CN1831550A - 显示面板的非接触式检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明是有关于一种显示面板的非接触式检测装置，包括多个信号输入传感器、多个信号侦测传感器以及控制电路，其中所述信号输入传感器组设于第一检测长条中，所述信号侦测传感器组设于第二检测长条中。当该装置检测面板时，可以通过控制电路控制第一检测长条中的所述信号输入传感器提供侦测信号，并控制第二检测长条中的所述信号侦测传感器同步接收侦测信号，以大幅降低检测时间。

Description

显示面板的非接触式检测装置

技术领域

本发明是关于一种显示面板的非接触式检测装置，尤指一种适用于检测薄膜晶体管阵列基板的栅极/源极配线的非接触式检测装置。

背景技术

图1显示一平面显示器的面板1的示意图。在显示面板1上具有多条水平线110与多条垂直线120，其中水平线110又称为栅极配线(Gate Lines)，垂直线120又称为源极配线(Source Lines)。然而，在显示面板1的制造过程中，显示面板1上的垂直线110或水平线120有可能会发生断线(Open)或短路(Short)的情形。因此，通常会对栅极/源极配线进行检测。

目前平面显示器的面板的检测方法主要有两种：接触式检测法与非接触检测法。

图2显示已知的接触式检测法的示意图。已知的接触式检测法是利用探针卡21来对显示面板22进行检测，其中探针卡21上具有多个探针2111，2112，2113，2114，2115，2116，且所述探针的数量是固定的。当显示面板22的水平线221，222，223进行检测时，探针卡21的探针2111，2112，2113，2114，2115，2116分别对准所述水平线221，222，223的两侧。也即，探针2111，2112对准水平线221的两侧，探针2113，2114对准水平线222的两侧，探针2115，2116对准水平线223的两侧。接着，探针卡21上的探针2111，2112，2113，2114，2115，2116与所述水平线221，222，223接触，且探针卡21在所述水平线221，222，223的两侧间分别提供电位差，以供探针卡21能测量出水平线221，222，223的电阻值。若其中一条水平线222的电阻测量值超出栅极配线电阻值一设定范围时，则代表该水平线222可能断线。若其中一条水平线223的电阻值接近为零时，则代表该水平线223可能短路。

然而，采用探针卡检测显示面板非常耗时。例如：探针卡其中一侧的探针数为384个，待检测显示面板的分辨率为768×1024(768条水平线×1024条垂直线)，则探针卡上的探针必须先对准显示面板上的水平线，接着探针卡上的探针与显示面板上的水平线接触，并在检测完毕后探针卡再离开显示面板。由于探针卡的探针数为384个，是显示面板水平线(768条)的一半，因此探针卡必须对显示面板检测两次才能完成水平线部分的检测。所以探针卡必须再重复上述步骤(对准、接触、检测、及离开)才能完成显示面板的水平线的检测，如此将非常耗时。

此外，探针卡的探针数是固定的，而显示面板的分辨率可能会有许多种，所以需要非常多的探针卡来检测不同分辨率的显示面板，因此会造成生产成本提高。例如：探针卡其中一侧的探针数为384个，待检测显示面板的分辨率可能为768×1024(768条水平线×1024条垂直线)、1088×612、或1280×1024等各种不同的分辨率，所以必须准备多种不同探针数的探针卡，以检测不同分辨率的显示面板。

图3a与图3b显示已知非接触式检测装置的示意图。在图3a中，是利用输入传感器31与接收传感器32来对显示面板的其中一条水平线33进行检测，上述输入传感器31可以提供高电压，以对水平线33释放出电压，以供水平线33能够感应而产生电荷，使得接收传感器32能接收水平线33所产生的感应电荷。因此，接收传感器32可通过接收感应电荷来判断被检测的水平线33是否有缺陷。

图3b显示已知非接触式检测装置30检测显示面板3的示意图，非接触式检测装置30的两侧分别组设有输入传感器31与接收传感器32。由于非接触检测装置30采用感应电荷方式来检测显示面板3，所以非接触式检测装置30的探针与显示面板3的距离(Gap)必须非常小，例如：100微米(mm)。此外，非接触式检测装置30每次检测时只能检测一条水平线(或垂直线)，所以非接触式检测装置30必须采用扫描方式，例如：由上往下，对显示面板3进行检测。因为非接触式检测装置30与显示面板3的间距非常小，当显示面板3上存有微粒子(Particle)的情形时，非接触式检测装置30在显示面板3上移动时容易括伤显示面板3。

因此，如何提供一种显示面板的检测装置已成为一亟需解决的课题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种显示面板的非接触式检测装置，以便能降低检测时间(Tact-Time)，并有效地增加显示面板产能。

本发明的另一目的在于提供一种显示面板的非接触式检测装置，以便能大幅降低检测设备成本。

本发明的再一目的在于提供一种显示面板的非接触式检测装置，以便能在检测面板时降低括伤显示面板的几率。

依据本发明的一特色，是提出一种显示面板的非接触式检测装置，用以对一包括有多条金属线的显示面板进行检测，显示面板的非接触式检测装置包括：第一检测长条、第二检测长条以及控制电路。上述第一检测长条组设有多个信号输入传感器。上述第二检测长条组设有多个信号侦测传感器，且所述信号输入传感器与所述信号侦测传感器可以组成多组检测单元。上述控制电路分别与所述信号输入传感器及所述信号侦测传感器电性连接。当非接触式检测装置对显示面板检测时，每一组检测单元能对应一条金属线，以供控制电路控制至少一组检测单元对至少一条金属线进行检测。

依据本发明的另一特色，是提出一种显示面板的非接触式检测装置，用以对一包括有多条金属线的显示面板进行检测，该非接触式检测装置包括：第一检测长条、信号侦测传感器以及控制电路。上述第一检测长条组设有多个信号输入传感器。上述信号侦测传感器可以与信号输入传感器组成一检测单元。上述控制电路分别与所述信号输入传感器及信号侦测传感器电性连接。当非接触式检测装置对显示面板检测时，检测单元能对应一金属线，以供控制电路可以控制检测单元对金属线进行检测，欲使检测单元检测下一条金属线时，信号侦测传感器可以机械式位移，以使得其与另一信号输入传感器能对应及检测下一条金属线。

依据本发明的又一特色，是提出一种显示面板的非接触式检测装置，用以对一包括有多条金属线的显示面板进行检测，该非接触式检测装置包括：信号输入传感器、第二检测长条以及控制电路。上述第二检测长条组设有多个信号侦测传感器，且信号输入传感器能与至少一信号侦测传感器组成一检测单元。上述控制电路分别与信号输入传感器及所述信号侦测传感器电性连接。当非接触式检测装置对显示面板检测时，检测单元能对应一金属线，以供控制电路控制检测单元对金属线进行检测，且检测单元检测下一条金属线时，信号输入传感器可以机械式位移，以使得其与至少一信号侦测传感器能对应及检测下一条金属线。

上述控制电路在控制检测单元对金属线进行检测时，控制电路控制检测单元的信号输入传感器提供侦测信号，且控制电路控制检测单元的信号侦测传感器同步侦测信号。在另一实施中，控制电路可以控制多组检测单元来对金属线进行检测。

