CN1607379A - 基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器 - Google Patents

Abstract

基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，包括能接收并发出同步脉冲信号的数据采集设备、微棱镜阵列、傅立叶透镜和光电探测器，其特点在于：所述的微棱镜哈特曼波前传感器由变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列、与其紧贴着的傅立叶透镜及光电探测器组成，其中的二维锯齿形相位光栅阵列的微棱镜阵列可有单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构，既可采用微光学技术，也可采用二元光学技术加工。本发明结构简单、稳定，加工工艺易实现，相对于现有的微透镜技术，能够简化哈特曼波前传感器的安装、调节，实现批量化生产。

Description

基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器

技术领域

本发明涉及一种用于脉冲光光束质量检测的哈特曼波前传感器，特别是一种微棱镜哈特曼波前传感器。

背景技术

激光的光束质量决定着激光的传输特性以及远场的汇聚性，通常以M2因子、Strehl比、波前像差RMS值等来给出光束质量的定量描述。实际上，由激光光束的强度分布和相位分布就已经能够确定其传输特性和远场汇聚性。哈特曼波前传感器能够在激光光束的一帧图像内同时检测出光束的强度分布和相位分布，因此对于激光光束尤其是脉冲光光束质量检测是一个十分有效的工具。现有的用于检测脉冲光光束质量的哈特曼波前传感器，通常采用微透镜阵列分割光束孔径，并将入射光聚焦到光电探测器(通常为CCD)的光敏靶面，或者通过一转像系统将微透镜的焦面光斑图象成像于光电探测器光敏靶面，见于专利“Apparatus and method for characterizing pulsedlight beams”，Neal et al.Patent No.6,052,180，Apr.18，2000。这类哈特曼传感器的不足在于微透镜阵列与CCD的耦合技术比较复杂，微透镜阵列的微透镜单元的焦距误差不一致导致影响传感器精度，对微透镜阵列制作技术的要求很高，安装、调试困难，不适宜大批量制造。

姜文汉等曾提出和制作过一种带有不同楔角的棱镜(指光楔或楔板)组成的分割镜分割光束孔径(“37单元自适应光学系统”，姜文汉，吴旭斌，凌宁，光电工程，22卷1期38-45页，1995年)，并用物镜聚焦于CCD光敏靶面的哈特曼传感器，可以克服孔径分割元件与CCD耦合的困难。但用单个子棱镜拼装成孔径分割元件的制造技术复杂而昂贵，也不适宜于批量生产。

中国专利申请号“01108433.2”的实施例1中提出：哈特曼波前传感器的孔径分割元件1’可以是采用微光学技术或二元光学技术制作的集成式二元菲涅尔微棱镜阵列，聚焦透镜2’的焦面与CCD3’的光敏靶面4’重合，如图1所示。此项发明专利申请提出了一种简单稳定的哈特曼波前传感器结构，但对其中的关键元器件-光束孔径分割元件，并未提供确切的结构与制作方案。因此，本发明是对上述专利申请的继续。

发明内容

本发明的技术解决问题是：克服现有技术中微透镜阵列与光电探测器的耦合技术比较复杂、微透镜阵列的微透镜单元的焦距误差不一致导致影响传感器精度；以及子楔板拼装技术工艺复杂而昂贵、不适宜批量生产等不足，提供一种适宜于工业化批量生产的用于脉冲光光束质量检测的微棱镜哈特曼波前传感器。

本发明的技术解决方案是：用于脉冲光光束质量检测的微棱镜哈特曼波前传感器，包括能接收并发出同步脉冲信号的数据采集设备、微棱镜阵列、傅立叶透镜和光电探测器CCD，其特征在于：所述的微棱镜阵列为变周期二维锯齿形相位光栅阵列结构，与傅立叶透镜组合实现光束的孔径分割。

所述变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列为等锯齿深度的变周期二维锯齿形相位光栅阵列，即阵列中每个光栅均为同一锯齿深度，只是x、y方向空间周期各不相同。

所述变周期二维锯齿形相位光栅结构的的微棱镜阵列可以有两种实现方案：单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构。单面光刻中心对称的环形布局结构为在基片上单面光刻，以中心为基点，呈中心对称圆周状向外扩展，阵列中各个子孔径x、y方向空间周期Tx和Ty同时由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变。两面光刻的双面光栅结构为在基片一面以x坐标轴为基准，刻蚀产生平行排列、光栅周期沿x方向的锯齿形相位光栅，其光栅周期由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变；在基片另一面以y坐标轴为基准，刻蚀产生平行排列、光栅周期沿y方向的锯齿形相位光栅，其光栅周期由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变。

所述变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列可以采用微光学技术或二元光学技术加工。

本发明的原理是：变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列是采用微光学或二元光学技术，在一块片基上刻蚀形成变周期二维锯齿形相位光栅阵列，其锯齿深度保持不变而子孔径间周期递变，通过设定锯齿深度、光栅在两正交方向的空间周期以及傅立叶透镜焦距等参数来实现光斑阵列的均匀排布，可以有单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构两种实现方案；光栅的锯齿形相位结构采用二元光学技术刻蚀形成；傅立叶透镜是依据焦距、f数(微透镜的焦距/口径)等参数要求加工的消像差透镜，这样通过光电探测器CCD接收到不会产生畸变。

本发明与现有技术相比有如下优点：

1.本发明所公开的微棱镜哈特曼波前传感器，其光束孔径分割元件-微棱镜阵列由变周期二维锯齿形相位光栅阵列构成，只需与一个傅立叶透镜组合，便能够实现光束孔径分割，所有子波前通过公共的傅立叶透镜会聚到光电探测器光敏靶面，克服了现有技术中微透镜阵列的微透镜单元焦距不一致对哈特曼波前传感器精度产生的影响。

2.本发明所公开的微棱镜阵列，是利用微光学或二元光学技术直接在同一片基上刻蚀，避免了分别加工单个子棱镜，然后进行子棱镜拼装的复杂、繁琐、昂贵的工艺。

3.本发明所公开的微棱镜阵列在加工时，只需改变阵列中每一个锯齿形相位光栅的空间周期而锯齿深度保持不变，并且锯齿结构采用微光学或二元光学技术刻蚀形成，其结构简单，加工工艺易实现，易于实现批量化生产。

4.将使哈特曼波前传感器的安装调整得以简化。现有的微透镜哈特曼传感器通常需要一个转像系统，将微透镜阵列的焦点耦合到CCD的光敏靶面，如图2所示，除须完成微透镜阵列21、转像系统22以及CCD23的准直调整外，还必须完成微透镜阵列21的焦斑阵列和CCD23的光敏靶面24之间相对于转像系统22的物像共轭调整，整个装调的环节较多且难度大，不利于批量生产。而本专利所提出的微棱镜阵列41和傅立叶透镜42组合，直接成像于CCD光敏靶面44，如图4所示，除必须的准直调整外，只需要将CCD光敏靶面44相对于傅立叶透镜42进行调焦，简化了传感器的装调工作。

附图说明

图1为中国发明专利申请“01108433.2”在实施例1中提出的哈特曼波前传感器结构示意图；

图2为现有技术中微透镜哈特曼波前传感器的结构示意图；

图3为本发明中基于微棱镜阵列的哈特曼传感器检测脉冲光光光束质量装置示意图；

图4为本发明中基于微棱镜阵列的哈特曼波前传感器结构及工作原理示意图；

图5为本发明中变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列41采用单面光刻中心对称的环形布局结构示意图；

图6为图5的立体示意图；

图7为本发明中变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列41采用两面光刻的双面光栅结构示意图；

图8为图7的左视图；

图9为图7的右视图。

具体实施方式

如图3所示，激光光源1发出的激光光束照射到微棱镜阵列41上，通过傅立叶透镜42成像，整个光束孔径被均匀分割并在CCD43的光敏靶面上形成光斑阵列；激光光源同时给出同步信号至数据采集设备5，数据采集设备5发出同步信号51至CCD43，使其开始一定时间长度的曝光，当曝光完成后，CCD43将采集的数据信息(模拟的或数字的)通过数据电缆52输出给数据采集设备5，由数据采集设备5将信息传送给计算机6，由计算机6对所得到的信息进行处理，即可得到激光光束的相应参数。

如图4所示，微棱镜哈特曼波前传感器由变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列41、傅立叶透镜42和CCD43组成，傅立叶透镜42紧贴变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列41，CCD43的光敏靶面44位于傅立叶透镜42焦面上，变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列41为采用微光学或二元光学技术在同一基片上刻蚀产生的二维锯齿形相位光栅阵列，且为等锯齿深度的变周期二维锯齿形相位光栅阵列，即阵列中每个光栅均为同一锯齿深度，只是x、y方向空间周期各不相同，它可以有两种实现方案：单面光刻中心对称的环形布局结构和两面光刻的双面光栅结构，分别如图5、图6和图7、图8、图9所示。

图4所示的结构其具体的实施可以是：微棱镜阵列41和傅立叶透镜42分别采用带有三维调整功能的机械件固定，其后的CCD需要轴向平移调整。装调时，分别对微棱镜阵列41、傅立叶透镜42和CCD43进行准直调整；然后平行光入射，CCD43进行轴向调整，使其光敏靶面位于傅立叶透镜42的焦平面上，整个装调过程完成。

本发明在工作时，如图4所示，入射光束经二维锯齿形变周期相位光栅结构的微棱镜阵列41后，各个子孔径的光束分别产生了相应的相位变化，经由紧贴其后的傅立叶透镜42，和位于傅立叶透镜焦面上的CCD43探测其光强分布，该光强分布包含着二维锯齿形相位光栅阵列41所产生的相位信息，每个子孔径所产生的相位变化不同，因而在傅立叶透镜42焦面上形成一个光斑阵列，整个光束孔径被均匀分割。标准平面波入射产生的光斑阵列事先被保存起来作为标定数据。当具有一定像差的波前入射时，各个局部倾斜平面波对其子孔径内二维锯齿形相位光栅产生新的附加相位，该相位变化将反映到傅立叶透镜42焦面的光斑位置偏移上。

CCD43接收到的光斑信号可通过计算机进行处理，采用质心算法：由公式①计算光斑的位置(x_i，y_i)，探测全孔径的波面误差信息：

$x_i=\frac{\underset{m=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{n=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{x}_{\mathrm{nm}}{I}_{\mathrm{nm}}}{\underset{m=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{n=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{I}_{\mathrm{nm}}},y_i=\frac{\underset{m=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{n=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{y}_{\mathrm{nm}}{I}_{\mathrm{nm}}}{\underset{m=1}{\overset{M}{\mathrm{\Σ}}}\underset{n=1}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}{I}_{\mathrm{nm}}}---\left(1\right)$

式中，m＝1～M，n＝1～N为子孔径映射到CCD43光敏靶面44上对应的像素区域，I_nm是CCD43光敏靶面44上第(n，m)个像素接收到的信号，x_nm’y_nm分别为第(n，m)个像素的x坐标和y坐标。

再根据公式②计算入射波前的波前斜率g_xi’g_yi：

$g_{\mathrm{xi}}=\frac{\mathrm{\Δx}}{\mathrm{\λf}}=\frac{x_i-x_o}{\mathrm{\λf}},g_{\mathrm{yi}}=\frac{\mathrm{\Δy}}{\mathrm{\λf}}=\frac{y_i-y_o}{\mathrm{\λf}}---\left(2\right)$

式中，(x_o，y_o)为标准平面波标定哈特曼传感器获得的光斑中心基准位置；哈特曼传感器探测波前畸变时，光斑中心偏移到(x_i，y_i)，完成哈特曼波前传感器对信号的检测。

如图5所示，微棱镜阵列可以有单面光刻中心对称的环形布局结构：各个光栅的周期和刻线方向形成环形布局，即在基片上单面光刻，以中心点0为基点，呈中心对称圆周状向外扩展，阵列中各个子孔径x、y方向空间周期Tx和Ty同时由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变。

图6为图5所示结构的立体示意图。

如图7、图8和图9所示，微棱镜阵列还可以有两面光刻的双面光栅结构：分两面分别确定阵列中各个光栅的X和Y方向的光栅周期，在基片一面刻线产生X方向周期，另一面则刻线产生Y方向周期，双面刻线共同形成光栅阵列的不同周期，即在基片一面以x坐标轴为基准，刻蚀产生平行排列、光栅周期沿x方向的锯齿形相位光栅，其光栅周期由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变；在基片另一面以y坐标轴为基准，刻蚀产生平行排列、光栅周期沿y方向的锯齿形相位光栅，其光栅周期由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变。

Claims (6)

1、基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，包括能接收并发出同步脉冲信号的数据采集设备、微棱镜阵列、傅立叶透镜和光电探测器，其特征在于：所述的微棱镜哈特曼传感器是由变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列与傅立叶透镜组合实现光束的孔径分割。

2、根据权利要求1所述的基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，其特征在于：所述变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列为等锯齿深度的变周期二维锯齿形相位光栅阵列，即阵列中每个光栅均为同一锯齿深度，只是x、y方向空间周期各不相同。

3、根据权利要求1或2所述的基于微棱镜阵列的光学检测哈特曼波前传感器，其特征在于：所述的变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列既可采用微光学技术，也可采用二元光学技术加工。

4、根据权利要求1或2所述的基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，其特征在于：所述变周期二维锯齿形相位光栅结构的微棱镜阵列采用单面光刻中心对称的环形布局结构或两面光刻的双面光栅结构。

5、根据权利要求4所述的基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，其特征在于：所述的单面光刻中心对称的环形布局结构为在基片上单面光刻，以中心为基点，呈中心对称圆周状向外扩展，阵列中各个子孔径x、y方向空间周期Tx和Ty同时由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变。

6、根据权利要求4所述的基于微棱镜阵列的脉冲光光束质量检测哈特曼波前传感器，其特征在于：所述的两面光刻的双面光栅结构为在基片一面以x坐标轴为基准，刻蚀产生平行排列、光栅周期沿x方向的锯齿形相位光栅，其光栅周期由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变；在基片另一面以y坐标轴为基准，刻蚀产生平行排列、光栅周期沿y方向的锯齿形相位光栅，其光栅周期由中心向外呈1，1/2，1/3...1/n级数倍率递变。

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