CN1228840A - 用于光学测定在一个纵向运动的线形物体上的一种参数的装置 - Google Patents

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H·瓦姆普夫勒
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Abstract

本发明涉及到用于光学测定一个纵向移动的线形物体上至少一个参数的一种装置和一种方法。为了对参数例如一个线形物体的直径、一个线体的直径、一个线的毛度等能够简单而且准确地测定,应该使用一个由至少两个单个传感器(30)组成的光学传感器,其中至少有一个单个传感器是这样构成和设置的,至少作为一个参数的一个测量值是被数字测定的,从物体上至少平行地被测定两个信号,其中至少一个是脉冲的。

Description

用于光学测定在一个纵向运动的 线形物体上的一种参数的装置
本发明涉及到用于光学测定在一个纵向运动的线形物体上的至少一种参数的一种装置。
从CH643060中已经知道一种方法和一种装置是用于确定一种线-或绳形物体的直径或截面的。此时被一个光源照射的物体的影像图被一个由一系列并列设置的光敏器件组成的图象接收器所测量。光敏器件输出脉冲信号,这些信号在一个计算器上一起被计算并且被转换成具体的直径-或截面值。
这种已知方法的一个缺点是,对于某些参数来说准确的测量结果必须用相当高的电路费用才能达到,因为例如只有这样才能得到所需要的一条纱线的毛值,当单个的光敏器件没有直径并且具有相当多的数量时。
如同在专利权利要求书中所表示的,现在本发明解决这个任务,是建立一种装置,例如一种线形物体的直径、一种纱线物体的直径、一条纱线的毛值用它可以被简单地和准确地得到。
此任务是用一个、由至少两个单个传感器组合成的光学传感器解决的,其中至少有一个单个传感器是这样构成和设置的,至少一个参数是被数字化地测定的。传感器最好一方面有直接数字测定例如一个参数如物体的直径的单个传感器,而且另一方面它还有一个模拟测定同一个或一个另外的参数的单个传感器。因此传感器有按照不同原理工作的或者它们的信号按照不同的原理被计算的单个传感器。这种光学传感器的优点是有一个扩展,在横向于物体的纵向上超过物体并且最好是这样构成的,测定一个参数时至少部分地在物体的同一个范围内实现。传感器应被定向光线照射,这样纱线在光源和传感器之间将光线遮挡。传感器与一个计算电路相连接,由几个单个传感器来的信号用它也可以被一同计算出来。
通过本发明达到的优点是,除了一个相对平滑物体的直径以外具有松散表面结构的一个物体的直径也可以用微分法被测量出来,而不需要一个结构很复杂的装置。例如在纱线上纱线物体(没有突出的纤维)和纱线的毛值(突出纤维的部分)可以被分别地测量。一个这样的传感器通过一个电子计算装置也可以适应于改变了的测量条件并且补偿或考虑例如脏污和淤积对传感器的影响。
以下将用一个例子和附图详细地叙述本发明。其示出了:
附图1至4是每个用简图表示的按照本发明的装置的一部分,
附图5至8是每个装置的一个其它部分,
附图9是装置的一部分的一个功能的一个简图
附图10是一个模拟的和一个数字的信号,
附图11是一个通过一个具有某个尺寸的线形物体的横截面,和
附图12和13各自是来自该装置的一个信号。
附图1表示了由几个相互错位的单个传感器2a、2b、2c、2d等组成的一个传感器1,但是从x-方向和y-方向看它们是重叠排列的。
附图2表示了一个传感器,它是由排列成一行的单个传感器3a、3b、3c、3d以及3e和3f组成的。在这里例如单个传感器3a-3d是数字工作的,而单个传感器3e和3f相反是模拟工作的。这样具有单个传感器3a和3e的一个传感器3至少在涉及到它们输出信号的处理方面是按照不同原理工作的。单个传感器是在被测量的参数方向上排列的,在这里如附图1是在物体K的直径或截面方向上。
附图3表示了一个具有单个传感器5和6a-6k的传感器4。在这里单个传感器5是模拟工作的和单个传感器6a-k全都是数字的,此时单个信号被组合成一个数字信号。
附图4表示了具有单个传感器8a、8b和9a-9e的一个另外的传感器7。和传感器4一样,(附图3)单个传感器8和9覆盖了同样的测量区高度,或者至少部分地对应于物体的同样的区域(这里指y-方向)。
附图5表示了传感器10和11,它们被设置在两个相互倾斜的平面12和13上。
附图6表示了一个测量狭缝14,它一般被用于测量或监控线15。测量狭缝14被各用一个玻璃盖子16、17从侧面限制住。玻璃盖子16、17的另一面是光筒或导光筒18、19,它们各自从属于一个传感器20、21并且将光信号导向一个接收器22、23。导光筒18、19各自有一个反射镜24、25,这样就产生两条光束26、27,它们各自是由传感器20、21经反射镜24、25和线15而导向接收器23、22的。传感器20、21最好构造成这样,它们主要是发射定向光。接收器22、23最好是一个伸缩同心的接收镜。因此在玻璃盖子16、17和测量狭缝14范围内主要是出现平行光束。这样线15在测量狭缝14内的位置可以改变,而不至于改变线15在接收器22、23上成像的大小。因而比例尺也不改变。通过这种设置也保证了,正交的光束在测量狭缝14内几乎不受影响并且因而可以共同被用于测量数据的获取。
附图7表示了两个各自相同结构的电路28和29,如同它们可以被用于每个单个传感器一样。一个这样的电路是由将光转换成一个电流的一个元件30组成的,例如一个光电二极管。这种元件30就是原本的单个传感器。这个和其它的元件例如一个电荷放大器31、35,一个比较器32和一个存储器或寄存器33串联在一起以转换它的输出信号。电荷放大器31,它是由一个运算放大器31和一个电容器34(在反馈电路内)组成,并且还和一个开关34并联。比较器32的输入端与一个参考线路36接通。存储器33的输出端与一个乘法器37连接。在乘法器的后面又接上一个计算电路38,它主要是可以被组成为计算器。同样与计算电路38连接的是可选择的一个电路39用于产生一个模拟的单个信号。它除了有一个单个传感器64以外特别还有一个具有一个并联电容器62和一个电阻63的运算放大器61。最好至少上述元件的一部分与单个传感器30、64集成为一个积分电路并且因而构成一个所谓的“智能传感器”。
附图8用简图方式表示了传感器中的一个的一个表面40,一个线形物体41的横截面和一个定向光的光源42。例如它可以由一个点式的或行式的光源43和一个伸缩同心的镜子44所组成。因而可以被生成定向的和主要是平行的光束45。
附图9表示了各种直线,它们从属于装置内的过程并且表示了沿一个时间坐标46和另一个坐标47记录下的电压值或成比例的相应数值。例如直线48标志了一个周期循环的起始和直线49标志了一个周期循环的结束。直线50、51和55显示了电容器35随着时间在各种状况下的充电,它对应于一条直线52的一个时间开始。
附图10简化地表示了在一个时间坐标t上记录的一个模拟单个信号57和一个数字的和脉冲的单个信号58,它是由单个数值58a至58f组成。通过在测量或计算中被使用的各种原理,产生模拟和数字信号之间的差值59c、59d等。
附图11表示了一个线形物体的一个横截面的一个轮廓70,在这里它是不圆的并且特别像椭圆形。d1和d2是主尺寸,它们是沿着轮廓60的主坐标得到的。d1′和d2′是在两个另外的,正交方向得到的主尺寸。
附图12表示了一个线形物体65的简图,例如它对应于附图。1上的物体K,它是通过具有相应分辨率的单个传感器6(附图4)在计算电路中产生的,在计算电路中存储了数个连续的测量循环。在这里单个传感器,例如单个传感器66的尺寸小于单个传感器6和9而且对应于每一个单个传感器或寄存器在计算电路38的一个存储器中有一个存放二进制信号的存储位置。为了得到一个这样的图象,几个行67a、67b、67c等被存储,其中每个行67从属于一个一定的测量循环。除了原来的物体65以外还有用68和69标志的突出的可以辨认出的各个纤维纹路或纤维。用被称为一个所谓的腐蚀矩阵70来进行原本已经知道的和所谓的邻近运算。在这里它是由十三个寄存器或存储位置组成的,它们都是围绕着存储位置71排列的,在其上被进行邻近运算。
附图13表示了对应于附图12的简图,在其上突出的纤维纹路或纤维通过邻近运算被整理掉。这样人们还只能识别出如同原来物体72的一个大面积的图象,其直径通过腐蚀在每个侧面人为地减小了两个存储位置。
装置的构造原理如下所述:
如在附图8中所示,一个线形物体41例如一条线、一个纤维、一个绳子等,和在已知的线检查仪和线清洁器上的情况一样,在一个测量缝隙中在它的纵向方向上在一个传感器旁移过,这里表示了它的表面40。表面40被在光源42对面的物体41所遮挡或形成阴影。在表面40的后面有一个传感器1、3、4或7,如在附图1至4之一中已知。
用传感器1例如一个物体K的直径在y-方向或一个物体K在x-方向到达时被测定。物体K,从光源方向看在附图1上完全遮盖了两个单个传感器和只部分地遮盖了两个。四个单个传感器各自输出一个单个信号,信号受物体K的影响。三个单个传感器2a、2b、2c输出一个单个信号,信号不受物体K的影响。通过总共八个单个信号的计算可以产生一个信号,它与物体K的直径成正比。测量的准确度取决于,在长度单位上有多少个单个传感器或者单个信号是否是单独可调制的,即模拟处理的或者它们仅仅是二进制被获取的,这样产生了一个数字信号。一个另外的可能性是将传感器1设计成,作为参数它只能测定物体K在Y-方向的位置。然后例如单个传感器2c不能输出信号,以显示由于物体K所造成的阴影,相反单个传感器2d输出一个这样的信号。因而有一个物体K的外边界位于其间。一个物体的直径作为参数用传感器3(附图2)可以与传感器1用同样的方法被测得。依据以下情况,单个传感器3a-3d输出单个信号,是二进制的和单个传感器3e和3f输出的是模拟的并且要被继续处理的,这样物体的边界范围有可能被测量出有一个差别。或者可以用单个传感器3a-3d测定直径和用单个传感器3e和3f测定突出部分的存在和其大概的尺寸。
用传感器4(附图3)物体的直径可以一方面用单个传感器6a-6k数字式和另一方面用单个传感器5模拟式测量。单个传感器6输出一个单个信号,它与通过物体的阴影成比例,但是它是二进制的,这样由单个传感器6产生一个数字信号。通过由单个传感器5来的单个信号与由单个传感器6来的数字信号相比较可以确定另外的参数如物体的毛度、结构等,特别是当物体是一条线时。
用传感器7(附图4)可以和用传感器4一样的原理测量,其区别是,单个传感器8各自输出一个单个信号,它取决于物体在单个传感器8在y-方向以前的位置。如果物体在传感器的下边缘,则它主要遮挡单个传感器8b,则单个传感器8b的单个信号比单个传感器8a的信号受到很强的影响。如果物体是在传感器的上边缘,则单个传感器8a受到较强的影响。
用按照附图5的一个装置,传感器10和11被设置在其上的两个平面12、13上,物体可以被从两个方向观察,这样就允许对物体的实际截面得到较准确的结论。传感器1、3、4、7或其它的可以被作为传感器10、11用。
用按照附图6的装置一个物体,这里是指一条线对应于射线束26、27也是从两个方向观察。传感器20发射一个光束到反射镜24,被从那里导向接收器23。此时线遮挡住接收器23,它是由传感器1、3、4、7中的一个组成的。传感器21发射一个光束到反射镜25被从那里导向接收器22。此时线15遮挡住接收器22,它是由传感器1、3、4、7中的一个组成的。作为光束在这里被理解为一个整个的光束主要是定向的和平行的光束,这样线15也会被测得,如果不是准确地位于测量缝隙14的指定的位置的话。
如果现在单个传感器部分地或者整个被一个物体在光源的对面所遮盖,则此时按以下方式出现一个循环。在一个时间48(附图5)处这个循环起动,一个复位信号56被释放,将开关34(附图7)闭合,保持闭合和直到一个时间52,在这个时间内电容器或电容器35通过由单个传感器来的光电流开始充电,或者用另外的说法,将被测得的信号积分。
如果一个单个传感器不被物体41在光源42的对面遮盖,这样电容器35的充电进行的很快,如直线50所示,并且在时间53时结束,如果达到一个阙值54时。此时运算放大器31将由电容器35来的信号放大并且将它输出给比较器32。它连续地将按照直线50的信号与一个阙值比较,它是用一条直线54表示的并且用一条导线36连上的。如果达到了阙值54,则比较器32输出一个信号给存储器33,这说明,单个传感器没有被遮盖。这个信号只有两个可能的数值并且是一个二进制的信号。
如果一个单个传感器被物体遮盖,则它不能得到直接的光,而最好的情况是得到漫射光。因而电容器35充电很慢,例如对应于一条直线55并且最好的情况下要达到阙值要经过一个很长的时间,它使循环时间增加。被测得的信号在一个给定的时间内被积分然后被复位。存储器33,它以同样的循环时间工作并且因而与开关34的节拍同步,现在由比较器32得到一个信号,这说明,单个传感器是被遮盖的并且这个信号与由存储器来的信号一起被输出给另外的单个传感器。乘法器37将所有的信号通过单个的二进制数值的排列制造出一个信号,它显示了对整个传感器照射得出的一个图象。从而可以被推导出线的横截面的数值。
循环时间受直线48和49的限制。根据单个传感器的质量和单个传感器脏污的程度电容器35充电直到达到阙值54的时间或多或少地要长一些。直线49以及51说明了,电容器35要多长的充电时间,当只有50%的光到达单个传感器时。以测定电容器35允许的充电时间作为评价的依据时,用半功率达到阙值54还在循环之内也就是在时间49之内。在循环时间之内通过移动直线52、53它可以通过延长或缩短复位信号56的时间得到调整,这还意味着,复位信号56要耗费循环时间之内的其余时间。因而单个传感器是适用的,它在直线49和52的时间之内不能够充分地充电而是被物体遮盖。如果脏物不明显并且如果是一个非常好的单个传感器,则直线52和53移向直线49而且直线50和51更陡。这个过程对每个单个传感器可以重复进行此时参与的单个传感器中的第一个信号到达阙值54所需要的时间可以作为调节量被求得。这个时间作为调节的实际-值。此时间的双倍数值是曝光-或积分时间,它是位于直线49和52之间。如果这个时间太短,则第一个传感器到达阙值54太晚,也就是说超过一半时间才到达。随后这个必须被延长。
例如人们将以下作为依据,用传感器4通过单个传感器5和一个开关39(附图7)产生一个模拟的单个信号57(附图10),它与物体的直径成比例,并且通过单个传感器6a-6k和开关29、30等产生一个数字的单个信号58,它同样与物体的直径成比例,这样人们可以确认,这两个单个信号是不能准确的一致的,即使它们来源于同一个物体。差值59例如是由此而产生的,单个传感器5和6不能同时测定物体的边缘范围。例如单个传感器6对于一条线来说比较早地测量到线体,相反单个传感器5测量具有突出纤维的线。差值59例如可以对应于线的毛度并且这个在计算机38里由单个信号57和58的相减而被得到。因此从同一个物体上被平行地测定两个信号,其中的一个是脉冲的。
用按照附图5的装置物体可以被从两个方向测量。如果物体的截面作为参数要被测量时,则必须再被测量两个不同的直径。为此有几种可能性,如附图11所示。作为主直径可以测量主尺寸d1和d2或d1′和d2′。因为用按照附图5的装置例如它有两个方向,它们是相互垂直的,而不明确的是,现在被测量的是那个主尺寸,因为它取决于物体偶然放置的位置。为了使这个影响尽可能的小,应对两个被测量的尺寸进行两次运算并且形成主尺寸的乘积d1×d2或d1′×d2′和主尺寸平方和的半值即0.5(d12+d2)或0.5(d1′2+d2′2)。这些可以在计算电路38中进行,传感器10和11的所有单个传感器均与计算电路连接。从两个主尺寸中可以给出参数如物体的圆度(圆尺寸),对应于经捻制而成的捻线,此时应计算小直径与大直径之商值,例如d2/d1。
集成的单个传感器5、8的优点是,它输出一个模拟的单个信号如同单个传感器6、9,输出一个数字信号一样具有相同节拍的脉冲信号。然后在附图10中同样出现一个阶梯曲线57a,它代替了单个信号57。虽然这样阶梯曲线57a仍然是建立在模拟测量和处理的信号的基础上的。
由单个传感器来的单个信号可以有选择地通过人们已经熟悉的邻近运算被进一步处理。这里首先将数字化的单个传感器6、9经过数次连续循环得到的结果存储起来。每个单个传感器由这些循环中的一个得到的信号与相邻的信号,也就是在相邻的循环中的同一个单个传感器的信号和相邻的单个传感器在同一个和在相邻的循环中测得的信号并且与单个传感器的相应的信号相比较。这样对每个单个信号也就形成了周围环境并且从周围环境中一个单个传感器的惹人注意的单个的信号与周围环境的信号相匹配。这样由松散的相互关联的寄存器形成的疏松结构被剔除并且只留下大面积的图象,例如一个线物体,如附图13所示。

Claims (13)

1.用于光学测定在一个纵向移动的线形物体(K)上的至少一种参数的装置,其特征在于,由至少两个单个传感器(2、3、5、6、8、9)中的一个组成的光学传感器(1、3、4、7),其中至少一个单个传感器是这样构成和设置的,至少参数的一个测量值是被数字测定的。
2.按照权利要求1的装置,其特征在于,多个单个传感器(2a-2c、3a-3d、6a-6k、9a-9e)被设置为对参数的一个测量值的直接数字测定。
3.按照权利要求1的装置,其特征在于,一个单个传感器(5、8a、8b)被设置为对参数的一个测量值的模拟测定。
4.按照权利要求3的装置,其特征在于,模拟测定一个参数的一个测量值的单个传感器(5、8)和数字测定一个参数的一个测量值的至少一个单个传感器(6、9)至少部分地被设置在物体的同一个区域内。
5.按照权利要求1的装置,其特征在于,单个传感器用于数字测定的元件(31、32)被设置为将它的输出信号转换为至少是一个二进制的信号,其含有至少一个阙值(54)。
6.按照权利要求5的装置,其特征在于,该元件(31、32)在一个积分电路上与单个传感器30集成在一起。
7.按照权利要求1的装置,其特征在于,一个定向光的光源(42)是属于传感器的。
8.按照权利要求1的装置,其特征在于,每一个光学传感器(10、11)被各自平行于一个第一个和一个第二个平面(12、13)设置。
9.光学测定在一个纵向移动线形物体(K)上的至少一个参数的方法,其特征在于,从物体上至少并行地测定两个信号(57、58),其中至少有一个是脉冲式的。
10.按照权利要求9的方法,其特征在于,一个信号数字地和一个信号模拟地被处理为一个测量值。
11.按照权利要求9的方法,其特征在于,脉冲测定的信号在一个给定的时间内求积分并且在给定的时间(48)以后被复位。
12.按照权利要求11的方法,其特征在于,如果阙值在给定的时间之内被达到,脉冲测定的信号被连续地与一个阙值(54)相比较并且产生一个输出信号。
13.按照权利要求11的方法,其特征在于,给定的时间受光源(42)照射物体的过程的影响并且随之是可以改变的。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100412249C (zh) * 2001-12-17 2008-08-20 里特捷克有限公司 用于运动纱线或类纱线纺织物结构直径的无接触测量的设备
CN104374781A (zh) * 2013-07-16 2015-02-25 里特捷克有限公司 用于监视纺织机上移动纱线的参数的cmos光学检测器
CN105158271A (zh) * 2013-07-16 2015-12-16 里特捷克有限公司 监视纱线的至少一个质量参数和/或传感器参数的方法
CN105821537A (zh) * 2014-12-30 2016-08-03 里特捷克有限公司 在纱线质量的光学检测器中监测纱线质量的方法及执行该方法的光学检测器
CN108407116A (zh) * 2018-03-30 2018-08-17 青岛高测科技股份有限公司 并线检测装置、方法及包括该并线检测装置的金刚线切片机

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001051397A1 (de) * 2000-01-14 2001-07-19 Zellweger Luwa Ag Verfahren zur erfassung von qualitätsmerkmalen an garn
GB0120771D0 (en) * 2001-08-25 2001-10-17 Fibrevision Ltd Yarn monitoring
CZ304758B6 (cs) 2013-07-16 2014-09-24 Rieter Cz S.R.O. Způsob sledování kvality příze elektronickým čističem příze a senzor k jeho provádění
CZ305265B6 (cs) * 2013-12-17 2015-07-08 Rieter Cz S.R.O. Způsob sledování kvality příze nebo jiného lineárního textilního útvaru v optickém snímači kvality příze a řádkový optický snímač k provádění způsobu
IT201700042506A1 (it) 2017-04-18 2018-10-18 Btsr Int Spa Metodo, sistema e sensore per rilevare una caratteristica di un filo tessile o metallico alimentato ad una macchina operatrice
CZ2019196A3 (cs) * 2019-03-29 2020-10-07 Rieter Cz S.R.O. Způsob bezdotykové optické detekce příze na pracovním místě textilního stroje pro výrobu příze, optický snímač příze a textilní stroj

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH643060A5 (de) 1979-11-20 1984-05-15 Zellweger Uster Ag Verfahren zur bestimmung des durchmessers oder des querschnittes eines faden- oder drahtfoermigen koerpers, vorrichtung zur ausfuehrung des verfahrens, sowie anwendung des verfahrens.
DE3578582D1 (de) * 1985-12-24 1990-08-09 Barco Automation Nv Verfahren zum messen einer physikalischen groesse mit numerischen daten unter verwendung einer analogen messvorrichtung und messapparat fuer dieses verfahren.
DE4131664A1 (de) * 1991-09-23 1993-03-25 Rieter Ingolstadt Spinnerei Verfahren und vorrichtung zum erfassen von garnfehlern
CH683294A5 (de) 1992-01-31 1994-02-15 Loepfe Ag Geb Vorrichtung zur Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern in einem langgestreckten, textilen Gebilde.
CH683035A5 (de) * 1992-01-31 1993-12-31 Loepfe Ag Geb Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern in langgestreckten, textilen Gebilden.
US5319578A (en) * 1992-09-24 1994-06-07 Lawson-Hemphill, Inc. Yarn profile analyzer and method
CH686803A5 (de) * 1993-09-09 1996-06-28 Luwa Ag Zellweger Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Fremdstoffen in einem textilen Pruefgut.
JPH08254504A (ja) * 1994-11-29 1996-10-01 Zellweger Luwa Ag 伸長された物体の特性を記録するための方法と装置
JP3611140B2 (ja) * 1995-07-20 2005-01-19 計測器工業株式会社 糸の測定装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100412249C (zh) * 2001-12-17 2008-08-20 里特捷克有限公司 用于运动纱线或类纱线纺织物结构直径的无接触测量的设备
CN104374781A (zh) * 2013-07-16 2015-02-25 里特捷克有限公司 用于监视纺织机上移动纱线的参数的cmos光学检测器
CN105158271A (zh) * 2013-07-16 2015-12-16 里特捷克有限公司 监视纱线的至少一个质量参数和/或传感器参数的方法
CN105158271B (zh) * 2013-07-16 2020-01-03 里特捷克有限公司 监视纱线的至少一个质量参数和/或传感器参数的方法
CN104374781B (zh) * 2013-07-16 2020-01-14 里特捷克有限公司 用于监视纺织机上移动纱线的参数的cmos光学检测器
CN105821537A (zh) * 2014-12-30 2016-08-03 里特捷克有限公司 在纱线质量的光学检测器中监测纱线质量的方法及执行该方法的光学检测器
CN108407116A (zh) * 2018-03-30 2018-08-17 青岛高测科技股份有限公司 并线检测装置、方法及包括该并线检测装置的金刚线切片机

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