CN1213284C - 低功率雷达电平发送器以及多过程产品界面检测方法 - Google Patents

低功率雷达电平发送器以及多过程产品界面检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种低功率时域电平发送器,用于计算罐内的第一产品和第二产品的料位。一终端伸展进入罐内的第一和第二产品中。一脉冲发生器沿终端向第一和第二产品发送脉冲。一脉冲接收器接收分别与在第一产品界面上被反射的发送脉冲的第一部分和与在产品第二界面上被反射的发送脉冲的第二部分相符的第一和第二反射波。本发送器还包括一门限控制器、一介电常数计算器和一料位计算机。

Description

低功率雷达电平发送器以及多过程产品界面检测方法
技术领域
本发明涉及一种多过程产品界面检测装置,更具体地说,涉及一种低功率雷达电平发送器以及采用该低功率雷达电平发送器检测多过程产品界面的方法。
背景技术
工业过程控制领域利用过程变量发送器监视与在化工、纸浆、石油、制药、食品和其它食品加工工厂中的诸如固体、悬浮体、液体、水蒸气和气体等物质有关的过程变量。过程变量包括压力、温度、流量、料位、浊度、密度、浓度、化学成分和其它特性。过程变量发送器通过过程控制回路可以向控制室提供一个与检测出的过程变量有关的输出,从而实现对过程的监视和控制。
过程控制回路可以是一个两线4-20mA过程控制回路。采用这样一种过程控制回路,激励能级充分的低,因而甚至在故障条件下,回路一般也不具有足以产生电火花的电能。此点对易燃的环境是特别有利的。过程变量发送器往往可以在这种低能级上工作,因而它可以接收来自4-20mA回路的所有电能。控制回路也可以具有根据诸如HART数字协议等工业过程控制标准协议的加在两线回路上的数字信号。
目前采用低功率时域反射雷达(LPTDRR)仪测量在储存罐中的过程产品的料位(液体或固体)。在采用时域反射的方法时,由一个源发射电磁能,并且该电磁能被非连续地反射。接收脉冲的渡越时间取决于传播电磁能的介质。一种被称作微功率雷达(MIR)的LPTDRR是由劳伦斯.利弗莫尔实验室研制出的。
低功率雷达电路通常可以检测某一时刻一种产品在罐内的料位。但常常储罐内有多种产品,一种在另一种的上面。这样在具有不同介电常数的产品之间就形成了多个界面,在这些界面上发送的微波将被反射。例如在一个装有水基物料和油基物料的罐内通常有两个界面,一个是空气和油之间的界面,另一个是油与水基物料间的界面。有时在产品界面附近也会产生有限的混合物。惯用的低功率雷达发送器不能检测两种产品的界面,因而如果没有用户提供的主要的介电常数数据,是不能检测两种产品的料位的。另外,一旦过程产品的介电常数发生变化,必须把它们重新输入,否则就会造成系统的误差。
发明内容
针对现有技术中存在的上述技术问题,本发明提出一种低功率雷达电平发送器以及采用该低功率雷达电平发送器检测多过程产品界面的方法。
本发明解决现有技术所存在问题的技术方案是这样的,提供一种低功率雷达电平发送器,用于多过程产品界面检测,所述电平发送器具有:一个终端,该终端伸展入罐内的第一和第二产品中;一个脉冲发生器,该脉冲发生器与终端耦合,适用于产生微波发送脉冲,该发送脉冲沿终端发送入罐内的第一和第二产品中,发送脉冲的第一部分在第一产品界面被反射,发送脉冲的第二部分在第二产品界面被反射,所述第二产品界面系在第一与第二产品之间形成的界面;一脉冲接收器,该脉冲接收器与终端耦合,适用于接收与在第一产品界面上被反射的发送脉冲的第一部分相符的第一反射波脉冲和接收与在第二产品界面上被反射的发送脉冲的第二部分相符的第二反射波脉冲;一门限控制器,该门限控制器与脉冲接收器耦合,适用于对第一反射波脉冲是否至少满足第一门限值和是否第二反射波脉冲至少满足第二门限值进行检测,并提供一与对第一和第二反射波脉冲的检测有关的接收脉冲输出信息;一介电常数计算器,该计算器与门限控制器耦合,适用于计算作为接收脉冲输出信息的函数的罐内第一产品的介电常数;和一个料位计算机,该计算机与门限控制器和介电常数计算器耦合,适用于计算作为第一反射波脉冲的检测时间的函数的第一产品料位,并适用于计算作为第二反射波脉冲的检测时间的函数和作为计算出的第一产品的介电常数的函数的第二产品的料位。
