CN1505028A - 游程长度受限码产生方法、记录/再现装置及方法 - Google Patents

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Abstract

根据本发明一个方面的游程长度受限码记录/再现装置包括：一个产生单元(105)，用于产生具有逐步变高的记录密度的多个不同代码序列；以及记录单元(101、102、103)，用于在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上记录由该产生单元所产生的多个不同代码序列。

Description

游程长度受限码产生方法、记录/再现装置及方法
技术领域
本发明涉及游程长度受限码产生方法，用于产生调节再现电路的代码，该再现电路从一个信息存储介质再现数字数据。本发明还涉及一种游程长度受限码记录/再现装置，其产生用于调节一个再现电路的代码，该再现电路从一个信息存储介质再现数字数据，并且对一个信息存储介质记录/再现该代码。另外，本发明涉及一种游程长度受限码记录/再现方法，用于产生调节从一个信息存储介质再现的数字数据的再现电路的代码，并且在一个信息存储介质上记录/再现该代码。
背景技术
作为可以存储介质数字数据的记录介质，以DVD为代表的光盘是已知的。DVD-RAM(一种DVD)包括信息记录层。当该记录层被适当能量的激光束所照射时，其结晶状态改变。通过利用这样的特性，即，在结晶状态中的改变，数字数据可以被记录在记录层上。当用适当能量的激光照射该记录层时，以获得对应于记录层的结晶状态的反射光量。通过检测该反射光，可以再现记录在记录层上的数字数据。
在最近几年，PRML(部分响应和最大近似度)技术被用于提高记录密度。例如日本专利申请公告9-17130等等公开PRML技术的技术内容。该技术的技术内容将在下文简单描述，以便于理解。
部分响应(PR)是当通过正面地利用符号间干扰时再现数据的一种方法(再现信号之间的干扰对应于在相邻位置记录的数位)。根据在此时产生的符号间干扰，PR可以被进一步分类为多个不同的类。例如，在种类1的情况中，所记录数据“1”被再现为2位再现数据“11”，并且对后续的1个数位产生符号间干扰。维特比解码方法(ML)是一种所谓的最大值近似度序列估计方法，并且通过有效地使用一个再现电路波形的符号间干扰规则，根据信号幅度的信息多次再现数据。对于该处理，与从一个记录介质获得的再现波形同步的同步时钟被产生，并且该再现波形本身使用要被转换为幅度信息的时钟来采样。在此之后，该幅度信息受到适当的波形均衡，以转换为预定的PR响应波形，并且维特比解码器使用旧的和当前的采样数据输出最大近似数据序列作为再现数据。上述PR方法和维特比解码方法(最大近似度解码)的组合被称为PRML方法。为了把PRML技术投入使用，需要获得再现信号作为一个目标PR类的响应的高精度自适应均衡技术以及支持前一种技术的高精度时钟再现技术。
下面将说明在PRML技术中所使用的游程长度受限码。PRML再现电路从一个记录介质再现的信号本身产生与该信号相同步地时钟。为了产生稳定的时钟，所记录信号的极性在预定时间周期内被翻转。与此同时，必须防止该记录信号的极性在预定时间周期中翻转，以减小所记录信号的最大频率。所记录信号的极性不翻转的最大数据长度被称为最大游程长度，并且极性不翻转的最小数据长度被称为最小游程长度。具有8位最大游程长度和2位最小游程长度的调制规则被称为(1，7)RLL，并且具有8位最大游程长度和3位最小游程长度的调制规则被称为(2，7)RLL。也就说，相同代码的最小化游程长度为(d+1)并且相同代码的最大游程长度为(k+1)的游程长度受限码序列被称为(d，k)游程长度受限码序列。作为一种典型的用于光盘中的调制/解调方法，已知有(1，7)RLL加EFM的方法(US 5,696,505)。
通常，在一个光盘上记录数据之后，数据被记录/再现于一个专用记录校正区域，以调节记录激光功率和记录脉冲形状。即使当一同进行数据再现时，与数据记录相同，测试数据被暂时记录在一个专用区域，以确定在此时可与记录介质相匹配的再现电路的均衡特性，并且通过自适应地学习并且再现所记录信号，获得最佳的均衡特性。
作为在这种情况中所用的测试数据(测试写入)模式，在日本专利申请公告2002-15479中公开的一种技术是已知的。利用该测试模式，2T、2T、4T的游程，即，[...0011000011001111...]模式的游程被记录在测试数据区域。通过再现该信号，记录功率被调节，并且同时调节用于维特比解码的比较电平。按照这种方式，记录功率和维特比解码器可以被适当地调节。
