CN1922507A - 光谱测定诊断电子电路和相关的计数系统 - Google Patents

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CN1922507A CNA2005800050870A CN200580005087A CN1922507A CN 1922507 A CN1922507 A CN 1922507A CN A2005800050870 A CNA2005800050870 A CN A2005800050870A CN 200580005087 A CN200580005087 A CN 200580005087A CN 1922507 A CN1922507 A CN 1922507A
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Abstract

本发明涉及光谱测定诊断电子电路，其包括对应于检测到的脉冲的数字数据检测装置，以及把测量的幅度和检测到的脉冲(24)相关的幅度测量装置，其中如果在编程的时间间隔中检测到第一个脉冲，则脉冲拒绝装置(25)使用检测到的数字数据来拒绝每个宽度超过脉冲宽度阈值(tc)的脉冲，以及在编程的时间间隔(T3)中出现的任何新脉冲。

Description

光谱测定诊断电子电路和相关的计数系统
技术领域和背景技术
本发明涉及光谱测定诊断电子电路。
本发明还涉及颗粒计数系统，其包括根据本发明的光谱测定诊断电子电路。例如，该计数系统可以是用于控制的核聚变或裂变反应堆的中子计数系统。
控制的核聚变是产生电的一种富于吸引力且用之不竭的替代方法。控制的聚变的目的是重新产生由太阳在地球上产生的能量。然后在通常称为托卡马克(tokamak)的装置内产生能量。托卡马克是通过强磁场和百万安培的强电流的共同作用，强烈地限制非常热的称为等离子的离子化气体的装置。等离子在其内部产生氘/氚聚变反应，产生带有能量的中子。对物理、技术和成本效率限制的优化产生了定义为“高级托卡马克”的概念，其包括使用静态限制条件，其中整个电流由非感应的方式产生，而且大部分由通常称为“自举电流”的由等离子自产生的电流产生。
使用“高级托卡马克”类型的结构需要有产生并控制自举电流的能力。在不同的公知方法中，在等离子中注入高能量的电磁波是性能非常好的在托卡马克中电流非感应产生的方法。那么就要对电磁波的能量沉积分布进行控制。对由混合波(通常是在托卡马克中产生非感应电流的电磁波)加速的超热电子发射的位于硬X射线范围内的轫致(braking)辐射测量，是获得关于混合波的能量沉积的信息的有效方法。例如，当在较长时间内控制电流分布时(参看Peysson等的“Revue of Science Instrument”1999年No.10，第70页)，利用非常高空间和时间分辨率的高能量x射线断层摄影诊断方法对混合波的传播和吸收进行了研究。断层摄影系统包括总共59条瞄准线，59个分布在两个摄像头中的检测器，两个摄像头一个水平一个垂直，通过在等离子区域内使用倾角非常不同的瞄准线形成网格，增加了测量的空间冗余度。诊断测量了整体沿着每个瞄准线的等离子的发射率，主要目的在于使用所有整体测量确定等离子的径向发射率分布。只要满足了特定的假设，这就可以通过使用艾贝尔(Abel)逆变换方法实现。
图1示出了根据在先技术的硬X射线光谱测定诊断测量系统的原理图示。
该测量系统包括摄像头1、接收底盘2、偏置电路3、供电电路4、校准电路5、处理电路6、和数据存储器单元7。开关8把接收底盘2的输出连接到处理电路6的输入(这种情况下是测量阶段)或者连接到校准电路5的输入(这种情况下是校准阶段)。摄像头1包括基于碲化镉(CdTe)半导体的检测器9、前置放大器10和微分发射器11。接收底盘2包括微分接收器12和线性放大器13。偏置电路3使用例如等于-100V的偏置电压极化检测器。供电电路4对摄像头1的电路10和11以及接收底盘2的电路1213供电，例如使用+/-12V，40mA的电源供电。处理电路6包括一组鉴别器D1到D8、一组计数器C1到C8和数据采集单元14。
