CN1719309A - 液晶显示器的展示及测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明为一种液晶显示器的展示及测试装置,该装置包括石英振荡器,系统时脉及图像频率控制器单元,模式选择切换开关单元,微处理器单元,液晶显示控制器单元,影像储存单元,控制总线缓冲单元,数据总线缓冲单元,及液晶模式检测单元。其中该液晶显示控制器单元电性连结该系统时脉及图像频率控制器单元、该微处理器单元、该影像储存单元及该控制总线缓冲单元,该液晶模式检测单元电性连结该液晶显示面板。本发明的测试装置可自动检测该液晶显示面板的驱动模式而自动输出所需的电压。
Description
技术领域
本发明为一种液晶显示器的展示及测试装置,特别是指一种应用于展示及测试一液晶显示面板的装置。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)已经被广泛运用于各个领域中,而依驱动方式的不同,液晶显示器亦区分为好几种型式,其中以静态驱动(Static Driving)方式所完成的超扭转向列型液晶显示器(Super-Twisted Nematic Liquid Crystal Display,简称STN-LCD),由于在显示面板上有液晶驱动元件而在制造工艺上占有优势,因此非常适合用以完成在小面积显示屏的制造,目前被大量使用于计算器、电子表、翻译机、掌上型信息机以及移动电话等显示屏幕上。
请参见图1为现有技术用的超扭转向列型液晶显示器电路方块示意图,其中该控制器10发出一代表显示数据(Display Data)的低电压数字信号(电压峰值不超过5伏特)并传送至一驱动器12,而驱动器12便因应该低电压数字信号而发出相对应的一多位阶高电压信号(电压峰值约至40伏特)至超扭转向列型液晶驱动器14,进而驱动该超扭转向列型液晶驱动器14进行显示动作。
制造厂商为确保该超扭转向列型液晶显示器驱动器的生产合格率,在产品出厂前皆需经过一测试装置(Tester)的测试,用以确认该驱动器的功能正常。
如TW专利公告号第526927号「应用于液晶显示驱动器的测试装置」,其测试装置电路方块示意图如图2所示,包括一现有技术用的液晶驱动器的测试装置20及一超扭转向列型液晶(STN-LCD)驱动器22。现有技术用的液晶驱动器的测试装置20具有一低电压数字信号产生器202,一译码单元204及一比对器电路200,其中该低电压数字信号产生器,用以发出代表一预设显示数据的低电压数字信号至该液晶显示驱动器,使该液晶显示驱动器的该等高电压信号输出接脚相对应各输出复数个位阶高电压信号220、222…22n。
该译码单元,其包含有一对一分别电性连结至该等高电压信号输出接脚的复数个译码器2040…204n,该等译码器用以因应该等高电压信号输出接脚所分别输出的该复数个位阶高电压信号的输入,进而分别输出一代表该复数个位阶高电压信号的电压位阶的译码信号220、222…22n及该比对器电路,其储存有该预设显示数据,电性连结于该复数个译码器,用以将该译码信号与该预设显示数据进行比对,进而判断该液晶显示驱动器是否正常工作。
然而上述专利有其缺点,该缺点为:
1.只能固定测试该超扭转向列型液晶显示器,不能测试其它的显示模块。
2.其输出电压为固定无任何的弹性。
发明内容
本发明的目的是提供一种液晶显示器的展示及测试装置,特别是指一种应用于展示及测试一液晶显示面板的装置。该装置在测试及展示不同的显示面板过程中,可以针对不同的显示面板自动检测该液晶显示面板的驱动模式而能自动输出所需的电压。
本发明的液晶显示器的展示及测试装置由以下的技术特征为达到上述目的,本发明主要包括一石英振荡器单元,一系统时脉及图像频率控制器单元,一模式选择切换开关单元,一微处理器单元,一液晶显示控制器单元,一影像储存单元,一控制总线缓冲单元,一数据总线缓冲单元,及一液晶模式检测单元。
其中该石英振荡器单元电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元,该微处理器单元电性连结于该模式选择切换开关单元及该系统时脉及图像频率控制器单元,该液晶显示控制器单元电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元、该微处理器单元、该影像储存单元及该控制总线缓冲单元,该数据总线缓冲单元电性连结于该影像储存单元及该液晶显示面板,该控制总线缓冲单元电性连结于该液晶显示控制器单元及该液晶显示面板,该一液晶模式检测单元电性连结于该液晶显示面板。
为了能更进一步了解本发明为达成特定目的所采取的技术、手段及功效,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,相信本发明的目的、特征与特点,当可由此得一深入且具体的了解,然而所示附图仅提供参考与说明之用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
图1为现有技术用的超扭转向列型液晶显示器电路方块示意图;
图2为现有技术用的液晶显示驱动器的测试装置电路方块示意图;
图3为本发明的展示及测试装置电路方块图;
图4为本发明的展示及测试装置详细电路方块图;
图5A为本发明的外观示意图;
图5B为本发明的第一实施例测试示意图;
图5C为本发明的第二实施例测试示意图;
图5D为本发明的第三实施例测试示意图;及
图6为本发明的展示及测试装置模式选择切换开关示意表。
图中符号说明:
10 控制器
12 驱动器
14 超扭转向列型液晶(STN-LCD)驱动器
20 液晶驱动器的测试装置
200 比对器电路
202 低电压数字信号产生器
204 译码单元
2040、2042…204n译码器
22 超扭转向列型液晶(STN-LCD)驱动器
220、222…22n译码信号
30 石英振荡器单元
32 系统时脉及图像频率控制器单元
34 微处理器单元
36 模式选择切换开关单元
38 液晶显示控制器单元
380 中央处理器介面控制缓存器电路
3800 地址信号
3802 行/列信号
3804 第二控制端口输出信号
3806 第一控制端口输出信号
382 液晶驱动器控制逻辑电路
384 液晶驱动器介面电路
386 显示像素计数电路
388 影像地址控制逻辑电路
40 影像储存单元
42 数据总线缓冲单元
44 液晶模式检测单元
46 控制总线缓冲单元
48 液晶显示面板
50 液晶显示器的展示及测试装置
52 模式选择切换开关
54 待测液晶面板模块
56 总线传输线
58 液晶显示器驱动介面
60 电压调整旋钮
具体实施方式
请参见图3为本发明的展示及测试装置电路方块图,其包括一石英振荡器单元30,一系统时脉及图像频率控制器单元32,一模式选择切换开关单元36,一微处理器单元34,一液晶显示控制器单元38,一影像储存单元40,一控制总线缓冲单元46,一数据总线缓冲单元42,一液晶模式检测单元44及一液晶显示面板48。
其中该石英振荡器单元电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元,该微处理器单元电性连结于该模式选择切换开关单元及该系统时脉及图像频率控制器单元,该液晶显示控制器单元电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元、该微处理器单元、该影像储存单元及该控制总线缓冲单元,该数据总线缓冲单元电性连结于该影像储存单元及该液晶显示面板,该控制总线缓冲单元电性连结于该液晶显示控制器单元及该液晶显示面板,该液晶模式检测单元电性连结于该液晶显示面板。
参见图4为本发明的展示及测试装置详细电路方块图,其包括一石英振荡单元30,一系统时脉及图像频率控制器单元32,一模式选择切换开关单元36,一微处理器单元34,一液晶显示控制器单元38,一影像储存单元40,一控制总线缓冲单元46,一数据总线缓冲单元42,一液晶模式检测单元44及一液晶显示面板48。
其中该液晶显示控制器单元38更包括一中央处理器介面控制缓存器电路380,一液晶驱动器控制逻辑电路382,一显示像素计数电路386,一影像地址控制逻辑电路388及一液晶驱动器介面电路384。
该石英振荡单元电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元,该微处理器单元电性连结于该模式选择切换开关单元及该系统时脉及图像频率控制器单元,该液晶显示控制器单元的中央处理器介面控制缓存器电路电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元、该微处理器单元、该影像地址控制逻辑电路、该显示像素计数电路及该液晶驱动器控制逻辑电路,该显示像素计数电路电性连结于该影像地址控制逻辑电路,该液晶驱动器控制逻辑电路电性连结于该液晶驱动器介面电路。
该影像储存单元电性连结于该影像地址控制逻辑电路,该数据总线缓冲单元电连结于该影像储存单元及该液晶显示面板,该控制总线缓冲单元电性连结于该液晶驱动器控制逻辑电路及该液晶显示面板,该液晶模式检测单元电性连结于该液晶显示面板。
本发明的液晶显示器的展示及测试装置更包含一介面保护电路,该中央处理器介面控制缓存器电路可透过一第二控制端口输出信号3804控制该系统时脉及图像频率控制器单元,该中央处理器介面控制缓存器电路亦输出一行/列信号3802传送至该显示像素计数电路,及输出一地址信号3800传送至该影像地址控制逻辑电路。
该液晶显示控制器单元可透过一第一控制端口输出信号3806来控制该影像储存单元,该系统时脉及图像频率控制器单元涵盖单色模式及彩色模式的两种扫描频率显示模式,其中该彩色模式或单色模式可为4位模式或8位模式,该8位单色模式的最大分辨率为8192×1024,而8位彩色模式的最大分辨率为2730×1024。
该模式选择切换开关单元为一指拨开关或一触控式面板开关,其中该指拨开关或触控式面板可控制选择4位或8位的面板数据介面,其中该影像储存单元可为一可消除程序化只读存储器(EPROM)、一电子式可清除程序化只读存储器(EEPROM)或一闪存(FLASH),其中该液晶模式检测单元可为手动调整,该液晶显示面板单元可为超扭转向列型液晶驱动器(STN-LCD)或液晶显示器模块(LCM)。
参见图5A为本发明的外观图,包括一液晶显示器的展示及测试装置50,一模式选择切换开关52,复数个液晶显示器驱动介面58及复数个电压调整旋钮60。
本发明的液晶显示器的展示及测试装置可由该些液晶显示器驱动介面连接至少一个待测物,使用者且通过该模式选择切换开关来进行各种的测试,其中该模式选择切换开关可为指拨开关或触控式面板开关,使用者亦可使用该些电压调整旋钮来提供所连接的待测物所需用的电压,或由本发明的装置内部的电路自动检测该液晶显示面板的驱动模式而自动输出所需的电压。
参见图5B、图5C及图5D时请同时参见图6来说明,该图5B为本发明的第一实施例测试示意图,该图5C为本发明的第二实施例测试示意图,该图5D为本发明的第三实施例测试示意图,该图6为本发明的展示及测试装置模式选择切换开关示意表,其中该模式选择切换开关单元为一指拨开关或一触控面板式开关。
请参见图5B及图6来说明第一实施例的实施状态,其中图5B为本发明的第一实施例测试示意图,而图6为本发明的展示及测试装置模式选择切换开关示意表。在图5B中,包括一液晶显示器的展示及测试装置50,一模式选择切换开关52,复数个待测液晶面板模块54及复数个电压调整旋钮60。
在附图中我们可看出本发明的液晶显示器的展示及测试装置可搭配该模式选择切换开关来测试复数个显示面板,利用该开关状态可测试单色模式或彩色模式。本发明的液晶显示器的展示及测试装置设定第4个至第7个子开关为选择待测液晶模块形式,包括为单色或彩色以及显示的分辨率。
例如第四个开关为开启而第五个至第七个开关为关闭则为单色模式且分辨率为160×160,第五个开关为开启而第四个、第六个及第七个开关为关闭则为单色模式且分辨率为240×160,第六个开关为开启而第四个、第五个及第七个开关为关闭则为单色模式且分辨率为320×240,第七个开关为开启而第四个至第六个开关为关闭则为彩色模式且分辨率为320×240。
该第一个开关至第三个开关及第九个开关至第十个开关,用来配合上述的第四个开关至第七个开关不同的搭配,测试不同液晶模块的不同显示图片。如图6所示的列表,在此表只列出几项搭配后的结果。
请参见图5C及图6来说明第二实施例的实施状态,其中图5C为本发明的第二实施例测试示意图,其包括一液晶显示器的展示及测试装置50,一待测液晶面板模块54及复数个电压调整旋钮60。
在本实施例中说明利用本发明的液晶显示器的展示及测试装置亦可用来连接一个待测物,并利用该模式选择切换开关的搭配来测试该待测物的状态,使用者且可使用该些电压调整旋钮来调整该待测物所需用的电压,或由本发明的装置内部的电路自动检测该液晶显示面板的驱动形式而自动输出所需的电压。
请参见图5D及图6来说明第二实施例的实施状态,其中图5D为本发明的第三实施例测试示意图,其包括一液晶显示器的展示及测试装置50,一模式选择切换开关52,一待测液晶面板模块54、一总线传输线56、复数个液晶显示器驱动介面58及复数个电压调整旋钮60。
在本实施例中说明利用本发明的液晶显示器的展示及测试装置可运用该总线传输线连接一待测物,并利用该模式选择切换开关的搭配来测试该待测物,或由本发明的装置内部的电路自动检测该液晶显示面板的驱动形式而自动输出所需的电压。
本发明的液晶显示器的展示及测试装置具有下列特性:
1.可测试传统IAPT及Hi-Fas单色/彩色超扭转向列型液晶(STNLCD)驱动器或液晶显示器模块(STN LCM)。
2.内建两个可置换性10位的列序/行序(Segment/Common)扫描计数器。
3.在8位单色模式下最大可至8192×1024的分辨率或在彩色模式下最大可至2730×1024的分辨率,目前可测试最高在32K色彩下的320×240分辨率及4K色彩双扫描的640×480的分辨率。
4.内建可调整式液晶极性反相信号产生电路。
5.通过模式选择切换开关设定可选择4位或8位的面板数据介面。
6.通过模式选择切换开关对于多种类的液晶模块可自动给予适当的扫瞄频率。
7.具完整的介面信号可测试只有液晶面板而没有液晶控制器的液晶显示器模块(LCM)或仅具液晶驱动器(LCD Driver)的半成品
8.自动检测IAPT或Hi-Fas的液晶显示器模块(LCM)及供应适当的电压及偏压。
9.对于显示比较或除错使用时,提供可同时双面板的显示。
10.内建可调整式电源VDD为2.6V~5.5V及VLCD为15.5V~26.5V。
11.提供一个4颗1.5V可携式电池盒或提供由输入电源供应器的额外电源给VLCD及VDD。
12.内建电源开关关闭时不会有扫描线残留的解决电路。
13.可提供两个额外的8字节输出端口及两个输出控制脚于其它目的的使用。
14.直接选择多种展示及测试图片和一手动显示屏关闭的功能。
15.支持可消除程序化只读存储器(EPROM)/电子式可清除程序化只读存储器(EEPROM)/闪存(FLASH)形态的只读存储器,最大容量至10亿字节(1GB)。
16.内建输出保护电路以预防测试时电路短路导致控制器的损害。
17.设计架构最精简,设计成本最低。
18.除一般幻灯片展示效果外还可以播放动画或影片。
19.核心IC不需额外的影像缓冲存储器可直接取自影像存储器。
综上所述,本发明的液晶显示器的展示及测试装置确可解决现有技术的缺陷,并提供多项新特点。
