CN1351858A - 一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法 - Google Patents

一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法 Download PDF

Info

Publication number
CN1351858A
CN1351858A CN01135280A CN01135280A CN1351858A CN 1351858 A CN1351858 A CN 1351858A CN 01135280 A CN01135280 A CN 01135280A CN 01135280 A CN01135280 A CN 01135280A CN 1351858 A CN1351858 A CN 1351858A
Authority
CN
China
Prior art keywords
vestige
radiation source
smooth object
manifests
planar
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN01135280A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1177254C (zh
Inventor
魏晨光
张涛
许小京
俞涛
宋炳干
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MATERIAL EVIDENCE IDENTIFICATION CENTRE SHANDONG PROV PUBLIC SECURITY DEPARTME
Original Assignee
MATERIAL EVIDENCE IDENTIFICATION CENTRE SHANDONG PROV PUBLIC SECURITY DEPARTME
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MATERIAL EVIDENCE IDENTIFICATION CENTRE SHANDONG PROV PUBLIC SECURITY DEPARTME filed Critical MATERIAL EVIDENCE IDENTIFICATION CENTRE SHANDONG PROV PUBLIC SECURITY DEPARTME
Priority to CNB011352809A priority Critical patent/CN1177254C/zh
Publication of CN1351858A publication Critical patent/CN1351858A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN1177254C publication Critical patent/CN1177254C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Image Processing (AREA)
  • Professional, Industrial, Or Sporting Protective Garments (AREA)

Abstract

本发明属于刑事技术领域。发明的主要内容就是运用定向反射原理,采用游动光源来显现非平面光滑客体上大面积痕迹。它解决了现有技术不能显现非平向光滑客体上痕迹的难题。本发明具有结构简单,操作方便,痕迹提取率、利用率高等优点。

Description

一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法
(一)技术领域
本发明涉及一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法，属于刑侦技术领域。
(二)背景技术
在刑事案件的现场勘查中，经常遇到光滑客体表面疑难指印痕迹的拍照提取问题。由于此类客体表面上的疑难痕迹在一般漫射光照条件下，反差非常微弱，甚至很难观察到，而常用的方法是使用以定向反射原理设计的定向反射镜、同轴光摄影仪、近轴光摄影仪等仪器，它们解决的对象都是平面光滑客体。由于这些仪器使用的光源只有一个，每次拍照的光照方向是固定不变的，且光照面积的变化范围小。因此，它们所能解决的问题是有前提的，那就是痕迹所处的位置必须是平面光滑的，且痕迹面积不大。由于实际客体是千差万别不可能都是平面的，导致在实际工作中常常达不到理论上的效果，使许多可以显现的潜在指印纹细节丢失，或部分痕迹无法提取。也就是说，使用目前的仪器或方法只能解决部分平面光滑客体上的提取问题，而对于非平面光滑客体表面上面积较大的疑难指印痕迹，则没有好的解决办法。目前，对于非平面光滑客体表面上面积较大疑难指印痕迹显现的方法基本上有两类：一是对于可以用粉末显现的客体，进行刷显，但这有损检验，一旦失败将造成无法挽回的损失。二是对于指印有检验价值的部分进行有选择的拍照，或者对痕迹进行分片拍照，然后拼接。以上做法破坏了痕迹物证检验程序的完整性，对刑事诉讼是非常不利的。
(三)发明内容
我们知道，利用定向反射原理显现痕迹，是在与照明光线入射角相等的反射角方向上接收记录被检验物质的反射光亮度分布的，是利用光滑客体表面与非定向反射物质之间对光线反射形成的亮度反差，来达到提取弱反差痕迹的目的。根据这一原理，对于非平面光滑客体上面积较大的痕迹，只要有足够多的垂直光形成多个光斑或光源产生的光斑面积足够大，可包含整个痕迹，是可以进行无损显现提取的。
为了解决现有技术和方法存在的无法显现非平面光滑客体表面上面积较大痕迹的难题，本发明提出了一种显现非平面光滑客体上大面积痕迹的方法。
本发明是由如下技术方案实现的：
1.在暗室内固定好相机及客体，将照射光源通过可伸缩悬挂壁，固定在导轨上；
2.然后调整照射光源的位置，距客体40～70cm，保证入射光以入射角度θ1照射
  到客体上，反射光以反射角θ2反射到相机内；
3.通过伸缩挂壁移动照射光源，用照射光源产生的光斑对整个痕迹进行“扫描”，
  同时在取景器中观察痕迹的位置、反差及面积，使痕迹全部清晰地成像在取景
  器内；
4.调好光圈，装上带有胶片的暗盒，将相机快门调到T门，关闭暗室内灯光，开
  启快门，同时打开照射光源，并通过可伸缩的挂壁移动照射光源，用照射光源
  产生的光斑对整个痕迹进行“扫描”，“扫描”要做到均匀，曝光时间控制在30
  秒～5分钟内，痕迹面积较大时，可在痕迹两端加比例尺，以便痕迹变形时输
  入计算机进行修正。
5.曝光完毕后，冲洗底片，得到痕迹照片。
为了利用游动定向反射方法显现非平面光滑客体上的痕迹，照射光源要采用痕迹显现专用灯，即在现有抛物面灯罩口上，接上一个圆筒，圆筒一端套丝，各种滤波片可通过套丝接在圆筒上，圆筒侧面上开有圆孔，圆筒内侧有一圆环，上面也开有圆孔，二者的圆孔位置相互错开，灯座侧面上装有把手和连接杆。工作时，通过连接杆将光源与可伸缩的挂壁相接，用手握住把手，移动光源，使光源产生的光斑可对整个痕迹进行扫描。
为了方便移动照射光源，可将导轨固定在暗室内的天花板上或其他支架上。
由光学原理可知，θ1＝θ2，为了保证小角度入射，θ1的范围控制在0～30°。
本发明所说的客体可以是非平面光滑客体，也可以是平面光滑客体。
本发明方法简单易懂，操作方便，不但适用于非平面客体，也适用于平面客体。采用本方法，不必再购买其它器材，降低了成本。它改变了痕迹拍照传统的配光思维模式，巧妙地解决了大面积光源的技术难题，解决了非平面光滑客体上痕迹显现的问题，提高了工作效率及痕迹的提取率、利用率，为刑事诉讼提供完整、清晰的痕迹物证打下了坚实的基础。
(四)附图
附图是显现非平面光滑客体痕迹的工作原理示意图，图中，1、相机，2、非平面光滑客体，3、照射光源。
(五)最佳实施例
客体为非平面光滑客体，入射角θ＝15°，曝光时间取3分钟，光源距客体的距离为50CM，具体操作步骤重复1～5步，即可得到非平面光滑客体上的痕迹照片。

Claims (5)

1.一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法，其特征是操作步骤如下：(1)在暗室内固定好相机及客体，将照射光源通过可伸缩挂壁固定在导轨上，然后(2)调整照射光源的位置，距客体40～70cm，保持入射光以入射角度θ1照射到客体上，反射光以反射角θ2反射到相机内，而后(3)通过伸缩挂壁移动照射光源，用照射光源产生的光斑对整个痕迹进行“扫描”，同时在取景器中观察痕迹的位置、反差及面积，使痕迹全部清晰地成像在取景器内，而后(4)调好光圈，装上带有胶片的暗盒，将相机快门调到T门，关闭暗室内灯光，开启快门，同时打开照射光源，并通过可伸缩的挂壁移动照射光源，用照射光源产生的光斑对整个痕迹进行“扫描”，“扫描”要做到均匀，曝光时间控制在30秒～5分钟内，曝光完毕，再(5)冲洗底片。
2.根据权利要求1所述的显现非平面光滑客体上痕迹的方法，其特征是，照射光源采用痕迹显现专用灯，即在现有抛物面灯罩口上接一个圆筒，圆筒的一端套丝，侧面上开有圆孔，圆筒内侧有一圆环，上面也有圆孔，灯座的侧面上装有把柄和联结杆。
3.根据权利要求1所述的显现非平面光滑客体上痕迹的方法，其特征是，导轨固定在暗室内的天花板上，也可固定在其他支架上。
4.根据权利要求1所述的显现非平面光滑客体上痕迹的方法，其特征是，0≤θ1＝θ2≤30°。
5.根据权利要求1所述的显现非平面光滑客体上痕迹的方法，其特征是，客体是非平面光滑体，也可以是平面光滑客体。
CNB011352809A 2001-12-17 2001-12-17 一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法 Expired - Fee Related CN1177254C (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB011352809A CN1177254C (zh) 2001-12-17 2001-12-17 一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB011352809A CN1177254C (zh) 2001-12-17 2001-12-17 一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1351858A true CN1351858A (zh) 2002-06-05
CN1177254C CN1177254C (zh) 2004-11-24

Family

ID=4673089

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB011352809A Expired - Fee Related CN1177254C (zh) 2001-12-17 2001-12-17 一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN1177254C (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103838059A (zh) * 2014-03-27 2014-06-04 大连恒锐科技股份有限公司 一种现场足迹的拍照方式
CN108366187A (zh) * 2018-02-12 2018-08-03 杭州创恒电子技术开发有限公司 基于cis的斜视成像装置及方法
CN109765232A (zh) * 2019-01-29 2019-05-17 北京和众视野科技有限公司 基于平整表面附着痕迹的散射光扫描成像方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103838059A (zh) * 2014-03-27 2014-06-04 大连恒锐科技股份有限公司 一种现场足迹的拍照方式
CN103838059B (zh) * 2014-03-27 2016-09-28 大连恒锐科技股份有限公司 一种现场足迹的拍照方式
CN108366187A (zh) * 2018-02-12 2018-08-03 杭州创恒电子技术开发有限公司 基于cis的斜视成像装置及方法
CN108366187B (zh) * 2018-02-12 2021-05-07 杭州创恒电子技术开发有限公司 基于cis的斜视成像装置及方法
CN109765232A (zh) * 2019-01-29 2019-05-17 北京和众视野科技有限公司 基于平整表面附着痕迹的散射光扫描成像方法
CN109765232B (zh) * 2019-01-29 2021-03-30 北京和众视野科技有限公司 基于平整表面附着痕迹的散射光扫描成像方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1177254C (zh) 2004-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101207198B1 (ko) 기판 검사장치
CN102483798B (zh) 摄像装置的照明光学系统
JPH07113966B2 (ja) 二次元画像処理方法および装置
US20110090333A1 (en) High speed optical inspection system with adaptive focusing
CN102520507B (zh) 一种共聚焦显微成像的获取方法和装置
CN105530399B (zh) 基于线偏振光掠入射式扫描成像方法的室内足迹采集装置
KR20130096233A (ko) 조명 시스템
CN1177254C (zh) 一种显现非平面光滑客体上痕迹的方法
CN207923076U (zh) 基于片层光照明的旋转扫描式三维成像系统
CN1266994C (zh) 测量电子元件中触点位置的方法和设备
CN1677093A (zh) 传感器单元及使用它的打印状态检查装置
CN115436367B (zh) 一种基于外置可变光源的根系土壤原位成像装置及方法
US7952782B2 (en) Observing device and method to observe a three-dimensional flow field
EP2502114B1 (en) Illumination of an object
KR101124567B1 (ko) 하이브리드 조명부를 포함하는 웨이퍼 검사 장치
CN100351697C (zh) 用于光学捕捉物体的装置的支撑表面
TWI825682B (zh) 整合型光源裝置及其光學檢測系統
KR20110125906A (ko) 레티클 검사장치
CN1246801C (zh) 光学指纹采集仪
JP2004530111A5 (zh)
CN110196232A (zh) 一种共焦成像装置及共焦成像方法
CN218349762U (zh) 一种检测设备
JP2008089977A (ja) 照射装置及びそれを有する照射システム
CN220137036U (zh) 一种锂电池壳体内部检测装置
CN218728533U (zh) 一种支持多方位图像采集的光源装置

Legal Events

Date Code Title Description
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C06 Publication
PB01 Publication
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C19 Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee