CN1755377A - 不必要电磁辐射测定方法和测定装置以及测定系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种不必要电磁辐射的测定方法、测定装置以及测定系统，连接从其一端引出接口电缆以及所述电缆的硬盘驱动器，并在与该一端相反侧的另一端连接沿该电缆的引出方向延伸的导电性夹具；用中空的导电性箱体覆盖沿该电缆的引出方向依次排列的该夹具、该硬盘驱动器以及该电缆而形成同轴结构的传输线路；同时对流经所述接口电缆以及所述电源电缆中流动的共模电流、和所述导电性箱体的电位进行测定，由此对来自上述硬盘单体的不必要电磁辐射进行测定。

Description

不必要电磁辐射测定方法 和测定装置以及测定系统
技术领域
【0001】本发明涉及对包含硬盘在内的不必要电磁辐射、亦即由此产生的电磁干扰的电平进行测定的技术。
背景技术
【0002】现在，针对从信息处理装置放射出的不必要电磁波的限定已适用于各种信息处理装置。例如，在美国由FCC(FederalCommunications Commission的略称)、在日本国内是由VCCI(信息处理装置等电波妨害主动限制协会(Voluntary Control Council forinformation Technology Equipment的略称)来进行针对信息处理装置的不必要电磁辐射的限定。在这些限定中规定在距离3米或10米的地方对从作为测定对象的信息处理装置整体产生的电场进行测定，并对该电场强度进行了限定。
【0003】由于这些规定是以从信息处理装置整体产生的电场作为限定对象，所以尚未进行针对在内部使用的硬盘驱动器等部件单体的限定。
【0004】另外，作为测定不必要电磁波的方法来说，还有使用专利文献1中所述的电波暗室(Radio Wave Anechoic Chamber)的测定方法。
【0005】(专利文献1)日本专利公开特开2002-064294号
【0006】硬盘驱动器在一般的电器店大多还是以单体来出售，所以可容易购入，用户能够自由地进行更换或者扩充。
【0007】从而，今后就需要对诸如在内部所使用的硬盘驱动器那样以用户可接触的部件电平来测定不必要电磁辐射电平的技术。
【0008】硬盘驱动器无法单体动作而需要对驱动器进行读写的的外围设备。
【0009】因此，当使用如专利文献1那样的电波暗室，与信息处理装置同样，将驱动器单体的不必要电磁辐射电平作为3米或10米远的电场来进行测定的情况下，由于受到从用于读写硬盘驱动器的外围设备产生的不必要电磁辐射的影响而难以进行准确的评价。
【0010】此外，虽然还从事通借助于流过硬盘驱动器的电源电缆的共模电流(Common-mode Current)来评价不必要电磁辐射的研究。但是现状是，其评价结果与实际搭载于信息处理装置时的不必要电磁辐射的测定结果未必一致。
【0011】人们认为这是因为当搭载于信息处理装置时，用单体测定的情况与箱体的设置方法等不同所以实际流经的电流线路发生改变的缘故。
【0012】此外，作为对LSI单体中的不必要电磁辐射进行评价的装置来说，仅管有使用工作台法拉第罩(Work Bench FaradayCage)和TEM单元(TEM cell)法，但是这些装置的构造都是专用于测定LSI的电源电流的高频成分，无法用于带有接口电缆等的硬盘驱动器等。
发明内容
【0013】本发明的目的就是提供一种可高精度地测定从硬盘驱动器产生的不必要辐射的技术。
【0014】根据能够解决上述课题的本发明的代表性技术方案之一，提供一种使用了中空的导电性机壳(Hollow Conductive Chassis)的不必要电磁辐射测定方法，在将连接在硬盘上的接口电缆以及电源电缆引至导电性机壳的外部、且经绝缘部件将硬盘固定于该机壳的状态下，以对硬盘内的配线或元件施加了规定信号的状态，对在硬盘的接口电缆以及电源电缆上流过的共模电流、和硬盘箱体的电位进行测定。
