CN1324930C - 适用于射频集成电路的静电放电防护电路 - Google Patents
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Abstract
一种结合单一或多个并联电感及电容(也称为电感电容式振荡电路)以避免静电放电电路的寄生电容所造成的功率损耗的静电放电保护电路设计。所说明的第一设计结合一电感电容式振荡电路结构。第二设计包括两电感电容式振荡电路结构。能够扩展这些结构以形成利用n级电感电容式振荡电路叠置而成的静电放电保护电路结构。所说明的最后设计是通过叠置第一设计所形成的静电放电保护电路。因为能够设计电感电容式振荡电路的参数以便在所需的操作频率下谐振,所以这些设计能够避免静电放电的寄生电容所造成的功率增益的损耗。
Description
技术领域
本发明有关于一种静电放电保护电路,且特别是有关于一种可使用于射频(radio frequency,RF)电路系统作为静电放电保护用途的静电放电保护电路。
背景技术
静电放电是一种当集成电路(integrated circuit,IC)是浮置状态时由集成电路外部至内部的高能转移暂态过程。静电放电保护电路将构成于集成电路内部以抵挡这种破坏电流。对于人体模型(HBM)整个放电过程历时约1000纳秒(ns)。除了人体模型(HBM)以外,也有充电元件模型(CDM)以及机械模型(MM)。在这种静电放电期间将转移数百伏特的静电电荷。这种大小的电压转移将使输入级的氧化层栅极击穿并使集成电路变成无法正常操作。因为氧化层栅极的厚度随着制造工艺过程的进展而持续变小,所以改善静电放电保护电路的设计变得极为重要。
传统的静电放电保护设计是适合数字集成电路的两级式保护结构,如图1所示。在输入静电放电保护电路的主要级10与第二级20之间,将加入电阻器15以限制静电放电电流经由短沟道N沟道金属氧化物半导体(NMOS)25流入第二级20。电阻器15的电阻值是依据主要级10的静电放电箝位元件的导通电压以及第二级20的短沟道N沟道金属氧化物半导体(NMOS)25的电流It2(第二击穿电流)来决定。这种两级式静电放电保护设计能够为数字输入引脚提供高静电放电电平保护。然而,上述静电放电箝位元件的大串联电阻及大接面电容将对输入信号产生较长的电阻电容时间延迟。因此,这种设计不适合模拟引脚,特别是对于射频信号应用。
由于高频应用的特性,所以静电放电保护元件的寄生电容将降低射频电路的功率增益效能。为了解决这个问题,因此在先技术尝试最小化静电放电保护元件的面积以减少静电放电保护元件的寄生电容。然而,这种解决方式也降低静电放电保护能力,所以设计上的困难之处在于如何最小化静电放电箝位元件的寄生电容对于射频电路的影响,并可以承受足够高的静电放电的轰击(Zapping)。
已经有一些保护电路被提出来实现上述目的,如以下所列举。
具有VDD-至-VSS电源线箝位电路的反向偏压二极管
为了降低至射频电路输入引脚的负载电容,因此电路中的二极管将设计为具有小元件尺寸。具有小元件尺寸的NDIO(PDIO)二极管在PS模式(ND模式)静电放电(如图2所示)下操作于接面击穿情况以排放静电放电电流。典型上,这个过程只能提供低电平的静电放电保护。为了避免上述小型二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,因而限制整个电路的静电放电保护电平,因此将在电源线(power rails)之间插入能够快速导通有效的静电放电箝位电路以明显地提升总静电放电保护电平。上述的静电放电防护电路结构表示于图3。
当NS模式(PD模式)静电放电施加至射频输入引脚时,上述NDIO(PDIO)二极管将在正向偏压情况下操作以排放静电放电电流。与在反向偏压击穿情况下操作的二极管相比较,在正向偏压情况下操作的二极管能够承受非常高的静电放电电平。当PS模式或ND模式静电放电施加至射频输入引脚400时,将使用以电阻电容为基础的静电放电检测电路30来触发MNESD元件。在PS模式及ND模式静电放电下,这种射频静电放电保护设计的静电放电电流路径分别以图4及图5的虚线IESD来表示。因为处于PS模式静电放电的NDIO二极管并未在击穿情况下操作,所以将经由正向偏压的PDIO二极管以及位于VDD/VSS电源线之间且导通的MNESD元件来旁通静电放电电流。同样地,ND模式静电放电电流将利用在正向偏压情况下操作的NDIO二极管以及位于VDD/VSS电源线之间且导通的MNESD元件来放电,如图5的虚线所示。上述MNESD元件特别设计为具有较大元件尺寸以承受高电平静电放电。虽然上述大尺寸MNESD元件具有较大接面电容,但是该电容并未有助于射频输入引脚400。利用这种静电放电保护设计,射频输入引脚能够在上述四种模式的静电放电下承受非常高的静电放电电平,但是只适用与射频输入引脚400连接的小型二极管。这是因为必须降低由静电放电保护元件至射频输入引脚400所产生的负载电容。
使用电感器作为静电放电元件
Leuven大学提出有关具有电感器及VDD-至-VSS双重叠置二极管以防止静电放电破坏的LNA电路论文。上述电感器是金属制低通无源元件并且适合于静电放电保护元件。然而,因为上述电感器由输入端连接至接地,所以将导致直接由输入端至接地的直流漏电。因此,其需要与一电容器串联耦合以阻挡输入引脚及输入栅极。上述电感器实际上将用以保护上述串联电容器而非输入氧化层栅极。
适合高速集成电路的分布式静电放电保护元件
图6及图8表示由史丹佛大学(Stanford)大学所发明的适合高速集成电路的分布式静电放电保护元件。图6表示一级匹配结构45,而图8表示四级匹配结构,其中包括45a、45b、45c以及45d。图7表示在一级分布匹配结构之中静电放电寄生电容的史密斯图(Smith Chart),而图9表示在相同总电容的下四级分布式匹配结构的史密斯图。于图7,静电放电元件的寄生电容(CA+CB)将造成匹配阻抗自中心点沿史密斯图(Smith Chart)圆周的路径到达某一Y点。传输线TL将该Y点的阻抗带到史密斯图(Smith Chart)的实数轴。于图9,寄生电容(C4A+C4B)横越其由原点沿史密斯图(Smith Chart)圆周的路径。传输线TL4将该路径带到史密斯图(Smith Chart)的实数轴。可应用相同的观念来表示其他的寄生电容(C3A+C3B)、(C2A+C2B)以及(C1A+C1B)。传输线TL3、TL2以及TL1将其路径带到史密斯图(Smith Chart)的实数轴。
(C1A+C1B)=(C2A+C2B)=(C3A+C3B)=(C4A+C4B)
比较图7与图9可看出在保护电路之中,更多匹配级将使路径的最后位置更接近原点。上述位置到原点的距离与信号功率损耗成反比。因此,有更多级匹配可导致更好的功率增益的情况出现。但是在静电放电事件进行期间将难以在众多分开的静电放电区段之中实现一致的静电放电电流分布。最接近输入引脚的第一静电放电区段总是在导通其他区段以分担电流的前接收大部分的静电放电电流。这将对于第一区段造成损害并且最后降低集成电路的静电放电保护临界值。
发明内容
因此,本发明的一目的为提供一种可使用于射频电路系统作为静电放电保护用途的静电放电保护电路。
因此,本发明的一目的为提供一种考虑射频电路系统的功率增益效能以及静电放电电平的静电放电保护电路。
为了实现这些与其他优点以及符合本发明的目的,如同在此所实施及概括说明的,因此本发明提供一种适合十亿赫(10GHz)射频集成电路的静电放电保护电路元件,其能够克服与在先技术技术有关的问题同时提升静电放电保护临界值。本发明所提出的设计是在具有VDD-至-VSS电源线箝位电路的输入/输出(I/O)端口利用电感电容式振荡电路叠置而成的静电放电保护元件。通过在射频操作频率下谐振可选择电感及电容的适当值,以阻隔静电放电元件的寄生电容对射频信号的影响。
为了实现这些与其他优点以及符合本发明的目的,如同在此所实施及概括说明的,因此本发明提供一种适合射频元件的静电放电防护电路。上述射频元件包括一个具有一VDD电压射频引脚、一VSS射频引脚以及一射频输入引脚的射频电路。上述静电放电防护电路包括一静电放电箝位电路以及一电感电容式振荡电路结构。上述静电放电箝位电路包括两个端,其第一端与上述VDD电压射频引脚连接,而其第二端则与上述VSS射频引脚连接。上述电感电容式振荡电路结构耦合在上述静电放电箝位电路的两个端之间,并且位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间。上述电感电容式振荡电路结构包括串联连接在上述静电放电箝位电路的第一端与上述射频输入引脚之间的第一二极管及第一电感电容式振荡电路,以及串联连接在上述静电放电箝位电路的第二端与上述射频输入引脚之间的第二二极管及第二电感电容式振荡电路。
在另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第一二极管的阴极端与上述静电放电钳位电路的第一端耦合并且第一二极管的阳极端与第一电感电容式振荡电路耦合,而第二二极管的阴极端与第二电感电容式振荡电路偶合并且第二二极管的阳极端与上述静电放电钳位电路的第二端耦合。在另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第一二极管的阴极端与第一电感电容式振荡电路偶合并且第一二极管的阳极端与一个位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间的一端偶合,而第二二极管的阴极端与位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间的上述端偶合并且第二二极管的阳极端与第二电感电容式振荡电路耦合。
于另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,上述电感电容式振荡电路结构包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
为了实现这些与其他优点以及符合本发明的目的,如同在此所实施及概括说明的,因此本发明提供一种适合射频元件的静电放电防护电路。上述射频元件包括一个具有一VDD电压射频引脚、一VSS射频引脚以及一射频输入引脚的射频电路。上述静电放电防护电路包括一静电放电箝位电路以及一电感电容式振荡电路结构。上述静电放电箝位电路包括两个端,其第一端与上述VDD电压射频引脚连接,而其第二端则与上述VSS射频引脚连接。上述电感电容式振荡电路结构耦合在上述静电放电箝位电路的两个端之间,并且位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间,其中上述电感电容式振荡电路结构包括一个位于上述静电放电箝位电路的第一端与上述射频输入引脚之间的第一静电放电单元,以及一个位于上述静电放电箝位电路的第二端与上述射频输入引脚之间的第二静电放电单元。
于另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第一静电放电单元包括串联连接的一个第一二极管及两个第一电感电容式振荡电路,而第二静电放电单元则包括一个第二二极管及两个第二电感电容式振荡电路。
在另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第一二极管的阴极端与上述静电放电钳位电路的第一端偶合并且第一二极管的阳极端与第一电感电容式振荡电路的一端耦合,而第二二极管的阴极端与第二电感电容式振荡电路的一端耦合并且第二二极管的阳极端与上述静电放电钳位电路的第二端耦合在另一实施例中,在上述静电放电防护电路之中,第一二极管的阴极端与第一电感电容式振荡电路的一端耦合并且第一二极管的阳极端与一个位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间的一端耦合,而第二二极管的阴极端与位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间的上述端耦合并且第二二极管的阳极端与第二电感电容式振荡电路一端耦合。
于另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第一静电放电单元包括串联连接的一个第一二极管及多个第一电感电容式振荡电路,而第二静电放电单元则包括一个第二二极管及多个第二电感电容式振荡电路。或者,第一二极管的阴极端与上述静电放电钳位电路的第一端耦合并且第一二极管的阳极端与第一电感电容式振荡电路的一端耦合,而第二二极管的阴极端与第二电感电容式振荡电路的一端耦合并且第二二极管的阳极端与上述静电放电钳位电路的第二端耦合。
在另一实施例中,在上述静电放电防护电路之中,第一二极管的阴极端与第一电感电容式振荡电路的一端耦合并且第一二极管的阳极端与一个位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间的一端耦合,而第二二极管的阴极端与位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间的上述端耦合并且第二二极管的阳极端与第二电感电容式振荡电路的一端耦合。
为了实现这些与其他优点以及符合本发明的目的,如同在此所实施及概括说明的,因此本发明提供一种适合射频元件的静电放电防护电路。上述射频元件包括一个具有一VDD电压射频引脚、一VSS射频引脚以及一射频输入引脚的射频电路。上述静电放电防护电路包括一静电放电箝位电路以及一电感电容式振荡电路结构。上述静电放电箝位电路包括两个端,其第一端与上述VDD电压射频引脚连接,而其第二端则与上述VSS射频引脚连接。上述电感电容式振荡电路结构耦合在上述静电放电箝位电路的两个端之间,并且位于上述射频电路与上述射频输入引脚之间。上述电感电容式振荡电路结构包括串联连接在上述静电放电箝位电路的第一端与上述射频输入引脚之间的第一二极管、第一电感电容式振荡电路以及第一静电放电单元,以及串联连接在上述静电放电箝位电路的第二端与上述射频输入引脚之间的第二二极管、第二电感电容式振荡电路以及第二静电放电单元。
于另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第一静电放电单元包括串联连接的第三二极管及第三电感电容式振荡电路。或者,第三二极管的阴极端与上述静电放电箝位电路的第一端耦合并且第三二极管的阳极端与第三电感电容式振荡电路耦合。或者,第三二极管的阴极端与第三电感电容式振荡电路耦合并且第三二极管的阳极端与第一电感电容式振荡电路耦合。于另一实施例,第三电感电容式振荡电路包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
于另一实施例,在上述静电放电防护电路之中,第二静电放电单元包括串联连接的第四二极管及第四电感电容式振荡电路。或者,第四二极管的阴极端与第四电感电容式振荡电路耦合并且第四二极管的阳极端与上述静电放电箝位电路的第二端耦合。或者,第四二极管的阴极端与第二电感电容式振荡电路耦合并且第四二极管的阳极端与第四电感电容式振荡电路耦合。于另一实施例,第四电感电容式振荡电路包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
附图说明
为了让本发明的上述和其他目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举其较佳实施例,并配合附图,作详细说明如下:
图1是适合数字集成电路的一种具有两级式保护结构的传统静电放电保护设计的单元图。
图2表示集成电路的输入/输出引脚在遭受静电放电轰击(Zapping)时的四种可能的连接方式,包括PS(Positive-to-Vss)模式、NS(Negative-to-Vss)模式、PD(Positive-to-Vdd)模式、以及ND(Negative-to-Vdd)模式。
图3是适合射频电路的另一种具有一级保护结构的传统静电放电保护设计的单元图。
图4及图5表示在PS模式及ND模式静电放电下图3的射频静电放电保护设计的静电放电电流路径。
图6及图8表示由史丹佛大学(Stanford)大学所发明的适合高速集成电路的分布式静电放电保护元件。
图7表示图6的静电放电(CA+CB)的寄生电容横越其由原点沿史密斯图(Smith Chart)圆周的路径。
图9表示图8的静电放电防护元件的寄生电容横越其由原点沿史密斯图(Smith Chart)圆周的路径。
图10至图17是本发明的较佳实施例的静电放电保护设计及其静电放电电流路径的单元图。
附图标记说明
10 静电放电保护电路的主要级
15 电阻器
20 静电放电保护电路的第二级
25 短沟道N沟道金属氧化物半导体(NMOS)
30 静电放电检测电路
45 一级匹配结构
45a 四级匹配结构
45b 四级匹配结构
45c 四级匹配结构
45d 四级匹配结构
400 射频输入引脚
1000 射频电路元件
1010 射频电路
1020 VDD射频引脚
1030 VSS射频引脚
1040 射频输入引脚
1050 静电放电箝位电路
1060 电感电容式振荡电路结构
1100 射频电路元件
1110 射频电路
1120 VDD射频引脚
1130 VSS射频引脚
1140 射频输入引脚
1150 静电放电箝位电路
1160 电感电容式振荡电路结构
1200 射频电路元件
1210 射频电路
1220 VDD射频引脚
1230 VSS射频引脚
1240 射频输入引脚
1250 静电放电箝位电路
1260 电感电容式振荡电路结构
1260SLCP 第一叠置的电感电容式振荡电路单元
1260SLCN 第二叠置的电感电容式振荡电路单元
1300 射频电路元件
1310 射频电路
1320 VDD射频引脚
1330 VSS射频引脚
1340 射频输入引脚
1350 静电放电箝位电路
1360 电感电容式振荡电路结构
1360SLCP 第一叠置的电感电容式振荡电路单元
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1400 射频电路元件
1410 射频电路
1420 VDD射频引脚
1430 VSS射频引脚
1440 射频输入引脚
1450 静电放电箝位电路
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1460SLCP 第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元
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1500 射频电路元件
1510 射频电路
1520 VDD射频引脚
1530 VSS射频引脚
1540 射频输入引脚
1550 静电放电箝位电路
1560 电感电容式振荡电路结构
1560SLCP 第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元
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1600 射频电路元件
1610 射频电路
1620 VDD射频引脚
1630 VSS射频引脚
1640 射频输入引脚
1650 静电放电箝位电路
1660 叠置的静电放电单元结构
1700 射频电路元件
1710 射频电路
1720 VDD射频引脚
1730 VSS射频引脚
1740 射频输入引脚
1750 静电放电箝位电路
1760 叠置的静电放电单元结构
ESD BLOCK N1 第二静电放电单元
ESD BLOCK N2 第二静电放电单元
ESD BLOCK P1 第一静电放电单元
ESD BLOCK P2 第一静电放电单元
LC1 电感电容式振荡电路
LC2 电感电容式振荡电路
LC TANK N 电感电容式振荡电路
LC TANK N2 电感电容式振荡电路
LC TANK P 电感电容式振荡电路
LC TANK P2 电感电容式振荡电路
具体实施方式
本发明现在将举其较佳实施例,并参照附图,予以更详细地说明。不同附图中相同的参考数字表示相同或相似的元件。
本发明提供一种静电放电保护电路,其可使用于射频电路系统作为静电放电保护之用。上述静电放电保护电路考虑射频电路系统的功率增益效能以及静电放电电平,并且克服关于在先技术技术的问题,同时提升静电放电保护临界值。本发明所提出的设计是在具有VDD-至-VSS电源线箝位电路的输入/输出(I/O)端口利用一个或多个电感电容式振荡电路叠置而成的静电放电保护元件。通过在射频操作频率下谐振成为开路(Open Circuit),以阻隔静电放电元件的寄生电容对射频信号的影响。
例如,将下列公式应用于在每一个单独射频电路的操作频率下谐振,可选择出电感及电容的适当值。
