来调整像素阵列的工作电流的大小。在本发明中,反馈控制电路可以控制像素阵列的工作电流的大小与温度传感器所检测的工作温度的大小呈反比。
从另一观点来看,本发明提供了一种平板显示器,包括一AMOLED面板、一温度传感器和一反馈控制电路。其中,AMOLED面板具有多个像素单元,而温度传感器是用来检测AMOLED面板的工作温度。另外,反馈控制电路可以根据温度传感器所感测的结果,调整AMOLED面板的工作电流大小。在本发明中,反馈控制电路会控制AMOLED面板的工作电流大小与温度传感器所检测的工作温度的大小呈反比。
从另一观点来看,本发明提供了一种AMOLED面板的控制方法。首先利用温度传感器检测AMOLED面板的至少部分区域的工作温度,并将检测结果传送至反馈控制电路,接着反馈控制电路依据检测结果来调整AMOLED面板的工作电流大小,使得AMOLED面板的工作电流的大小与工作温度的大小呈反比。
由于本发明是利用温度传感器检测AMOLED面板的工作温度,再通过反馈控制电路依据温度传感器所检测的工作温度来调整AMOLED面板的工作电流大小与工作温度的大小呈反比。藉此,当AMOLED面板在工作温度增加时,有机发光二极管的导通电流却会降低,而延长面板的使用寿命。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1为有源有机发光二极管面板驱动电流与温度的现有技术的关系;
图2为依照本发明的一较佳实施例的一种有源有机发光二极管面板的电路方块图;
图3为依照本发明的一较佳实施例的像素单元电路图;
图4为本发明的有源有机发光二极管面板驱动电流与温度的关系;
图5为依照本发明的另一较佳实施例的一种有源有机发光二极管面板的电路方块图。
其中,附图标记:
200  平板显示器
210  AMOLED面板
212  温度传感器
214  反馈控制电路
220  扫描线驱动电路
222  数据线驱动电路
224  像素阵列
228  像素单元
2281 像素单元
230  扫描线
234  数据线
310、312  晶体管
320  有机发光二极管
具体实施方式
图2所示为依照本发明的一较佳实施例的一种有源有机发光显示器的电路方块图。请参照图2,本发明提供了平板显示器200,包括AMOLED面板210、温度传感器212和反馈控制电路214。其中,温度传感器212配置在AMOLED面板210上,用来检测AMOLED面板210运作时的工作温度,并将检测的结果送至反馈控制电路214。
AMOLED面板210包括扫描线驱动电路220、数据线驱动电路222、像素阵列224。其中,像素阵列224具有多个像素单元228,其以阵列方式排列。而扫描线驱动电路220是通过多条扫描线230耦接至像素阵列224,另外数据线驱动电路222则是通过多条数据线234耦接至像素阵列224。
图3所示为依照本发明的一较佳实施例的一种像素单元2281的电路图,可以适用于图2的像素单元228。请参照图3,像素单元2281包含晶体管310和312、以及有机发光二极管320。在本实施例中,晶体管310和312可以利用NMOS(N-Type Metal Oxide Semiconductor,N型金属氧化物半导体)晶体管来实现。其中,晶体管310的栅极端耦接至一扫描线230,源极端耦接至一条数据线234,漏极端耦接至驱动晶体管312的栅极端。另外,晶体管312的源极端耦接至一电压源VDD,漏极端耦接至有机发光二极管320的阳极端,并通过有机发光二极管320的阴极端耦接至一共同电压Vss。在本发明的实施例中,共同电压Vss可以是接地电位。
请合并参照图2和图3,在图2中,扫描线驱动电路220是用来产生扫描信号,并且数据线驱动电路222是用来产生数据电压。当要驱动像素单元2281时,首先扫描线驱动电路220会将像素单元2281所耦接的扫描线230上的扫描信号致能,使得晶体管310被导通。此时,数据线驱动电路222会输出一数据电压信号,而通过数据线234送至像素单元2281,并且通过晶体管310传送至驱动晶体管312的栅极。藉此,晶体管312会被启动,并且产生一驱动电流ID来驱动有机发光二极管320。
从图3可以得知,驱动电流ID的大小与数据电压、工作电压和共同电压都有关联。因此,本发明就是利用此一特点来调整驱动电流的大小。
请合并参照图2和图3,在图2中,当AMOLED面板210工作一段时间后,其工作温度会持续上升。若温度传感器212检测到AMOLED面板210的部分像素单元的工作温度升高时,反馈控制电路214会通过数据线驱动电路222降低数据电压。此时,晶体管312的栅极端电压也会降低,使得晶体管312的操作电压降低。由于晶体管312的操作电压降低,所以由晶体管312产生的驱动电流ID变小,以致于流经发光二极管的驱动电流ID降低。
图4所示为在不同的温度下,本发明的面板整体驱动电流的趋势。请参照图4,图2中的反馈控制电路214会依据温度传感器212的检测结果,而控制AMOLED面板的工作电流的大小与所检测区域的工作温度的大小呈反比。因此,当AMOLED面板的工作温度上升时,驱动电流ID则随之降低,可以使得AMOLED面板不易加速劣化,同时也能延长面板的使用寿命。
图5所示为依照本发明的另一较佳实施例的一种有源有机发光显示器的电路方块图。请参照图5,本发明提供了平板显示器200,包括AMOLED面板210、温度传感器212和反馈控制电路214。其中,温度传感器212配置在AMOLED面板210上,用来检测AMOLED面板210运作时的工作温度,并将检测的结果送至反馈控制电路214。
请合并参照图2和图3,在图2中,当AMOLED面板210工作一段时间后,其工作温度会持续上升。若温度传感器212检测到AMOLED面板210的部分像素单元的工作温度升高时,反馈控制电路212会调降晶体管312的工作电压VDD。在图3中,由于晶体管312的工作电压VDD降低,使得工作电压VDD和共同电压Vss之间的电压差距缩小,以致于晶体管312产生的驱动电流ID也会降低。因此,有机发光二极管的驱动电流ID也跟着降低,使得AMOLED面板不会加速劣化,同时也能延长AMOLED面板的使用寿命。
综上所述,在本发明提出利用温度传感器检测AMOLED面板的工作温度,并依据温度传感器所感测的结果,通过反馈控制电路来调整AMOLED面板的工作电流与温度传感器所检测的工作温度的大小呈反比。因此,当AMOLED面板在高温下操作时,其工作电流会随之下降,使得本发明的AMOLED面板不易劣化,而延长面板的使用寿命。
当然,本发明还可有其他多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (15)

1、一种有源有机发光二极管面板,其特征在于,包括:
一像素阵列,具有多个以阵列排列的像素单元;
一温度传感器,用于检测所述像素单元的至少部分的工作温度;以及
一反馈控制电路,依据该温度传感器所感测的结果,而调整该像素阵列的工作电流大小,
其中该反馈控制电路使该像素阵列的工作电流的大小与该温度传感器所检测的工作温度的大小呈反比。
2、根据权利要求1所述的有源有机发光二极管面板,其特征在于,所述每一像素单元包括:
一第一NMOS晶体管,其源极端接收一数据电压,其栅极端则接收一扫描信号;
一第二NMOS晶体管,其源极端耦接一工作电压,其栅极端则耦接该第一NMOS晶体管的漏极端;以及
一有机发光二极管组件,其阳极端耦接该第二NMOS晶体管的漏极端,其阴极端则耦接一共同电压。
3、根据权利要求2所述的有源有机发光二极管面板,其特征在于,该反馈控制电路是依据该温度传感器所检测的工作温度的大小来调整该工作电压,以控制该工作电流。
4、根据权利要求2所述的有源有机发光二极管面板,其特征在于,该反馈控制电路是依据该温度传感器所检测的工作温度的大小来调整该数据电压,以控制该工作电流。
5、根据权利要求2所述的有源有机发光二极管面板,其特征在于,该共同电压的电位为接地电位。
6、根据权利要求2所述的有源有机发光二极管面板,其特征在于,该反馈控制电路是依据该温度传感器所检测的工作温度的大小来调整该共同电压,以控制该工作电流。
7、一种平板显示器,其特征在于,包括:
一有源有机发光二极管面板,具有多个像素单元,是以阵列方式排列;
一温度传感器,用于检测该有源有机发光二极管面板的工作温度;以及
一反馈控制电路,依据该温度传感器所感测的结果,而调整该有源有机发光二极管面板的工作电流大小,
其中该反馈控制电路使该有源有机发光二极管面板的工作电流的大小与该温度传感器所检测的工作温度的大小呈反比。
8、根据权利要求7所述的平板显示器,其特征在于,所述每一像素单元包括:
一第一NMOS晶体管,其源极端接收一数据电压,其栅极端则接收一扫描信号;
一第二NMOS晶体管,其源极端耦接一工作电压,其栅极端则耦接该第一NMOS晶体管的漏极端;以及
一有机发光二极管组件,其阳极端耦接该第二NMOS晶体管的漏极端,其阴极端则耦接一共同电压。
9、根据权利要求8所述的平板显示器,其特征在于,该反馈控制电路是依据该温度传感器所检测的工作温度的大小来调整该工作电压,以控制该工作电流。
10、根据权利要求8所述的平板显示器,其特征在于,该反馈控制电路是依据该温度传感器所检测的工作温度的大小来调整该数据电压,以控制该工作电流。
11、根据权利要求8所述的平板显示器,其特征在于,该共同电压的电位为接地电位。
12、根据权利要求8所述的平板显示器,其特征在于,该反馈控制电路是依据该温度传感器所检测的工作温度的大小来调整该共同电压,以控制该工作电流。
13、一种有源有机发光二极管面板的控制方法,其特征在于,包括下列步骤:
检测该有源有机发光二极管面板的至少部分区域的工作温度,并产生一检测结果;以及
依据该检测结果来调整该有源有机发光二极管面板的工作电流的大小,且使该有源有机发光二极管面板的工作电流的大小与所检测区域的工作温度的大小呈反比。
14、根据权利要求13所述的有源有机发光二极管面板的控制方法,其特征在于,所述调整该有源有机发光二极管面板的工作电流的步骤,包括调整该有源有机发光二极管面板的工作电压的大小,而使该有源有机发光二极管面板的工作电流的大小与所检测区域的工作温度的大小呈反比。
15、根据权利要求13所述的有源有机发光二极管面板的控制方法,其特征在于,所述调整该有源有机发光二极管面板的工作电流的步骤,包括调整用于驱动该有源有机发光二极管面板的数据电压的大小,而使该有源有机发光二极管面板的工作电流的大小与所检测区域的工作温度的大小呈反比。
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