JP6076604B2 - プリント回路基板における高周波電磁雑音を測定する装置およびその測定方法 - Google Patents
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Description
Z= jIm[Zrad] + (Re[Zrad])1/2z(Re[Zrad])1/2 (式1)
1.これは、ある特定のPRB設計を特徴付ける予備作業であり、特定のEUTに対する測定毎に繰り返す必要はない。PRBのある種の較正と考えることができる。測定結果、シミュレーション結果、理論上の結果、またはそれらの組み合わせに基づいて行うことができる。基本ステップは次のように説明することができる。
A)普遍的なキャビティインピーダンス行列zに基づいて、受動基板(EUTなし、穴なし)を特徴付ける。
B)仮想無限基板(Z22rad、Z21rad)について、測定ポートインピーダンス、およびLSI位置と測定ポート位置との間の伝達インピーダンスを決定する。
C)厳密でない意味で統計的に均一である場合、スターラーを有するかつ/または有さない有限PRBのインピーダンス行列の決定も求められることがある。
2.このシーケンスは、LSIモデルを抽出するため、特定のEUTそれぞれに対して行わなければならない。基本ステップは次のように説明することができる。
A)仮想無限基板(Z11rad)の雑音源(Ig)、雑音源インピーダンス(Zg)、およびポートインピーダンスの開始値を選択する。
B)式1を使用して、かつ最終的に、厳密でない意味で統計的に均一である場合は有限PRBのインピーダンス行列も使用して、測定ポートにおける電圧の予期される確率密度関数を計算する。
C)確率密度関数を測定データの分布と比較する。精度が十分でない場合、雑音源、雑音源インピーダンス、およびポートインピーダンスの値を修正し、十分な精度が得られるまでステップ(B)および(C)を繰り返す。
102 縁部
103 同調器
104 ポート
105 被試験装置のための穴
1001 EUT(被試験装置)
1101 PRB層1
1102 PRB層2
1103 EUT層2
1104 EUT層3
1105 EUT層1
1106 EUT層4
1107 縁部パッド
1108 ブラインドビア
1109 接続部
1110 PRB基板
1111 EUT基板
1112 ギャップ
1301 中心導体
1302 同軸コネクタ
1303 はんだ
1304 プラスチックねじ
1305 ボルト
1401 ビア
1501 パドル
1502 軸体穴
1503 同調器基板
1701 ステッピングモータ
1702 軸体
1703 上部カバー
1704 下部カバー
1705 接続支持体
1706 絶縁層
1707 ギャップ1
1708 ギャップ2
1801 磁石
1901 測定機器
1902 モータドライバ
1903 コンピュータ
1904 PRB
1905 DCブロック
1906 増幅器
1907 ケーブル
2001 減衰器
2002 プローブ
2101 2ポートネットワーク
2102 LSI等価ポート
2103 LSI測定ポート
Claims (17)
- 電磁雑音を測定する電磁雑音測定装置であって、
LSIが搭載された第1回路基板からの電磁雑音を測定するための第2回路基板を備え、
前記第2回路基板は、
前記第2回路基板を貫通し、前記第1回路基板全体を挿入する穴と、
前記穴に挿入された前記第1回路基板からの電磁波をその間に伝播させる2層の導電層と、
前記伝播させた電磁波を測定する高周波測定ポートと、
を有し、
前記第1回路基板と前記第2回路基板との比誘電率は、略同一であることを特徴とする電磁雑音測定装置。 - 電磁界の境界条件を変化させる同調器をさらに備える、請求項1に記載の電磁雑音測定装置。
- 前記第2回路基板が複数の湾曲縁部を有する、請求項1または2に記載の電磁雑音測定装置。
- 前記前記第2回路基板の穴は、前記第1回路基板が前記第2回路基板に対して共面の方向に挿入可能な穴である、請求項1から3のいずれか一項に記載の電磁雑音測定装置。
- 前記2つの導電層が前記穴に挿入された第1回路基板に電気的に接続される、請求項1に記載の電磁雑音測定装置。
- 前記同調器が導電材料で形成された1つまたは複数の回転要素を有する、請求項2に記載の電磁雑音測定装置。
- 前記同調器が前記第2回路基板に磁界を発生させる磁石を有する、請求項2に記載の電磁雑音測定装置。
- 前記第2回路基板の導電層間のコンデンサを用いて電磁界境界条件を変化させる、請求項2に記載の電磁雑音測定装置。
- LSIが搭載された第1回路基板を第2回路基板の穴に挿入するステップと、
前記LSIを起動させるステップと、
前記第2回路基板内に導かれた前記LSIの電磁波を前記第2回路基板の高周波測定ポートを用いて電磁波を測定するステップとを有し、
前記第2回路基板は、前記穴に挿入された前記第1回路基板からの電磁波をその間に伝播させる2層の導電層を有し、
前記第1回路基板と前記第2回路基板の比誘電率は、略同一であることを特徴とする電磁雑音測定方法。 - 同調器を用いて前記第2回路基板の電磁波の境界条件を変化させるステップをさらに含む、請求項9に記載の電磁雑音測定方法。
- 境界条件の前記変化によって波動カオス条件が実現される、請求項10に記載の電磁雑音測定方法。
- 前記第2回路基板として、複数の湾曲縁部を有する回路基板を用いる、請求項9から11のいずれか一項に記載の電磁雑音測定方法。
- 前記LSIを起動させるステップにおいて、前記第2回路基板に形成された導電層を介して電力が供給される、請求項10から12のいずれか一項に記載の電磁雑音測定方法。
- 前記第1回路基板がPCB(プリント回路基板)であり、前記第1回路基板を挿入するステップにおいて、前記第1回路基板が前記第2回路基板に対して共面の方向で挿入する、請求項9から13のいずれか一項に記載の電磁雑音測定方法。
- 前記同調器として、前記第2回路基板に設けられた導電材料で形成された回転要素を用いる請求項10または11に記載の電磁雑音測定方法。
- 前記同調器として、前記第2回路基板に設けられた磁石を用いる、請求項10または11に記載の電磁雑音測定方法。
- 電磁雑音を測定する電磁雑音測定装置であって、
LSIが搭載された第1回路基板と、
前記第1回路基板からの電磁雑音を測定するための第2回路基板と、
を備え、
前記第2回路基板は、
前記第2回路基板を貫通し、前記第1回路基板全体を挿入する穴と、
前記穴に挿入された前記第1回路基板からの電磁波をその間に伝播させる2層の導電層と、
前記伝播させた電磁波を測定する高周波測定ポートと、
電磁界の境界条件を変化させる同調器と、
を有し、
前記第1回路基板と前記第2回路基板の比誘電率は、略同一であることを特徴とする電磁雑音測定装置。
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