CN118190940B - 一种物体表面一致性检测方法和系统 - Google Patents

一种物体表面一致性检测方法和系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种物体表面一致性检测方法和系统,涉及物体表面检测技术领域,该方法包括:将物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,K和N均为大于或等于2的整数;以物体表面左下角为原点,并分别以物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据平面坐标系获取每个矩形表面中心点的位置信息;控制检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据位置信息控制发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,N个接收组件分别接收相应的矩形表面的反射光线;根据每个矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各矩形表面对应的电压值判断物体表面是否一致。由此,检测时间短,并且成本低。

Description

一种物体表面一致性检测方法和系统
技术领域
本发明涉及物体表面检测技术领域,具体涉及一种物体表面一致性检测方法和一种物体表面一致性检测系统。
背景技术
相关技术中,在对物体表面进行一致性检测时,通常是采用图像识别的方式进行检测。不仅需要进行大量的样本训练以获取检测模型,耗费人力物力资源,而且需要进行图像处理识别导致检测时间较长。
发明内容
本发明为解决上述技术问题,提供了一种物体表面一致性检测方法,检测时间短,并且无需耗费大量的人力物力资源进行模型训练,检测成本低。
本发明采用的技术方案如下:
一种物体表面一致性检测方法,所述物体表面为矩形面,所述物体表面上方设置有检测杆,所述检测杆的一端设置一个发生组件,所述检测杆的另一端设置N个接收组件,所述一致性检测方法包括以下步骤:将所述物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,其中,K和N均为大于或等于2的整数;以所述物体表面左下角为原点,并分别以所述物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据所述平面坐标系获取每个所述矩形表面中心点的位置信息;控制所述检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据所述位置信息控制所述发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,其中,N个所述接收组件分别接收相应的所述矩形表面的反射光线;根据每个所述矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致。
在本发明的一个实施例中,根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致包括:判断每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一行或多行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致。
在本发明的一个实施例中,根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致包括:判断每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一列或多列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致。
在本发明的一个实施例中,在判断所述物体表面不一致后,所述检测方法还包括:根据所述电压值的变化规律不一致的行或列从相应的所述矩形表面中定位出异常矩形表面;检测所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物;如果所述异常矩形表面上不存在所述可擦拭异物,则判定所述物体表面不一致;如果所述异常矩形表面上存在所述可擦拭异物,则将所述可擦拭异物擦除后再次进行一致性检测。
在本发明的一个实施例中,检测所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物,包括:采用照射光从多个角度对所述异常矩形表面进行拍摄以获取待识别图片集;根据所述待识别图片集获取所述异常矩形表面的反射系数分布图;根据所述待识别图片集获取所述异常矩形表面的法向量,并根据所述法向量获取所述异常矩形表面的弯曲程度分布图;根据所述反射系数分布图和所述弯曲程度分布图判断所述异常矩形表面上是否存在待识别异物;如果判断所述异常矩形表面上存在所述待识别异物,则对所述反射系数分布图和所述弯曲程度分布图进行图像的乘法运算,以获取相应的特征图;对所述特征图灰度化处理,以获取灰度图像;根据所述灰度图像判断所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物。
在本发明的一个实施例中,根据所述灰度图像判断所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物,包括:判断所述灰度图像中是否存在灰度值处于目标灰度区间内的区域;如果存在,则判断所述异常矩形表面上存在可擦拭异物。
一种物体表面一致性检测系统,所述物体表面为矩形面,所述物体表面上方设置有检测杆,所述检测杆的一端设置一个发生组件,所述检测杆的另一端设置N个接收组件,所述一致性检测系统包括:分割模块,所述分割模块用于将所述物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,其中,K和N均为大于或等于2的整数;获取模块,所述获取模块用于以所述物体表面左下角为原点,并分别以所述物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据所述平面坐标系获取每个所述矩形表面中心点的位置信息;控制模块,所述控制模块用于控制所述检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据所述位置信息控制所述发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,其中,N个所述接收组件分别接收相应的所述矩形表面的反射光线;判断模块,所述判断模块用于根据每个所述矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致。
本发明的有益效果:
本发明检测时间短,并且无需耗费大量的人力物力资源进行模型训练,检测成本低。
附图说明
图1为本发明实施例的物体表面一致性检测方法的流程图;
图2为本发明一个实施例的检测杆的设置方位示意图;
图3为本发明实施例的物体表面一致性检测系统的结构框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1是根据本发明实施例的物体表面一致性检测方法。
需要说明的是,本发明实施例中的物体表面可为矩形面,也就是说,本发明是适用于对矩形面进行一致性检测,例如,芯片板、钢板等表面。
在本发明的一个实施例中,如图2所示,物体表面上方设置有检测杆,检测杆的一端设置一个发生组件,检测杆的另一端设置N个接收组件,其中,N为大于或等于2的整数。
如图1所示,本发明实施例的物体表面一致性检测方法可包括以下步骤:
S1,将物体表面均匀分割为K×N个矩形表面。其中,K和N均为大于或等于2的整数;
S2,以物体表面左下角为原点,并分别以物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据平面坐标系获取每个矩形表面中心点的位置信息。
其中,如图2所示,在本发明的一个具体实施例中,可将物体表面均匀分割为12个矩形表面,即S11、S12、S13、S21、S22、S23、S31、S32、S33、S41、S42和S43。也就是说,K为3,N为4;或者N为3,K为4。
S3,控制检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据位置信息控制发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线。其中,N个接收组件分别接收相应的矩形表面的反射光线。
其中,预设高度可根据实际情况进行标定,探测光线可为紫外光线。
作为一种可能的实施方式,固定姿态为检测杆平行于y轴,对应的规划路线为沿x轴方向运动,其中,各设定位置为每一列上各矩形表面的中心点正上方的位置。具体而言,在本发明的一个具体实施例中,如图2所示,N为4,K为3,当检测杆移动到第一列上各矩形表面的中心点正上方的位置时,控制发生组件依次向第一列中的矩形表面S11、S21、S31和S41的中心点发射探测光线,此时,第一个接收组件接收矩形表面S11的反射光线,第二个接收组件接收矩形表面S21的反射光线,第三个接收组件接收矩形表面S31的反射光线,第四个接收组件接收矩形表面S41的反射光线;当检测杆移动到第二列上各矩形表面的中心点正上方的位置时,控制发生组件依次向第二列中的矩形表面S12、S22、S32和S42的中心点发射探测光线,此时,第一个接收组件接收矩形表面S12的反射光线,第二个接收组件接收矩形表面S22的反射光线,第三个接收组件接收矩形表面S32的反射光线,第四个接收组件接收矩形表面S42的反射光线;……,依次类推,直至完成最后一列矩形表面的探测。
作为另一种可能的实施方式,固定姿态为检测杆平行于x轴,对应的规划路线为沿y轴方向运动,其中,各设定位置为每一行上各矩形表面的中心点正上方的位置。以图2中所示的矩形表面划分为例时,K为4,N为3,也就是说,检测杆的另一端设置3个接收组件。具体的检测方式与上述实施例类似,在此就不再详述。
S4,根据每个矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各矩形表面对应的电压值判断物体表面是否一致。
在本发明的一个实施例中,根据各矩形表面对应的电压值判断物体表面是否一致包括:判断每一列上各矩形表面对应的电压值的变化规律是否一致;如果每一列上各矩形表面对应的电压值的变化规律均一致,则判断物体表面一致;如果存在一列或多列上各矩形表面对应的电压值的变化规律不一致,则判断物体表面不一致。
在本发明的另一个实施例中,根据各矩形表面对应的电压值判断物体表面是否一致包括:判断每一行上各矩形表面对应的电压值的变化规律是否一致;如果每一行上各矩形表面对应的电压值的变化规律均一致,则判断物体表面一致;如果存在一行或多行上各矩形表面对应的电压值的变化规律不一致,则判断物体表面不一致。
可以理解的是,探测光线的反射光线与电压值存在着对应关系,反射光线强度不同,对应的电压值也不同。而在以相同角度探测不同矩形表面时,如果矩形表面的形状不同,则反射光线强度不同,对应的电压值也必然不同。因此,在固定姿态为检测杆平行于y轴,规划路线为沿x轴方向运动时,可判断每一列上各矩形表面对应的电压值的变化规律是否一致,如果每一列上各矩形表面对应的电压值的变化规律均一致,则判断物体表面一致,如果存在一列或多列上各矩形表面对应的电压值的变化规律不一致,则判断物体表面不一致;在固定姿态为检测杆平行于x轴,规划路线为沿y轴方向运动时,可判断每一行上各矩形表面对应的电压值的变化规律是否一致,如果每一行上各矩形表面对应的电压值的变化规律均一致,则判断物体表面一致,如果存在一行或多行上各矩形表面对应的电压值的变化规律不一致,则判断物体表面不一致。
需要说明的是,在对物体表面进行一致性检测时,会出现因物体表面出现可擦拭异物(例如,泥土、胶带等异物)导致物体表面误判为不一致的情况。
为此,在通过上述方式判断物体表面不一致后,还可根据电压值的变化规律不一致的行或列从相应的矩形表面中定位出异常矩形表面,并检测异常矩形表面上是否存在可擦拭异物。如果异常矩形表面上不存在可擦拭异物,则判定物体表面不一致;如果异常矩形表面上存在可擦拭异物,则将可擦拭异物擦除后再次进行一致性检测。具体得再次进行一致性检测的方式可参照上述实施例,在此不再详述。
在本发明的一个实施例中,检测异常矩形表面上是否存在可擦拭异物,包括:采用照射光从多个角度对异常矩形表面进行拍摄以获取待识别图片集;根据待识别图片集获取异常矩形表面的反射系数分布图;根据待识别图片集获取异常矩形表面的法向量,并根据法向量获取异常矩形表面的弯曲程度分布图;根据反射系数分布图和弯曲程度分布图判断异常矩形表面上是否存在待识别异物;如果判断异常矩形表面上存在待识别异物,则对反射系数分布图和弯曲程度分布图进行图像的乘法运算,以获取相应的特征图;对特征图灰度化处理,以获取灰度图像;根据灰度图像判断异常矩形表面上是否存在可擦拭异物。
具体而言,在异常矩形表面上存在异物时,异常矩形表面上至少存在一片区域的反射系数不同于其他区域,或者至少存在一片区域的弯曲程度不同于其他区域,因此,可先根据反射系数分布图和弯曲程度分布图判断异常矩形表面上是否存在待识别异物。如果判断异常矩形表面上存在待识别异物,则对反射系数分布图和弯曲程度分布图进行图像的乘法运算,以获取相应的特征图,并对特征图灰度化处理,以获取灰度图像,然后根据灰度图像判断异常矩形表面上是否存在可擦拭异物。
可以理解的是,可擦拭异物的灰度值与矩形表面的凸起等异常情况完全不同,因此,可判断灰度图像中是否存在灰度值处于目标灰度区间内的区域,并在存在灰度值处于目标灰度区间内的区域时,判断异常矩形表面上存在可擦拭异物。
综上所述,根据本发明实施例的物体表面一致性检测方法,将物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,以物体表面左下角为原点,并分别以物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据平面坐标系获取每个矩形表面中心点的位置信息,并控制检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据位置信息控制发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,以及根据每个矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各矩形表面对应的电压值判断物体表面是否一致。由此,检测时间短,并且无需耗费大量的人力物力资源进行模型训练,检测成本低。
对应上述实施例的物体表面一致性检测方法,本发明还提出了一种物体表面一致性检测系统。
在本发明的一个实施例中,如图2所示,物体表面上方设置有检测杆,检测杆的一端设置一个发生组件,检测杆的另一端设置N个接收组件,其中,N为大于或等于2的整数。
如图3所示,所述一致性检测系统包括:分割模块100、获取模块200、控制模块300和判断模块400。
其中,所述分割模块100用于将所述物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,其中,K和N均为大于或等于2的整数;所述获取模块200用于以所述物体表面左下角为原点,并分别以所述物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据所述平面坐标系获取每个所述矩形表面中心点的位置信息;所述控制模块300用于控制所述检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据所述位置信息控制所述发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,其中,N个所述接收组件分别接收相应的所述矩形表面的反射光线;所述判断模块400用于根据每个所述矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致。
在本发明的一个实施例中,所述判断模块400具体用于:判断每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一行或多行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致。
在本发明的一个实施例中,所述判断模块400具体用于:根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致包括:判断每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一列或多列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致。
在本发明的一个实施例中,在判断所述物体表面不一致后,所述判断模块400具体还用于:根据所述电压值的变化规律不一致的行或列从相应的所述矩形表面中定位出异常矩形表面;检测所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物;如果所述异常矩形表面上不存在所述可擦拭异物,则判定所述物体表面不一致。其中,如果所述异常矩形表面上存在所述可擦拭异物,则将所述可擦拭异物擦除后再次进行一致性检测。
在本发明的一个实施例中,所述判断模块400具体还用于:采用照射光从多个角度对所述异常矩形表面进行拍摄以获取待识别图片集;根据所述待识别图片集获取所述异常矩形表面的反射系数分布图;根据所述待识别图片集获取所述异常矩形表面的法向量,并根据所述法向量获取所述异常矩形表面的弯曲程度分布图;根据所述反射系数分布图和所述弯曲程度分布图判断所述异常矩形表面上是否存在待识别异物;如果判断所述异常矩形表面上存在所述待识别异物,则对所述反射系数分布图和所述弯曲程度分布图进行图像的乘法运算,以获取相应的特征图;对所述特征图灰度化处理,以获取灰度图像;根据所述灰度图像判断所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物。
在本发明的一个实施例中,所述判断模块400具体还用于:判断所述灰度图像中是否存在灰度值处于目标灰度区间内的区域;如果存在,则判断所述异常矩形表面上存在可擦拭异物。
需要说明的是,本发明的物体表面一致性检测系统更具体的实施例可参照上述的物体表面一致性检测方法的实施例,在此不再详述。
根据本发明实施例的物体表面一致性检测系统,通过分割模块将所述物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,以及通过获取模块以所述物体表面左下角为原点,并分别以所述物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据所述平面坐标系获取每个所述矩形表面中心点的位置信息,并通过控制模块控制所述检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,以及在移动至各设定位置时根据所述位置信息控制所述发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,并通过判断模块根据每个所述矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致。由此,检测时间短,并且无需耗费大量的人力物力资源进行模型训练,检测成本低。
在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
流程图中所示出的各个步骤的执行顺序为优选实现方式,在本发明的其他实施例中,也可以根据各步骤所涉及的功能进行调整,例如可以同时执行或按相反的顺序执行。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。

Claims (4)

1.一种物体表面一致性检测方法,其特征在于,所述物体表面为矩形面,所述物体表面上方设置有检测杆,所述检测杆的一端设置一个发生组件,所述检测杆的另一端设置N个接收组件,所述一致性检测方法包括以下步骤:
将所述物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,其中,K和N均为大于或等于2的整数;
以所述物体表面左下角为原点,并分别以所述物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据所述平面坐标系获取每个所述矩形表面中心点的位置信息;
控制所述检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据所述位置信息控制所述发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,其中,N个所述接收组件分别接收相应的所述矩形表面的反射光线;
根据每个所述矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致;其中,根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致包括:判断每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一行或多行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致;或者包括:判断每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一列或多列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致;其中,在判断所述物体表面不一致后,所述检测方法还包括:
根据所述电压值的变化规律不一致的行或列从相应的所述矩形表面中定位出异常矩形表面;
检测所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物;
如果所述异常矩形表面上不存在所述可擦拭异物,则判定所述物体表面不一致;
如果所述异常矩形表面上存在所述可擦拭异物,则将所述可擦拭异物擦除后再次进行一致性检测。
2.根据权利要求1所述的一种物体表面一致性检测方法,其特征在于,检测所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物,包括:
采用照射光从多个角度对所述异常矩形表面进行拍摄以获取待识别图片集;
根据所述待识别图片集获取所述异常矩形表面的反射系数分布图;
根据所述待识别图片集获取所述异常矩形表面的法向量,并根据所述法向量获取所述异常矩形表面的弯曲程度分布图;
根据所述反射系数分布图和所述弯曲程度分布图判断所述异常矩形表面上是否存在待识别异物;
如果判断所述异常矩形表面上存在所述待识别异物,则对所述反射系数分布图和所述弯曲程度分布图进行图像的乘法运算,以获取相应的特征图;
对所述特征图灰度化处理,以获取灰度图像;
根据所述灰度图像判断所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物。
3.根据权利要求2所述的一种物体表面一致性检测方法,其特征在于,根据所述灰度图像判断所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物,包括:
判断所述灰度图像中是否存在灰度值处于目标灰度区间内的区域;
如果存在,则判断所述异常矩形表面上存在可擦拭异物。
4.一种物体表面一致性检测系统,其特征在于,所述物体表面为矩形面,所述物体表面上方设置有检测杆,所述检测杆的一端设置一个发生组件,所述检测杆的另一端设置N个接收组件,所述一致性检测系统包括:
分割模块,所述分割模块用于将所述物体表面均匀分割为K×N个矩形表面,其中,K和N均为大于或等于2的整数;
获取模块,所述获取模块用于以所述物体表面左下角为原点,并分别以所述物体表面的相邻两边为x轴和y轴建立平面坐标系,以及根据所述平面坐标系获取每个所述矩形表面中心点的位置信息;
控制模块,所述控制模块用于控制所述检测杆在预设高度以固定姿态按照规划路线移动,并在移动至各设定位置时根据所述位置信息控制所述发生组件依次向对应行/列上各矩形表面的中心点发射探测光线,其中,N个所述接收组件分别接收相应的所述矩形表面的反射光线;
判断模块,所述判断模块用于根据每个所述矩形表面的反射光线转换成相应的电压值,并根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致;其中,根据各所述矩形表面对应的所述电压值判断所述物体表面是否一致包括:判断每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一行或多行上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致;或者包括:判断每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律是否一致;如果每一列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律均一致,则判断所述物体表面一致;如果存在一列或多列上各所述矩形表面对应的所述电压值的变化规律不一致,则判断所述物体表面不一致;其中,在判断所述物体表面不一致后,所述判断模块还用于:
根据所述电压值的变化规律不一致的行或列从相应的所述矩形表面中定位出异常矩形表面;
检测所述异常矩形表面上是否存在可擦拭异物;
如果所述异常矩形表面上不存在所述可擦拭异物,则判定所述物体表面不一致;
如果所述异常矩形表面上存在所述可擦拭异物,则将所述可擦拭异物擦除后再次进行一致性检测。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10221011A (ja) * 1997-01-31 1998-08-21 Toyo:Kk 三次元計測方法
CN116297289A (zh) * 2022-12-29 2023-06-23 蓝冰河(常州)精密测量技术有限责任公司 一种基于InGaAs阵列探测器的近红外薄膜质量在线监测系统

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10221011A (ja) * 1997-01-31 1998-08-21 Toyo:Kk 三次元計測方法
CN116297289A (zh) * 2022-12-29 2023-06-23 蓝冰河(常州)精密测量技术有限责任公司 一种基于InGaAs阵列探测器的近红外薄膜质量在线监测系统

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