在根据(1，7)RLL进行调制之后，所记录标记长度落在2T至8T的范围内。但是，由于在上述日本专利公告2002-15479从公开的测试数据模式使用2T、2T、4T的测试模式，具有短记录标志长度(许多高频成分)的模式比率较高。在一个再现信号中所包含的高频成分随着记录密度的提高而被相当大地衰减。因此，当波形均衡器的自适应学习不足时，难以获得稳定、高精度的再现时钟。相应地，由于时钟不稳定，因此自适应学习不能够良好工作。如果最佳波形均衡条件已知，则不存在问题。但是，在交换记录介质的光盘中，必须从非最佳均衡条件开始自适应学习。
发明内容
本发明的一个实施例可以提供一种游程长度受限码产生方法，其可以产生适用于获得最佳均衡性能的游程长度受限码。本发明的另一个目的是提供一种游程长度受限码记录/再现装置和游程长度受限码记录/再现方法，其产生和记录适用于获得最佳均衡特性的游程长度受限码。
根据本发明的游程长度受限码产生方法包括：产生多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度，作为要被记录在一个信息存储介质的测试数据区域上的多个连续子区中的多个不同代码序列。
根据本发明一个实施例的游程长度受限码记录/再现装置包括：产生单元，用于产生具有逐步变高的记录密度的多个不同代码序列；以及记录单元，用于在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上记录由该产生单元所产生的多个不同代码序列。
根据本发明一个实施例的游程长度受限码记录/再现方法，包括：产生多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度；以及把多个所产生的不同代码序列记录在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上。
本发明的其他实施例和优点将在下文的描述中给出，并且从该描述中部分地变为显而易见，或者可以通过对本发明的实践而获得。本发明的实施例和优点可以通过在下文特别指出的装置和组合来实现和获得。
附图说明
被包含并且构成说明书的一部分的附图说明本发明的优选实施例，并且与在上文给出的一般描述和下文给出的对优选实施例的详细描述一同用于说明本发明的原理。
图1为示出在一个信息存储介质上的测试数据扇区的格式和测试模式的第一例子的示意图；
图2为示出根据本发明一个实施例的记录/再现装置的结构的示意方框图；
图3为示出自适应均衡器和自适应学习电路的结构的示意方框图；
图4为示出通过(1，7)RLL规则调制随机数据而获得的各个游程长度的调制数据的出现频率的曲线图；
图5为示出在一个信息存储介质上的测试数据扇区的格式和一种测试模式的第二例子的示意图；
图6为示出当使用与图1或5所示不同的一个任意测试模式进行自适应均衡时该自适应均衡器的各个系数的学习处理的曲线图；
图7为示出当使用图1或5中所示的测试模式进行自适应均衡时该自适应均衡器的各个系数的学习处理的曲线图；
图8为示出图1中所示的测试模式的记录处理的流程图；
图9为示出图5中所示的测试模式的记录处理的流程图；以及
图10为根据通过图8或9中所示的记录处理所记录的测试模式的再现结果，用于调节一个再现电路的调节处理的流程图。
具体实施方式
下面参照附图描述本发明的实施例。
图1示出在一个信息存储介质上的测试数据扇区的示意格式。图1表示通过改变游程长度限制而产生的测试模式。也就是说，图1示出根据逐步减小相同代码的最小游程长度的多个不同的游程长度限制所产生的多个不同代码序列。换句话说，图1示出多个不同代码序列，其记录密度逐渐增加。该测试数据扇区记录由根据本发明一个实施例的游程长度受限码产生方法、游程长度受限码记录/再现装置以及游程长度受限码记录/再现方法所产生的游程长度受限码。
信息存储介质，即光盘100，是可以被记录/再现数字数据的介质。该光盘100具有同心或螺旋记录道，并且数据沿着该记录道被记录/再现，一部分可记录区域被预先假定为一个测试数据区域100a。在该记录道上，使用被称为扇区的被记录数据单位记录/再现数据。图1示出一个测试数据扇区结构，并且每个扇区包括VFO区域、PS区域、测试数据区域和PA区域。多个这种测试数据扇区被记录在该测试数据区域100a上。并且，根据(1，7)RLL对一个普通数据记录区域进行记录/再现。
在图1中的测试数据扇区的细节将在下文中描述。VFO区域被用于调节一个数据再现电路的PLL块的相位。该区域存储单一频率的记录模式，例如3T、3T的游程，即数据模式‘...000111000111...’。该PS区域存储表示VFO区域结束的信号，即不存在于下一个测试数据区域中的数据模式，例如数据模式‘0111 1001 1110 0000 1110 0000 1111 00011000’。
该测试数据区域被用于该再现电路的自适应学习，并且调节一个记录控制表。该测试数据区域包括多个子区。该测试数据区域的第一子区记录游程长度限制为(5，7)RLL的N1位随机模式。该测试数据区域的第二子区记录游程长度限制为(4，7)RLL的N2位随机模式。该测试数据区域的第三子区记录游程长度限制为(3，7)RLL的N3位随机模式。该测试数据区域的第四子区记录游程长度限制为(2，7)RLL的N4位随机模式。该测试数据区域的第五子区记录游程长度限制为(1，7)RLL的N5位随机模式。PA区域存储表示测试数据区域结束的数据。该PA区域必须根据需要而改变，以满足在具有在前的测试数据区域的最后数据的连接部分处的游程长度限制。图1中所示的测试模式被记录在光盘100的测试数据区域100a的测试数据区域之上，并且被从该测试数据区域100a再现。根据该再现结果，调节该再现电路的波形均衡特性。
该PA区域存储表示测试数据区域结束的数据，例如，数据模式‘011100110000’。该PA区域必须根据需要而改变，以满足在具有在前的测试数据区域中的最后数据的连接部分处的游程长度限制。
图5示出在与图1中相同的一个信息存储介质上的测试数据扇区的示意格式。图5表示通过改变最小游程长度模式的出现频率而产生的一个测试模式。也就是说，图5示出多个不同代码序列，其最小游程长度模式的出现频率逐步增加。换句话说，图5示出多个不同的代码序列，其记录密度逐步增加。图5中所示的试模式将在下文中详细描述。
图2为示出根据本发明一个实施例的记录/再现装置的结构的示意方框图。如图2中所示，该记录/再现装置(游程长度受限码记录/再现装置)包括一个光读取头101、记录补偿表102、记录补偿控制器103、选择器开关104、测试模式产生器105、(1，7)RLL调制器106、低通滤波器107、A/D转换器108、自适应均衡器109、维特比解码器110、解调器111、自适应学习电路112、PLL电路113等等。
(1，7)RLL调制器106调制记录数据，以满足(1，7)RLL游程长度限制。该测试模式产生器105产生一个测试模式。该测试模式产生器105以用于产生要被记录在图1或5中所示的测试数据扇区上的测试模式的格式预先存储数据，并且在该测试模式产生之后产生这种测试模式。当测试模式要被记录时该选择器开关104连接到测试模式产生器105，并且当普通数据要被记录时，连接到调制器106。
记录补偿控制器103参照记录补偿表102，响应由测试模式产生器105或调制器106所产生的各个记录数据的游程长度，以适当的时序产生记录脉冲。在记录一个测试模式之后，由于该记录补偿表102的数值还没有被调节，则根据一个标准值产生记录脉冲。由记录补偿控制器103所产生的记录脉冲被光读取头101转换为光信号，并且光盘100被这些光信号所照射，在光盘100上，一个记录层的结晶状态根据所照射的光线的强度而改变。一系列数据记录模式中的操作已经被说明。
下面将说明在数据再现模式中的操作。该光读取头101发出适当强度的激光束，其照射在该光盘100上。响应该激光束，具有对应于被记录在该光盘100上的所记录数据的强度的光线被反射，并且由输出对应于被反射光的量的电信号的光读取头101所检测。该电信号在该低通滤波器107中受到适当的频带限制。来自该低通滤波器107的输出信号被A/D转换器108转换为数字信号。来自A/D转换器108的输出信号在自适应均衡器109中受到波形均衡，以获得对应于一个目标PR类的响应波形。在此时的均衡特性由自适应学习电路112所调节。维特比解码器110检查来自自适应均衡器109的输出是否为数据‘1’或‘0’，并且获得二进制数据。所获得的二进制数据受到与在解调器111中的(1，7)RLL调制相反的处理(解调)，因此获得所记录数据。与这些操作同时，PLL电路113根据来自自适应均衡器109的输出控制采样时钟，以在A/D转换器108中设置适当的采样时序。
在自适应均衡器109和自适应学习电路112中的自适应学习将在下文中使用图3来描述。图3为示出自适应均衡器109和自适应学习电路112的具体细节的方框图。如图3中所示，自适应均衡器109包括延迟电路201和202、乘法器203、204、205、206、207和208。该自适应学习电路112包括计数更新电路212、213和214、一个延迟电路215、波形合成器216和加法器217。
每个延迟电路201和202把一个输入信号延迟一个时钟，并且输出该延迟信号。每个乘法器203、204和205输出两个输入数值的乘积。每个加法器206、207和208输出两个输入数值之和。图3示出使用三个乘法器的一个3抽头数字滤波器，但是本发明不限于这种特定的滤波器。即使当乘法器的数目改变时，该基本操作保持不变。在本实施例中，仅仅说明该3抽头滤波器。
假设x(k)是在时间k到达自适应均衡器109的输入信号，并且c1、c2和c3是到该乘法器203、204和205的乘法器输入。然后，该自适应均衡器109的输出Y(k)由下式表达：
Y(k)＝x(k)*c1+x(k-1)*c2+x(k-2)*c3    (1)
假设A(k)为接收Y(k)的维特比解码器110所获得的二进制数据。如果，目标PR类例如是RP(1221)，并且A(k)是纠正再现数据，则在时间k的自适应均衡器的自适应原始输出Z(k)由下式给出：
Z(k)＝A(k)+2*A(k-1)+2*A(k-2)+A(k-3)    (2)
在此，在时间k的均衡误差E(k)被定义为：
E(k)＝Y(k)-Z(k)         (3)
自适应学习通过下式更新该乘法器的系数：
c1(k+1)＝c1(k)-α*x(k)*E(k)    (4)
c2(k+1)＝c2(k)-α*x(k)*E(k)    (5)
c3(k+1)＝c3(k)-α*x(k)*E(k)    (6)
请注意在方程(4)中，α是一个更新系数，并且设置一个正的小数值(例如，0.01)。
该波形合成器216执行上述方程(2)所给出的处理。延迟电路215把加法器208的输出Y(k)延迟对应于在维特比解码器110中的处理时间的一个时间，并且加法器217执行上述方程(3)所给出的处理。该系数更新电路212计算方程(4)，以更新乘法器203的系数。该更新结果被存储在一个寄存器209中。该系数更新电路213计算方程(5)，以更新乘法器204的系数。更新结果被存储在寄存器210中。该系数更新电路204计算方程(6)，以更新乘法器205的系数。该更新结果被存储在一个寄存器211中。按照这种方式，执行自适应均衡器109的自适应学习。
如上文所述，图1或5中所示的测试模式被记录在该测试数据区域中，然后被再现，以进行自适应学习，从而调节该波形均衡电路。
为了保证适当的自适应学习，该维特比解码器110的输出结果必须被纠正。为此目的，在A/D转换器108中的采样时序和自适应均衡器109的均衡特性必须被大体上纠正。但是，当自适应均衡器109的自适应学习不足时，在来自维特比解码器110的输出中产生一些确定误差。在维特比解码器110中的确定误差的其特征在于当该模式具有较大标记长度(大游程长度)时，该误差速率较低，并且当该模式具有小标记长度(小游程长度)时，该模式较高。因此，希望在自适应学习到达一定水平之前，使用具有较大游程长度的数据模式进行自适应学习。
根据本发明，在图1中所示的测试模式之间的关系，以及图2中所示的数据再现电路的操作将在下文中说明。在图1中所示的测试模式中，该VFO区域存储一个单周期记录模式(3T周期)。在该区域的再现过程中，PLL电路113的振荡频率和采样相位被调节。在完成该调节之后，可以按照接近于正确的频率和时序执行A/D转换。但是，由于该VFO区域存储一个单周期数据模式，因此它通常不进行自适应学习，因为即使在自适应学习之后，也不能够获得特定模式所专用的均衡特性。该测试数据区域的第一子区存储一个模式，其游程长度限制为(57)RLL规则。因此，平均记录的标志长度较大，并且维特比解码器110不容易产生判断错误。因此，自适应均衡器109的系数容易收敛到对具有较大标志长度(较低记录密度)的所记录模式优化的系数。该测试数据区域的第二子区存储一个模式，其游程长度限制为(4，7)RLL规则。因此，该平均记录标志长度略小于该第一子区的长度。但是，由于自适应均衡器109的系数具有已经自适应学习的(5，7)RLL模式，因此维特比解码器110不容易产生判断错误。因此，自适应均衡器109的系数容易收敛到对(4，7)RLL记录模式优化的数值。类似地，通过自适应学习包含逐步变小的记录标志的数据模式，自适应均衡器109逐步进行学习。最后，由于该自适应均衡器109自适应学习(1，7)RLL数据模式作为在实际数据记录模式中的调制方，则可以获得最终的均衡特性。在正常数据再现模式中，使用图1中所示的测试模式的自适应学习结果进行波形均衡。
即使当应当存储(5，7)RLL规则模式的第一子区存储一些具有不大于5的游程长度的测试模式(例如，游程长度＝2)，可以获得等价效果。这是因为不影响自适应学习的游程长度违背模式是允许的，由于图3中所示的自适应均衡电路的自适应均衡逐步减慢，也就是说，可以使用图1中所示的游程长度限制测试模式获得近似的等价效果。