检测器9是物理介质，其中由等离子发射的光子P传递其全部或一部分能量。传递给检测器的能量转换为电脉冲。来自检测器的脉冲然后由针对CdTe特别进行优化的电子计数系统处理。由前置放大器10在半导体内收集载流子。微分发射器11通过微分接收器12把前置放大器10输出的信号发射给线性放大器13，线性放大器更通常地称为整形器。整形器的功能是把接收到的通常具有较长的张驰时间(relaxation time)且可能在计数速率过高时随之重叠的脉冲转换为相对短的脉冲，相对短的脉冲对于采集系统的其他部分来说容易计数。整形器的增益可以手动调整，以校准信号能量。
在测量阶段，开关8把接收底盘2的输入连接到处理电路6的输入。然后由八个积分鉴别器D1-D8对接收的脉冲高度进行分析。积分鉴别器D1-D8向计数器C1-C8发送逻辑信号，计数器C1-C8在脉冲的上升沿幅值大于鉴别阈值时和积分鉴别器连接。计数器Ci(i＝1，2，…，8)接收逻辑信号对计数器Ci的缓冲存储器加1，因此计数器Ci包括当能量大于鉴别阈值时所记录的命中数。对每个采样步骤(例如16ms的步骤)，由数据采集单元14读取并重置每个计数器的缓冲存储器，数据采集单元14把八个计数结果发送给数据存储单元7。
该系统有几个缺陷。
首先，没有关于输入信号的信息，因此不能显示整形的脉冲，在两个光子同时到达检测器时，不能区别随之出现的叠加。然后，测量的信号不是实时的，这阻止了任何实时分布逆变换，随之阻止了混合波的沉积能量的随动及电流状况的随动。
为了获得可靠的测量，必须有校准步骤。然后，接收底盘2的输出和校准电路5的输入连接。
校准包括调整整形器电路的增益，以得到由接收底盘2输出的脉冲幅度和入射光子的能量间的良好对应。如前文所述，本领域公知的断层摄影系统包括两个摄像头，一个垂直一个水平，包括用于垂直摄像头的21个检测器和用于水平摄像头的38个检测器，总共为59个检测器。然后对每个检测器进行校准。
对在不同能量通道精确重建X射线发射率分布来说，校准很重要。然后校准可以通过使用具有1024个通道的数字光谱测量仪和三个放射性的源来进行。然后调整整形器的增益，以把每个源的主峰放置在正确的能量等级。
校准步骤也存在缺陷。其要求采集系统的一些电子组件被断开，因此在校准中不使用这些组件。这会引起校准误差。此外，这种断开增加了对系统的操作，因此增加了破坏系统的风险。此外，摄像头1离连接到校准台的采集系统很远。这迫使操作员在改变和摄像头有关的源位置操作时要进行许多前进的和返回的操作。
根据本发明的光谱测定诊断电子电路没有前述的缺陷。
发明内容
本发明涉及光谱测定诊断电子电路，其包括对应于检测到的脉冲的数字数据检测装置，以及把测量的幅度和检测到的脉冲相关的幅度测量装置。该诊断电子电路包括脉冲拒绝装置，如果在编程的时间间隔中检测到第一个脉冲，则脉冲拒绝装置使用检测到的数字数据并拒绝宽度超过脉冲宽度阈值的脉冲，以及在编程的时间间隔中出现的任何新脉冲。
根据本发明的另一特征，光谱测定诊断电子电路包括校准装置，该校准装置包括直方图存储器，当检测到的脉冲源于标准源时，其用于根据校准能量范围对与脉冲拒绝装置未拒绝的检测到的脉冲相对应的数字数据进行分类。
根据本发明的另一特征，光谱测定诊断电子电路包括：
一分类装置，用于根据检测能量范围首先对所有检测到的脉冲分类，然后对脉冲拒绝装置未拒绝的检测到的脉冲分类，以及
一计数装置，用于根据检测能量范围首先对所有检测到的脉冲计数，然后对脉冲拒绝装置未拒绝的检测到的脉冲计数。
根据本发明的另一特征，光谱测定诊断电子电路包括至少一个循环存储器，其以可配置的速率存储数字数据。
根据本发明的另一特征，光谱测定诊断电子电路包括用于排除测量幅度小于幅度阈值的脉冲的装置。
根据本发明的另一特征，光谱测定诊断电子电路包括至少一个输入放大器，用于放大检测到的模拟脉冲，以及至少一个模拟/数字转换器用于把检测到的模拟脉冲转换为所述数字数据。
根据本发明的另一特征，循环存储器存储模拟/数字转换器输出的数据历史。
本发明还涉及颗粒计数系统，其包括用于形成检测到的脉冲的颗粒检测装置和处理该检测到的脉冲的装置。该处理装置包括根据本发明的光谱测定诊断电子电路。
根据本发明的另一特征，处理装置包括和通信网络连接的共用随机存取存储器。
根据本发明的另一特征，所述颗粒为硬x射线。
根据本发明的诊断电子电路的脉冲拒绝装置有许多有益方面。当和根据本发明的校准装置结合时，脉冲拒绝装置允许进行原位校准，而无需拆开或断开测量系统，这极大地降低了错误的风险。这样就可以在不利环境下以例行的方式进行高质量的校准。校准和所有瞄准通道相关。而且，结合根据本发明的分类和计数装置，根据本发明的脉冲拒绝装置可用于对检测到的脉冲实现实时鉴别和计数。对检测到的脉冲的实时测量的主要有益方面是，可以使用合适的程序以使用艾贝尔方法，通过逆变换实时数据得到本地发射率分布。超热分布可以被随动，这样允许对电流分布进行直接控制，这满足了“高级托卡马克”的固定目的。
附图说明
通过阅读结合附图的实现本发明的优选模式，本发明的其他特征和有益方面将更加明显，其中：
图1示出了根据在先技术的硬X射线光谱测定诊断测量系统；
图2示出了根据本发明的光谱测定诊断测量系统；
图3示出了根据本发明的诊断电子电路的示例的框图；
图4示出了根据本发明的到达诊断电子电路的输入的典型脉冲表示；
图5示出了根据本发明的诊断电子电路的处理通道的示例的详细图示；
图6示出了使用根据本发明的诊断电子电路获得的校准直方图；
图7示出了对图3示出的根据本发明的诊断电子电路的改进的框图。
在所有的附图中，同样的标号代表同样的组件。
具体实施方式
图2示出了根据本发明的基于例如X射线辐射的光谱测定诊断测量系统的一个通道。
该测量系统包括摄像头1、接收底盘2、偏置电路3、供电电路4、数据处理电路15和数据存储单元7。根据本发明的测量系统和根据在先技术的测量系统不同，这是由于数据处理电路15不同。数据处理电路15包括根据本发明的诊断电子电路16，其和数据采集和处理单元17以及管理单元18串联。根据对本发明的改进，数据处理电路15可以包括共享的RAM 19。诸如SCRAMNET(共享公共随机存取存储器网络)卡的共享RAM 19可有益地用来通过通信网络20和其他采集单元共享数据。
图3示出了根据本发明的示例性电子诊断电路16a的框图。处理电路16a包括两个数据处理模块21、22和可编程接口和控制逻辑组件23。每个数据处理模块21、22通过卡内部的总线Bi和可编程接口和控制逻辑组件23连接。数据处理模块包括例如四个并行的输入放大器A、和四个输入放大器串联的四个模拟/数字转换器A/N以及一个可编程脉冲处理逻辑组件PROG-I。可编程接口和控制逻辑组件23由控制K1控制，控制K1控制数据采集速率。VME(虚机电子设备)总线B连接可编程接口和控制逻辑组件23到数据采集和处理单元17(图3未示出)，数据采集和处理单元17也通过同一个VME总线B和控制单元18(图3未示出)连接。每个可编程脉冲处理逻辑组件PROG-I对其接收的数字数据施加一组操作，在对图5的描述中会对此进行详细描述。
图4是到达根据本发明的诊断电子电路的输入的信号的典型表示，图5示出了图4所示的信号处理通道的详细图示。
图4的曲线示出了信号的能量E随时间t的分布。能量E的曲线包括正脉冲整形部分和负脉冲部分。信号的“可用”部分是正值部分。正值部分持续的时间为一微秒的量级。持续时间为几个微秒量级(通常为3或4μs)的负值部分是处理电子电路引起的。图4示出了几个时间参数(ta、tb、tc、td、T1、T2、T3)，在本说明书的其余部分将对其进行解释。
图5示出了处理通道21、22的详细图示。
处理模块21、22包括若干个处理通道。简便起见而且为了不使图过于烦琐，图5只示出了由输入放大器A、信号模拟/数字转换器A/N、转换器的增益调整电路G和可编程脉冲处理逻辑组件PROG-I的相关部分组成的一个处理通道。
组件PROG-I包括下面的功能模块：
一脉冲检测和检测到的脉冲幅度测量模块24，
一叠加拒绝模块25，
一两个根据能量范围的分类模块26、28，
一两个数字计数器模块27、29以及
一直方图存储器30。
除了放大功能以外，输入放大器A执行阻抗匹配功能并删除接收的信号的负值部分(参看图4)。模拟数字转换器A/N对放大器A输出的信号进行量化。增益调整电路G通过VME总线对转换器的增益进行编程。在校准步骤对转换器增益编程。处理模块24首先检测脉冲，然后测量脉冲的幅度。根据本发明的一个优选实施例，在检测中使用脉冲能量阈值Es，以使测量不依赖于噪声(参看图4)。对能量级别大于或等于阈值Es的脉冲计数，而更低能量级别的脉冲被删除。当对脉冲计数时，测量其宽度T1(参看图4)。对脉冲宽度进行测量的起始时间是时间ta，在ta之后脉冲能量增大超过阈值Es。然后用脉冲幅度下降到低于阈值Es的时间tb定义脉冲宽度T1，脉冲宽度T1表示如下：
T1＝tb-ta
脉冲宽度时间阈值tc用来根据宽度对脉冲进行分类。例如，脉冲的最大宽度T2(T2＝tc-ta)可以等于1.5μs。
对脉冲宽度进行测量的起始时间ta也是编程时间T3的起始点，在这段时间里不对任何新的脉冲计数。时间T3例如可等于5μs。限制延迟T3的可编程时间td可以例如对应于源脉冲，换句话说即在负值部分被删除之前的脉冲，返回基本上为0的时间(参看图4)。
叠加拒绝模块25拒绝任何宽度大于脉冲宽度阈值tc的脉冲，而且拒绝在如T3的编程时间段内的第一个脉冲检测到后的任何新脉冲。叠加拒绝模块25没有拒绝的脉冲被接受并根据可编程能量范围分类(分类模块26)。例如，可以使用下面的能量范围：
-[20kev-40kev]，
-[40kev-60kev]，
-[60kev-80kev]，
-[80kev-100kev]，
-[100kev-120kev]，
-[120kev-140kev]，
-[140kev-160kev]，
-≥160kev.
然后在计数模块27对每个能量范围的脉冲计数。例如，在如上所述有8个能量范围的情况下，计数模块27可以包括8个12位的计数器，换句话说每个能量范围一个计数器。只增加和当前脉冲检测的能量范围相关的计数器。
被拒绝的检测到的脉冲也根据能量范围分类，因此所有检测到的脉冲都进行分类(分类模块28)和计数(计数模块29)。
在校准测量中使用直方图存储器30。然后光谱测定诊断电子电路设为校准模式。
现在描述校准方法。从已知的外部激励(标准源)开始数据采集。直方图存储器30根据校准能量的范围对信号分类。例如，校准能量的范围可以是1kev的量级。在该校准中只考虑叠加拒绝之后分类的脉冲。输入到直方图存储器的每个脉冲都使对应于其能量最大幅度的存储器盒加1。然后可以进行搜索，以找到脉冲出现次数最多的盒或一组盒。然后可用通过VME总线调整增益，以使该最大值和标准源的期望已知能量重合。
图6示出了直方图存储器内容的一个例子。横坐标示出了不同能量级别E，纵坐标示出了对每个能量级别收集的脉冲数NI。
图7示出了根据本发明改进的光谱测定诊断电子电路。
除了前文参考图3所描述的组件外，根据本发明的改进的诊断电子电路还包括两个循环缓冲存储器M1和M2，这两个循环缓冲存储器M1和M2在其输入端接收由对应的处理模块21、22输出的数字数据。内部总线Bi把每个循环存储器M1、M2和可编程接口及控制逻辑组件23连接起来。施加到可编程逻辑组件23的控制K2启动从处理模块21和22的输出数据到相应的循环存储器M1和M2的存储。例如，循环存储器M1和M2存储包括在相应的处理模块21和22中的A/N转换器的输出数据的历史，存储的速率可以通过VME总线B被配置，或者循环存储器M1和M2可以用过总线B以可配置的速率存储计数器27、29的状态变化的历史，该速率可能高于基本的采集速率，因此可以观察两次采集之间的计数器变化。

Claims (10)

1、光谱测定诊断电子电路，其包括对应于检测到的脉冲的数字数据检测装置，以及把测量的幅度和检测到的脉冲(24)相关的幅度测量装置，其中如果在编程的时间间隔(T3)中检测到第一个脉冲，则脉冲拒绝装置(25)使用检测到的数字数据来拒绝每个宽度超过脉冲宽度阈值(tc)的脉冲，以及在该编程的时间间隔(T3)中出现的任何新脉冲。
2、根据权利要求1所述的光谱测定诊断电子电路，其中校准装置包括直方图存储器(30)，当检测到的脉冲源于标准源时，其用于根据校准能量范围对与该脉冲拒绝装置未拒绝的检测到的脉冲相对应的数字数据进行分类。
3、根据权利要求1或2所述的光谱测定诊断电子电路，其中：
—分类装置(28、26)根据检测能量范围(25)首先对所有检测到的脉冲分类，然后对该脉冲拒绝装置未拒绝的检测到的脉冲分类，以及
—计数装置(29、27)根据检测能量范围(25)首先对所有检测到的脉冲计数，然后对该脉冲拒绝装置未拒绝的检测到的脉冲计数。
4、根据权利要求1所述的光谱测定诊断电子电路，其中至少一个循环存储器(M1、M2)以可配置的速率(K2)存储数字数据。
5、根据权利要求1所述的光谱测定诊断电子电路，其中用于排除脉冲的装置排除测量幅度小于幅度阈值(Es)的脉冲。
6、根据权利要求1所述的光谱测定诊断电子电路，其中至少一个输入放大器(A)放大检测到的模拟脉冲，并且至少一个模拟/数字转换器(A/N)把检测到的模拟脉冲转换为所述数字数据。
7、根据权利要求6所述的光谱测定诊断电子电路，其中循环存储器(M1、M2)存储模拟/数字转换器(A/N)的数据输出历史。
8、颗粒计数系统，其包括用于形成检测到的脉冲的颗粒检测装置和处理该检测到的脉冲的装置(15)，其中该处理装置(15)包括根据权利要求1到7中的任何一个所述的光谱测定诊断电子电路。
9、根据权利要求8所述的颗粒计数系统，其中，所述处理装置(15)包括和通信网络(20)连接的共享随机存取存储器(19)。
10、根据权利要求8或9所述的颗粒计数系统，其中所述颗粒为硬X射线。
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Publications (1)

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FR (1) FR2866713B1 (zh)
WO (1) WO2005085905A1 (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102540240A (zh) * 2012-01-12 2012-07-04 深圳大学 一种脉冲幅度分析电路及脉冲幅度分析器
CN104024885A (zh) * 2012-09-28 2014-09-03 株式会社东芝 核医学诊断装置及医用数据处理装置
CN105143918A (zh) * 2013-04-24 2015-12-09 皇家飞利浦有限公司 具有校正单元的脉冲处理电路
CN106772540A (zh) * 2016-11-29 2017-05-31 华中科技大学 一种j‑text托卡马克装置的硬x射线通量检测系统
CN106940221A (zh) * 2017-03-10 2017-07-11 中国科学技术大学 一种雪崩信号甄别方法和装置、红外单光子探测器

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1675444B1 (en) * 2004-12-22 2008-02-13 Commissariat A L'energie Atomique Process for determining local emissivity profile of suprathermal electrons
US8560588B2 (en) * 2006-09-28 2013-10-15 Rockwell Automation Technologies, Inc. Digital pulse reject counter
EP2092369B1 (en) * 2006-12-13 2011-05-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Apparatus and method for counting x-ray photons
WO2010133871A2 (en) * 2009-05-19 2010-11-25 Durham Scientific Crystals Limited Radiation detection
US9000385B2 (en) 2009-12-30 2015-04-07 General Electric Company Method and apparatus for acquiring radiation data
CN103412319A (zh) * 2013-08-19 2013-11-27 中国科学院高能物理研究所 基于脉冲宽度谱的探测器信号处理方法和装置
EP2924422A1 (en) * 2014-03-26 2015-09-30 JEOL Ltd. X-ray spectrometer and electronic diagnostic circuit
EP4000177A1 (en) * 2019-07-19 2022-05-25 Koninklijke Philips N.V. Time-domain filtering of gamma events

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4229654A (en) * 1978-08-07 1980-10-21 General Electric Company Determining fissile content of nuclear fuel elements
JPS56160677A (en) * 1980-05-16 1981-12-10 Nippon Atom Ind Group Co Ltd Noise discriminating circuit for radiation monitor
AT368291B (de) * 1980-09-01 1982-09-27 Westphal Georg Peter Dr Verfahren und vorrichtung zur gewinnung der verarbeitungswahrscheinlichkeit von detektorimpulsen bei der impulshoehenanalyse von kern- und roentgenstrahlen
JPS6153584A (ja) * 1984-08-23 1986-03-17 Toshiba Corp 放射線検出装置
JPS6450388A (en) * 1987-08-20 1989-02-27 Hitachi Heating Appl Plane-form heating body
US5067090A (en) * 1989-05-01 1991-11-19 Schlumberger Technology Corporation Nuclear spectroscopy method and apparatus for digital pulse height analysis
FR2686158A1 (fr) * 1992-01-15 1993-07-16 Commissariat Energie Atomique Chaine de comptage d'impulsions nucleaires a reglage de la haute tension et detection de panne.
US5873054A (en) * 1995-08-14 1999-02-16 William K. Warburton Method and apparatus for combinatorial logic signal processor in a digitally based high speed x-ray spectrometer
JP2942727B2 (ja) * 1996-01-31 1999-08-30 株式会社東芝 光ファイバ放射線モニタシステム
JPH09230052A (ja) * 1996-02-26 1997-09-05 Fuji Electric Co Ltd 異線種弁別放射線検出器
GB2332512B (en) * 1996-08-30 2000-07-26 Schlumberger Ltd Method of pulse shape analysis for use in a nuclear spectroscopy system
JP2000074968A (ja) * 1998-08-27 2000-03-14 Mitsubishi Electric Corp 信号検出装置
JP2000258537A (ja) * 1999-03-11 2000-09-22 Mitsubishi Electric Corp 信号検出装置
RU2162236C1 (ru) * 1999-07-05 2001-01-20 Ооо "Технорос" Режектор наложенных сигналов в спектрометре ионизирующих излучений
JP2001194460A (ja) * 2000-01-07 2001-07-19 Mitsubishi Electric Corp 放射線モニタ
JP2001337168A (ja) * 2000-05-29 2001-12-07 Jeol Ltd 放射線計測用ａｄ変換装置
JP2002022846A (ja) * 2000-07-05 2002-01-23 Seiko Instruments Inc エネルギー分散型ｘ線分析装置
JP3824211B2 (ja) * 2001-08-13 2006-09-20 三菱電機株式会社 放射線モニタ装置
JP3832331B2 (ja) * 2001-12-20 2006-10-11 株式会社島津製作所 電子線分析装置
US6590957B1 (en) * 2002-03-13 2003-07-08 William K. Warburton Method and apparatus for producing spectra corrected for deadtime losses in spectroscopy systems operating under variable input rate conditions

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102540240A (zh) * 2012-01-12 2012-07-04 深圳大学 一种脉冲幅度分析电路及脉冲幅度分析器
CN104024885A (zh) * 2012-09-28 2014-09-03 株式会社东芝 核医学诊断装置及医用数据处理装置
CN104024885B (zh) * 2012-09-28 2017-02-08 东芝医疗系统株式会社 核医学诊断装置及医用数据处理装置
CN105143918A (zh) * 2013-04-24 2015-12-09 皇家飞利浦有限公司 具有校正单元的脉冲处理电路
CN106772540A (zh) * 2016-11-29 2017-05-31 华中科技大学 一种j‑text托卡马克装置的硬x射线通量检测系统
CN106940221A (zh) * 2017-03-10 2017-07-11 中国科学技术大学 一种雪崩信号甄别方法和装置、红外单光子探测器
CN106940221B (zh) * 2017-03-10 2020-05-01 中国科学技术大学 一种雪崩信号甄别方法和装置、红外单光子探测器

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