利用谐振原理而形成开路(Open Circuit)现象,可以使射频信号见到一无穷大阻抗以阻隔射频信号经由静电放电元件至接地的信号损耗。于上述公式,ω代表射频电路的操作频率。电感电容式振荡电路的电感及电容的值也将决定功率增益的损耗,因此使用模拟工具来选择最佳值。于静电放电状态,静电放电电流将经由静电放电元件及电感器来放电。上述电感器一般是由最大厚度金属所制成并且是具有低寄生电阻的金属线。因此,在所提出的设计当中,上述崭新的电感电容式振荡电路的静电放电防护电路将对于射频电路产生较高电平的静电放电保护。
于下列由图10至图17的图形当中,将介绍本发明的几个实施例,其中包括在具有VDD-至-VSS电源线箝位电路的输入/输出(I/O)端口利用一个或多个电感电容式振荡电路叠置而成的静电放电保护电路。
利用一电感电容式振荡电路结构叠置而成的静电放电防护电路
请参照图10,其表示根据本发明的一较佳实施例的具有一个利用电感电容式振荡电路结构1060(ESD BLOCK N1及ESD BLOCK P1)叠置而成的静电放电防护电路的射频电路元件1000。于图10,上述射频电路元件1000包括一个具有VDD电压射频引脚1020、VSS射频引脚1030以及射频输入引脚1040的射频电路1010。在射频电路1010与射频输入引脚1040之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1050以及电感电容式振荡电路结构1060。电感电容式振荡电路结构1060包括两个静电放电单元ESD BLOCK N1及ESD BLOCK P1。
上述ESD BLOCK N1及ESD BLOCK P1分别包括串联连接的二极管NDIO、二极管PDIO以及两个电感电容式振荡电路LC TANK N及LC TANK P。上述电感电容式振荡电路LC TANK N及LC TANK P的每一个包括并联连接的一电感器及一电容器。上述二极管PDIO包括一个与静电放电箝位电路1050的第一端A耦合的阴极端以及一个与上述LC TANK P耦合的阳极端。上述二极管NDIO包括一个与上述LC TANK N耦合的阴极端以及一个与静电放电箝位电路1050的第二端B耦合的阳极端。一个位于射频电路1010与射频输入引脚1040之间的端C同时连接至上述电感电容式振荡电路LC TANK N及LC TANK P。
当上述电感电容式振荡电路在射频频率下谐振时,将有无穷大阻抗,因而最小化功率增益的损耗。静电放电电流将经由上述电感器及上述静电放电二极管放电,如图10的粗虚线所示。为了避免上述二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,而导致较低的静电放电保护电平,因此将在上述静电放电保护电路之中构成一个位于电源线之间且快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1050。这将明显地增加整个静电放电保护能力。
当上述四种静电放电模式其中的一施加在射频输入引脚1040时,上述NDIO二极管或上述PDIO二极管将在正向偏压情况下操作并连同相对应的电感器排放静电放电电流。与在反向偏压击穿情况下操作的二极管相比较,在正向偏压情况下操作的二极管能够承受非常高的静电放电电平。当PS模式或ND模式静电放电施加在射频输入引脚1040时将导通VDD-至-VSS静电放电箝位电路1050。因为处于PS模式静电放电的NDIO二极管并未在击穿情况下操作,所以将经由正向偏压的PDIO二极管以及位于VDD/VSS电源线之间能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1050来旁通静电放电电流。同样地,NDIO二极管及相对应的电感器在正向偏压情况下操作并连同位于VDD/VSS电元线之间的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1050安全地引导ND模式静电放电电流。
上述VDD-至-VSS静电放电箝位电路1050特别设计为具有较大元件尺寸以承受高电平静电放电。虽然大尺寸VDD-至-VSS静电放电箝位电路1050具有大接面电容,但是这电容并未有助于射频输入引脚1040。通过应用这种静电放电保护设计,上述射频输入引脚能够在上述四种静电放电模式(如图2所示)当中承受非常高电平的静电放电。因此,通过插入上述电感电容式振荡电路能够明显地避免由上述静电放电保护元件的PDIO二极管及NDIO二极管至射频输入引脚1040所产生的负载电容。因此,射频集成电路的效能将不致于明显地衰减。
图11表示根据本发明的另一较佳实施例的具有一个利用电感电容式振荡电路结构1160(其包括两个静电放电单元ESD BLOCK N2及ESD BLOCK P2)叠置而成的静电放电防护电路的射频电路元件1100。与图10的元件相比较,在此另外的设计当中,电感电容式振荡电路LC TANK P2与二极管PDIO的位置交换,而电感电容式振荡电路LC TANK N2与二极管NDIO的位置也交换。于图11,上述射频电路元件1100包括一个具有VDD电压射频引脚1120、VSS射频引脚1130以及射频输入引脚1140的射频电路1110。在射频电路1110与射频输入引脚1140之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1150以及电感电容式振荡电路结构1160。电感电容式振荡电路结构1160包括两个静电放电单元ESD BLOCK N2及ESDBLOCK P2。
上述ESD BLOCK N2包括电感电容式振荡电路LC TANK N2以及二极管NDIO。上述ESD BLOCK P2包括电感电容式振荡电路LC TANK P2以及二极管PDIO。上述两个电感电容式振荡电路以及上述二极管串联连接。上述电感电容式振荡电路LC TANK N2及LC TANK P2的每一个包括并联连接的一电感器及一电容器。上述二极管PDIO包括一个与电感电容式振荡电路LC TANK P2耦合的阴极端以及一个与位于射频电路1110与射频输入引脚1140之间的端C连接的阳极端。上述二极管NDIO包括一个与位于射频电路1110与射频输入引脚1140之间的端C耦合的阴极端以及一个与电感电容式振荡电路LCTANK N2耦合的阳极端。在上述LC TANK P2上与连接至上述PDIO的一端相对的另一个端与静电放电箝位电路1150的第一端A连接。在上述LC TANK N2上与连接至上述NDIO的一端相对的另一个端与静电放电箝位电路1150的第二端B连接。
当上述电感电容式振荡电路在射频频率下谐振时,将有无穷大阻抗,因而最小化功率增益的损耗。静电放电电流将经由上述电感器及上述静电放电二极管放电,如图11的粗虚线所示。为了避免上述二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,而导致较低的静电放电保护电平,因此将在上述静电放电保护电路之中构成一个位于电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1150。这将明显地增加整个静电放电保护能力。
上述VDD-至-VSS静电放电箝位电路1150特别设计为具有较大元件尺寸以承受高电平静电放电。虽然大尺寸VDD-至-VSS静电放电箝位电路1150具有大接面电容,但是这电容并未有助于射频输入引脚1140。通过应用这种静电放电保护设计,上述射频输入引脚能够在上述四种静电放电模式(如图2所示)当中承受非常高电平的静电放电。因此,通过插入上述电感电容式振荡电路能够明显地避免由上述静电放电保护元件的PDIO二极管及NDIO二极管至射频输入引脚1140所产生的负载电容。因此,射频集成电路的效能将不致于明显地衰减。
利用叠置的电感电容式振荡电路结构叠置而成的静电放电防护电路
为了考虑芯片上所实施的电感器及电容器的寄生效应,因此本发明提供另一种具有串列叠置的电感电容式振荡电路的电感电容式振荡电路结构以便在谐振下产生较高的阻抗。通过这种实施方式,得以同时考虑射频电路系统的功率增益效能以及静电放电电平。请参照图12,其表示根据本发明的一较佳实施例的具有一个利用电感电容式振荡电路结构1260叠置而成的静电放电防护电路的射频电路元件1200。于图12,上述射频电路元件1200包括一个具有VDD电压射频引脚1220、VSS射频引脚1230以及射频输入引脚1240的射频电路1210。在射频电路1210与射频输入引脚1240之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1250以及电感电容式振荡电路结构1260。电感电容式振荡电路结构1260包括串联连接的第一叠置的电感电容式振荡电路单元1260SLCP、静电放电二极管PDIO、第二叠置的电感电容式振荡电路单元1260SLCN以及另一个静电放电二极管NDIO。每一个叠置的电感电容式振荡电路单元包括至少两个串列叠置在一起的电感电容式振荡电路。上述二极管PDIO包括一个与静电放电箝位电路1250的第一端A耦合的阴极端以及一个与第一叠置的电感电容式振荡电路单元1260SLCP耦合的阳极端。上述二极管NDIO包括一个与第二叠置的电感电容式振荡电路单元1260SLCN耦合的阴极端以及一个与静电放电箝位电路1250的第二端B耦合的阳极端。一个位于射频电路1210与射频输入引脚1240之间的端C同时连接至第一叠置的电感电容式振荡电路单元1260SLCP及第二叠置的电感电容式振荡电路单元1260SLCN。
如上所述,当上述电感电容式振荡电路在射频电路频率下谐振时将最小化功率增益的损耗。静电放电电流将经由上述电感器及上述静电放电二极管放电,如图12的粗虚线所示。为了避免上述二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,而导致较低的静电放电保护电平,因此将在上述静电放电保护电路之中构成一个位于电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1250。这将明显地增加整个静电放电保护能力。
当上述四种静电放电模式其中的一施加在射频输入引脚1240时,上述NDIO二极管或上述PDIO二极管将在正向偏压情况下操作并连同上述电感器放电静电放电电流。与在反向偏压击穿情况下操作的二极管相比较,在正向偏压情况下操作的二极管能够承受非常高的静电放电电平。当PS模式或ND模式静电放电施加在射频输入引脚1240时将导通VDD-至-VSS静电放电箝位电路1250。因为处于PS模式静电放电的NDIO二极管并未在击穿情况下操作,所以将经由正向偏压的PDIO二极管以及位于VDD/VSS电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1250来旁通静电放电电流。同样地,上述NDIO二极管及电感器在正向偏压情况下操作并连同位于VDD/VSS电源线之间的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1250安全地引导ND模式静电放电电流。上述VDD-至-VSS静电放电箝位电路1250特别设计为具有较大元件尺寸以承受高电平静电放电。虽然大尺寸VDD-至-VSS静电放电箝位电路1250具有大接面电容,但是这电容并未有助于射频输入引脚1240。通过应用这种静电放电保护设计,射频输入引脚1240能够在上述四种静电放电模式(图2)当中承受非常高电平的静电放电。因此,通过插入上述电感电容式振荡电路能够明显地避免由上述静电放电保护元件的PDIO二极管及NDIO二极管至射频输入引脚1240所产生的负载电容。因此,射频集成电路的效能将不致于明显地衰减。
请参照图13,其表示根据本发明的另一较佳实施例的具有一个利用电感电容式振荡电路结构1360叠置而成的静电放电防护电路的射频电路元件1300,其中考虑芯片上所实施的电感器及电容器的寄生效应。与图12的元件相比较,在该另外的设计当中,第一叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCP与PDIO二极管的位置交换,而第二叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCN与NDIO二极管的位置也交换。于图13,上述射频电路元件1300包括一个具有VDD电压射频引脚1320、VSS射频引脚1330以及射频输入引脚1340的射频电路1310。在射频电路1310与射频输入引脚1340之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1350以及电感电容式振荡电路结构1360。电感电容式振荡电路结构1360包括串联连接的第一叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCP以及第二叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCN。每一个叠置的电感电容式振荡电路单元包括至少两个串列叠置在一起的电感电容式振荡电路。上述二极管PDIO包括一个与第一叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCP耦合的阴极端以及一个与位于射频电路1310与射频输入引脚1340之间的端C连接的阳极端。上述二极管NDIO包括一个与位于射频电路1310与射频输入引脚1340之间的端C耦合的阴极端以及一个与第二叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCN耦合的阳极端。在上述第一叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCP上与连接至上述PDIO的一端相对的另一个端与静电放电箝位电路1350的第一端A连接。在上述第二叠置的电感电容式振荡电路单元1360SLCN上与连接至上述NDIO的一端相对的另一个端与静电放电箝位电路1350的第二端B连接。