本发明确能通过上述所揭示的技术,提供一种迥然不同于现有技术的设计,堪能提高整体的使用价值,又其申请前未见于刊物或公开使用,诚已符合发明专利的要件,依法提出发明专利申请。
上述所公开的附图、说明,仅为本发明的实施例而已,凡精于此项技艺者当可依据上述的说明作其它种种的改进,而这些改变仍属于本发明的发明精神及所界定的专利范围中。
Claims (10)
1.一种液晶显示器的展示及测试装置,应用于展示及测试一液晶显示面板的装置,其特征在于,该装置包括:
一石英振荡器单元;
一系统时脉及图像频率控制器单元,电性连结于该石英振荡器单元;
一模式选择切换开关单元;
一微处理器单元,电性连结于该模式选择切换开关单元及该系统时脉及图像频率控制器单元;
一液晶显示控制器单元,电性连结于该系统时脉及图像频率控制器单元及该微处理器单元;
一影像储存单元,电性连结于该液晶显示控制器单元;
一控制总线缓冲单元,电性连结于该液晶显示控制器单元;
一数据总线缓冲单元,电性连结于该影像储存单元;及
一液晶模式检测单元。
2.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该液晶显示控制器单元更包括:
一中央处理器介面/控制缓存器电路;
一液晶驱动器控制逻辑电路,电连结于该中央处理器介面控制缓存器电路;
一显示像素计数电路,电连结于该中央处理器介面控制缓存器电路;
一影像地址控制逻辑电路,电连结于该中央处理器介面控制缓存器电路;及
一液晶驱动器介面电路。
3.如权利要求2所述的液晶显示器的展示及测试装置,更包含一介面保护电路。
4.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该系统时脉及图像频率控制器单元包括可提供单色模式及彩色模式的两种扫描频率的模式,该单色模式可为4位模式或8位模式,该单色模式的8位模式最大分辨率为8192×1024。
5.如权利要求4所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该彩色模式可为4位模式或8位模式,该彩色模式的8位模式最大分辨率为2730×1024。
6.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该模式选择切换开关单元为一指拨开关或一触控式面板开关,该指拨开关可控制选择4位或8位的面板数据介面,该触控面板式开关可控制选择4位或8位的面板数据介面。
7.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该影像储存单元可为一可消除程序化只读存储器、一电子式可清除程序化只读存储器或一闪存。
8.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该液晶模式检测单元可为手动调整。
9.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该液晶模式检测单元可自动检测该液晶显示面板的形式而自动输出所需的电压。
10.如权利要求1所述的液晶显示器的展示及测试装置,其中该液晶显示面板可为超扭转向列型液晶驱动器或液晶显示器模块。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN 200410063475 CN1719309A (zh) | 2004-07-06 | 2004-07-06 | 液晶显示器的展示及测试装置 |
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Publications (1)
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CN1719309A true CN1719309A (zh) | 2006-01-11 |
Family
ID=35931182
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CN (1) | CN1719309A (zh) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103236242A (zh) * | 2013-04-23 | 2013-08-07 | 青岛海信电器股份有限公司 | 一种显示面板测试用信号产生装置 |
CN102103818B (zh) * | 2009-12-17 | 2014-07-30 | 北京中星微电子有限公司 | 一种lcd控制器的测试方法及系统 |
CN104469346A (zh) * | 2014-11-28 | 2015-03-25 | 青岛海信电器股份有限公司 | 一种信号输出电路及装置 |
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2004
- 2004-07-06 CN CN 200410063475 patent/CN1719309A/zh active Pending
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |