CN1524634A - 一种实现产品快速筛选的方法 - Google Patents

一种实现产品快速筛选的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN1524634A
CN1524634A CNA031049141A CN03104914A CN1524634A CN 1524634 A CN1524634 A CN 1524634A CN A031049141 A CNA031049141 A CN A031049141A CN 03104914 A CN03104914 A CN 03104914A CN 1524634 A CN1524634 A CN 1524634A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
temperature
value
initial
product
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA031049141A
Other languages
English (en)
Inventor
郑自堂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lenovo Beijing Ltd
Original Assignee
Lenovo Beijing Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lenovo Beijing Ltd filed Critical Lenovo Beijing Ltd
Priority to CNA031049141A priority Critical patent/CN1524634A/zh
Publication of CN1524634A publication Critical patent/CN1524634A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种实现产品快速筛选的方法,该方法在得到被测产品的可靠性界限之后,在该可靠性界限范围设定初始测试值,并逐步改变该测试值,以每个测试值对经过故障陷阱设置的产品进行可靠性测试,直到能够测出被测产品的故障,将当前测试值作为可能的筛选条件,将正常的产品放置在该条件中,并进行功能可靠性测试,如果被测产品没有出现异常,则将该条件作为产品快速筛选条件,否则,改变初始测试值,并重新进行测试以获得快速筛选条件。利用本发明方法获得的快速筛选条件对产品进行筛选,在保证快速、全面地筛选出不合格产品的同时,不会导致被测产品的正常性能遭到破坏;通过功能可靠性测试可以发现被测产品的性能缺陷,有利于产品的改进。

Description

一种实现产品快速筛选的方法
技术领域
本发明涉及计算机设备的测试技术,更确切地说是涉及一种根据计算机类产品的可靠性测试结果对该产品进行快速筛选的实现方法。
背景技术
服务器、PC、笔记本电脑等计算机产品在完成设计后,即投入生产,进入制程阶段。为了在迅速获得计算机产品市场分额的同时,保证计算机产品的质量,就很有必要在新产品的生产阶段进行可靠性测试验证,迅速地把不合格的产品筛选出来,以免其进入市场,同时,根据该测试可以了解产品质量的稳定程度,将产品不合格信息反馈给产品研发部门,为产品优化设计的改进提供参考。
众所周知,在服务器、PC、笔记本电脑等计算机类电子产品的使用环境中,诸如温度、振动、湿度、冲击、电网电压波动等各种恶劣因素对该类产品性能的影响很大,其中,温度和振动环境最为常见,对产品性能的影响也就更大一些。因此,产品制造商需要对产品进行各种环境条件下工作性能的测试,而目前的计算机类产品制造商一般都是采用简单传统的产品性能验证测试方法进行产品制程质量控制,最常见的方法是将产品放置在国标规定的产品在运输过程和使用过程中可能遭遇的最高温度、最低温度或最大振动的环境中进行试验,通过观察是否有产品在工作中出现故障来进行产品筛选。这种方法只是对产品在高温、低温或振动环境下的工作性能作了一个简单测试,而且国标规定的最高温度、最低温度和最大振动值往往只是一个大概的估计值。
因此,现有技术只是对产品在最高、最低温度和最大振动环境中的性能有一个简单的、粗略的验证性测试,往往会导致被测产品在筛选测试过程中出现误筛选或漏筛选现象,很不科学,所以目前并没有一个快速、全面、科学地进行产品品质筛选的方法。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种实现产品快速筛选的方法,使在快速、全面、科学地筛选出不合格产品的同时,保证被测产品不会因所用的筛选方法导致损伤。
为达到以上目的,本发明的技术方案是这样实现的:一种实现产品快速筛选的方法,通过对被测产品进行环境可靠性测试,得到被测产品的可靠性界限,其特征在于,该方法至少包括以下步骤:
a.在该可靠性界限范围内设定初始测试值;
b.并在可靠性界限范围内逐步改变当前测试值,在每个测试值对经过故障陷阱设置的产品进行功能可靠性测试,判断是否测出被测产品的故障,如果是,则将当前测试值设置为可能筛选条件,并进入步骤c,否则,将当前测试值设置为初始测试值,并返回步骤b;
c.在步骤b获得的可能筛选条件中,对正常产品进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品没有出现异常,则将该可能筛选条件设置为产品快速筛选条件;否则,改变步骤a设置的初始测试值,并返回步骤b。
所述的环境可靠性测试为温度环境可靠性测试,得到被测产品的高温可操作界限,则所述步骤b进一步包括:
b11.设定小于高温可操作界限的值为初始的高温测试界限值,并设定一个初始温度值;
b12.从初始的高温测试界限值开始,逐步增大当前的高温测试界限值,并在每个高温测试界限值对应的范围内,从初始温度值开始对经过故障陷阱设置的产品进行快速温变,在到达当前的高温测试界限值且温度稳定后,进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的高温测试界限值作为初始的高温测试界限值,并返回步骤b12,如果测出被测产品的故障,则将当前的高温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c所述的改变初始测试值为减小步骤b11中设定的初始高温测试界限值。
所述的环境可靠性测试为温度环境可靠性测试,得到被测产品的低温可操作界限,则所述步骤b进一步包括:
b21.设定大于低温可操作界限的值为初始的低温测试界限值,并设定一个初始温度值;
b22.从低温初始测试值开始,逐步减小当前的低温测试界限值,并在每个低温测试界限值对应的范围内,从初始温度值开始对经过故障陷阱设置的产品进行快速温变,在到达当前的低温测试界限值且温度稳定后,进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的低温测试界限值作为初始的低温测试界限值,并返回步骤b22,如果测出被测产品的故障,则将当前的低温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为增大步骤b21中设定的初始低温测试界限值。
所述的温度可靠性测试进一步得到被测产品快速温度传导的可操作界限,以该快速温度传导的可操作界限值进行快速温变。
所述的环境可靠性测试为振动环境可靠性测试,得到被测产品随机振动的破坏界限,则所述步骤b进一步包括:
b31.设定小于该随机振动的破坏界限值作为初始的随机振动加速度,并设定随机振动的振动频率范围;
b32.从初始随机振动加速度开始,逐步增大该随机振动的振动加速度,并以每个振动加速度在振动频率范围内进行一段时间的随机振动,在随机振动稳定后,对经过故障陷阱设置的产品进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将该振动加速度作为初始的振动加速度,并返回步骤b32,如果测出被测产品的故障,则将该振动加速度作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为减小步骤b31中设定的初始随机振动加速度。
所述的环境可靠性测试为温度和振动复合环境下的可靠性测试,得到被测产品温度和振动复合的破坏界限,该破坏界限包括高温可操作界限和随机振动的破坏界限,则所述步骤b进一步包括:
b41.设定小于高温可操作界限的值为初始的高温测试界限值,设定小于随机振动的破坏界限的值为初始的随机振动加速度,并设定一个初始温度值和随机振动的振动频率范围;
b42.从初始随机振动加速度开始,逐步增大随机振动的振动加速度,对应地,从初始的高温测试界限值开始,逐步增大高温测试界限值,以每个振动加速度在振动频率范围内对经过故障陷阱设置的产品进行随机振动,在随机振动的同时,从初始温度值开始在与该振动加速度对应的高温测试界限值内进行快速温变,到达当前的高温测试界限值后,稳定温度和随机振动,之后进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的随机振动加速度作为初始的随机振动加速度,将当前的高温测试界限值作为初始的高温测试界限值,并返回步骤b42,如果测出被测产品的故障,则将当前的随机振动加速度及高温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为减小步骤b41中初始的高温测试界限值和初始的随机振动加速度。
所述的环境可靠性测试为温度和振动复合环境下的可靠性测试,得到被测产品温度和振动复合的破坏界限,该破坏界限包括低温可操作界限和随机振动的破坏界限,则所述步骤b进一步包括:
b41.设定大于低温可操作界限的值为初始的低温测试界限值,设定小于随机振动的破坏界限的值为初始的随机振动加速度,并设置一个初始温度值和随机振动的振动频率范围;
b42.从初始随机振动加速度开始,逐步增大随机振动的振动加速度,对应地,从初始的低温测试界限值开始,逐步减小低温测试界限值,以每个振动加速度在振动频率范围内对经过故障陷阱设置的产品进行随机振动,在随机振动的同时,从初始温度值开始在与该振动加速度对应的低温测试界限值范围内进行快速温变,到达低温测试界限值后,稳定温度和随机振动,之后进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的随机振动加速度作为初始的随机振动加速度,将当前的低温测试界限值作为初始的低温测试界限值,并返回步骤b42,如果测出被测产品的故障,则将当前的随机振动加速度及低温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为增大步骤b41中初始的低温测试界限值,减小初始的随机振动加速度。
所述的温度和振动复合环境下的可靠性测试进一步得到被测产品快速温度传导的可操作界限,以该快速温度传导的可操作界限值进行快速温变。
所述的功能可靠性检测为:对被测产品的数据存储介质进行表面损伤扫描,检查被测产品各电子元器件的功能以及各个接口的性能是否正常;或检测整个被测产品的系统在满负载运行的情况下,各个部件或系统整体运行的稳定性和兼容性;或检测计算机类产品对电网环境的适应能力;或以上三种测试的任意组合。
所述对被测产品的数据存储介质进行表面损伤扫描由配置了磁盘扫描测试包的系统测试软件WinPie3.24实现。
所述满负载运行状态下对稳定性和兼容性的检测通过运行模块化的系统测试软件WinPie3.24和网络测试软件Drive Reaper实现。
所述对电网环境适应能力的检测通过交流电源供应器模拟各种市电波形失真实现。
本发明方法通过以可靠性界限为基础,该可靠性界限为可操作界限或破坏界限,设置一个小于该可靠性界限的值为测试的初始条件,并逐步改变该值,以每个测试值对经过故障陷阱设置的被测产品进行检测,得到能够检测出被测产品的故障的值作为筛选产品的条件,并进一步测试该条件是否会导致正常的产品出现故障,从而得到合理的筛选条件,利用该筛选条件直接进行产品筛选,可以保证在快速、全面、科学地筛选出不合格产品的同时,不会导致被测产品的正常性能遭到破坏,从而能够保障新产品的可靠度;并可以有效地监控新品的生产制程,保证新品在正式量产上市时已经是成熟产品。在获得快速筛选条件的测试过程中,通过功能可靠性测试可以发现被测产品系统的机械性能、电性能及功能性缺陷,并及时把所发现的缺陷反馈给产品设计部门,这样有利于改进产品,缩短新品的开发时间。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明方案作进一步详细的说明。
本发明为确定在温度环境、振动环境或温度和振动复合环境下进行计算机类产品筛选的初始筛选条件,需要用到被测产品有关温度或振动的可靠性界限。本发明人曾在另外几个专利申请中提出了针对温度可靠性、振动可靠性及温度和振动复合环境可靠性的测试方法,通过这几种测试方法可以得到被测产品的可靠性界限,包括温度和快速温度传导的可操作界限、随机振动的破坏界限及温度和振动复合环境的破坏界限。
温度可靠性测试的具体方案是设置测试的起始温度和起始快速温变速度,在起始温度的基础上逐步改变测试温度,在每个测试温度稳定后进行功能可靠性测试,以得到温度可操作界限,在获得的温度可操作界限之内,在起始快速温变速度的基础上逐步改变快速温变速度,并以每个温变速度将温度改变到温度可操作界限,在温度稳定后进行功能可靠性测试,以测出快速温度传导的可操作界限。
振动可靠性测试的具体方案是设置测试的起始随机振动的加速度均方根值和振动频率范围,在起始振动加速度的基础上逐步改变振动加速度,并以每个振动加速度随机振动一段时间,在随机振动稳定后进行功能可靠性测试,以得到随机振动的破坏界限。
温度和振动可靠性测试的具体方案是设置测试的起始温度、起始快速温变速度、起始振动加速度和振动频率范围,首先进行温度可靠性测试,得到温度以及快速温度传导的可操作界限,在温度可操作界限内,以快速温度传导的可操作界限作为温变速度进行快速温度传导测试,在进行该测试的同时进行振动可靠性测试,以获得温度和振动复合环境的破坏界限,温度和振动复合环境的破坏界限可以看作在复合环境下温度及快速温度传导的可操作界限与随机振动的破坏界限的组合。
在上述各个方案中,对被测设备或器件所进行的功能可靠性测试都包括三个方面:
1)对需要测试的产品的数据存储介质进行表面损伤扫描,检查计算机各电子元器件的功能以及各个接口的性能是否正常,该检测可以通过运行配置了磁盘扫描测试包的系统测试软件WinPie3.24实现;
2)检测整个计算机系统在满负载运行的情况下,各个部件或系统整体运行的稳定性和兼容性,该检测可以通过运行模块化的系统测试软件WinPie3.24和网络测试软件Drive Reaper实现;
3)检测计算机各电子元器件及系统对电网环境的适应能力,可以通过交流电源供应器模拟各种市电波形失真对计算机各电子元器件及系统进行检测,交流电源供应器可以模拟的各种市电波形的失真包括电源瞬间断电、瞬时突波、电源不足、电压和频率缓升降等。
本发明筛选条件的获得方法是利用上述测试方法所获得的可操作界限或破坏界限,该可操作界限是温度可操作界限,该破坏界限是随机振动或温度和振动复合环境的破坏界限,将小于该可操作界限或破坏界限的值作为测试筛选条件初始的测试值,在该可操作界限或破坏界限范围内,从该初始测试值开始逐步改变测试值,并利用每个测试值对经过故障陷阱设置的计算机类产品进行上述的可靠性测试,所述故障陷阱设置即人为地在产品中预先设置一些在性能可靠性上最可能出现的缺陷,在测试环境稳定后进行一次或以上的功能可靠性测试,直到测试出计算机类产品的故障,并将该测试出计算机类产品故障的测试值作为进行产品筛选的可能筛选条件。获得可能的筛选条件后,再进行筛选条件的合理性测试,即将正常的计算机类产品放置在这个可能的筛选条件中,并对被测产品进行多次的功能可靠性测试,如果被测产品性能正常,则该可能的筛选条件合理,将其作为筛选条件应用于产品筛选中;而如果被测产品的性能出现异常,则说明该筛选条件过高,需要改变测试的初始值,重新进行测试,直到获得合理的筛选条件。在本发明方案中,对被测设备或器件所进行的功能可靠性测试与前面方案中的功能可靠性测试相同。
如果筛选条件的获得方法是针对温度环境,则需要一个温度变换装置,本实施例采用的温度变换装置是温度冲击试验箱,并需要设置一个初始温度值可以设置该初始温度值为室温。根据温度可靠性测试获得温度和快速温度传导的可操作界限,温度可操作界限包括高温可操作界限和低温可操作界限,可以分别将高温可操作界限和低温可操作界限的75%作为初始的高温和低温测试界限值,分别针对高温和低温获取筛选条件,高温和低温筛选条件获取方法的不同仅在于前者需要在初始的高温测试界限值的基础上逐步增大初始测试值,而后者需要在初始的低温测试界限值的基础上逐步减小初始测试值。
下面以获取高温的筛选条件为例,为获取高温的筛选条件,则需要逐步增大高温测试界限值,从初始温度值开始,在每个高温测试值内对经过故障陷阱设置的计算机类产品进行快速温变,为加快产品的老化,且保证产品不因快速温变而导致性能出现故障,以快速温度传导的可操作界限值进行快速温变,在到达高温测试值后稳定一段时间,在稳定温度后进行至少一次的功能可靠性测试,直到能够测试出被测产品的故障,并将当前的高温测试界限值作为可能的筛选条件,然后进行筛选条件的合理性测试,即在可能的筛选条件对应的高温测试界限值内,对正常的计算机类产品进行快速温变,最好同样采用快速温度传导的可操作界限进行快速温变,以加快被测产品的老化,并在温度到达筛选条件对应的高温测试界限值后稳定一段时间,在温度稳定后进行至少一次的功能可靠性测试,本实施例对被测产品的检测设置为10~20次,如果被测产品的性能正常,则说明该可能的筛选条件合理,可以作为产品的筛选条件,如果被测产品的性能出现异常,则说明该可能的筛选条件过高,需要进一步降低初始的高温测试界限值,以更小的高温测试界限值重新进行以上测试,以获得合理的筛选条件。
如果筛选条件的获得方法是针对振动环境,则需要一个振动装置,本实施例采用的振动装置是六自由度电磁振动系统,还需要设置一个随机振动的振动频率范围,该范围可以与振动可靠性测试中的振动频率范围相同。在通过振动可靠性测试获得随机振动的破坏界限后,将该界限值的50%作为随机振动的初始值,并在该初始值的基础上,在振动频率范围内逐步增大随机振动的振动加速度,以每个振动加速度对经过故障陷阱设置的计算机类产品进行一段时间的随机振动,并在振动稳定后进行至少一次的功能可靠性测试,直到能够测试出被测产品的故障,并将该能够测试出被测产品故障的振动加速度作为可能的筛选条件,然后进行筛选条件的合理性测试,将正常的计算机类产品以该筛选条件进行一段时间的随机振动,并在振动稳定后进行至少一次的功能可靠性测试,本实施例对被测产品的检测设置为10~20次,如果被测产品的性能正常,则说明该可能的筛选条件合理,可以作为产品的筛选条件,如果被测产品的性能出现异常,则说明该可能的筛选条件过高,需要进一步降低随机振动的破坏界限,并重新进行以上测试,以获得合理的筛选条件。
如果筛选条件的获得方法是针对温度和振动复合环境,则需要一个能够同时进行较大范围温度快、慢速变换和在较宽的振动频率范围内做较大随机振动的综合环境测试装置,本实施例采用的综合环境测试装置是综合环境试验系统,还需要设定一个初始温度值和随机振动的振动频率范围,本实施例设定该初始温度值为室温,该振动频率范围即为温度和振动复合环境可靠性测试中的振动频率范围。本发明首先需要通过温度和振动复合环境的可靠性测试获得温度和振动复合环境的破坏界限,该破坏界限包括高温、低温和快速温度传导的可操作界限,及随机振动的破坏界限,针对高温可操作界限和振动破坏界限获取高温和振动的快速筛选条件,针对低温可操作界限和振动破坏界限获取低温和振动的快速筛选条件。这两个筛选条件的不同在于前者需要逐步增大高温测试界限值进行测试,而后者需要逐步减小低温测试界限值进行测试。下面以针对高温可操作界限和振动破坏界限获取筛选条件为例。
设定小于高温可操作界限的值为初始的高温测试界限值,设定小于随机振动破坏界限的值为初始的随机振动加速度,本实施例将高温可操作界限值的75%作为初始的高温测试界限值,将随机振动破坏界限值的50%作为初始随机振动加速度,并在其基础上逐步增大这两个值,在振动频率范围内,以每个随机振动加速度对经过故障陷阱设置的计算机类产品进行随机振动,在进行随机振动的同时,从初始温度值开始,在与该随机振动加速度对应的高温测试界限值范围内进行快速温变,为加快产品的老化,且保证产品不因快速温变而导致性能出现故障,最好以快速温度传导的可操作界限值进行快速温变,在到达高温测试界限值后,稳定温度和振动,之后进行至少一次的功能可靠性测试,直到某个温度和振动复合的测试值能够测出被测产品的故障,并将该能够测试出被测产品故障的温度和振动复合条件作为可能的筛选条件,然后进行筛选条件的合理性测试,将正常的计算机类产品以该筛选条件进行测试,在进行温度变化时,同样以快速温度传导的可操作界限值进行,并在温度和振动稳定后进行多次的功能可靠性测试,本实施例进行10~20次的功能可靠性测试,如果被测产品的性能正常,则说明该可能的筛选条件合理,可以作为产品的筛选条件,如果被测产品的性能出现异常,则说明该可能的筛选条件过高,需要进一步降低高温可操作界限和随机振动的破坏界限,并重新进行以上测试,以获得合理的筛选条件。
通过本发明的筛选条件获得方法,可以获得针对温度环境进行计算机类产品筛选的温度筛选条件、针对振动环境进行计算机类产品筛选的振动筛选条件及针对温度和振动复合环境进行计算机类产品筛选的温度和振动复合筛选条件。利用本发明方法得到的筛选条件进行产品筛选,可以快速、全面地发现成品的性能缺陷,达到及时筛选出不合格产品的目的,且不会因该筛选条件破坏被测产品的正常性能,实现了对成品质量的有效控制。

Claims (12)

1、一种实现产品快速筛选的方法,通过对被测产品进行环境可靠性测试,得到被测产品的可靠性界限,其特征在于,该方法至少包括以下步骤:
a.在该可靠性界限范围内设定初始测试值;
b.并在可靠性界限范围内逐步改变当前测试值,在每个测试值对经过故障陷阱设置的产品进行功能可靠性测试,判断是否测出被测产品的故障,如果是,则将当前测试值设置为可能筛选条件,并进入步骤c,否则,将当前测试值设置为初始测试值,并返回步骤b;
c.在步骤b获得的可能筛选条件中,对正常产品进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品没有出现异常,则将该可能筛选条件设置为产品快速筛选条件;否则,改变步骤a设置的初始测试值,并返回步骤b。
2、根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的环境可靠性测试为温度环境可靠性测试,得到被测产品的高温可操作界限,则所述步骤b进一步包括:
b11.设定小于高温可操作界限的值为初始的高温测试界限值,并设定一个初始温度值;
b12.从初始的高温测试界限值开始,逐步增大当前的高温测试界限值,并在每个高温测试界限值对应的范围内,从初始温度值开始对经过故障陷阱设置的产品进行快速温变,在到达当前的高温测试界限值且温度稳定后,进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的高温测试界限值作为初始的高温测试界限值,并返回步骤b12,如果测出被测产品的故障,则将当前的高温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c所述的改变初始测试值为减小步骤b11中设定的初始高温测试界限值。
3、根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的环境可靠性测试为温度环境可靠性测试,得到被测产品的低温可操作界限,则所述步骤b进一步包括:
b21.设定大于低温可操作界限的值为初始的低温测试界限值,并设定一个初始温度值;
b22.从低温初始测试值开始,逐步减小当前的低温测试界限值,并在每个低温测试界限值对应的范围内,从初始温度值开始对经过故障陷阱设置的产品进行快速温变,在到达当前的低温测试界限值且温度稳定后,进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的低温测试界限值作为初始的低温测试界限值,并返回步骤b22,如果测出被测产品的故障,则将当前的低温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为增大步骤b21中设定的初始低温测试界限值。
4、根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述的温度可靠性测试进一步得到被测产品快速温度传导的可操作界限,以该快速温度传导的可操作界限值进行快速温变。
5、根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的环境可靠性测试为振动环境可靠性测试,得到被测产品随机振动的破坏界限,则所述步骤b进一步包括:
b31.设定小于该随机振动的破坏界限值作为初始的随机振动加速度,并设定随机振动的振动频率范围;
b32.从初始随机振动加速度开始,逐步增大该随机振动的振动加速度,并以每个振动加速度在振动频率范围内进行一段时间的随机振动,在随机振动稳定后,对经过故障陷阱设置的产品进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将该振动加速度作为初始的振动加速度,并返回步骤b32,如果测出被测产品的故障,则将该振动加速度作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为减小步骤b31中设定的初始随机振动加速度。
6、根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的环境可靠性测试为温度和振动复合环境下的可靠性测试,得到被测产品温度和振动复合的破坏界限,该破坏界限包括高温可操作界限和随机振动的破坏界限,则所述步骤b进一步包括:
b41.设定小于高温可操作界限的值为初始的高温测试界限值,设定小于随机振动的破坏界限的值为初始的随机振动加速度,并设定一个初始温度值和随机振动的振动频率范围;
b42.从初始随机振动加速度开始,逐步增大随机振动的振动加速度,对应地,从初始的高温测试界限值开始,逐步增大高温测试界限值,以每个振动加速度在振动频率范围内对经过故障陷阱设置的产品进行随机振动,在随机振动的同时,从初始温度值开始在与该振动加速度对应的高温测试界限值内进行快速温变,到达当前的高温测试界限值,待温度和随机振动之后,进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的随机振动加速度作为初始的随机振动加速度,将当前的高温测试界限值作为初始的高温测试界限值,并返回步骤b42,如果测出被测产品的故障,则将当前的随机振动加速度及高温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为减小步骤b41中初始的高温测试界限值和初始的随机振动加速度。
7、根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的环境可靠性测试为温度和振动复合环境下的可靠性测试,得到被测产品温度和振动复合的破坏界限,该破坏界限包括低温可操作界限和随机振动的破坏界限,则所述步骤b进一步包括:
b41.设定大于低温可操作界限的值为初始的低温测试界限值,设定小于随机振动的破坏界限的值为初始的随机振动加速度,并设置一个初始温度值和随机振动的振动频率范围;
b42.从初始随机振动加速度开始,逐步增大随机振动的振动加速度,对应地,从初始的低温测试界限值开始,逐步减小低温测试界限值,以每个振动加速度在振动频率范围内对经过故障陷阱设置的产品进行随机振动,在随机振动的同时,从初始温度值开始在与该振动加速度对应的低温测试界限值范围内进行快速温变,到达低温测试界限值,待温度和随机振动稳定之后,进行一次或以上的功能可靠性测试,如果被测产品正常,则将当前的随机振动加速度作为初始的随机振动加速度,将当前的低温测试界限值作为初始的低温测试界限值,并返回步骤b42,如果测出被测产品的故障,则将当前的随机振动加速度及低温测试界限值作为可能筛选条件,并进入步骤c;
步骤c中所述的改变初始测试值为增大步骤b41中初始的低温测试界限值,减小初始的随机振动加速度。
8、根据权利要求6或7所述的方法,其特征在于,所述的温度和振动复合环境下的可靠性测试进一步得到被测产品快速温度传导的可操作界限,以该快速温度传导的可操作界限值进行快速温变。
9、根据权利要求1、2、3、5、6或7所述的方法,其特征在于,所述的功能可靠性检测为:对被测产品的数据存储介质进行表面损伤扫描,检查被测产品各电子元器件的功能以及各个接口的性能是否正常;或检测整个被测产品的系统在满负载运行的情况下,各个部件或系统整体运行的稳定性和兼容性;或检测计算机类产品对电网环境的适应能力;或以上三种测试的任意组合。
10、根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述对被测产品的数据存储介质进行表面损伤扫描由配置了磁盘扫描测试包的系统测试软件WinPie3.24实现。
11、根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述满负载运行状态下对稳定性和兼容性的检测通过运行模块化的系统测试软件WinPie3.24和网络测试软件Drive Reaper实现。
12、根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述对电网环境适应能力的检测通过交流电源供应器模拟各种市电波形失真实现。
CNA031049141A 2003-02-28 2003-02-28 一种实现产品快速筛选的方法 Pending CN1524634A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA031049141A CN1524634A (zh) 2003-02-28 2003-02-28 一种实现产品快速筛选的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA031049141A CN1524634A (zh) 2003-02-28 2003-02-28 一种实现产品快速筛选的方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN1524634A true CN1524634A (zh) 2004-09-01

Family

ID=34282446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA031049141A Pending CN1524634A (zh) 2003-02-28 2003-02-28 一种实现产品快速筛选的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN1524634A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100458745C (zh) * 2004-08-31 2009-02-04 深圳市朗科科技股份有限公司 可扩容闪存盘
CN102426089A (zh) * 2011-10-11 2012-04-25 三一重机有限公司 一种实现产品快速应力筛选的方法及装置
CN104075992A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 深圳市海洋王照明工程有限公司 一种lcd的fpc附着力检测方法
