CN1691711A - 测量通信线路电性质的方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种用以测量通信线路的电性质的方法及装置,其中所述的通信线路包含一第一线路与一第二线路,其中所述的第一线路连接到一第一线路驱动器而所述的第二线路则连接到一第二线路驱动器。用以决定所述的通信线路的电性质的至少一测量在所述的第一线路驱动器或所述的第二线路驱动器设定为高阻抗状态的情况下实施。藉由这样的方式与装置,详细的线路测试可以在不需要额外加入通信电路组件的情况下实施。

Description

测量通信线路电性质的方法及装置
技术领域
本发明与一种用于测量通信线路的电性质,例如,电阻,的方法与装置有关。特别是,本发明与用于测量包含一塞尖(tip)线路与一塞环(ring)线路的通信线路,像是普通老式电话业务(Plain OldTelephone Service,POTS)的通信线路,的电阻的一种测量方法有关。
背景技术
在POTS或其它通信系统中,对例如,从一中央机房端到终端用户运作的一通信线路执行一经常性的线路测试是常被建议的。藉由这样的低个经常性的测试,通信线路上的衰落或错误可以很快速地侦测出来进而可以相应的执行一需要的修复。在这样的一个线路测试操作中,特别是通信线路的电性,例如电阻经常需要被测量。
图9表示一种用来做线路测试的传统电路设置。一线卡38具有多个POTS电路39,亦即用以驱动多个通信线路对的个别的POTS芯片,每一对包含一塞尖线路41与一塞环线路42。一后平面连结49用来作为连结POTS电路39与另一电路以进行数据的处理。
与每一POTS电路39相关联的是一测试继电器40,用来做作为选择性地连接一对通信线路41、42到一测试总线43。这个测试总线通常通往包含模拟电路45、一数字信号处理器46、一随机访问存储器(RAM)47以及一只读存储器(ROM)48得一测试板44。设置在所述的测试板44上的这些组件作为用来执行不同的测试,像是在分别经由各别的测试继电器40而连接到所述的测试总线43的通信线路41、42上的电阻测量。
这个方法在每一个POTS线路39,也就是每一个用户线路上需要一测试继电器40,以及一各别的测试板44。对于每一个在正常情况下只会在一已知的系统中出现一次的测试板44,只有一个用户线路可以同时被测试。
另一个可替代的方法则如图10所示。在图中,一线卡51包含多个组合的POTS电路/数字信号处理器(DSP)50,每一个用来驱动包含一塞尖线路41与一塞环线路42的一用户线路。同样的,所述的POTS线路透过一背平面连结49而连接到另一个电路。在这个情况中,所述的测试功能则是整合于POTS电路中,例如在一各别的用户线路接口电路(SLIC)或是在一各别的编码/译码器(CODEC)中。在这类型的已知线卡中,只有有限的测量可以实施于用户线路上,因为,例如无论是所述的塞尖线路41或者是所述的塞环线路42,没有额外的电路而单独的接地是不可能的,因此额外的芯片面积是需要的,因而造成额外的成本花费。而这里所使用的方法是藉由施加一已知电压到所述的用户线路上并且测量所引起的电流。藉由这样的方式,只有所述的用户线路上的整个电阻可以被测量。
基于前面所述,本发明的一目的在于提供一种用于测量通信线路上的电性质的方法与装置,其中在不需要额外的测试继电器或测试板的情况下,也可以实施特定的电性质的测量。
而这个目的可以藉由本案所述的方法以及所述的装置来达成。而其它的附属权利要求则分别是所述的方法与装置的较佳具体实施方式或有利定义。
发明内容
本发明提供一种用来测量通信线路的电性质的方法,其中所述的通信线路包含一第一线路与一第二线路,其中所述的第一线路连接到一第一线路驱动器而所述的第二线路则是连接到一第二线路驱动器。用以决定所述的通信线路的所述性质的至少一测量以所述的第一线路驱动器或所述的一第二线路驱动器设定成一高阻抗的状态下来实施。在这一部份,一高阻抗的状态表示所述的线路驱动器处于实际上没有电流流过所述的线路驱动器的状态下。所述的高阻抗的状态可以藉由关闭各别的线路驱动器而达成。
在测量的目的上,将一线卡设定到一高阻抗的状态基本上是表示所述的各别第一线路或第二线路为解除连结的情况。因此,各别的电性质,像是各别的电阻值可以容易的判定出来。