【0015】根据此测定方法，由于连接在硬盘上的接口电缆以及电源电缆被引至导电性机壳的外部，所以就能够显著减小从用于读写硬盘驱动器的外围设备发生的不必要电磁辐射的影响。
【0016】另外，作为适合采用此方法的构造，提供一种不必要电磁辐射测定装置，包括：导电性的机壳；将硬盘驱动器设置在该机壳内部中的导电性的设置夹具(Setting Jig)；与该硬盘驱动器相连接的电源电缆及接口电缆；与所述导电性机壳的端部相连接的同轴线接插件(Coaxial Connector)，其中，该同轴线接插件的外导体(OuterConductor)与机壳相连接，该同轴线接插件的内导体(InnerConductor)与设置夹具相连接，进而，该设置夹具可与作为测定对象物的硬盘驱动器的箱体进行电连接，由此就能够在硬盘驱动器与机壳之间形成传输线路构造。
【0017】这样，若能够形成传输线路构造就能够将不必要辐射的能量效率良好地传送给测定器。
【0018】根据本发明，就能够对从硬盘驱动器产生的不必要辐射高精度地进行测定。
附图说明
图1是表示将硬盘安装在不必要电磁辐射测定装置时的内部构造的斜视图。
图2是图1的不必要电磁辐射测定装置的设置夹具102的宽度方向的截面图。
图3是图1的不必要电磁辐射测定装置的设置夹具102的长度方向的截面图。
图4是表示使用图1的不必要电磁辐射测定装置的测定方法的说明图。
图5是表示使用图1的不必要电磁辐射测定装置的其它测定系统的图。
具体实施方式
【0019】下面，一边参照附图一边对本发明的实施例具体地进行说明。
【0020】图1是表示将硬盘安装在不必要电磁辐射测定装置时的内部构造的斜视图。
【0021】此外，为了便于说明内部构造，将机壳103设为透明来图示。
【0022】本实施例的不必要电磁辐射测定装置包括：在可拆装硬盘驱动器101构造的设置夹具102；用来固定设置夹具102的细长的机壳103；安装沿着机壳103的长度方向的一侧端部所安装的同轴的连接器104；将硬盘驱动器和周边设备连接起来的接口电缆105；将电源提供给硬盘驱动器101的电源电缆106。
【0023】在本实施方式中，沿接口电缆105和电源电缆106所伸出的方向，使用了细长的硬盘驱动器101。
【0024】设置夹具102可固定沿硬盘驱动器101的电缆(电源电缆106和接口电缆105)伸出的方向细长沿伸的构造的硬盘。具体而言，为如下这样的构造，即：在相对于与连接器104相反一侧的机壳103的端部，电缆(接口电缆105和电源电缆106)从硬盘伸出的位置彼此面对的方向上能够固定硬盘。
【0025】为了将硬盘驱动器101搭载在机壳103上而需要有取出窗107。
【0026】此外，机壳103采取细长的构造，具体而言，在其长度方向上朝向同轴线接插件104呈锥形变细，设置夹具102和机壳103之间的间隔逐渐变窄。由于能够通过机壳103与设置夹具102的构造来构成大致为50Ω(45-50Ω)的传输线路，所以可实现阻抗匹配(Impedance Matching)。
【0027】另外，当从硬盘驱动器101的一短边将硬盘驱动器101的电缆105、106沿着其长度方向引出时，机壳103以及设置在其中空内部(空洞)的设置夹具102如下面那样构成。在机壳103的、与上述硬盘驱动器101的另一短边相面对的端部上，设置有同轴线接插件104。机壳103以及设置夹具102，朝向该机壳103的设置有该同轴线接插件104的端部分别逐渐变细小，以使得该机壳103和设置夹具102之间的间距逐渐变窄。设置夹具102被配置成使位于与上述机壳103的设置上述同轴线接插件104的端部相反侧的其端部，与上述硬盘驱动器101的上述电缆105、106彼此面对，以便固定该硬盘。
【0028】也就是，将设置夹具102也配置成使位于该设置上述同轴线接插件104的端部相反侧的另一端部，与上述硬盘驱动器101的上述电缆105、106彼此面对即可。
【0029】此外，接口电缆105和电源电缆106经由设置于机壳103端部上的开口部被引到机壳外。另外还可以这样设置，即：不在机壳103的端部上设置开口部而是设置接插件，并经由该接插件将信号传送至外部。
【0030】此外，这些电缆(接口电缆以及电源电缆)基本上以直线的方式与机壳开口部或接插件相连接。
【0031】这样，因为可以借助于机壳103、设置夹具102以及电缆的结构来谋求阻抗匹配，所以可以高效率地将从硬盘驱动器产生的不必要电磁辐射的能量传输给测定器。
【0032】设置夹具102的同轴线接插件104侧的端部与同轴线接插件的芯线相连接，机壳103的同轴线接插件104侧的端部与同轴线接插件104的外导体相连接。
【0033】图2表示图1的不必要电磁辐射测定装置沿设置夹具的宽度方向上的截面图，图3表示图1的不必要电磁辐射测定装置沿设置夹具的长度方向上的截面图。
【0034】构成在截面上将硬盘驱动器101和设置夹具102作为芯线，将机壳103作为外导体的传输线路。
【0035】当采用尺寸为3.5英寸的硬盘驱动器101时，硬盘驱动器101的截面尺寸为25.4×101.6mm，机壳103的截面尺寸为119mm×195mm。在本实施例中，尽管采用了上述尺寸的机壳103，但是本发明并不限定于该尺寸，也可以使形成的形状大约是50Ω(45-50Ω)。然而，在从硬盘驱动器101的端面到机壳103的距离中随着地点不同尺寸也有很大的不同，此时电磁场就会产生很大的偏差，而可能使测定精度降低。因此，最好是使从硬盘驱动器101的端面到其周围的部分的机壳103的距离大体相等。
【0036】用导电性的螺丝将设置夹具102和硬盘驱动器101连接起来，而成为硬盘驱动器的箱体的电位与设置夹具被电连接的状态。最好是在多个螺丝之中至少有一个是金属制的螺丝。
【0037】图4中表示使用了图1的不必要电磁辐射测定装置的测定系统。
【0038】具备上述不必要电磁辐射测定装置401；第一频谱分析器(spectrum analyzer：频谱仪)402；电流探针403；以及第二频谱分析器404。
【0039】为了测定流过接口电缆105以及电源电缆106的电流，要将第二频谱分析器404和电流探针403连接在同轴电缆上。
【0040】电流探针403既可以经由机壳的开口部从外部进行插入，也可以在机壳上设置接插件将电流探针403预先安装在该接插件上。另外，在进行测定时，对电缆进行配置以使得从硬盘驱动器101伸出的电缆穿过探针的环，从而能够对流过接口电缆105和电源电缆106的电流进行测定。
【0041】不必要电磁辐射测定装置401的同轴线接插件104和第一频谱分析器402用同轴电缆405连接起来，所以第一频谱分析器402能够对硬盘驱动器的箱体的电位进行测定。
【0042】电流探针403所检测出的信号经由同轴电缆406被传输到第二频谱分析器404。第二频谱分析器404能够对流过接口电缆105以及电源电缆106的电流进行测定。
【0043】这样，就能够在处于将连接到硬盘驱动器上的接口电缆以及电源电缆引到导电性的机壳外，且经由绝缘元件将硬盘固定在该机壳上的状态，进而在对硬盘驱动器内的配线或元件施加规定信号的状态下，对硬盘驱动器的接口电缆以及电源电缆中流过的共模电流和硬盘驱动器的箱体电位进行测定。
【0044】此外，还可以对流过硬盘驱动器的接口电缆以及电源电缆中流动的共模电流和箱体电位实质上在同时进行测定。
【0045】此外，若重新再次设定对硬盘驱动器内的配线或元件施加规定信号的状态的话，则当然还可以使测定共模电流的定时和测定硬盘箱体的电位的定时错开。
【0046】具体而言，进行共模电流测定和硬盘的箱体电位测定中的一方，然后，改变对硬盘内的配线或元件施加规定信号的状态，然后进一步再次设成对硬盘驱动器内的配线或元件施加规定信号的状态，以进行共模电流测定和硬盘的箱体电位测定中的另一方。
【0047】图5中表示与使用图1的不必要电磁辐射测定装置的图4不同的测定系统。
【0048】图4中表示了使用两个频谱分析器的例子，但本测定系统是用一个频谱分析器502来进行构成。
【0049】不必要电磁辐射测定装置401的同轴线接插件104和频谱分析器502经由高频开关501用同轴电缆405连接起来。
【0050】频谱分析器502和电流探针403经由高频开关501被连接到同轴电缆。
【0051】高频开关501一边以高频进行开关一边依次切换从同轴线接插件104传输来的电位、由电流检测器403检测出的流过接口电缆105以及电源电缆106的电流，并传输给频谱分析器502。
【0052】这样一来，通过使用高频开关501就可以用一个频谱分析器502来进行不必要电磁辐射的测定。另外，不言而喻，在进行测定时就有必要在对硬盘内的配线或元件施加了规定信号的状态下来进行。
尽管我们在这里显示并说明了有关本发明的若干实施例，但需要理解的是并不限于与其完全相同，如对本领域技术人员而言可知那样还能够进行许多变化和更改，因此我们并不希望局限于这里详细的显示和说明而是想要覆盖由附属权利要求的范围所包容的所有的这些变化和更改。

Claims (9)

1、一种使用了中空的导电性机壳的不必要电磁辐射测定方法，其特征在于：
在将连接在硬盘上的接口电缆以及电源电缆引至导电性机壳的外部、且经绝缘部件将硬盘固定于该机壳的状态下，
以对硬盘内的配线或元件施加了规定信号的状态，对在硬盘的接口电缆以及电源电缆上流过的共模电流、和硬盘箱体的电位进行测定。
2、根据权利要求1所述的不必要电磁辐射测定方法，其特征在于：
将测定共模电流的定时与测定硬盘箱体的电位的定时错开。
3、根据权利要求2所述的不必要电磁辐射测定方法，其特征在于：
进行共模电流的测定和硬盘箱体的电位的测定中的一方，
之后，改变对硬盘内的配线或元件施加了规定信号的状态，
之后，进而再次设成对所述硬盘内的配线或元件施加规定信号的状态，
进行共模电流的测定和和硬盘箱体的电位的测定中的另一方。
4、根据权利要求1所述的不必要电磁辐射测定方法，其特征在于：
将测定共模电流的定时与测定硬盘的箱体电位的定时实质上设成同时。
5、根据权利要求1所述的不必要电磁辐射测定方法，其特征在于：
在将规定信号施加于所述硬盘内的配线或元件的状态下，对在硬盘的接口电缆以及电源电缆上流过的共模电流、和硬盘的箱体电位进行测定。
6、一种不必要电磁辐射测定装置，其特征在于，构成为包括：
导电性机壳；
将硬盘驱动器设置在该机壳内部的导电性设置夹具；
与该硬盘驱动器相连接的电源电缆及接口电缆；
与所述导电性机壳的端部相连接的同轴线接插件；以及
测定流过该接口电缆和电源电缆的共模电流的电流探针，
其中，该同轴线接插件的外导体与机壳相连接，
该同轴线接插件的内导体与设置夹具相连接，
该设置夹具可与作为测定对象物的硬盘驱动器的箱体进行电连接。
7、根据权利要求6所述的不必要电磁辐射测定装置，其特征在于：
将所述硬盘驱动器设为芯线、将机壳设为外导体的传输线路，其阻抗为45Ω～55Ω。
8、根据权利要求6所述的不必要电磁辐射测定装置，其特征在于：
所述接插件被形成在位于与所述硬盘的电缆伸出方向相反的方向的机壳上，该机壳朝向该接插件而变细。
9、一种不必要电磁辐射测定系统，使用权利要求6中所述的不必要电磁辐射测定装置，其特征在于：
具有与所述同轴线接插件以及所述电流探针相连接的频谱分析器。
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