在上述电平发送器中,所述终端线是双对称的微波传输线。
在上述电平发送器中,所述电平发送器与一双线过程控制回路耦合,电平发送器还包括输出电路,该输出电路与双线过程控制回路耦合,该回路用于通过回路发送与产品高度有关的信息。
在上述电平发送器中,所述电平发送器还包括电源电路,该电源电路与双线过程控制回路耦合,该电源电路用于接收来自回路的能量,以便为发送器提供单独的电源。
在上述电平发送器中,所述过程控制回路是一个4-20mA过程控制回路。
在上述电平发送器中,所述介电常数计算器计算作为与发送脉冲量值对应的第一反射波量值的函数的第一产品介电常数。
在上述电平发送器中,所述电平发送器还包括一模/数转换器,该模/数转换器与脉冲接收器耦合并用于将第一和第二反射波脉冲数字化,其中门限控制器、介电常数计算器和料位计算机构成一微处理器,该微处理器与模/数转换器耦合,用于对数字化的第一和第二反射波脉冲进行检测,用于计算第一产品的介电常数,并用于计算第一和第二产品的料位。
在上述电平发送器中,所述门限控制器还用于计算作为用户输入的数据的函数的第一和第二门限。
在上述电平发送器中,所述门限控制器包括:一比较器,该比较器具有第一和第二输入端,第一输入端与脉冲接收器耦合并用于接收第一和第二反射波脉冲;一微处理器,该微处理器用于产生表示所需门限的数字输出;和一数/摸转换器,该数/摸转换器与微处理器耦合,用于接收数字输出,数/摸转换器将数字输出转换成模拟门限电压并将模拟门限电压提供给比较器第二输入端。
在上述电平发送器中,所述脉冲发生器包括一低功率微波源。
在上述电平发送器中,所述脉冲接收器包括一低功率微波接收器。
根据本发明解决现有技术中的技术问题的另一方面,还提供一种低功率雷达电平发送器,用于进行多过程产品界面检测,该电平发送器包括:一终端,该终端伸展进入罐内的第一和第二产品中;一低功率微波脉冲发生器,该发生器与终端耦合,用于产生微波发送脉冲,该微波发送脉冲沿终端被发送入罐内的第一和第二产品中;一低功率微波脉冲接收器,该接收器与终端耦合,用于接收与被反射的发送脉冲相符的反射波脉冲;介电常数计算装置,该装置与低功率微波脉冲接收器耦合,用于计算第一产品的介电常数;和料位计算装置,该装置与低功率微波脉冲接收器和介电常数计算装置耦合,用于计算第一和第二产品的料位。
根据本发明解决现有技术中的技术问题的另一方面,提供一种检测多过程产品界面的方法,该方法包括:产生发送脉冲,该发送脉冲被沿终端发送入罐内的第一和第二产品中;接收与在第一产品界面上被反射的发送脉冲第一部分相符的第一反射波脉冲;接收与在第一和第二产品间形成的第二产品界面上被反射的发送脉冲第二部分相符的第二反射波脉冲;计算作为反射波脉冲函数的第一产品的料位;和计算作为第一和第二反射波脉冲函数和作为计算出的第一产品介电常数的函数的第二产品的料位。
在上述检测多过程产品界面的方法中,对第二产品的料位的计算还包括:对收到第一反射波脉冲和收到第二反射波脉冲之间的第二时间周期的计算;和对作为第二时间周期的函数和作为计算出的第一产品的介电常数的函数和作为计算出的第一产品的料位的函数的第二产品的料位的计算。
在上述检测多过程产品界面的方法中,对作为第一反射波脉冲的函数的第一产品介电常数的计算还包括:对第一反射波脉冲振幅的计算;和对作为第一反射波脉冲与基准振幅的比的函数的第一产品介电常数的计算。
为对在罐内的第一和第二产品的料位进行计算,计算出第一产品的介电常数。一终端伸展进入罐内的第一和第二产品中。一发送脉冲发生器沿终端发送一个脉冲进入第一和第二产品中。一个低功率时域反射雷达(LPTDRR)脉冲接收器分别接收第一和第二反射波脉冲,所述第一反射波脉冲与在第一产品界面上反射的发送脉冲的第一部分相符,所述第二反射波脉冲与在第二产品界面上反射的发送脉冲第二部分相符。一门限控制器产生出用于检测第一反射波脉冲的第一门限和用于检测第二反射波脉冲的第二门限。介电常数计算器计算出作为第一反射波脉冲函数的第一产品的介电常数。料位计算机计算出第一和第二产品的料位。
附图说明
图1为说明本发明实施例环境的微波电平发送器的示意图;
图2为本发明实施例的电路的方框图;
图3为本发明另一实施例的电路的方框图;
图4和5为说明低功率时域反射雷达(LPTDRR)等效时间波控制门限的曲线图;
图6为控制接收门限电路的示意图;
图7为说明LPTDRR等效时间波的曲线图;
图8和9为说明由根据本发明的一个实施例的电平发送器实施的方法的流程图。
具体实施方式
图1为说明安装在储罐12、13、17、24环境下的电平发送器100的示意图,所述储罐含有过程产品,所述产品一种在另一种上面。如图所示,储罐12含有第一产品14,该产品在第二产品15之上。电平发送器100包括机壳16和终端110。发送器100与过程控制回路20耦合,并通过回路20向控制室30或与过程控制回路20耦合的其它设备(图中未示出)发送有关过程产品高度的信息(该回路被模化为电压源和电阻)。回路20为发送器100的电源并且可以采用诸如4-20mA、基础现场总线(Foundation Fieldbus)或HART等任何工业标准通信协议。作为低功率雷达发送器的发送器100可以完全由通过4-20mA过程控制回路接收的能量供电。
图1示出采用雷达电平发送器的各种应用。例如,储罐12中过程产品14和15是液体,而在储罐13中的过程产品18和19为固体。储罐17中的过程产品21和22是液体,所述液体的液位与管23连通,一个终端110伸展入该管中。另外储罐24,如图所示,含有产品25和26,并具有安装在罐24顶部的辐射型终端。尽管在图1中表述的是罐12、13、17和24,但本发明的实施例也可以在没有罐的环境下,例如湖泊或水库中得以实现。
图2和3为电平发送器100的方框图。图4和5为说明本发明实施例的可控门限的等效时间低功率时域反射雷达(LTPDRR)发/收波形的曲线图。图4和5的波形是可以变换的并且仍落在本发明的范围之内,这对于本领域的专业人员来说是显而易见的。发送器100的机壳16内有发送脉冲发生器210、脉冲接收器220、门限控制器230、介电常数计算器240和料位计算机250。发送器100还包括终端110。如图3所示,可以在一微处理器255中实现门限控制器230、介电常数计算器240和料位计算机250。但这些功能中的任何一种也可以采用分立电路加以实现。在实施例中,这些功能是在微处理器255中实现的,同时发送器100包括模/数转换器270。发送器100可以包括电源和输入/输出电路260(如图3所示),用于向发送器100提供通过回路20接收到的电源,并用于通过环路20进行通讯。在回路20上的该通讯可以包括与产品高度有关的发送信息。电路260适用于采用在回路20上接收的电能为发送器100提供单独的电源。
终端110可以是电平发送器领域的已知的类型并且可以是相应的传输线波导或天线。传输线是一个构成由一个位置到另一个位置连续通路的材料连接并可直接沿此通路传输电磁能的系统。在有些实施例中,终端110是一个具有导线或导体115和120的双对称天线,该导线或导体接在底部区125并伸展入罐12内的产品14和15中,并且可选用发射板155。终端110也可以是单极、同轴、双对称线、单线、微带,或具有任意相应数量导线的喇叭形辐射体。发送脉冲发生器210可以是与终端110耦合的低功率微波源。发生器210产生微波发送脉冲或信号,所述脉冲或信号被沿终端110发送到产品14、15中。发送脉冲可以在宽的频率范围的任意一频率上,例如在约250兆赫至约20千兆赫之间或高于20千兆赫。在一个实施例中发送脉冲的频率约为2千兆赫。等效时间波300(如图4和5所示)的基准脉冲310可以在发射板155上产生或利用其它机理对发送/接收周期的开始加以标示。沿导线115和120发送的发送脉冲微波能的第一部分在空气与产品14间的第一产品界面127上被反射。发送脉冲微波能的第二部分在产品14与产品15间的界面128上被反射。在图4和5中,等效时间波300的脉冲320表示在空气与产品14间的界面127上反射的微波能,而脉冲330表示在产品14与产品15间的界面128上反射的微波能。通常,如果产品14的介电常数小于产品15的介电常数,则脉冲330的振幅将大于脉冲320。
脉冲接收器220可以是一个与终端110耦合的低功率微波接收器。接收器220适用于接收与在产品界面127上反射的发送脉冲第一部分相符的第一反射波脉冲(在图4和5中用脉冲320表示)。接收器220也适用于接收与在第二产品界面128上反射的发送脉冲第二部分的相符的第二反射波脉冲(在图4和5中用脉冲330表示)。采用已知的低功率时域反射雷达取样技术,接收器220作为输出产生等效时间LPTDRR波300。
门限控制器230接收作为输入的波300。在实施例中,门限控制器230和介电常数计算器240用一微处理器255加以实现,模/数转换电路270对波300数字化。门限控制器230产生用于检测基准脉冲310的门限315、340和350并随之的时间T1,在此时间接收到脉冲310并对反射波脉冲320进行检测,和时间T2,在此时间接收到脉冲320并对反射波脉冲330进行检测,和时间T3,在此时间接收到脉冲330。用于检测基准脉冲310的门限值可以是一个预定的恒压,或采取已知的方式作为脉冲310的峰值振幅的函数自动确定。可以作为用户输入的数据的函数计算出门限值340、350。门限控制器230可以采用诸如探寻多脉冲的算法等软件加以实现,此点对于本领域的专业技术人员是显而易见的。门限控制器230提供如图4所示的接收脉冲门限340,脉冲320超过所述门限的电平。门限控制器230提供如图5所示的的接收脉冲门限,脉冲320超过所述门限的电平。门限控制器230作为输出根据对反射波脉冲320和/或330的检测、根据反射波脉冲320、330与其相应的门限值的比较,向介电常数计算器240和料位计算机250提供接收脉冲信息。
图6示出采用分立电路实现的门限控制器230的部分,该门限控制器产生诸如门限340和350的控制门限。门限控制器230包括比较器400,具有来自接收器220的包含有接收脉冲320和330的波300第一输入。作为第二输入,比较器400接收控制模拟门限电压,该电压是由数/摸转换器410的输出提供的。数/摸转换器410接收一个来自微处理器255的表示预期的门限的数字输入。作为收到脉冲320和330的时间标示的比较器400的输出420被提供给介电常数计算器240和料位计算机250。在产生波300的第一扫描周期内,转换器410受控提供检测脉冲320的门限350。在接着的扫描周期内,转换器410受控提供检测脉冲330的门限340。
图2中的介电常数计算器240与门限控制器230耦合,用于计算作为由门限控制器230提供的接收脉冲输出信息的函数的罐12内第一产品14的介电常数。下面将参照图7-9对采用介电常数计算器240计算介电常数的方法详细加以说明。
料位计算机250与门限控制器230和介电常数计算器240耦合,用于采用已知的从反射脉冲推导出数据的数学函数,计算第一产品14和第二产品15的料位。这些数学函数例如可以是脉冲振幅、脉冲渡越时间、脉冲斜率和脉冲区的函数。计算机250计算作为第一反射波脉冲320的检测时间T2函数的产品14的料位。计算机250还可以计算作为第二反射波脉冲330的检测时间T3和计算出的产品14的介电常数的函数的产品15的料位。
采用控制门限检测的方法,介电常数计算器240可以计算出产品的介电常数,并将此信息与多产品界面定时信息结合在一起,采用料位计算机250可以计算出多产品的料位。例如应用下述方法采用计算机250计算出上面的介质(在一具体例中的油)的介电。
在某一材料的界面上反射的脉冲的振幅根据下述关系式与材料的介电常数成比例:
εR∝ VR/VT                (公式1)
式中:
VR=反射脉冲的振幅;和
VT=发送脉冲的振幅。
一种利用关系式1计算产品14介电常数的方法,应用门限控制器230可以非常精确地确定发送和接收脉冲振幅。采用此方法计算罐12内的第一产品14和第二产品15的料位。在图7的曲线图中示出该方法并在图8的流程图中对该方法进行了综述。图7的曲线图是可以改变的并且仍落在本发明的范围之内,此点对本领域的专业技术人员是显而易见的。
本方法从方框560开始,产生发送脉冲。发送脉冲沿终端进入罐内的第一和第二产品中。在方框565处,接收到第一反射波脉冲。第一反射波脉冲与在第一产品界面127上被反射的发送脉冲的第一部分相符。在方框570处,接收到第二反射波脉冲。该第二反射波脉冲与在第二产品界面128上被反射的发送脉冲第二部分相符,所述第二产品界面系在第一产品14和第二产品15间形成的界面。
在方框575中,计算出作为第一反射波脉冲函数的第一产品介电常数。如图7的等效时间低功率时域反射雷达(LPTDRR)波520所示,发送脉冲(用基准脉冲530表示)具有一个发送振幅VT,而接收脉冲具有一个接收振幅VR。不论是采用模/数转换器270对等效时间LPTDRR波520数字化和采用微处理器255对数字信号进行分析,还是采用数/模转换器410设置比较器门限,都要计算出第一反射波脉冲的振幅,并且采用公式1计算出第一产品的介电常数。
在方框580处,计算出第一产品14的料位。第一产品14的料位是作为第一反射波脉冲的函数计算出的。如上所述,产品14的料位通常是作为第一反射波脉冲的接收时间的函数,并且最终是作为发送脉冲的发送与第一反射波脉冲的接收之间的第一时间周期的函数计算出的。
在方框585中,计算出第二产品15的料位。第二产品15的料位是作为第一和第二反射波脉冲的函数并作为计算出的第一产品14的介电常数的函数计算出的。具体地说,产品15的料位可以作为计算出的第一产品14的介电常数的函数和作为收到第一反射波脉冲与收到第二反射波脉冲间的第二时间周期的函数计算出。最终,产品15的料位的运算也是产品14的料位的函数。
图9更为详细地示出用于计算罐12内的产品14和15的料位的方法。首先,如方框705所示,产生发送脉冲并沿终端发送入产品14和15内。如方框710所示,发送脉冲的产生和/或传输启动时钟或标示一个或多个时间周期的开始。在方框715中,收到第一反射波脉冲,并在方框720中对发送发送脉冲和收到第一反射波脉冲间的第一时间周期进行记录。在方框725中,计算出作为第一时间周期函数的第一产品14的料位。
如方框730所示,计算出第一反射波脉冲的振幅。在方框735处,计算出作为第一反射波脉冲的振幅与基准振幅的比的函数的第一产品14的介电常数。基准振幅以发送脉冲的振幅为基础。
在方框740处,收到第二反射波脉冲,并且在方框745处对收到第一反射波脉冲与收到第二反射波脉冲间的第二时间周期进行记录。在方框750处,计算出第二产品15的料位。对第二产品15的料位的运算是作为第二时间周期的函数、作为计算出的第一产品的介电常数的函数和作为计算出的第一产品的料位的函数实现的。
虽然上面参照优选实施例对本发明做了说明,但本领域的专业技术人员将认识到,对本发明在形式上和细节上的改动都不会偏离本发明的构思和范围。

Claims (15)

1.一种低功率雷达电平发送器,用于多过程产品界面检测,所述电平发送器具有:
-一个终端,该终端伸展入罐内的第一和第二产品中;
-一个脉冲发生器,该脉冲发生器与终端耦合,适用于产生微波发送脉冲,该发送脉冲沿终端发送入罐内的第一和第二产品中,发送脉冲的第一部分在第一产品界面被反射,发送脉冲的第二部分在第二产品界面被反射,所述第二产品界面系在第一与第二产品之间形成的界面;
-一脉冲接收器,该脉冲接收器与终端耦合,适用于接收与在第一产品界面上被反射的发送脉冲的第一部分相符的第一反射波脉冲和接收与在第二产品界面上被反射的发送脉冲的第二部分相符的第二反射波脉冲;
-一门限控制器,该门限控制器与脉冲接收器耦合,适用于对第一反射波脉冲是否至少满足第一门限值和是否第二反射波脉冲至少满足第二门限值进行检测,并提供一与对第一和第二反射波脉冲的检测有关的接收脉冲输出信息;
-一介电常数计算器,该计算器与门限控制器耦合,适用于计算作为接收脉冲输出信息的函数的罐内第一产品的介电常数;和
-一个料位计算机,该计算机与门限控制器和介电常数计算器耦合,适用于计算作为第一反射波脉冲的检测时间的函数的第一产品料位,并适用于计算作为第二反射波脉冲的检测时间的函数和作为计算出的第一产品的介电常数的函数的第二产品的料位。
2.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,终端线是双对称的微波传输线。
3.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,电平发送器与一双线过程控制回路耦合,电平发送器还包括输出电路,该输出电路与双线过程控制回路耦合,该回路用于通过回路发送与产品高度有关的信息。
4.按照权利要求3所述的电平发送器,其特征在于,电平发送器还包括电源电路,该电源电路与双线过程控制回路耦合,该电源电路用于接收来自回路的能量,以便为发送器提供单独的电源。
5.按照权利要求4所述的电平发送器,其特征在于,过程控制回路是一个4-20mA过程控制回路。
6.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,介电常数计算器计算作为与发送脉冲量值对应的第一反射波量值的函数的第一产品介电常数。
7.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,所述电平发送器还包括一模/数转换器,该模/数转换器与脉冲接收器耦合并用于将第一和第二反射波脉冲数字化,其中门限控制器、介电常数计算器和料位计算机构成一微处理器,该微处理器与模/数转换器耦合,用于对数字化的第一和第二反射波脉冲进行检测,用于计算第一产品的介电常数,并用于计算第一和第二产品的料位。
8.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,所述门限控制器还用于计算作为用户输入的数据的函数的第一和第二门限。
9.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,门限控制器包括:
-一比较器,该比较器具有第一和第二输入端,第一输入端与脉冲接收器耦合并用于接收第一和第二反射波脉冲;
-一微处理器,该微处理器用于产生表示所需门限的数字输出;和
-一数/摸转换器,该数/摸转换器与微处理器耦合,用于接收数字输出,数/摸转换器将数字输出转换成模拟门限电压并将模拟门限电压提供给比较器第二输入端。
10.按照权利要求1所述的电平发送器,其特征在于,脉冲发生器包括一低功率微波源。
11.按照权利要求10所述的电平发送器,其特征在于,脉冲接收器包括一低功率微波接收器。
12.一种低功率雷达电平发送器,用于进行多过程产品界面检测,该电平发送器包括:
-一终端,该终端伸展进入罐内的第一和第二产品中;
-一低功率微波脉冲发生器,该发生器与终端耦合,用于产生微波发送脉冲,该微波发送脉冲沿终端被发送入罐内的第一和第二产品中;
-一低功率微波脉冲接收器,该接收器与终端耦合,用于接收与被反射的发送脉冲相符的反射波脉冲;
-介电常数计算装置,该装置与低功率微波脉冲接收器耦合,用于计算第一产品的介电常数;和
-料位计算装置,该装置与低功率微波脉冲接收器和介电常数计算装置耦合,用于计算第一和第二产品的料位。
13.一种检测多过程产品界面的方法,该方法包括:
-产生发送脉冲,该发送脉冲被沿终端发送入罐内的第一和第二产品中;
-接收与在第一产品界面上被反射的发送脉冲第一部分相符的第一反射波脉冲;
-接收与在第一和第二产品间形成的第二产品界面上被反射的发送脉冲第二部分相符的第二反射波脉冲;
-计算作为反射波脉冲函数的第一产品的料位;和
-计算作为第一和第二反射波脉冲函数和作为计算出的第一产品介电常数的函数的第二产品的料位。
14.按照权利要求13的方法,其特征在于,对第二产品的料位的计算还包括:
-对收到第一反射波脉冲和收到第二反射波脉冲之间的第二时间周期的计算;和
-对作为第二时间周期的函数和作为计算出的第一产品的介电常数的函数和作为计算出的第一产品的料位的函数的第二产品的料位的计算。
15.按照权利要求14所述的方法,其特征在于,对作为第一反射波脉冲的函数的第一产品介电常数的计算还包括:
-对第一反射波脉冲振幅的计算;和
-对作为第一反射波脉冲与基准振幅的比的函数的第一产品介电常数的计算。
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