此外，控制电路控制检测单元的信号输入传感器提供电压，以使得金属线能够产生感应电荷，且控制电路控制检测单元的信号侦测传感器通过接收感应电荷来检测金属线。

上述控制电路是依序地控制检测单元对金属线进行检测，以达成电子扫描方式对金属线进行检测，以能加速检测时间与避免刮伤显示面板。

上述检测单元可以包括一信号输入传感器与一信号侦测传感器，也可以包括一信号输入传感器与多个信号侦测传感器。

上述待检测的显示面板可以为一还未切割的薄膜晶体管阵列基板，或者为一经过切割的薄膜晶体管阵列基板。

附图说明

图1是一平面显示器的面板的示意图。

图2是已知接触式检测法的示意图。

图3a是已知非接触检测的示意图。

图3b是已知非接触检测装置检测面板的示意图。

图4是本发明一较佳实施例的非接触式面板检测装置的功能方块图。

图5是本发明一较佳实施例的非接触式面板检测装置检测面板的示意图。

图6a、图6b是本发明第二较佳实施例的示意图。

图7是本发明第三较佳实施例的示意图。

图8是本发明第四较佳实施例的示意图。

主要组件符号说明：

面板              1，22，3，40，60，70，80

水平线            110，221，222，223，33

垂直线            120

探针卡            21

探针              2111，2112，2113，2114，2115，2116

非接触检测装置    30

输入传感器        31

接收传感器        33

金属线            401，402，403，404，601

控制电路          41

第一检测长条      42，62，72

第二检测长条      43，63，83

信号输入传感器    421，422，423，621，721，722，821

信号侦测传感器    431，432，433，6311，6312，6313，731，831，832

显示单元          44

具体实施方式

本发明是将多个信号输入传感器(Signal Input Sensor)组设于第一检测长条(Detecting Bar)，将多个信号侦测传感器(Signal Detecting Sensor)组设于第二检测长条，当对显示面板进行检测时，可以直接通过第一检测长条与第二检测长条来对显示面板上的金属线进行检测，其中第一检测长条中的每一个信号输入传感器可以对准显示面板上的待检测金属线，第二检测长条中的每一个信号侦测传感器也可以相对于第一检测长条中的信号输入传感器而位于显示面板的待检测金属线的另一侧。因此，在检测显示面板时，只要通过电子方式控制所述信号输入传感器提供侦测信号，并同时控制所述信号侦测传感器同步侦测信号便能快速完成检测，以大幅降低检测时间。

有关本发明显示面板的非接触式检测装置的第一较佳实施例，请一并参照图4与图5，其中图4显示非接触式检测装置的功能方块图，图5显示非接触式检测装置检测显示面板的示意图。在图4中，非接触式检测装置包括控制电路41、多个信号输入传感器421，422，423以及多个信号侦测传感器431，432，433。

上述控制电路41分别与所述信号输入传感器421，422，423以及所述信号侦测传感器431，432，433电性连接。

非接触式检测装置检测显示面板的一较佳实施例如图5所示，是以检测显示面板40的水平线401，402，403为例。所述信号输入传感器421，422，423组设于第一检测长条42中，所述信号侦测传感器431，432，433组设于第二检测长条43中。在本实施例中，非接触式检测装置所检测的显示面板40可以为未切割的薄膜晶体管阵列基板。在其它实施例中，待检测的显示面板40也可为经过切割的薄膜晶体管阵列基板。

此外，每一信号输入传感器421，422，423可以分别对准显示面板40的每一条金属线401，402，403的一侧，每一信号侦测传感器431，432，433可以分别对准显示面板40的每一条金属线401，402，403的另一侧，且上述信号输入传感器421可以与信号侦测传感器431组成一组检测单元，以使得信号输入传感器421所提供的侦测信号能够被信号侦测传感器431接收。相类似地，信号输入传感器422可以与信号侦测传感器432组成一组检测单元，信号输入传感器423可以与信号侦测传感器433组成一组检测单元。故，第一检测长条42与第二检测长条43中的所述信号输入传感器421，422，423与所述信号侦测传感器431，432，433可以组成多组检测单元。

在检测时，控制电路41可以一次控制一组检测单元来对显示面板40上的其中一条金属线401，402，403进行检测。例如：控制电路41控制信号输入传感器421对金属线401提供电压，以使得金属线401产生感应电荷，且与信号输入传感器421属于同一组检测单元的信号侦测传感器431可以接收金属线401所产生的感应电荷，以判断该金属线401是否断线或短路。

接着，控制电路41持续控制信号输入传感器422提供电压侦测信号，以使得信号侦测传感器432可以侦测金属线402所产生的感应电荷。所以，控制电路41可以依序控制信号输入传感器421，422，423提供侦测信号，并控制信号侦测传感器431，432，433同步接收侦测信号，以能达成利用电子扫描方式来对面板40上的所述金属线401，402，403进行检测，以大幅检测时间与降低括伤显示面板40的几率。

显示面板40也可能切割成多个小基板，而本发明所提供的非接触式检测装置的第一检测长条42与第二检测长条43一次仅能检测一侧的多个小基板，所以在检测完之后，第一检测长条42与第二检测长条43须位移至其它未检测的基板，以进行检测。因此，在本实施例中，本发明所提供的非接触式检测装置仅须位移两次便能完成薄膜晶体管阵列基板的检测而可有效地增加产能。另外，第一检测长条42与第二检测长条43中的所述信号输入传感器421，422，423及所述信号侦测传感器431，432，433的位置也可加以调整，因此对于不同分辨率的基板而言，是无需再另外准备不同的非接触式检测装置，故能节省显示面板检测设备的成本。

在其它实施例中，为了加速检测时间，控制电路410可以一次控制多组检测单元对显示面板40的金属线401，402，403进行检测。也即，控制电路410可以同时控制奇数的信号输入传感器421，423来对金属线401，403供应电压，以使得金属线401，403产生感应电荷，控制电路410并同时控制奇数的信号侦测传感器431，433接收感应电荷，以检测金属线401，403。之后，控制电路410可以控制偶数的信号输入传感器422与偶数的信号侦测传感器432来对偶数的金属线402进行检测，以大幅降低检测时间。

图6a与图6b显示本发明第二较佳实施例的示意图。在图6a中，第一检测长条62包括有多个信号输入传感器621，第二检测长条63包括有多个信号侦测传感器6311，6312，6313，其中信号输入传感器621与所述信号侦测传感器6311，6312，6313组成一个检测单元。

由于本实施例中，检测单元包括有一个信号输入传感器621与三个信号侦测传感器6311，6312，6313，因此当信号输入传感器621对显示面板60的金属线601提供电压时，金属线601能够产生感应电荷，且所述信号侦测传感器6311，6312，6313能接收金属线601所产生的感应电荷，故能增加测量结果的准确度，并有效地增加接收的信号强度与过滤不必要的噪声。

图6b显示本实施采用多个信号侦测传感器的示意图。A1为一个信号侦测传感器所接收的信号的波形，A2为三个信号侦测传感器所接收的信号的波形，由此可知，利用多个信号侦测传感器同时接收一信号，可使得波形具加成性，所以在进行检测显示面板时可以增加测量结果的准确度。

图7显示本发明第三较佳实施例的示意图，在有些实施中，可以利用第一检测长条72与一个信号侦测传感器731来检测显示面板70，其中第一检测长条72包括有多个信号输入传感器721，722。所以，控制电路可以控制第一检测长条72的输入传感器721，722依序提供侦测信号，并控制信号侦测传感器731机械式移动来接收侦测信号。

图8显示本发明第四较佳实施例的示意图，也可以利用信号输入传感器821与第二检测长条83来检测面板80，其中第二检测长条83包括有多个信号侦测传感器831，832。所以，控制电路可以控制信号输入传感器821机械移动以在不同位置提供侦测信号，并控制第二检测长条83的信号侦测传感器831、832依序接收侦测信号。

由以上的说明可知，本发明利用多个信号输入传感器组成第一检测长条，并利用多个信号侦测传感器组成第二检测长条，以供直接利用第一检测长条与第二检测长条来对显示面板进行检测。此外，控制电路并控制第一检测长条的信号输入传感器依序提供侦测信号，且控制第二检测长条的信号侦测传感器同步接收侦测信号，以达成电子式扫描面板，以能降低检测时间，并有效地增加显示面板产能。

上述实施例仅是为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围应以权利要求所述为准，而非仅限于上述实施例。

Claims (20)

1.一种显示面板的非接触式检测装置，用以对一包括有多条金属线的显示面板进行检测，其特征在于，该非接触式检测装置包括：

一第一检测长条，组设有多个信号输入传感器；

一第二检测长条，组设有多个信号侦测传感器，所述信号输入传感器与所述信号侦测传感器组成多组检测单元；以及

一控制电路，分别与所述信号输入传感器及所述信号侦测传感器电性连接，

当该非接触式检测装置对所述显示面板检测时，每一组检测单元对应一条金属线，以供所述控制电路控制至少一组检测单元对至少一条金属线进行检测。

2.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制至少一组检测单元的信号输入传感器提供侦测信号，且所述控制电路控制该至少一组检测单元的信号侦测传感器同步侦测信号。

3.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制至少一组检测单元的信号输入传感器提供电压，以使得至少一条金属线产生感应电荷，且所述控制电路控制该至少一组检测单元的信号侦测传感器，通过接收感应电荷来检测所述至少一条金属线。

4.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路依序控制所述至少一组检测单元对所述至少一条金属线进行检测。

5.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，每一检测单元包括一个信号输入传感器与一个信号侦测传感器。

6.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，每一检测单元包括一个信号输入传感器与多个信号侦测传感器。

7.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述显示面板为未切割的薄膜晶体管阵列基板。

8.如权利要求1所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述显示面板为经过切割的薄膜晶体管阵列基板。

9.一种非接触式检测装置，用以对一包括有多条金属线的显示面板进行检测，其特征在于，该非接触式检测装置包括：

一第一检测长条，组设有多个信号输入传感器；

一信号侦测传感器，能与一信号输入传感器组成一检测单元；以及

一控制电路，分别与所述信号输入传感器及所述信号侦测传感器电性连接，

当该非接触式检测装置对所述显示面板检测时，所述检测单元能对应一条金属线，以供该控制电路控制该检测单元对该金属线进行检测，且该检测单元检测下一条金属线时，所述信号侦测传感器能位移，以使得其与另一信号输入传感器能对应及检测下一条金属线。

10.如权利要求9所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制所述检测单元的所述信号输入传感器提供侦测信号，且该控制电路控制该检测单元的信号侦测传感器同步侦测信号。

11.如权利要求9所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制所述检测单元的所述信号输入传感器提供电压，以使得所述金属线产生感应电荷，且该控制电路控制该检测单元的信号侦测传感器，通过接收感应电荷来检测所述金属线。

12.如权利要求9所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路依序控制所述信号输入传感器来提供侦测信号，并控制所述信号侦测传感器位移以同步侦测信号。

13.一种非接触式检测装置，用以对一包括有多条金属线的显示面板进行检测，其特征在于，该非接触式检测装置包括：

一信号输入传感器；

一第二检测长条，组设有多个信号侦测传感器，且所述信号输入传感器能与至少一信号侦测传感器组成一检测单元；以及

一控制电路，分别与所述信号输入传感器及所述信号侦测传感器电性连接，

当该非接触式检测装置对所述显示面板检测时，所述检测单元能对应一条金属线，以供所述控制电路控制该检测单元对该金属线进行检测，且该检测单元检测下一条金属线时，所述信号输入传感器能位移，以使得其与另一至少一信号侦测传感器能对应及检测下一条金属线。

14.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制所述检测单元的信号输入传感器提供侦测信号，且该控制电路控制所述检测单元的至少一信号侦测传感器同步侦测信号。

15.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制所述检测单元的信号输入传感器提供电压，以使得所述金属线产生感应电荷，且该控制电路控制所述检测单元的至少一信号侦测传感器，通过接收感应电荷来检测所述至少一金属线。

16.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述控制电路控制依序位移所述信号输入传感器，以对准所述金属线，并提供侦测信号，且该控制电路并控制至少一信号侦测传感器依序同步侦测信号。

17.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述检测单元包括一信号输入传感器与一信号侦测传感器。

18.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述检测单元包括一信号输入传感器与多个信号侦测传感器。

19.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述显示面板为未切割的薄膜晶体管阵列基板。

20.如权利要求13所述的非接触式检测装置，其特征在于，所述显示面板为经过切割的薄膜晶体管阵列基板。

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