如上所述,当上述电感电容式振荡电路在射频电路频率下谐振时将最小化功率增益的损耗。静电放电电流将经由上述电感器及上述静电放电二极管放电,如图13所示。为了避免上述二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,而导致较低的静电放电保护电平,因此将在上述静电放电保护电路之中构成一个位于电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1350。这将明显地增加整个静电放电保护能力。
当上述四种静电放电模式其中的一施加在射频输入引脚1340时,上述NDIO二极管或上述PDIO二极管将在正向偏压情况下操作并连同上述电感器放电静电放电电流。与在反向偏压击穿情况下操作的二极管相比较,在正向偏压情况下操作的二极管能够承受非常高的静电放电电平。当PS模式或ND模式静电放电施加在射频输入引脚1340时将导通VDD-至-VSS静电放电箝位电路1350。因为处于PS模式静电放电的NDIO二极管并未在击穿情况下操作,所以将经由正向偏压的PDIO二极管以及位于VDD/VSS电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1350来旁通静电放电电流。同样地,上述NDIO二极管及电感器在正向偏压情况下操作并连同位于VDD/VSS电源线之间的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1350安全地引导ND模式静电放电电流。上述VDD-至-VSS静电放电箝位电路1350特别设计为具有较大元件尺寸以承受高电平静电放电。虽然大尺寸VDD-至-VSS静电放电箝位电路1350具有大接面电容,但是这电容并未有助于射频输入引脚1340。通过应用这种静电放电保护设计,射频输入引脚1340能够在上述四种静电放电模式(图2)当中承受非常高电平的静电放电。因此,通过插入上述电感电容式振荡电路能够明显地避免由上述静电放电保护元件的PDIO二极管及NDIO二极管至射频输入引脚1340所产生的负载电容。因此,射频集成电路的效能将不致于明显地衰减。
如图14所示的另外的实施例之中,提供一种具有串列叠置的n级电感电容式振荡电路的电感电容式振荡电路结构以便在谐振下产生更高的阻抗。通过这种实施方式,得以同时考虑射频电路系统的功率增益效能以及静电放电电平。图14表示具有一个利用电感电容式振荡电路结构1460叠置而成的静电放电防护电路的射频电路元件1400。上述射频电路元件1400包括一个具有VDD电压射频引脚1420、VSS射频引脚1430以及射频输入引脚1440的射频电路1410。在射频电路1410与射频输入引脚1440之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1450以及电感电容式振荡电路结构1460。电感电容式振荡电路结构1460包括串联连接的第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元1460SLCP、静电放电二极管PDIO、第二n级叠置的电感电容式振荡电路单元1460SLCN以及静电放电二极管NDIO。每一个叠置的电感电容式振荡电路单元包括至少两个串联叠置在一起的电感电容式振荡电路。上述二极管PDIO包括一个与静电放电箝位电路1450的第一端A耦合的阴极端以及一个与第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元1460SLCP耦合的阳极端。上述二极管NDIO包括一个与第二n级叠置的电感电容式振荡电路单元1460SLCN耦合的阴极端以及一个与静电放电箝位电路1450的第二端B耦合的阳极端。一个位于射频电路1410与射频输入引脚1440之间的端C同时连接至第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元1460SLCP及第二n级叠置的电感电容式振荡电路单元1460SLCN。
如图15所示的另一实施例之中,提供一种具有串列叠置的n级电感电容式振荡电路的电感电容式振荡电路结构以便在谐振下产生更高的阻抗。与图14的元件相比较,在该另外的设计当中,第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元1560SLCP与PDIO二极管的位置交换,而第二n级叠置的电感电容式振荡电路单元1560SLCN与NDIO二极管的位置也交换。图15表示具有一个利用电感电容式振荡电路结构1560叠置而成的静电放电防护电路的射频电路元件1500,其中考虑芯片上所实施的电感器及电容器的寄生效应。与图14的元件相比较,在该另外的设计当中,第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元1560SLCP与PDIO二极管的位置交换,而第二n级叠置的电感电容式振荡电路单元1560SLCN与NDIO二极管的位置也交换。于图15,上述射频电路元件1500包括一个具有VDD电压射频引脚1520、VSS射频引脚1530以及射频输入引脚1540的射频电路1510。在射频电路1510与射频输入引脚1540之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1550以及电感电容式振荡电路结构1560。电感电容式振荡电路结构1560包括串联连接的第一n级叠置的电感电容式振荡电路单元1560SLCP以及第二n级叠置的电感电容式振荡电路单元1560SLCN。每一个叠置的电感电容式振荡电路单元包括至少两个串列叠置在一起的电感电容式振荡电路。
具有叠置的电感电容式振荡电路及二极管(静电放电单元)结构的静电放电防护电路
另一实施例应用将电感电容式振荡电路并入静电放电保护元件的原理以及叠置的静电放电元件减少寄生电容的事实,以产生静电放电保护元件的设计,其方式为叠置相似的静电放电单元(如图16所示的ESD BLOCK P1及ESDBLOCK N1),在此称为”叠置的静电放电单元结构”。利用这些设计,叠置的电感电容式振荡电路可降低受到叠置的静电放电二极管影响的功率增益损耗。通过将上述静电放电防护电路导入射频电路可明显地降低总功率增益的损耗。
图16表示利用叠置的静电放电单元结构1660叠置而成的静电放电防护电路。于图16,射频电路元件1600包括一个具有VDD电压射频引脚1620、VSS射频引脚1630以及射频输入引脚1640的射频电路1610。在射频电路1610与射频输入引脚1640之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1650以及叠置的静电放电单元结构1660。叠置的静电放电单元结构1660包括在静电放电箝位电路1650与一个位于射频电路1610与射频输入引脚1640之间的端C之间的两部分。
于第一部分之中,第一静电放电单元ESD BLOCK P1、电感电容式振荡电路LC1以及静电放电二极管PDIO串联连接。第一静电放电单元ESD BLOCK P1的一端与静电放电箝位电路1650的第一端A连接,并且第一静电放电单元ESD BLOCK P1的另一端与二极管PDIO的阴极端连接。二极管PDIO的阳极端与电感电容式振荡电路LC1连接。在电感电容式振荡电路LC1上与连接至二极管PDIO的一端相对的另一端与端C连接。于第二部分之中,第二静电放电单元ESD BLOCK N1、电感电容式振荡电路LC2以及静电放电二极管NDIO串联连接。第二静电放电单元ESD BLOCK N1的一端与静电放电箝位电路1650的第二端B连接,并且第二静电放电单元ESD BLOCK N1的另一端与二极管NDIO的阳极端连接。二极管NDIO的阴极端与电感电容式振荡电路LC2连接。在电感电容式振荡电路LC2上与连接至二极管NDIO的一端相对的另一端与端C连接。
为了避免上述二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,而导致较低的静电放电保护电平,因此将在上述静电放电保护电路之中构成一个位于电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1650。这将明显地增加整个静电放电保护能力,同时降低静电放电防护电路的功率增益损耗。
当上述四种静电放电模式其中的一施加在上述射频输入引脚时,上述NDIO二极管或上述PDIO二极管将在正向偏压情况下操作并连同上述电感器排放静电放电电流。与在反向偏压击穿情况下操作的二极管相比较,在正向偏压情况下操作的二极管能够承受非常高的静电放电电平。当PS模式或ND模式静电放电施加在射频输入引脚1640时将导通VDD-至-VSS静电放电箝位电路1650。因为处于PS模式静电放电的NDIO二极管并未在击穿情况下操作,所以将经由正向偏压的PDIO二极管以及位于VDD/VSS电源线之间且已导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1650来旁通静电放电电流。同样地,上述NDIO二极管及电感器在正向偏压情况下操作并连同位于VDD/VSS电源线之间的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1650安全地引导ND模式静电放电电流。上述VDD-至-VSS静电放电箝位电路1650特别设计为具有较大元件尺寸以承受高电平静电放电。虽然大尺寸VDD-至-VSS静电放电箝位电路1650具有大接面电容,但是这电容并未有助于射频输入引脚1640。通过应用这种静电放电保护设计,上述射频输入引脚能够在上述四种静电放电模式(图2)当中承受非常高电平的静电放电。因此,通过插入上述电感电容式振荡电路能够明显地避免由上述静电放电保护元件的PDIO二极管及NDIO二极管至射频输入引脚1640所产生的负载电容。因此,射频集成电路的效能将不致于明显地衰减。
图17显示通过叠置具有交换的电感电容式振荡电路及二极管的静电放电单元(ESD BLOCK P2及ESD BLOCK N2)来替换上述电路的设计。图17表示利用叠置的静电放电单元结构1760叠置而成的静电放电防护电路。于图17,射频电路元件1700包括一个具有VDD电压射频引脚1720、VSS射频引脚1730以及射频输入引脚1740的射频电路1710。在射频电路1710与射频输入引脚1740之间是上述静电放电防护电路。上述静电放电防护电路包括VDD-至-VSS电源线箝位电路1750以及叠置的静电放电单元结构1760。叠置的静电放电单元结构1760包括两部分。于第一部分之中,第一静电放电单元ESD BLOCKP2、电感电容式振荡电路LC1以及静电放电二极管PDIO串联连接。于第二部分之中,第二静电放电单元ESD BLOCK N2、电感电容式振荡电路LC2以及静电放电二极管NDIO串联连接。每一个静电放电单元包括至少一个串联叠置在一起的电感电容式振荡电路及静电放电二极管。与图16的元件相比较,在该另外的设计当中,第一静电放电单元ESD BLOCK P2与PDIO二极管的位置交换,而第二静电放电单元ESD BLOCK N2与NDIO二极管的位置也交换。
为了避免上述二极管于PS模式及ND模式静电放电期间在击穿情况下操作,而导致较低的静电放电保护电平,因此将在上述静电放电保护电路之中构成一个位于电源线之间且能够快速导通的VDD-至-VSS静电放电箝位电路1750。这将明显地增加整个静电放电保护同时降低静电放电防护电路的功率增益损耗。
上述具有电感电容式振荡电路的静电放电防护电路是由两部分所构成。第一部分是静电放电元件于输入/输出端口的实施。另一部分则是电感电容式振荡电路。关于静电放电元件,由于需要最小化射频集成电路的寄生电容,因此本发明所使用的静电放电元件必须具有高静电放电电平与小布局面积。STI二极管与硅控整流器(SCR)是这种静电放电元件的范例。关于电感电容式振荡电路,电感器已经能够实施于芯片上。对于互补金属氧化物半导体(CMOS)技术,芯片上的电感器具有低Q值,这将导致实际的电感电容谐振情况恶化。然而,有另外的高Q值电感器与搭接线电感器将可限制这种恶化情形。本发明所使用的电容器可能是金属中的金属或金属氧化物半导体(MOS)电容器。
综上所述,虽然本发明已以一较佳实施例公开如上,然其并非用以限定本发明,任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,可进行各种更动与修改,因此本发明的保护范围当视所提出的权利要求限定的范围为准。
Claims (28)
1.一种适用于一射频集成电路的静电放电防护电路,该射频集成电路包括一个具有一VDD电压射频引脚、一VSS射频引脚以及一射频输入引脚的射频电路,该静电放电防护电路包括:
一静电放电箝位电路,该静电放电箝位电路包括两个端,其中一第一端与该VDD电压射频引脚连接,并且一第二端与该VSS射频引脚连接;以及
一电感电容式振荡电路结构,该电感电容式振荡电路结构耦合在该静电放电箝位电路的该两个端之间,并且位于该射频电路与该射频输入引脚之间,其中该电感电容式振荡电路结构包括串联连接在该静电放电箝位电路的该第一端与该射频输入引脚之间的一第一二极管及一第一电感电容式振荡电路,以及串联连接在该静电放电箝位电路的该第二端与该射频输入引脚之间的一第二二极管及一第二电感电容式振荡电路。
2.如权利要求1所述的静电放电防护电路,其中该第一二极管的一阴极端与该静电放电箝位电路的该第一端耦合并且该第一二极管的一阳极端与该第一电感电容式振荡电路耦合,而该第二二极管的一阴极端与该第二电感电容式振荡电路耦合并且该第二二极管的一阳极端与该静电放电箝位电路的该第二端耦合。
3.如权利要求2所述的静电放电防护电路,其中该电感电容式振荡电路结构包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
4.如权利要求1所述的静电放电防护电路,其中该第一二极管的一阴极端与该第一电感电容式振荡电路耦合并且该第一二极管的一阳极端与一个位于该射频电路与该射频输入引脚之间的一端耦合,而该第二二极管的一阴极端与位于该射频电路与该射频输入引脚之间的该端耦合并且该第二二极管的一阳极端与该第二电感电容式振荡电路耦合。
5.如权利要求4所述的静电放电防护电路,其中该电感电容式振荡电路结构包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
6.一种适用于一射频集成电路的静电放电防护电路,该射频集成电路包括一个具有一VDD电压射频引脚、一VSS射频引脚以及一射频输入引脚的射频电路,该静电放电防护电路包括:
一静电放电箝位电路,该静电放电箝位电路包括两个端,其中一第一端与该VDD电压射频引脚连接,并且一第二端与该VSS射频引脚连接;以及
一电感电容式振荡电路结构,该电感电容式振荡电路结构耦合在该静电放电箝位电路的该两个端之间,并且位于该射频电路与该射频输入引脚之间,其中该电感电容式振荡电路结构包括一个位于该静电放电箝位电路的该第一端与该射频输入引脚之间的第一静电放电单元,以及一个位于该静电放电箝位电路的该第二端与该射频输入引脚之间的第二静电放电单元。
7.如权利要求6所述的静电放电防护电路,其中该第一静电放电单元包括串联连接的一个第一二极管及两个第一电感电容式振荡电路,并且该第二静电放电单元包括一个第二二极管及两个第二电感电容式振荡电路。
8.如权利要求7所述的静电放电防护电路,其中该第一二极管的一阴极端与该静电放电箝位电路的该第一端耦合并且该第一二极管的一阳极端与该第一电感电容式振荡电路的一端耦合,而该第二二极管的一阴极端与该第二电感电容式振荡电路的一端耦合并且该第二二极管的一阳极端与该静电放电箝位电路的该第二端耦合。
9.如权利要求8所述的静电放电防护电路,其中该第一及第二电感电容式振荡电路的每一个都包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
10.如权利要求7所述的静电放电防护电路,其中该第一二极管的一阴极端与该第一电感电容式振荡电路的一端耦合并且该第一二极管的一阳极端与一个位于该射频电路与该射频输入引脚之间的一端耦合,而该第二二极管的一阴极端与位于该射频电路与该射频输入引脚之间的该端耦合并且该第二二极管的一阳极端与该第二电感电容式振荡电路的一端耦合。
11.如权利要求10所述的静电放电防护电路,其中该第一及第二电感电容式振荡电路的每一个都包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
12.如权利要求6所述的静电放电防护电路,其中该第一静电放电单元包括串联连接的一个第一二极管及多个第一电感电容式振荡电路,并且该第二静电放电单元包括一个第二二极管及多个第二电感电容式振荡电路。
13.如权利要求12所述的静电放电防护电路,其中该第一二极管的一阴极端与该静电放电箝位电路的该第一端耦合并且该第一二极管的一阳极端与该第一电感电容式振荡电路的一端耦合,而该第二二极管的一阴极端与该第二电感电容式振荡电路的一端耦合并且该第二二极管的一阳极端与该静电放电箝位电路的该第二端耦合。
14.如权利要求13所述的静电放电防护电路,其中该第一及第二电感电容式振荡电路的每一个都包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
15.如权利要求6所述的静电放电防护电路,其中该第一二极管的一阴极端与该第一电感电容式振荡电路的一端耦合并且该第一二极管的一阳极端与一个位于该射频电路与该射频输入引脚之间的一端耦合,而该第二二极管的一阴极端与位于该射频电路与该射频输入引脚之间的该端耦合并且该第二二极管的一阳极端与该第二电感电容式振荡电路的一端耦合。
16.如权利要求15所述的静电放电防护电路,其中该第一及第二电感电容式振荡电路的每一个都包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
17.一种适用于一射频集成电路的静电放电防护电路,该射频集成电路包括一个具有一VDD电压射频引脚、一VSS射频引脚以及一射频输入引脚的射频电路,该静电放电防护电路包括:
一静电放电箝位电路,该静电放电箝位电路包括两个端,其中一第一端与该VDD电压射频引脚连接,并且一第二端与该VSS射频引脚连接;以及
一电感电容式振荡电路结构,该电感电容式振荡电路结构耦合在该静电放电箝位电路的该两个端之间,并且位于该射频电路与该射频输入引脚之间,其中该电感电容式振荡电路结构包括串联连接在该静电放电箝位电路的该第一端与该射频输入引脚之间的一第一二极管、一第一电感电容式振荡电路以及一第一静电放电单元,以及串联连接在该静电放电箝位电路的该第二端与该射频输入引脚之间的一第二二极管、一第二电感电容式振荡电路以及一第二静电放电单元。
18.如权利要求17所述的静电放电防护电路,其中该第一静电放电单元包括串联连接的一第三二极管及一第三电感电容式振荡电路。
19.如权利要求18所述的静电放电防护电路,其中该第三二极管的一阴极端与该静电放电箝位电路的该第一端耦合并且该第三二极管的一阳极端与该第三电感电容式振荡电路耦合。
20.如权利要求18所述的静电放电防护电路,其中该第三电感电容式振荡电路包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
21.如权利要求18所述的静电放电防护电路,其中该第三二极管的一阴极端与该第三电感电容式振荡电路耦合并且该第三二极管的一阳极端与该第一电感电容式振荡电路耦合。
22.如权利要求21所述的静电放电防护电路,其中该第三电感电容式振荡电路包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
23.如权利要求17所述的静电放电防护电路,其中该第二静电放电单元包括串联连接的一第四二极管及一第四电感电容式振荡电路。
24.如权利要求23所述的静电放电防护电路,其中该第四二极管的一阴极端与该第四电感电容式振荡电路耦合并且该第四二极管的一阳极端与该静电放电箝位电路的该第二端耦合。
25.如权利要求23所述的静电放电防护电路,其中该第四电感电容式振荡电路包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
26.如权利要求23所述的静电放电防护电路,其中该第四二极管的一阴极端与该第二电感电容式振荡电路耦合并且该第四二极管的一阳极端与该第四电感电容式振荡电路耦合。
27.如权利要求26所述的静电放电防护电路,其中该第四电感电容式振荡电路包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
28.如权利要求17所述的静电放电防护电路,其中该第一及第二电感电容式振荡电路的每一个都包括彼此并联连接的一电感器及一电容器。
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