下文将描述通过改变最小游程长度模式的出现频率而产生一个测试模式。图4示出当根据(1，7)RLL规则调制时用于各个游程长度的调制数据的出现频率。如图4中所示，在实际记录数据之后，最小游程长度＝2的出现频率最高，并且该出现频率随着游程长度的增加而降低。本发明的特征是通过进行自适应学习以一个目标密度实现对均衡特征的容易调节，并且从具有较大游程长度的测试模式逐步减小该游程长度，其允许容易地自适应均衡。因此，图5中所示的测试模式可以获得一个均衡效果。
参见图5，一个光盘100是可以记录/再现数字数据的媒体。该光盘100具有同心或螺旋的记录道，并且数据被沿着该记录道而记录/再现。一部分可记录区域被预先假定为一个测试数据区域100a。在该记录道上，使用被称为扇区的所记录数据单元对数据进行记录/再现。与在第一实施例相同，每个扇区包括VFO区域、PS区域、测试数据区域和PA区域。多个这种测试数据扇区被记录在测试数据区域100a中。并且根据(1，7)RLL规则进行记录/再现。
测试数据扇区的具体细节将在下文说明。VFO区域被用于调节数据再现电路的频率和PLL块的相位。该区域存储单个频率的记录模式，例如，3T、3T的游程，即数据模式‘...000111000111...’。该PS区域存储表示VFO结束的信号，即，不存在于下一个测试数据区域中的数据模式，例如数据模式‘0111 1001 1110 0000 1110 0000 1111 0001 1000’。
该测试数据区域被用于再现电路的自适应学习，和记录控制表的调节。该测试数据区域包括多个子区。测试数据区域的第一子区存储一个测试模式，其中具有游程长度＝2的模式的出现频率为P1(2)，具有游程长度＝3的模式的出现频率为P1(3)，并且具有游程长度＝m的模式的出现频率为P1(m)。测试数据区域的第二子区存储测试模式，其中具有游程长度＝2的模式的出现频率为P2(2)，具有游程长度＝3的模式的出现频率为P2(3)，具有游程长度＝m的模式的出现频率为P2(m)。类似地，测试数据区域被分为五个子区，并且在这些子区中的各个游程长度的模式的出现频率为Pn(m)。请注意至少对这些子区中的各个游程长度的图案出现频率保持：
P1(2)≤P2(2)≤P3(2)≤P4(2)≤P5(2)以及P1(2)＜P5(2)  ...(7)
P1(3)≤P2(3)≤P3(3)≤P4(3)≤P5(3)以及P1(3)＜P5(3)  ...(8)
P1(4)≤P2(4)≤P3(4)≤P4(4)≤P5(4)以及P1(4)＜P5(4)  ...(9)
P1(5)≤P2(5)≤P3(5)≤P4(5)≤p5(5)以及P1(5)＜PS(S)  ...(10)
之一的关系。
按照这种方式，具有最小游程长度的模式的出现频率在用于进行自适应学习的第一子区中较低，并且具有小的游程长度的这种模式的比率随着自适应学习的进行而增加。使用这样一个测试模式，可以获得与图1中所示的测试模式相同的效果。当图5中所示的测试模式被按照与图1中所示的测试模式相同的方式记录和再现时，可以容易地调节该再现电路的波形均衡特性。
图6示出当使用不同于本发明的任意测试模式进行自适应均衡时，该自适应均衡器的各个系数的学习过程。该任意测试模式是2T、2T、4T的游程模式。也就是说，使用[...0011000011001111...]模式。图6的横坐标示出经过的时间，并且纵坐标示出该系数的数值。从图6可以看出，自适应均衡在时间20开始，但是该均衡特性不收敛到正常特性。
图7示出当使用图1中所示的测试模式进行自适应均衡电路时的学习过程。图7的横坐标示出经过的时间，并且纵坐标示出该系数的数值。从图7可以看出，自适应均衡在时间20开始，然后顺利地进行学习，以获得目标均衡特性。
下面将参照图8至10中所示的流程图总结测试模式记录处理和再现调节处理的概况。图8为示出图1中所示的测试模式的记录处理的流程图。图9为示出图5中所示的测试模式的记录处理的流程图。图10为示出用于根据图8或9中所示的记录处理所记录的测试模式再现结果用于调节该再现电路的调节处理的流程图。通过图2中所示的记录/再现装置执行测试模式记录处理。并且，通过图2中所示的记录/再现装置执行该再现电路调节处理。
首先参照图8描述图1中所示的测试模式的记录处理。如图8中所示，第一至第L个子区被设置在该测试数据区域100a中(ST11)，并且设置n＝1(ST12)。该测试模式产生器105产生一个(d1，k1)游程长度受限码序列(ST13)。该光读取头101在该测试数据区域100a的第一子区上记录(d1，k1)游程长度受限码序列(ST14)。该(d1，k1)游程长度受限码序列例如是(5，7)游程长度受限码序列。在此时，由于n＝1(即，n≠L(ST15否))，因此数值n被增加(ST16)。
也就是说，n＝2被设置，并且测试模式产生器105产生(d2，k2)游程长度受限码序列(ST13)。该光读取头101在测试数据区域100a中的第二子区上记录(d2，k2)游程长度受限码序列(ST14)。该(d2，k2)游程长度受限码序列例如是(4，7)游程长度受限码序列。在此时，由于n＝2(即，n≠L(ST15，否))，数值n被增加(ST16)。
也就是说，n＝3被设置，并且测试模式产生器105产生(d3，k3)游程长度受限码序列(ST13)。该光读取头101在测试数据区域100a中的第三子区上记录(d3，k3)游程长度受限码序列(ST14)。该(d3，k3)游程长度受限码序列例如是(3，7)游程长度受限码序列。在此时，由于n＝3(即，n≠L(ST15，否))，数值n被增加(ST16)。
也就是说，n＝4被设置，并且测试模式产生器105产生(d4，k4)游程长度受限码序列(ST13)。该光读取头101在测试数据区域100a中的第四子区上记录(d4，k4)游程长度受限码序列(ST14)。该(d4，k4)游程长度受限码序列例如是(2，7)游程长度受限码序列。在此时，由于n＝4(即，n≠L(ST15，否))，数值n被增加(ST16)。
也就是说，n＝5被设置，并且测试模式产生器105产生(d5，k5)游程长度受限码序列(ST13)。该光读取头101在测试数据区域100a中的第五子区上记录(d5，k5)游程长度受限码序列(ST14)。该(d5，k5)游程长度受限码序列例如是(1，7)游程长度受限码序列。在此时，n＝5。如果L＝5，由于在此时n＝L(ST15，是)，该测试图案记录处理结束。
利用上述测试图案记录处理，图1中所示的测试图案被记录。
接着，首先参照图9描述图5中所示的测试图案的记录处理。如图9中所示，第一至第L子区被设置在测试数据区域100a(ST21)，并且n＝1被设置(ST22)。该测试模式产生器105产生包括具有出现频率P1的最小游程长度模式的游程长度受限码序列(ST23)。该光读取头101在该测试数据区域100a中的第一子区上记录具有出现频率P1的包括最小游程长度模式游程长度受限码序列(ST24)。在此时，由于n＝1(即，n≠L(ST25，否))，该数值n被增加(ST26)。
也就是说，n＝2被设置，该测试模式产生器105产生包括具有出现频率P2的最小游程长度模式的游程长度受限码序列(ST23)。该光读取头101在该测试数据区域100a中的第二子区上记录具有出现频率P2的包括最小游程长度模式游程长度受限码序列(ST24)。在此时，由于n＝2(即，n≠L(ST25，否))，该数值n被增加(ST26)。
也就是说，n＝3被设置，该测试模式产生器105产生包括具有出现频率P3的最小游程长度模式的游程长度受限码序列(ST23)。该光读取头101在该测试数据区域100a中的第三子区上记录具有出现频率P3的包括最小游程长度模式游程长度受限码序列(ST24)。在此时，由于n＝3(即，n≠L(ST25，否))，该数值n被增加(ST26)。
也就是说，n＝4被设置，该测试模式产生器105产生包括具有出现频率P4的最小游程长度模式的游程长度受限码序列(ST23)。该光读取头101在该测试数据区域100a中的第四子区上记录具有出现频率P4的包括最小游程长度模式游程长度受限码序列(ST24)。在此时，由于n＝4(即，n≠L(ST25，否))，该数值n被增加(ST26)。
也就是说，n＝5被设置，并且该测试模式产生器105产生包括具有出现频率P5的最小游程长度模式的游程长度受限码序列(ST23)。该光读取头101在该测试数据区域100a中的第五子区上记录具有出现频率P5的包括最小游程长度模式游程长度受限码序列(ST24)。在此时，由于n＝5(即，n＝L(ST25，是))，该测试图案记录处理结束。
利用上述测试图案记录处理，图5中所示的测试图案被记录。
下面将参照图10说明用于根据由图8或9所记录的测试图案的再现结果调节该再现电路的调节处理。如图10中所示，第一至第L子区被设置在测试数据区域100a(ST31)，并且n＝1被设置(ST32)。该光读取头101再现第一子区(ST33)。也就是说，通过图8中所示的记录处理所记录的(5，7)游程长度受限码序列被再现。或者包括由图9中所示的记录处理所记录的具有出现频率P1的最小游程长度模式的游程长度受限码序列被再现。在此时，由于n＝1(即，n≠L(ST34，否))，该数值n被增加(ST35)。
也就是说，n＝2被设置，并且该光拾取头101再现该第二子区(ST33)。也就是说，由图8中所示的记录处理所记录的(4，7)游程长度受限码序列被再现。或者包括具有由图9中所示的记录处理所记录的出现频率P2的最小游程长度模式的游程长度受限码序列被再现。在此时，由于n＝2(即，n≠L(ST34，否))，数值n被增加(ST35)。
也就是说，n＝3被设置，并且该光拾取头101再现该第三子区(ST33)。也就是说，由图8中所示的记录处理所记录的(3，7)游程长度受限码序列被再现。或者包括具有由图9中所示的记录处理所记录的出现频率P3的最小游程长度模式的游程长度受限码序列被再现。在此时，由于n＝3(即，n≠L(ST34，否))，数值n被增加(ST35)。
也就是说，n＝4被设置，并且该光拾取头101再现该第二子区(ST33)。也就是说，由图8中所示的记录处理所记录的(2，7)游程长度受限码序列被再现。或者包括具有由图9中所示的记录处理所记录的出现频率P4的最小游程长度模式的游程长度受限码序列被再现。在此时，由于n＝4(即，n≠L(ST34，否))，数值n被增加(ST35)。
也就是说，n＝5被设置，并且该光拾取头101再现该第二子区(ST33)。也就是说，由图8中所示的记录处理所记录的(1，7)游程长度受限码序列被再现。或者包括具有由图9中所示的记录处理所记录的出现频率P5的最小游程长度模式的游程长度受限码序列被再现。在此时，n＝5。如果L＝5，由于在此时n＝L(ST34，是)，测试模式再现处理结束。
从而，根据该再现结果调节再现性能(ST35)。也就是说，自适应学习电路112调节自适应均衡器109的均衡特性。
如上文所述，由于根据本发明的测试数据记录模式被记录在一个预定测试数据区域上，并且在再现该所记录数据时，执行测试数据区域，因此即使在高密度记录模式中，也可以获得稳定的记录控制数据调节和再现电路调节。该技术不但可以被类似地用于采用记录膜的相变的光盘中，而且还用于磁光盘装置或磁盘装置中。并且，即使在记录波形的调节中，由于记录区域被定义为与游程长度相对应，因此本发明的测试模式能够容易地调节。
本发明的效果将在下文中描述。根据本发明，即使当不获得不获得最佳均衡特性时，可以高精度地再现时钟，并且通过使用这些时钟进行自适应学习，获得最佳均衡特性。为此目的，该测试数据区域被分为多个M连续子区。该被分割的第一子区记录一个(d1，k1)游程长度受限码的测试模式。该被分割的第二子区记录(d2，k2)游程长度受限码的测试模式。类似地，该第L个(最后)子区记录(dL，kL)游程长度受限码的测试模式。对d1、d2、...、dL保持d1＞d2＞...＞dL的关系。另外，被记录在最后子区上的该(dL，kL)游程长度受限码的测试模式与用于实际记录/再现的游程长度受限码相同。
图1或5中所示的游程长度受限码被在该测试数据区域上记录/再现，并且使用该再现信号进行该数据再现电路的自适应学习。因此，可以无发散地进行自适应学习。
本领域的普通技术人员容易做出其他优点和变型。因此，本发明在广义上不限于该具体细节，并且代表实施例被示出和在此描述。相应地，可以做出各种变型而不脱离由所附权利要求以及其等价表述所定义的精神和范围。

Claims (14)

1.一种游程长度受限码产生方法，其特征在于包括：
产生(ST13，ST23)多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度，作为要被记录在一个信息存储介质的测试数据区域上的多个连续子区中的多个不同代码序列。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括：
根据逐步减小相同代码的最小游程长度的多个不同游程长度限制产生(ST13)多个不同游程长度代码序列。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括：
该游程长度受限码产生方法是产生(d，k)游程长度受限码序列的一种方法，该序列满足相同代码的最小游程长度为(d+1)并且相同代码的最大游程长度为(k+1)的条件，以及
该方法进一步包括：
在d1＞d2＞...＞dL的条件下，
产生一个要被记录在该信息存储介质的第一子区上的(d1，k1)游程长度受限码序列；
产生要被记录在该信息存储介质的第二子区上的(d2，k2)游程长度受限码序列；以及
产生要被记录在该信息存储介质的第L子区上的(dL，kL)游程长度受限码序列。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于进一步包括：
在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的条件下，
产生(ST23)包括具有出现频率P1的最小游程长度模式的游程长度受限码序列、包括具有出现频率P2的最小游程长度模式的游程长度受限码序列、包括具有出现频率PL的最小游程长度模式的游程长度受限码序列。
5.一种游程长度受限码记录/再现装置，用于产生、记录和再现游程长度受限码序列，其特征在于包括：
产生单元(105)，用于产生具有逐步变高的记录密度的多个不同代码序列；以及
记录单元(101、102、103)，用于在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上记录由该产生单元所产生的多个不同代码序列。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于该产生单元根据逐步减小相同代码的最小游程长度的多个不同游程长度限制产生多个不同游程长度代码序列。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于该游程长度受限码产生单元是用于产生、记录和再现(d，k)游程长度受限码序列的一种装置，该序列满足相同代码的最小游程长度为(d+1)并且相同代码的最大游程长度为(k+1)的条件，以及
在d1＞d2＞...＞dL的条件下，
该产生单元产生(d1，k1)游程长度受限码序列、(d2，k2)游程长度受限码序列、以及(dL，kL)游程长度受限码序列，以及
该记录单元把(d1，k1)游程长度受限码序列记录在该信息存储介质的第一子区上，把(d2，k2)游程长度受限码序列记录在该信息存储介质的第二子区上，以及把(dL，kL)游程长度受限码序列记录在该信息存储介质的第L子区上。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于：
在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的条件下，
该产生单元产生包括具有出现频率P1的最小游程长度模式的第一游程长度受限码序列、包括具有出现频率P2的最小游程长度模式的第二游程长度受限码序列、包括具有出现频率PL的最小游程长度模式的第三游程长度受限码序列，以及
该记录单元把该第一、第二和第三游程长度受限码序列依次记录在一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上。
9.根据权利要求5所述的装置，其特征在于进一步包括：
再现单元(101，107，108)，用于依次再现多个子区；以及
调节单元(109，110，112)，用于根据多个子区的再现结果调节该再现单元的再现性能。
10.一种游程长度受限码记录/再现方法，用于产生、记录和再现游程长度受限码序列，其特征在于包括：
产生(ST13，ST23)多个不同代码序列，其具有逐步变高的记录密度；以及
把多个所产生的不同代码序列记录在(ST14，ST24)一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于进一步包括：
根据逐步减小相同代码的最小游程长度的多个不同游程长度限制产生(ST13)多个不同游程长度代码序列。
12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于该游程长度受限码产生方法是用于产生、记录和再现(d，k)游程长度受限码序列的一种方法，该序列满足相同代码的最小游程长度为(d+1)并且相同代码的最大游程长度为(k+1)的条件，以及
该方法进一步包括：
在d1＞d2＞...＞dL的条件下，
产生(ST13)一个(d1，k1)游程长度受限码序列、(d2，k2)游程长度受限码序列、以及(dL，kL)游程长度受限码序列，以及
把(d1，k1)游程长度受限码序列记录在该信息存储介质的第一子区上，把(d2，k2)游程长度受限码序列记录在该信息存储介质的第二子区上，以及把(dL，kL)游程长度受限码序列记录在该信息存储介质的第L子区上。
13.根据权利要求10所述的方法，其特征在于进一步包括：
在P1≤P2≤...≤PL和P1＜PL的条件下，
产生(ST23)包括具有出现频率P1的最小游程长度模式的游程长度受限码序列、包括具有出现频率P2的最小游程长度模式的游程长度受限码序列、包括具有出现频率PL的最小游程长度模式的游程长度受限码序列，以及
把该第一、第二和第三游程长度受限码序列依次记录在(ST24)一个信息存储介质的测试数据区域中的多个连续子区上。
14.根据权利要求10所述的方法，其特征在于进一步包括：
再现(ST33)多个子区；以及
根据多个子区的再现结果调节(ST36)再现性能。
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