CN106199271A (zh) * 2016-07-15 2016-12-07 芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司 一种电子产品重大缺陷快速激发方法
CN106802380A (zh) * 2017-03-08 2017-06-06 株洲中车时代电气股份有限公司 轨道交通电子单板强化试验方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100458745C (zh) * 2004-08-31 2009-02-04 深圳市朗科科技股份有限公司 可扩容闪存盘
CN102426089A (zh) * 2011-10-11 2012-04-25 三一重机有限公司 一种实现产品快速应力筛选的方法及装置
CN102426089B (zh) * 2011-10-11 2014-01-15 三一重机有限公司 一种实现产品快速应力筛选的方法
CN104075992A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 深圳市海洋王照明工程有限公司 一种lcd的fpc附着力检测方法
CN106199271A (zh) * 2016-07-15 2016-12-07 芜湖赛宝信息产业技术研究院有限公司 一种电子产品重大缺陷快速激发方法
CN106802380A (zh) * 2017-03-08 2017-06-06 株洲中车时代电气股份有限公司 轨道交通电子单板强化试验方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106872575B (zh) 一种塑封器件分层缺陷的分级风险评价方法
CN108760203B (zh) 一种模拟智能电表公路运输获取疲劳损伤谱的方法
CN104615517A (zh) 一种利用halt测试服务器产品的方法
CN1524634A (zh) 一种实现产品快速筛选的方法
CN103344398A (zh) 一种变电设备在线监测装置抗振性能试验方法
CN105183595B (zh) 对高速数据存储器进行试验的方法及系统
Schifani et al. A new algorithm for mixed Weibull analysis of partial discharge amplitude distributions
CN104716069A (zh) 晶圆可接受性测试机台内部环境的监测方法和监测装置
CN106445828A (zh) 一种产品测试方法及装置
CN101929899A (zh) 扭力检测系统及方法
CN1525331A (zh) 一种实现温度和振动复合环境下可靠性测试的方法
CN104215414A (zh) 一种灯具振动测试方法
US6947871B2 (en) Yield/quality improvement using calculated failure rate derived from multiple component level parameters
CN113884264B (zh) 一种电动汽车用薄膜电容器的复合振动和冲击试验方法
CN1525149A (zh) 一种实现振动可靠性测试的方法
CN108520762A (zh) 一种振动环境下批量硬盘加速退化试验方法及装置
CN105301403B (zh) 一种定时器老化测试监测装置
CN1525332A (zh) 一种实现温度可靠性测试的方法
CN1438490A (zh) 程序变换系统与夹具设计系统
TW202238147A (zh) 多核並行測試單一待測物的系統及方法
CN202066943U (zh) 用于芯片老化测试的装置
CN1822218A (zh) 用于控制半导体存储器件中的时序偏移的电路和方法
Candela et al. Optimisation of a numerical model for analysis of partial discharge phenomena in a flat cavity
TWI236537B (en) Oscillation detecting method and its equipment
CN106932294A (zh) 计算机主板测试方法和装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication