CN1924823A - 一种测试芯片的方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试芯片的方法，该方法包括：A.设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；B.可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；C.待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。本发明进一步包括把待测芯片处理的结果和软件验证工具(Cmodule)对输入数据进行处理的结果进行比对，还包括通过比对待测芯片对输入数据进行处理的结果和输入数据来观察待测芯片中处理算法实现的效果。本发明同时公开了用该方法实现测试芯片的系统。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试技术，特别涉及一种测试芯片的方法及系统。
背景技术
在芯片进行研发和制造的过程中，必须要进行测试芯片的过程。如图1所示为现有技术测试芯片需要搭建的系统的组成结构示意图，其包括：
传感器102：用来采集需要处理的输入数据并将输出作为待测芯片的输入。
待测芯片101：用来对传感器102的输出进行处理，并把处理的结果发送给显示器103。不同的芯片具有不同的处理功能，例如多媒体处理芯片中的图像处理芯片，具有对图像进行增益控制、图像格式转化、图像缩放、颜色调整和伽玛较正等处理；声音处理芯片具有对声音进行音效、音质和音量等调整的处理。
显示器103：对待测芯片101处理的结果进行显示。
但是在不同的环境下，传感器102采集的需要处理的输入数据是在不断变化的，因此传感器102输出的数据也是不断变化的，也就是传感器102发送给待测芯片101的输入数据和发送给软件验证工具(Cmodule)的与输入数据对应的文件数据都是不断变化的，这样经过待测芯片101处理的结果是不稳定和确切的，从而发送给显示器103显示的处理的结果也是不稳定和确切的。更进一步地，输入数据对应的文件数据经过Cmodule处理的结果是不稳定和确切的，这个处理结果是文件的形式，可以被PC读取出来并显示在显示器上。所以对经过待测芯片101和Cmodule处理的结果进行比对是很困难的。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种测试芯片的方法，该方法能使待测芯片得到稳定和确切的输入数据。
本发明的另一个目的在于提供一种测试芯片的系统，该系统能使待测芯片得到稳定和确切的输入数据。
为达到上述目的的一个方面，本发明提供了一种测试芯片的方法，该方法包括以下步骤：
A、设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；
B、可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；
C、待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。
所述步骤B之前进一步包括：PC通过接口模块向处理器发送控制指令；处理器根据此控制指令通过总线读取输入数据，处理器通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑器件发送控制指令，可编程逻辑单元根据此控制指令执行步骤B。
预先设置一个存储器，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是：处理器根据控制指令通过总线读取存储器中的输入数据。
预先设置一个网络接口，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是：处理器根据控制指令通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据。
所述步骤C之前进一步包括：PC向处理器发送控制命令；处理器根据此控制指令控制待测芯片执行步骤C。
所述步骤C之后进一步包括：待测芯片把对输入数据处理的结果发送给显示模块，显示模块把处理的结果显示出来。
预先设置一个存储器来存储输入数据，所述的步骤C后进一步包括：
D、待测芯片把处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元把处理的结果发送给总线，处理器把总线上的处理的结果发送到存储器；
E、PC通过接口模块向处理器发送控制指令，处理器通过总线读取存储模块上的待测芯片处理的结果和输入数据；
F、处理器把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC，PC对待测芯片处理的结果和输入数据进行比对，并把比对结果显示出来。
所述的步骤B中可编程逻辑单元模拟传感器的输出信号是：时钟信号和决定数据输出方式的信号，其中，时钟信号采用模拟传感器的输出时钟；
所述的步骤C中待测芯片采用模拟传感器的输出信号来接收输入数据的步骤是：待测芯片根据时钟信号确定输入数据的时钟，根据决定数据输出方式的信号确定输入数据的输出方式，接收输入数据。
为达到上述目的的另一个方面，提供一种测试芯片的系统，该系统包括：可编程逻辑单元和待测芯片；
所述的可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片。
所述的系统进一步包括PC、接口模块、网络接口、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总线；
所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据，并通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令；
所述的可编程逻辑单元根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片；
所述的PC向处理器2发送控制指令，处理器2根据此控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据并对输入数据进行处理。
所述的网络接口是以太网接口。
所述的系统进一步包括PC、接口模块、存储器、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总线；
所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取存储器上的输入数据，并通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令；
所述的可编程逻辑单元根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片；
所述的PC向处理器2发送控制指令，处理器2根据此控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据并对输入数据进行处理；
所述的待测芯片将处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元将处理的结果发送给总线，处理器1把总线上的处理的结果发送给存储器；
所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1读取存储器上的待测芯片处理的结果和输入数据，并把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC。
所述的待测芯片包括接口Sif、接口Biu和接口Lcdif；
所述的接口Sif接收可编程逻辑单元发送的模拟传感器的输出信号和输入数据；
所述的接口Biu接收处理器2发送的控制指令；
所述的接口Lcdif接收待测芯片对输入数据处理的结果，并将处理的结果发送给显示模块或/和将处理的结果发送给可编程逻辑单元。
所述的PC采用的是测试平台Dragon；所述的接口模块包含接口Uart或/和接口Usb；所述的处理器1的型号是S3c2410；所述的处理器2的型号是S3c44box、所述的存储器包括动态随机存储器Sdram、闪存Norflash和闪存Nandflash。
所述的系统进一步包括显示模块；所述的待测芯片将对输入数据处理的结果发送给显示模块；所述的显示模块将处理的结果显示出来。
所述的显示模块是显示器。
所述的可编程逻辑单元是现场可编程门阵列FPGA或者复杂的可编程逻辑器件CPLD。
由以上的技术方案可见，本发明的一种芯片测试的方法和系统，通过设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑器件，把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片，待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据，从而待测芯片得到稳定和确切的输入数据并对输入数据进行处理。本发明进一步包括把待测芯片处理的结果和Cmodule对输入数据进行处理的结果进行比对，还包括通过比对待测芯片对输入数据进行处理的结果和输入数据来观察待测芯片中处理算法实现的效果。本发明中的输入数据还可以人为设置，这样就可以在本发明中设置在一些环境中不容易通过传感器采集的输入数据。
附图说明
图1为现有技术测试生产的芯片需要搭建的系统的组成结构示意图；
图2为本发明的一种测试芯片的系统的组成结构示意图；
图3为本发明的一种测试芯片的方法的实现流程图；
图4为本发明的一种测试图像处理芯片的系统的一个实施例的结构示意图；
图5为本发明的一种测试图像处理芯片的方法的一个实施例的实现流程图。
具体实施方式
首先介绍一下本发明一种测试芯片的系统的总的发明构想。
如图2所示，本发明的一种测试芯片的系统包含PC201、接口模块202、处理器1203、存储器204、网络接口205、总线206、可编程逻辑单元207、待测芯片208、处理器2209和显示模块210。
PC201通过接口模块202向处理器1203发送控制指令，处理器1203根据此控制指令通过总线206读取存储器204上的输入数据，处理器1203把输入数据通过总线206发送给可编程逻辑单元207，并向可编程逻辑单元207发送控制指令，可编程逻辑单元207根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把此输出信号和输入数据发送给待测芯片208。PC201向处理器2209发送控制指令，处理器2209根据此控制指令控制待测芯片208用模拟传感器的输出信号来接收输入数据，并对输入数据进行处理，待测芯片208把处理的结果发送给显示模块210，显示模块210将此处理的结果显示出来，或可以把待测芯片处理的结果和Cmodule对输入数据处理的结果进行比对。
这里，若是想观察待测芯片208中的处理算法的实现效果，可以把显示模块显示的数据存储起来，具体如下所述：待测芯片208可以把处理的结果发送给可编程逻辑单元207，可编程逻辑单元207把处理的结果发送给总线206，处理器1203把总线206上的处理的结果发送给存储器204，PC201通过接口模块202向处理器1203发送控制指令，处理器1203通过总线206读取存储器204上的待测芯片208的处理结果和输入数据，处理器1203把待测芯片208的处理结果和输入数据通过接口模块发送给PC201。PC201对待测芯片208的处理结果和输入数据进行比对，并把比对结果显示出来。待测芯片208也可以同时把处理的结果发送给可编程逻辑单元207和显示模块210。
实际应用中，处理器1203也可以通过总线读取外围设备通过网络接口205发送来的输入数据，处理器1203将输入数据通过总线206发送给可编程逻辑单元207。
输入数据可以是图像数据，也可以声音数据，相应的待测芯片可以是图像处理芯片，也可以是声音处理芯片。图像处理芯片可以对输入图像数据进行增益控制、图像格式转化、图像缩放、颜色调整和伽玛较正等处理；声音处理芯片可以对声音进行音效、音质和音量等调整的处理。
如图3所示，本发明的一种测试芯片的方法包括以下步骤：
步骤301：设置具有模拟传感器输出信号功能的可编程逻辑单元。
步骤302：PC向处理器2发送控制指令。
步骤303：PC向处理器1发送控制指令，处理器1根据此控制指令通过总线读取存储器上的输入数据，处理器1把输入数据通过总线发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令。
步骤304：可编程逻辑单元根据此控制指令，采用设置模拟传感器输出信号的功能模拟传感器的输出信号。
步骤305：可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片。
步骤306：处理器2根据PC向处理器2发送的控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据，并对输入数据进行处理。
待测芯片对处理的结果的处理方式有两种，方法一为待测芯片把处理的结果发送给显示模块，显示模块将此处理的结果显示出来，或可以把待测芯片处理的结果和Cmodule对输入数据处理的结果进行比对。
方法二为待测芯片可以把处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元把处理的结果发送给总线，处理器1把总线上的处理的结果发送给存储器。PC向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取存储模块上的待测芯片处理的结果和输入数据。处理器1把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC，PC对待测芯片处理的结果和输入数据进行比对，并把比对结果显示出来。待测芯片也可以同时把处理的结果发送给显示模块和可编程逻辑单元。
下面结合附图及具体实施例对本发明再作进一步详细的说明。
如图4所示，本发明的一种测试图像处理芯片的系统的一个实施例的结构示意图，其包含采用测试平台Dragon401的PC、接口模块414、采用型号是S3c2410的处理器1 404、存储器415、以太网接口408、总线409、现场可编程门阵列(FPGA)410、待测图像处理芯片411、采用型号是S3c44box的处理器2 412和显示器413。待测图像处理芯片411包含Biu接口、Sif接口和Lcdif接口。接口模块414包含Uart接口402或/和Usb接口403。存储器415包含动态随机存储器(Sdram)、闪存Nandflash407和存储S3c2410 404程序和启动数据的闪存Norflash406。这里输入数据是一幅图像。
测试平台Dragon401通过接口模块414向处理器1S3c2410 404发送控制指令，处理器1S3c2410 404根据此控制指令通过总线409读取存储在闪存Nandflash407上的输入图像数据，处理器1S3c2410 404把输入图像数据通过总线409发送给FPGA410，并向FPGA410发送控制指令，FPGA410根据此控制指令模拟图像传感器的输出信号，FPGA410把模拟图像传感器的输出信号和输入图像数据通过接口Sif发送给待测图像处理芯片411。测试平台Dragon401向处理器2S3c44box412发送控制指令，处理器2S3c44box412根据此控制指令通过接口Biu控制待测图像处理芯片411用模拟图像传感器的输出信号来接收输入图像数据，并对输入图像数据进行图像处理，待测图像处理芯片411把处理的结果通过接口Lcdif发送给显示器413，显示器413把处理结果显示出来，实际应用中，待测图像处理芯片411处理的结果可以和Cmodule对输入图像数据处理的结果进行比对。
这里，若是想观察待测图像处理芯片411中的图像处理算法的实现效果，可以把显示器显示的数据存储起来，具体如下所述：待测图像处理芯片411可以把处理的结果通过接口Lcdif发送给FPGA410，FPGA410把处理的结果发送给总线409，处理器1S3c2410 404把总线上的处理的结果发送给闪存Nandflash407，测试平台Dragon401通过接口模块414向处理器1S3c2410404发送控制指令，处理器1S3c2410 404通过总线409读取闪存Nandflash407中的待测图像处理芯片411处理的结果和输入图像数据，处理器1S3c2410404把待测图像处理芯片411处理的结果和输入图像数据通过接口模块414发送给测试平台Dragon401，测试平台Dragon401对待测图像处理芯411处理的结果和输入图像数据进行比对并把比对结果显示在PC端。待测图像处理芯片411也可以同时把处理的结果发送给显示器413和FPGA410。
实际应用中，处理器1S3c2410 404也可以通过总线读取外围设备通过以太网接口发送的输入图像数据，处理器1S3c2410 404将输入图像数据通过总线409发送给FPGA410。可编程逻辑单元也可以为复杂的可编程逻辑器件(CPLD)。
FPGA410模拟图像传感器的输出信号可以通过时钟、Vsync、Hsync等信号来实现，时钟信号采用模拟传感器的输出时钟，Vsync表示输入图像数的某一帧数据的开始，Hsync表示一帧数据中某一行数据的开始。待测图像处理芯片通过时钟信号、Vsync信号和Hsync信号来接收输入数据。输入图像数据可以人为设置为具有坏点的图像数据，处理器2S3c44box通过接口Biu向待测图像处理芯片411发送控制指令可以为对输入图像数据进行坏点检测处理，同样也可以为对图像进行增益控制、图像格式转化、图像缩放、颜色调整和伽玛较正等处理，待测图像处理芯片411将处理结果通过接口Lcdif发送给显示器，并显示出处理结果。
基于上述装置，如图5所示，本发明提供一种测试图像处理芯片的方法的一个实施例的实现流程图，该方法包括以下步骤：
步骤501：设置具有模拟图像传感器的输出信号功能的FPGA。
步骤502：测试平台Dragon向处理器2S3c44box发送控制指令。
步骤503：测试平台Dragon向处理器1S3c2410发送控制指令，处理器1S3c2410根据此控制指令读取存储在闪存Nandflash上的输入图像数据，并通过总线把输入图像数据发送给FPGA，并向FPGA发送控制指令。
步骤504：FPGA根据此控制指令，采用设置模拟图像传感器输出信号的功能模拟图像传感器的输出信号。
步骤505：FPGA把模拟图像传感器的输出信号和输入图像数据通过接口Sif发送给待测图像处理芯片。
步骤506：处理器2S3c44box根据测试平台Dragon向处理器2S3c44box发送的控制指令控制待测图像处理芯片用模拟图像传感器的输出信号来接收输入图像数据并对输入图像数据进行图像处理。
待测图像处理芯片对处理结果的处理方式有两种，方式一为待测图像处理芯片把对输入图像数据处理的结果通过接口Lcdif发送给显示器，显示器把处理结果显示出来，或可以把待测图像处理芯片处理的结果和Cmodule对输入图像数据处理的结果进行比对。
方式二为待测图像处理芯片可以把处理的结果通过接口Lcdif发送给FPGA，FPGA把处理的结果发送给总线，处理器1S3c2410把总线上的处理的结果发送给闪存Nandflash，测试平台Dragon向处理器1S3c2410发送控制指令，处理器1S3c2410通过总线读取闪存Nandflash中的待测图像处理芯片处理的结果和输入图像数据。处理器1S3c2410通过接口模块把待测图像处理芯片处理的结果和输入图像数据发送给测试平台Dragon，测试平台Dragon对待测图像处理芯片处理的结果和输入图像数据进行比对并把比对结果显示在PC端。待测图像处理芯片也可以同时把处理的结果发送给显示器和FPGA。
由以上的具体实施例可见，本发明的这种测试芯片的方法及系统，通过设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑器件，把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片，待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据，从而得到稳定和确切的输入数据并对输入数据进行处理。本发明进一步包括待测芯片把处理的结果和Cmodule对输入数据进行处理的结果进行比对，还包括通过比对待测芯片对输入数据进行处理的结果和输入数据来观察待测芯片中处理算法实现的效果。
以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明的保护范围。
Claims (17)
1、一种测试芯片的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
A、设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；
B、可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；
C、待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。
2、如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤B之前进一步包括：PC通过接口模块向处理器发送控制指令；处理器根据此控制指令通过总线读取输入数据，处理器通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑器件发送控制指令，可编程逻辑单元根据此控制指令执行步骤B。
3、如权利要求2所述的方法，其特征在于，预先设置一个存储器，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是：处理器根据控制指令通过总线读取存储器中的输入数据。
4、如权利要求2所述的方法，其特征在于，预先设置一个网络接口，所述的处理器根据控制指令通过总线读取输入数据的步骤是：处理器根据控制指令通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据。
5、如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之前进一步包括：PC向处理器发送控制命令；处理器根据此控制指令控制待测芯片执行步骤C。
6、如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤C之后进一步包括：待测芯片把对输入数据处理的结果发送给显示模块，显示模块把处理的结果显示出来。
7、如权利要求1所述的方法，其特征在于，预先设置一个存储器来存储输入数据，所述的步骤C后进一步包括：
D、待测芯片把处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元把处理的结果发送给总线，处理器把总线上的处理的结果发送到存储器；
E、PC通过接口模块向处理器发送控制指令，处理器通过总线读取存储模块上的待测芯片处理的结果和输入数据；
F、处理器把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC，PC对待测芯片处理的结果和输入数据进行比对，并把比对结果显示出来。
8、如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的步骤B中可编程逻辑单元模拟传感器的输出信号是：时钟信号和决定数据输出方式的信号，其中，时钟信号采用模拟传感器的输出时钟；
所述的步骤C中待测芯片采用模拟传感器的输出信号来接收输入数据的步骤是：待测芯片根据时钟信号确定输入数据的时钟，根据决定数据输出方式的信号确定输入数据的输出方式，接收输入数据。
9、一种测试芯片的系统，其特征在于，该系统包括：可编程逻辑单元和待测芯片；
所述的可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片。
10、如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述的系统进一步包括PC、接口模块、网络接口、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总线；
所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取外围设备通过网络接口发送的输入数据，并通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令；
所述的可编程逻辑单元根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片；
所述的PC向处理器2发送控制指令，处理器2根据此控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据并对输入数据进行处理。
11、如权利要求10所述的系统，其特征在于，所述的网络接口是以太网接口。
12、如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述的系统进一步包括PC、接口模块、存储器、两个处理器，分别为处理器1和处理器2和总线；
所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1通过总线读取存储器上的输入数据，并通过总线把输入数据发送给可编程逻辑单元，并向可编程逻辑单元发送控制指令；
所述的可编程逻辑单元根据此控制指令模拟传感器的输出信号，并把模拟传感器的输出信号和输入数据发送给待测芯片；
所述的PC向处理器2发送控制指令，处理器2根据此控制指令控制待测芯片用模拟传感器的输出信号来接收输入数据并对输入数据进行处理；
所述的待测芯片将处理的结果发送给可编程逻辑单元，可编程逻辑单元将处理的结果发送给总线，处理器1把总线上的处理的结果发送给存储器；
所述的PC通过接口模块向处理器1发送控制指令，处理器1读取存储器上的待测芯片处理的结果和输入数据，并把待测芯片处理的结果和输入数据通过接口模块发送给PC。
13、如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述的待测芯片包括接口Sif、接口Biu和接口Lcdif；
所述的接口Sif接收可编程逻辑单元发送的模拟传感器的输出信号和输入数据；
所述的接口Biu接收处理器2发送的控制指令；
所述的接口Lcdif接收待测芯片对输入数据处理的结果，并将处理的结果发送给显示模块或/和将处理的结果发送给可编程逻辑单元。
14、如权利要求12所述的系统，其特征在于，所述的PC采用的是测试平台Dragon；所述的接口模块包含接口Uart或/和接口Usb；所述的处理器1的型号是S3c2410；所述的处理器2的型号是S3c44box、所述的存储器包括动态随机存储器Sdram、闪存Norflash和闪存Nandflash。
15、如权利要求10或12所述的系统，其特征在于，所述的系统进一步包括显示模块；所述的待测芯片将对输入数据处理的结果发送给显示模块；所述的显示模块将处理的结果显示出来。
16、如权利要求15所述的系统，其特征在于，所述的显示模块是显示器。
17、如权利要求9所述的系统，其特征在于，所述的可编程逻辑单元是现场可编程门阵列FPGA或者复杂的可编程逻辑器件CPLD。
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