特别是,所述的高阻抗状态为一种在一电压范围高达150V时,经由各别线路驱动器的漏电流仍低于150μA的状态,而且对应到一高于1MΩ的电阻。习惯上,常见的漏电流值为30μA。
在一较佳的具体实施例中,所述的第一线路为一普通老式电话业务(POTS)连结的一塞尖线路而所述的第二线路则为一普通老式电话业务(POTS)连结的一塞环线路。所述的至少一测量可以,例如包含经由没有设定为高阻抗状态的第一与第二线路驱动器输出一已知的电压并且在其线路上测量所述的电压以及/或是所述的电流。
而包含所述的至少一测量的多个测量也可能会实施。特别是,使两个线路驱动器都处在主动状态的一第一组测量、以第一线路驱动器处在高阻抗状态的一第二测量以及以第二线路驱动器处在高阻抗状态的第三测量都可以实施,因而使得,例如在第一线路与第二线路之间的电阻、在第一线路与接地线路之间的电阻以及在第二线路与接地线路之间的电阻的一方程式系统可以被决定。
执行本发明方法所需要的功能已多为现今的POTS芯片所使用,因此并不需要额外的电路。尤其是,所述的第一线路驱动器与所述的第二线路驱动器可能包含于一用户线路接口电路(SLIC)而提供执行所提供的电压测量的功能以及作为一编码/译码器(CODEC)的一集成电路也可能被使用。
附图说明
接下来,本发明的较佳具体实施方式得藉由下列所附加的图标详细说明。这些附加的图标简单说明如下:
图1表示所用来测试的通信线路的一等效电路;
图2表示根据本发明的一较佳具体实施例的图标电路图;
图3表示用以测量如图1所述的通信线路的电性质的第一组测量的流程图;
图4表示实施第二组测量状态的一等效电路图;
图5表示实施第二组测量的流程图;
图6表示用以执行一第三组测量的一等效电路图;
图7表示第三组两侧的一流程图;
图8表示当两线路的电阻值高时,在一线路与一接地线路之间的一电阻值计算的一流程图;
图9表示传统用于线路测试的一种装置;以及
图10表示传统用于线路测试传统的另一种装置。
具体实施方式
图1表示根据本发明所提出的一种用以测量或测试的通信线路的装置的一等效电路的图标说明表示。
一线卡1包含一普通老是电话业务(POTS)芯片组2,一方面用于通信的目的,而另一方面,则是根据本发明的构想用于执行通信线路的电性质的测量。在本实施例中,所述的通信线路由连接到所述的线卡1的一端头连结点3的一塞尖线路6以及连接到所述的线卡1的一塞环连结点4的一塞环线路7所组成。所述的通信线路的电性质包含在塞尖线路6与塞环线路7之间的一电阻Rtr,在所述的塞尖线路6与接地线路8之间的一电阻Rtg,在所述的塞环线路7与接电线路8之间的一电阻Rrg,在塞尖线路6与塞环线路7之间的一电容阻Ctr,在所述的塞尖线路6与接地线路8之间的一电容值Ctg,以及在所述的塞环线路7与接电线路8之间的一电容值Crg。除此之外,在一连接的状态下,在所述的通信线路的远程,出现有一用户装置5,在图中以串联连结的一电阻Re与一电容Ce来表示。所述的电阻Rtr、Rtg、Rrg基本上是可泄漏的电阻,也就是说在通信线路没有发生错误的状态下,这些电阻值是很高的。因此,进行这些电阻值的测量对于可能发生的错误可以提供一可贵的信息。
值得注意的是,通常一线卡1可能包含连接到多个电话客户端的多个POTS电路或芯片组2,每一个电话用户线路包含一塞尖线路与一塞环线路。为了简化说明,本说明书中将只以一个POTS电路来表示。
在图2中,所述的POTS芯片组以及该芯片组的连结以更详细的图说来说明。所述的POTS芯片主要包含一用户线路接口电路(SLIC)9以及另一个POTS集成电路,芯片或芯片组10,所述的芯片组10可能提供,例如编码/译码器(CODEC)或其它信号处理的功能。SLIC 9以及集成电路10共同形成所述的POTS芯片组并且在一正常的通信模式下共同运作。因此,在SLIC与集成电路10之间的额外连结以及与通信装置的其它部分连结的一背平面连结都会出现,但并没有表示于图2中,因为这些连接并不需要用来执行根据本发明所述的测量。
SLIC 9包含一第一线路驱动器9A以及一第二线路驱动器9B,所述的第一线路驱动器透过电阻R1与R3而连结到端头连结点3,以驱动图1中的塞尖线路6,而所述的第二线路驱动器透过电阻R2与R4而连结到端头连结点4,以驱动图1中的塞环线路7。除此之外,在这个连结线路中,如图2所示,电容器C1与C2连接到接电线路8。R1与R3常见的电阻值为30Ω,而R2与R4常见的电阻值则为20Ω。
所述的第第一线路驱动器9A以及所述的第二线路驱动器9B可以是驱动或未驱动的状态;在未驱动的状态下,它们处于一高阻抗的状态,亦即没有或者是非常少量的电流可以流经各别的线路驱动器。典型的数值在电压高达150V的情况下,漏电流值将小于±30μA,然而在未驱动或高阻抗的状态下,对应1MΩ的电阻值将会有高达150μA的漏电流。
所述的SLIC 9更具有能够测量从端头连结点3流到塞环连结点4的电流。这样的功能在商业用途上的SLICs通常是能够提供的,因为在正常的通信下这也是需要的。
所述的集成电路10为一个能够测量电压值的电路。这个能力通常也出现于某些商业用途上所使用的POTS芯片组的某些芯片上,例如用以测量电池电压。根据本发明的构想,这个功能则是用于线路测试的目的。
集成电路10分别经由各别的电压除法器(包含电阻R5与R6的一第一电压除法器,以及包含电阻R7与R8的一第二电压除法器)而连接到端头连结点3以及塞环连结点。在图2中,图标标号11表示一参考电压,例如一正常模式下的电压或接地,在图中两个参考电压11分别连接所述的两个电压除法器。然而,也可以使用其它不同的参考电压而连接于所述的两个电压除法器上。电阻R5与R7的典型数值为10MΩ,而电阻R6与R8的典型数值则为47KΩ。因为电阻R5与R7具有高电阻,流至或流出所述的端头连结点3与塞环连结点4的电流不会受到干扰,尤其是不在正常操作的状态下。
集成电路10包含一内建的测量控制10A,用以控制经由SLIC 9与集成电路10所执行的根据本发明的测量。然而,通常是藉由软件所执行的测量也可能在SLIC 9或者,在正常的通信操作期间,也负责用来控制SLIC 9与集成电路10操作的芯片组上其它没有出现在图中组件来完成。
接下来将说明如图2所示的电路同如何根据本发明的构想来决定图1中的Rtg、Rtr以及Rrg的电阻值。
为了达成这个目的,在本发明的一较佳的具体实施例中,三组各具特色的测量方式将一一实施。在实施第一组测量的期间,两组线路驱动器9A与9B都是处于驱动状态而且分别用来施加一电压到所述的塞尖线路与所述的塞环线路上。
在图3的步骤12中,开始实施第一组的测量方式。在步骤13中,一所谓的横向电压施加到包含塞尖线路6与塞环线路7的用户线路,也就是说对应施加在所述的端头连结点3与塞环连接点4的一差动电压的塞尖线路6与塞环线路7之间的一电压。这个步骤利用所述的第一线路驱动器9A以及第二线路驱动器9B来完成,其中第一第一线路驱动器9A所施加的电压远大于所述的第二线路驱动器9B所施加的电压。
接下来,在步骤14中,在所述的端头连结点3的一电压Vt1与在塞环连结点4的一电压Vr1利用集成电路10来测量,而一电压差ΔV1由测量控制器10A根据ΔV1=Vt1-Vr1来计算。然而,这个计算以及接下来的其它计算可能由线卡1上所提供的任何适当的计算逻辑来实施。
在步骤15,流经端头连结点3与塞环连结点4之间的一电流It1由SLIC 9所测量。当然,步骤14与步骤15可以同时实施或以相反的顺序来进行。
在步骤16中,与于步骤13中所施加的横向电压具有相反符号的另一横向电压施加于所述的用户线路上,亦即由第一线路驱动器9A所施加的电压现在小于第案线路驱动器9B所提供的电压值。而在步骤13所施加的电压量值与在步骤16所施加的电压量值可以是相同的或者是几乎相同的量值。
在步骤17中,进一步测量在端头连结点3的另一电压Vt2以及在塞环连结点4的另一电压Vr2,而它们的差值ΔV2=Vt2-Vr2类似于步骤14所执行的测量方式来计算。在步骤18中,相对应的电流It2以类似于步骤15测量电流It1的方式来进行测量。
最后,在步骤19中,一电阻值Ra,也称作为主动电阻值,可以根据下列方程式来计算:
Ra = ΔV 1 - ΔV 2 4 ( It 1 - It 2 ) = ΔVt 4 · ΔIt - - - ( 1 )
在步骤20中,所述的第一组测量便完成。
所述的电阻Ra可以利用电阻值Rtg、Rtr以及Rrg,以基尔霍夫定律(Kirchhoff’s Rule)来计算,而产生:
Ra = 1 4 Rtr + 1 Rtg + 1 Rrg - - - ( 2 )
而在第二组的测量中,图2中的线路驱动器9A处于未驱动的状态,也就是如前面所述的设定于一高阻抗的状态。所得到的等效电路以如图4所示的简化电路图来表示。在图4中,区块21表示SLIC 9以及用以连结所述的SLIC 9到所述的端头连结点3与塞环连结点4的电阻R1-R4与电容C1与C2。此外,在图4中省略集成电路10的连结电路,因为这部分和图2所示的电路一样。除此之外,只有所要说明的电阻Rtg、Rtr以及Rrg表示于这个图中。
如同图上所示,未驱动的线路驱动器9A实际上造成与端头连结点3的解除连结的状态。
在这个状态下,根据如图5所示的流程图实施所述的第二组测量。由步骤22开始进行所述的第二组测量。在步骤23中,线路驱动器9A被解除驱动,也就是设定为高阻抗的状态以建立如图4所示的状态,并且利用例如线路去动器9B施加一电压到塞环连结点4。接下来,透过集成电路10,测量在端头连结点3相对于接地线路Vtg1与塞环连结点4相对于接地线路Vrg1的电压。这个步骤是可行的,因为端头连结点3实际上是解除连结的,尤其是将接地电压作为如图2所述的参考电压11。在步骤25中,与在步骤23中所施加的第一电压不同的第二电压施加于所述的塞环连结点4上。在步骤26中,同样的去测量所述的端头连结点3与塞环连结点相较于接地线路的电压,这些电压分别以Vtg2与Vrg2来表示。在步骤18中,所述的电压差根据ΔV3=Vtg1-Vtg2以及ΔV4=Vrg1-Vrg2而计算。最后在步骤19中,计算一比例kht=ΔV3/ΔV4。这些计算式同样的由测量控制器10A或其它适当的计算器来执行。在步骤20中,完成所述的第二组测量。
同样的,透过基尔霍夫定律,可以获得:
kht = Rtg Rtr + Rtg - - - ( 3 )
最后,对于第三组测量,所述的第二线路驱动器9B设定为高阻抗的状态,因而形成如图6所示的等效电路图。相较于图4所示的等效电路图,两个的情况是刚好相反的,也就是说,所述的塞尖线路是连结的状态而所述的塞环线路则是实际上解除连结的状态。
基本上,根据如图7所示的流程图来实施第三组测量是对应如图5所示的第二组测量方式。在步骤30中,第三组测量开始实施。在步骤31,一第一电压经由所述的第一线路驱动器9A施加于所述的端头连结点3,而第二线路驱动器9B则是未驱动的状态。在步骤32时,集成电路,如图5的步骤24一样,用来测量在所述的端头连结点3与接地线路之间的一电压Vtg3,以及在所述的塞环连结点4与接地线路之间的一电压Vrg3。
接下来,在步骤33中,一第二电压施加于所述的端头连结点3,而第二线路驱动器9B则是持续为持未驱动的状态,也就是高阻抗的状态。在步骤34,进行如步骤32的相同电压测量步骤,而得到电压Vtg4与Vrg4。
在步骤35,根据ΔV5=Vtg3-Vtg4以及ΔV6=Vrg3-Vrg4计算电压差。最后,在步骤36计算比例kht=ΔV5/ΔV6,而且在步骤37中,终止所述的第三组测量。如同前面所述,这些计算可以由测量控制器10A来进行。
同样的,透过基尔霍夫定律,可以获得:
khr = Rrg Rtr + Rrg - - - ( 4 )
到目前为止,所述的Ra、kht已经可以决定,并导入三个变量Rrg、Rtr与Rtg的三个方程式(2)(3)与(4)中。藉由解出这些方程式组,这些变量便可以得到。为了达成这个目的,在一第一步骤中,方程式(3)与(4)可以代入方程式(2)中而得出
Rrg = Rtr × khr 1 - khr - - - ( 5 )
以及
Rtg = Rtr × kht 1 - kht - - - ( 6 )
同样的再将方程式(5)与(6)代入方程式(2)中可进一步得出下列Rtr的结果:
Rtr = 2 × Ra + Ra khr + Ra kht - - - ( 7 )
在Rtr根据方程式(7)的结果计算得出后,Rrg与Rtg也可以利用这个结果以及分别利用方程式(5)与(6)来计算。因此,这些所计算的结果将以非常高的准确度来表示实际的线路状况。
所得到结果可能会发现Rtr相对于分别表示塞尖线路与接地线路之间的泄漏电阻Rtg以及塞环线路与接地线路之间的泄漏电阻的Rrg高出许多。在一更极端的情况下,塞尖线路与塞环线路之间可能不会有连结产生,因而造成Rtr变得无线大。在这样的情况下,如同方程式(5)与(6)中所示,前面所述的用以计算Rtg与Rrg的方法并不恰当。而接下来将要介绍这个情况下的一种用来决定Rtg与Rrg值的简单方法。
在图8中,一种用于当Rtr很高或甚至无线大的情况下,决定Rrg与Rtg的一组测量方式的一流程图。在步骤52中,开始计算Rrg的测量。在步骤53中,一电压藉由,例如线路驱动器9B施加于塞环连结点4,而线路驱动器9A则是设定在高阻抗的状态,也就是如图4所示的一个状态。在步骤54中,在塞环连结点4与接地线路之间的一电压Vrg5藉由集成电路10所测量出来,而在端头连结点3死塞环连结点4之间的电流It3由SLIC所测量出来。虽然所述的线路驱动器9A设定为高阻抗的状态,某些电流还是可以因为泄漏而由电阻Rrg与Rtg而流到接地电路。
在步骤55中,与步骤53中所施加的电压不同的第二电压藉由线路驱动器9B施加于塞环连结点4,而线路驱动器9A则依然维持在高阻抗的状态。在步骤56中,再一次实施与步骤54中相同的电压与电流的测量方法,而得到Vrg6与It4。在步骤57中,计算ΔV7=Vrg5-Vrg6以及ΔIt3=It3-It4。最后,在步骤58中,计算Rht=ΔV7/(2×ΔIt3),如同前面所述,这些计算可以由测量控制器10A来进行,接着完成测量步骤。
接下来,根据前面所提到的情况,Rtr值相对很高或者甚至无限大,Rht对应到Rrg。得到下列方程式:
Rht = 1 1 Rrg + 1 Rtr + Rtg - - - ( 8 )
针对Rtr具有一较大值的情况,方程式(8)可以简化为:
Rht ≈ 1 1 Rrg = Rrg - - - ( 9 )
也就是说,在这个例子中,Rht对应Rrg。
以一相同的方式,针对的Rtg计算,也可利用将端头连结点3与塞环连结点4以及个别的第一与第二线路驱动器相互调换后,以执行如图8的用以计算Rrg的步骤来计算。这随后使得Rhr可以由下列方程式来决定:
Rhr = 1 1 Rtg + 1 Rtr + Rrg ≈ Rtg - - - ( 10 )
结果可以看出,根据本发明的构想,所述的Rrg与Rtg在Rtr很高甚至无限大的情况下也可以容易的决定。
当然,前面所述的测量与计算作为一具体实施例。利用基尔霍夫定律,很多其它可能的测量组可以实施以为了决定电阻值Rrg、Rtr以及Rtg。例如,如图1与图2所示的施加于所述的端头连结点3与塞环连结点4的电压的其它组合也可以被使用,并结合个别的电压与电流的测量,以获得一不同的方程式组以分别计算出Rrg、Rtr以及Rtg的电阻值。然而,根据所选择的测量,这些方程式可能会较前面所述的方程式具有更复杂的型式而且更难以解出。
原则上,藉由类似前面所述的一种方法,其它除了Rrg、Rtr以及Rtg的电阻值以外的电性质也可以被决定。此外,假如只有一种通信线路上是有兴趣的,那么所需要执行的测量数目可以只根据所要的性质来加以缩减。
图标符号
1,38,51   线卡                2     芯片组
3,4        连结点              5     用户装置
6,7,41,42线路                8     接电线路
9           用户线路接口电路    9A,9B驱动器
10          集成电路            10A   测量控制器
11          参考电压            21    区块
39          POTS电路            40    继电器
43          测试总线            44    测试板
45          模拟电路            46    信号处理器
47          随机访问存储器      48    只读存储器
49          背平面连结          50    数字信号处理器

Claims (35)

1.一种用以测量通信线路的电性质的方法,
其中所述的通信线路包含一第一线路以及一第二线路,
其中所述的第一线路连接到一第一线路驱动器,而所述的第二线路则连接到一第二线路驱动器,
其中用以决定所述的通信线路的电性质的至少一测量是在所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器设定为高阻抗的状态下实施。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述的高阻抗状态为所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器为关闭的状态。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述的高阻抗状态为分别流经所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器的一漏电流在所施加的电压高达150V时,仍低于150μA的状态。
4.如权利要求3所述的方法,其中所述的漏电流低于30μA。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器的高阻抗状态为各自的第一线路驱动器或第二线路驱动器的阻抗至少为1MΩ的状态。
6.如权利要1所述的方法,其中所述的电性质包含由在所述的第一线路与接地线路间的电阻值、在所述的第二线路与接地线路间的电阻值以及所述的第一线路与所述的第二线路间的电阻值所组成的阻群的至少其一。
7.如权利要1所述的方法,其中所述的至少一测量包含施加一电压到设定为高阻抗状态下而没有与所述的线路驱动器连结的第一线路或第二线路,并且测量流经所述的第一线路或第二线路的电流以及/或是测量在所述的第一线路以及/或是第二线路上的一电压。
8.如权利要1所述的方法,其中所述的至少一测量包含施加两个不同的电压到设定为高阻抗状态下而没有与所述的线路驱动器连结的第一线路或第二线路,并且针对两个不同电压的每一电压,测量流经所述的第一线路或第二线路的一电流以及/或是测量在所述的第一线路以及/或是第二线路上的一电压,以及
所述的电性质是利用在两个所施加的不同的电压间的一差值以及在所测量的电流间以及/或是所测量的电压间的一差值来计算。
9.如权利要1所述的方法,其中针对测量所述的电性质,乃执行至少包含所述的测量的多个测量,以及
藉由所述的多个测量得到的一方程式系统乃经由解析而用来决定所述的电性质。
10.如权利要求9所述的方法,其中所述的多个测量包含
一第一组测量,其中第一线路与第二线路都不设定为高阻抗状态,
一第二组测量,其中只有第一线路驱动器设定为高阻抗状态,以及
一第三组测量,其中只有第二线路驱动器设定为高阻抗状态。
11.如权利要求9所述的方法,其中所述的多个测量包含施加一电压到所述的第一线路以及/或是第二线路,测量在所述的第一线路以及/或是第二线路的电压,以及/或是测量流经所述的第一线路以及/或是第二线路的电流。
12.如权利要求9所述的方法,其中所述的多个测量包含在不同的初始条件下执行的两个相等的测量,以及
其中所述的电性质是利用所述的两个测量的测量结果的差值来计算。
13.如权利要求12所述的方法,其中所述的不同初始条件为不同的电压施加于所述的第一线路以及/或是第二线路上的条件,以及
其中所述的电性质利用在两个不同初始条件所施加的电压的差值来计算。
14.如权利要求1所述的方法,其中所述的第一线路驱动器与所述的第二线路驱动器整合于一集成电路上。
15.如前面所述的权利要求1所述的方法,其中一集成电路用来测量在所述的第一线路以及/或是第二线路上的电压。
16.如权利要求15所述的方法,其中所述的所述的第一线路驱动器与所述的第二线路驱动器整合于一集成电路上,以及
其中包含所述的第一线路驱动器与第二线路驱动器的集成电路与用以测量在所述的第一线路以及/或是第二线路上的电压的集成电路为透过通信线路以影响通信的电路。
17.如权利要求1所述的方法,其中所述的通信线路为一普通老式电话系统线路,所述的第一线路为一塞尖线路,而所述的第二线路为一塞环线路。
18.一种用以测量通信线路的电性质的装置,
其中所述的通信线路包含一第一线路与一第二线路,
所述的装置包含连接到所述的第一线路的一第一线路驱动器以及连接到所述的第二线路的一第二线路驱动器,
所述的装置更包含一控制单元,用以控制所述的电性质的测量,
其中所述的控制单元设计成使得所述的第一线路驱动器或所述的第二线路驱动器在至少一测量中设定为一高阻抗的状态,以决定所述的通信线路的电性质。
19.如权利要求18所述的装置,其中所述的高阻抗状态为所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器为关闭的状态。
20.如权利要求18所述的装置,其中所述的高阻抗状态为分别流经所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器的一漏电流在所施加的电压高达150V时,仍低于150μA的状态。
21.如权利要求20所述的装置,其中所述的漏电流低于30μA。
22.如权利要求18所述的装置,其中所述的第一线路驱动器或第二线路驱动器的高阻抗状态为各自的第一线路驱动器或第二线路驱动器的阻抗至少为1MΩ的状态。
23.如权利要18所述的装置,其中所述的电性质包含由在所述的第一线路与接地线路间的电阻值、在所述的第二线路与接地线路间的电阻值以及所述的第一线路与所述的第二线路间的电阻值所组成的阻群的至少其一。
24.如权利要18所述的装置,其中所述的至少一测量包含施加一电压到设定为高阻抗状态下而没有与所述的线路驱动器连结的第一线路或第二线路,并且测量流经所述的第一线路或第二线路的电流以及/或是测量在所述的第一线路以及/或是第二线路上的一电压。
25.如权利要18所述的装置,其中所述的至少一测量包含施加两个不同的电压到设定为高阻抗状态下而没有与所述的线路驱动器连结的第一线路或第二线路,并且针对两个不同电压的每一电压,测量流经所述的第一线路或第二线路的一电流以及/或是测量在所述的第一线路以及/或是第二线路上的一电压,以及
其中所述的控制单元用以利用在两个所施加的不同的电压间的一差值以及在所测量的电流间以及/或是所测量的电压间的一差值来计算所述的电性质。
26.如权利要18所述的装置,其中针对测量所述的电性质,乃执行至少包含所述的测量的多个测量,以及
其中所述的控制单元用来解析藉由所述的多个测量所得到的一方程式系统,以决定所述的电性质。
27.如权利要求26所述的装置,其中所述的多个测量包含
一第一组测量,其中第一线路与第二线路都不设定为高阻抗状态,
一第二组测量,其中只有第一线路驱动器设定为高阻抗状态,以及
一第三组测量,其中只有第二线路驱动器设定为高阻抗状态。
28.如权利要求26所述的装置,其中所述的多个测量包含施加一电压到所述的第一线路以及/或是第二线路,测量在所述的第一线路以及/或是第二线路的电压,以及/或是测量流经所述的第一线路以及/或是第二线路的电流。
29.如权利要求26所述的装置,其中所述的多个测量包含在不同的初始条件下执行的两个相等的测量,以及
其中所述的电性质是利用所述的两个测量的测量结果的差值来计算。
30.如权利要求29所述的装置,其中所述的不同初始条件为不同的电压施加于所述的第一线路以及/或是第二线路上的条件,以及
其中所述的电性质利用在两个不同初始条件所施加的电压的差值来计算。
31.如权利要求18所述的装置,其包含一集成电路,而所述的第一线路驱动器与所述的第二线路上乃整合其上。
32.如权利要求18所述的装置,其包含一集成电路,用以测量在所述的第一线路驱动器与所述的第二线路上的电压。
33.如权利要求32所述的装置,其包含一集成电路,其中所述的第一线路驱动器与所述的第二线路驱动器乃整合于所述的集成电路上,以及
其中所述的包含第一线路驱动器与第二线路驱动器的集成电路与所述的用以测量在第一线路以及/或是第二线路上的电压的集成电路为透过通信线路以影响通信的电路。
34.如权利要求18所述的装置,其中所述的通信线路为一普通老式电话系统线路,所述的第一线路为一塞尖线路,而所述的第二线路为一塞环线路。
35.如权利要求18所述的装置,其中所述的装置乃整合于一线卡上。
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