CN116224632B - 一种背光源装配精度检测方法及检测系统 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 108
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 91
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 63
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 121
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 31
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 9
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000003631 expected effect Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 2
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/1336—Illuminating devices
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
本发明实施例涉及人工智能领域,公开了一种背光源装配精度检测方法及检测系统,该方法包括:识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标;根据背光源边缘坐标,生成背光源坐标;在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将背光源坐标和背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度;从背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个测量区域的像素宽度均为一致;利用灰度值计算函数求出每一测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线;根据灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度。实施本发明实施例,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及人工智能领域,尤其涉及一种背光源装配精度检测方法及检测系统。
背景技术
随着科技的进步,LED(Light Emitting Diode,发光二极管)领域发展迅猛,其中,Mini LED备受关注,其作为LCD(Liquid Crystal Display,液晶显示器)背光源,较传统LED背光源有色域覆盖率广,高亮度下散热均匀等诸多优点。
但在实践中发现,在装配过程中,如果发光晶片和光学透镜装配精度不足或液晶屏与背光源装配精度不足,就会出现背光源漏光现象,导致显示画面明暗度差异,会对显示屏显示质量造成不利影响。而目前,传统的背光源位置精度测定,主要依靠人工来进行测定的,进而使得其测量结果误差大,可靠性弱,难以保证测量的准确性和规范化,无法得到满意的检测效果。
发明内容
本发明实施例公开一种背光源装配精度检测方法及检测系统,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
本发明实施例第一方面公开一种背光源装配精度检测方法,所述方法包括:
识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标;
根据所述背光源边缘坐标,生成背光源坐标;
在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度;
从所述背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个所述测量区域的像素宽度均为一致;
利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线;
根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度之后,所述方法还包括:
检测所述第一组合装配精度是否满足第一组合装配标准;若是,识别出所述拍摄图像中的液晶屏边缘坐标;
根据所述液晶屏边缘坐标,生成液晶屏坐标;
在确定出液晶屏尺寸之后,利用所述第一计算公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度;
利用第二计算公式,将所述背光源中心坐标、所述背光源边缘角度、所述液晶屏中心坐标和所述液晶屏边缘角度进行代入,以分别计算出目标中心偏离值和目标边缘偏离值;
根据所述目标中心偏离值和所述目标边缘偏离值,确定出所述背光源的第二组合装配精度;其中,所述第二组合装配精度为所述背光源和液晶屏之间的装配精度。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述根据所述目标中心偏离值和所述目标边缘偏离值,确定出所述背光源的第二组合装配精度之后,所述方法还包括:
检测所述第二组合装配精度是否满足第二组合装配标准;若否,发出不合格提醒信息。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线,包括:
计算出所述测量区域在初始位置坐标上的初始灰度值;其中,所述初始位置坐标中的横坐标为所述拍摄图像的图像宽度减去所述测量区域的测量宽度的差除以第一指定阈值来计算所得,所述初始位置坐标中的纵坐标为所述测量区域的第一列坐标;
计算出所述初始位置坐标的横坐标依次增加一个像素值后所对应的横坐标灰度值,以确定出所述测量区域在所述第一列坐标上所有的第一灰度值;
将所述初始位置坐标的纵坐标依次增加一个像素值,确定出所述测量区域的其他纵向坐标位置;
计算出其他纵向坐标位置的横坐标依次增加一个像素值后所对应的其他横坐标灰度值,以确定出所述测量区域在所述其他纵向坐标位置上所有的第二灰度值;
根据所述第一灰度值和所述第二灰度值,获取所述测量区域的灰度曲线。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度,包括:
在将所述灰度曲线的水平偏移量以第一指定幅度进行增加之后,若偏移后的所述灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值不变的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在水平偏移的装配精度偏差;
在将所述灰度曲线的高度偏移量以第二指定幅度进行增加之后,若偏移后的所述灰度曲线出现两峰值同向增大且峰值不变、曲线中健谷值增加的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在高度偏移的装配精度偏差;
在将所述灰度曲线的偏转角度以第三指定幅度进行增加之后,若偏转后的所述灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值增加的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在角度偏移的装配精度偏差。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度,包括:
在将所述背光源坐标和所述背光源中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,分别计算出所述背光源边缘角度、所述背光源坐标与所述背光源中心坐标的距离长度,以确定出所述背光源中心坐标。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第一方面中,所述在确定出液晶屏尺寸之后,利用所述第一计算公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度,包括:
在将所述液晶屏坐标和所述液晶屏中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,分别计算出所述液晶屏边缘角度、所述液晶屏坐标与所述液晶屏中心坐标的距离长度,以确定出所述液晶屏中心坐标。
本发明实施例第二方面公开一种检测系统,所述检测系统包括:
识别单元,用于识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标;
生成单元,用于根据所述背光源边缘坐标,生成背光源坐标;
第一计算单元,用于在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度;
划分单元,用于从所述背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个所述测量区域的像素宽度均为一致;
第二计算单元,用于利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线;
第一确定单元,用于根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度。
作为另一种可选的实施方式,在本发明实施例第二方面中,所述检测系统还包括:
第一检测单元,用于在第一确定单元根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度之后,检测所述第一组合装配精度是否满足第一组合装配标准;
所述识别单元,还用于在第一检测单元检测出所述第一组合装配精度满足第一组合装配标准时,识别出所述拍摄图像中的液晶屏边缘坐标;
所述生成单元,还用于根据所述液晶屏边缘坐标,生成液晶屏坐标;
所述第一计算单元,还用于在确定出液晶屏尺寸之后,利用所述第一计算公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度;
第三计算单元,用于利用第二计算公式,将所述背光源中心坐标、所述背光源边缘角度、所述液晶屏中心坐标和所述液晶屏边缘角度进行代入,以分别计算出目标中心偏离值和目标边缘偏离值;
第二确定单元,用于根据所述目标中心偏离值和所述目标边缘偏离值,确定出所述背光源的第二组合装配精度;其中,所述第二组合装配精度为所述背光源和液晶屏之间的装配精度。
本发明实施例第三方面公开一种检测系统,所述检测系统包括:
存储有可执行程序代码的存储器;
与所述存储器耦合的处理器;
所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码,执行本发明实施例第一方面公开的一种背光源装配精度检测方法。
本发明实施例第四方面公开一种计算机可读存储介质,其存储计算机程序,其中,所述计算机程序使得计算机执行本发明实施例第一方面公开的一种背光源装配精度检测方法。
本发明实施例第五方面公开一种计算机程序产品,当所述计算机程序产品在计算机上运行时,使得所述计算机执行第一方面的任意一种背光源装配精度检测方法的部分或全部步骤。
本发明实施例第六方面公开一种应用发布平台,所述应用发布平台用于发布计算机程序产品,其中,当所述计算机程序产品在计算机上运行时,使得所述计算机执行第一方面的任意一种背光源装配精度检测方法的部分或全部步骤。
与现有技术相比,本发明实施例具有以下有益效果:
本发明实施例中,识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标;根据所述背光源边缘坐标,生成背光源坐标;在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度;从所述背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个所述测量区域的像素宽度均为一致;利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线;根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度。可见,本发明实施例,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例公开的一种背光源装配精度检测方法的流程示意图;
图2是本发明实施例公开的另一种背光源装配精度检测方法的流程示意图;
图3是本发明实施例公开的一种检测系统的结构示意图;
图4是本发明实施例公开的另一种检测系统的结构示意图;
图5是本发明实施例公开的另一种检测系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等是用于区别不同的对象,而不是用于描述特定顺序。本发明实施例的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本发明实施例公开了一种背光源装配精度检测方法及检测系统,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
以下结合附图进行详细描述。
实施例一
请参阅图1,图1是本发明实施例公开的一种背光源装配精度检测方法的流程示意图。如图1,该背光源装配精度检测方法可以包括以下步骤。
101、检测系统识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标。
102、检测系统根据背光源边缘坐标,生成背光源坐标。
103、检测系统在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将背光源坐标和背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请的背光源尺寸可由人工输入的,也可以是系统从后端数据中心调取,本申请不做任何限定。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请在对拍摄图像进行预处理与特征提取之后,可得出二维坐标,并可根据二维坐标计算出所需的目标值。由光学成像系统生成的二维图像,包含了各种各样的随机噪声和畸变,因此需要对原始图像进行预处理,突出有用信息、抑制无用信息,从而改善图像质量。同时使图像变的更有利于计算机的处理,便于各种特征分析。最终经边缘测定后,可计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请中的第一计算公式可为三角函数公式,系统可将设定出一个虚拟背光源中心坐标(X,Y),并将虚拟背光源中心坐标(X,Y)和背光源坐标进行连接,以形成一个三角形关系,随后,系统可利用三角函数公式,将背光源坐标以及背光源的长宽尺寸进行代入,以计算出虚拟背光源中心坐标(X,Y)的横纵坐标,以确定出背光源中心坐标与背光源边缘角度。
104、检测系统从背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个测量区域的像素宽度均为一致。
105、检测系统利用灰度值计算函数求出每一测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线。
106、检测系统根据灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,若拍摄图像的像素宽度为N,测量区域的像素宽度为M,那么从测量区域图像的第一列开始,系统可采用Opencv的灰度值计算函数先求出计算坐标((M-N)/2,0)处的灰度值,其次再横坐标依次增加一个像素,获得对应坐标的灰度值,进而计算出测量区域图像的第一列所对应的每一个灰度值,随后,系统可开始计算第二列所对应的每一个灰度值,依此类推,进而完成测量区域内的每一坐标点对应的灰度值,以得到相应方向灰度随坐标变化的曲线。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请针对LED背光源中透镜和发光晶片间存在的位置偏移,采用光学理论分析了晶片光线经透镜作用后在显示屏上的分布特点及照度曲线规律,本申请根据了偏移类型与灰度曲线间的对应关系对背光源进行了位置偏移检测,进而实现了背光源装配精度的检测。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,在系统确定出背光源的第一组合装配精度之后,系统可将该第一组合装配精度进行阈值对比,检测透镜和发光晶片之间的位置偏移是否超出了误差允许的范围内,若是,系统可发出不合格警告提示,并对该背光源进行不合格登记,以实现其良品率的保证。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请可根据检测结果进行相应设备平台补正,以保证装配精度。本申请的检测系统与传统的人工检测优点主要体现在两方面:一是提高生产效率;二是提高准确率,由于人工检测效率较低,故在批量生产时一般以抽检形式进行筛查,这就会导致有不良品流出,而自动检测是100%检测,一旦发现不良品就报警。因此该系统对产品装配精度的检测有了质的改变,完全达到了预期效果,保证了品质,提高了效率。
在图1的背光源装配精度检测方法中,以检测系统作为执行主体为例进行描述。需要说明的是,图1的背光源装配精度检测方法的执行主体还可以是与检测系统相关联的独立设备,本发明实施例不作限定。
可见,实施图1所描述的一种背光源装配精度检测方法,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
此外,实施图1所描述的一种背光源装配精度检测方法,能够对产品装配精度的检测有了质的改变,使背光源的装配精度达到预期效果,保证了品质,提高了效率。
实施例二
请参阅图2,图2是本发明实施例公开的另一种背光源装配精度检测方法的流程示意图。如图2,该背光源装配精度检测方法可以包括以下步骤:
201、检测系统识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标。
202、检测系统根据背光源边缘坐标,生成背光源坐标。
203、检测系统在将背光源坐标和背光源中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将背光源坐标和背光源尺寸进行代入,分别计算出背光源边缘角度、背光源坐标与背光源中心坐标的距离长度,以确定出背光源中心坐标。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请中的第一计算公式可为三角函数公式,系统可将设定出一个虚拟背光源中心坐标(X,Y),并将虚拟背光源中心坐标(X,Y)和背光源坐标进行连接,以形成一个三角形关系,随后,系统可利用三角函数公式,将液晶屏坐标、背光源坐标以及背光源的长宽尺寸进行代入,以计算出虚拟背光源中心坐标(X,Y)的横纵坐标,以确定出背光源中心坐标与背光源边缘角度。
204、检测系统从背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个测量区域的像素宽度均为一致。
205、检测系统计算出测量区域在初始位置坐标上的初始灰度值;其中,初始位置坐标中的横坐标为拍摄图像的图像宽度减去测量区域的测量宽度的差除以第一指定阈值来计算所得,初始位置坐标中的纵坐标为测量区域的第一列坐标。
206、检测系统计算出初始位置坐标的横坐标依次增加一个像素值后所对应的横坐标灰度值,以确定出测量区域在第一列坐标上所有的第一灰度值。
207、检测系统将初始位置坐标的纵坐标依次增加一个像素值,确定出测量区域的其他纵向坐标位置。
208、检测系统计算出其他纵向坐标位置的横坐标依次增加一个像素值后所对应的其他横坐标灰度值,以确定出测量区域在其他纵向坐标位置上所有的第二灰度值。
209、检测系统根据第一灰度值和第二灰度值,获取测量区域的灰度曲线。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,若拍摄图像的像素宽度为N,测量区域的像素宽度为M,那么从测量区域图像的第一列开始,系统可采用Opencv的灰度值计算函数先求出计算坐标((M-N)/2,0)处的灰度值,其次再横坐标依次增加一个像素,获得对应坐标的灰度值,进而计算出测量区域图像的第一列所对应的每一个灰度值,随后,系统可开始计算第二列所对应的每一个灰度值,依此类推,进而完成测量区域内的每一坐标点对应的灰度值,以得到相应方向灰度随坐标变化的曲线。
210、在将灰度曲线的水平偏移量以第一指定幅度进行增加之后,若偏移后的灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值不变的情况,检测系统确定出发光晶片和光学透镜之间存在水平偏移的装配精度偏差。
211、在将灰度曲线的高度偏移量以第二指定幅度进行增加之后,若偏移后的灰度曲线出现两峰值同向增大且峰值不变、曲线中健谷值增加的情况,检测系统确定出发光晶片和光学透镜之间存在高度偏移的装配精度偏差。
212、在将灰度曲线的偏转角度以第三指定幅度进行增加之后,若偏转后的灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值增加的情况,检测系统确定出发光晶片和光学透镜之间存在角度偏移的装配精度偏差。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请的灰度曲线与组合装配精度之间具有以下对应关系:与无缺陷时的灰度曲线相比,当发光晶片和光学透镜之间存在水平偏移时,那么灰度曲线会出现曲线不对称,曲线两峰值差值较大,曲线谷值不变的情况;当发光晶片和光学透镜之间存在高度偏移时,那么灰度曲线会出现曲线对称,曲线两峰上移的情况;当发光晶片和光学透镜之间存在角度偏移时,那么灰度曲线会出现曲线不对称,曲线两峰值差值较大,曲线谷值增加的情况。
213、检测系统检测第一组合装配精度是否满足第一组合装配标准,若是,执行步骤214~步骤219,若否,结束本次流程。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,在系统确定出背光源的第一组合装配精度之后,系统可将该第一组合装配精度进行阈值对比,检测透镜和发光晶片之间的位置偏移是否超出了误差允许的范围内,若是,系统可发出不合格警告提示,并对该背光源进行不合格登记,以实现其良品率的保证。
214、检测系统识别出拍摄图像中的液晶屏边缘坐标。
215、检测系统根据液晶屏边缘坐标,生成液晶屏坐标。
216、检测系统在将液晶屏坐标和液晶屏中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将液晶屏坐标和液晶屏尺寸进行代入,分别计算出液晶屏边缘角度、液晶屏坐标与液晶屏中心坐标的距离长度,以确定出液晶屏中心坐标。
217、检测系统利用第二计算公式,将背光源中心坐标、背光源边缘角度、液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度进行代入,以分别计算出目标中心偏离值和目标边缘偏离值。
218、检测系统根据目标中心偏离值和目标边缘偏离值,确定出背光源的第二组合装配精度;其中,第二组合装配精度为背光源和液晶屏之间的装配精度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,为实现装配精度的自动检测,系统要能自动获取衡量精度的两个指标。因此在检测系统中,通过两台摄像机分别对液晶屏和背光源的目标标示进行拍照,通过图像采集卡将图像信息传到计算机,计算机对图像进行处理,获得目标位置坐标,并自动计算中心坐标,得到目标中心偏离值和目标边缘偏离值。随后,系统可判断产品装配精度的好坏,出现不良品自动报警,提示取出不良品并进行设备调整。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,系统通过图像识别获取的背光源的四个边缘坐标和液晶屏的四个边缘坐标之后,可分别自动生成了背光源和液晶屏的坐标。随后,人工可输入当前所测的背光源和液晶屏的长度和宽度,就可利用第一计算公式和第二计算公式来计算得到目标中心偏离值和目标边缘偏离值。随后,系统可将该目标中心偏离值和目标边缘偏离值分别进行阈值对比,检测背光源和液晶屏之间的位置偏移是否超出了误差允许的范围内,若是,系统可发出不合格警告提示,并对该背光源进行不合格登记,随后系统可对所有被测对象进行合格计量统计,实现履历化管理。
219、检测系统检测第二组合装配精度是否满足第二组合装配标准,若否,执行步骤220,若是,结束本次流程。
220、检测系统发出不合格提醒信息,结束本次流程。
可见,实施图2所描述的另一种背光源装配精度检测方法,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
此外,实施图2所描述的另一种背光源装配精度检测方法,能够实现了自动化对背光源装配精度的检测,有效的提升了背光源装配精度检测的精确度和效率。
实施例三
请参阅图3,图3是本发明实施例公开的一种检测系统的结构示意图。如图3,该检测系统300可以包括识别单元301、生成单元302、第一计算单元303、划分单元304、第二计算单元305和第一确定单元306,其中:
识别单元301,用于识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标。
生成单元302,用于根据背光源边缘坐标,生成背光源坐标。
第一计算单元303,用于在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将背光源坐标和背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度。
划分单元304,用于从背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个测量区域的像素宽度均为一致。
第二计算单元305,用于利用灰度值计算函数求出每一测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线。
第一确定单元306,用于根据灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请的背光源尺寸可由人工输入的,也可以是系统从后端数据中心调取,本申请不做任何限定。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请在对拍摄图像进行预处理与特征提取之后,识别单元301可得出二维坐标,并可根据二维坐标计算出所需的目标值。由光学成像系统生成的二维图像,包含了各种各样的随机噪声和畸变,因此需要对原始图像进行预处理,突出有用信息、抑制无用信息,从而改善图像质量。同时使图像变的更有利于计算机的处理,便于各种特征分析。最终经边缘测定后,可计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请中的第一计算公式可为三角函数公式,第一计算单元303可将设定出一个虚拟背光源中心坐标(X,Y),并将虚拟背光源中心坐标(X,Y)和背光源坐标进行连接,以形成一个三角形关系,随后,系统可利用三角函数公式,将液晶屏坐标、背光源坐标以及背光源的长宽尺寸进行代入,以计算出虚拟背光源中心坐标(X,Y)的横纵坐标,以确定出背光源中心坐标与背光源边缘角度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,若拍摄图像的像素宽度为N,测量区域的像素宽度为M,那么从测量区域图像的第一列开始,第二计算单元305可采用Opencv的灰度值计算函数先求出计算坐标((M-N)/2,0)处的灰度值,其次再横坐标依次增加一个像素,获得对应坐标的灰度值,进而计算出测量区域图像的第一列所对应的每一个灰度值,随后,第二计算单元305可开始计算第二列所对应的每一个灰度值,依此类推,进而完成测量区域内的每一坐标点对应的灰度值,以得到相应方向灰度随坐标变化的曲线。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请针对LED背光源中透镜和发光晶片间存在的位置偏移,采用光学理论分析了晶片光线经透镜作用后在显示屏上的分布特点及照度曲线规律,本申请根据了偏移类型与灰度曲线间的对应关系对背光源进行了位置偏移检测,进而实现了背光源装配精度的检测。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,在第一确定单元306确定出背光源的第一组合装配精度之后,系统可将该第一组合装配精度进行阈值对比,检测透镜和发光晶片之间的位置偏移是否超出了误差允许的范围内,若是,系统可发出不合格警告提示,并对该背光源进行不合格登记,以实现其良品率的保证。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请可根据检测结果进行相应设备平台补正,以保证装配精度。本申请的检测系统与传统的人工检测优点主要体现在两方面:一是提高生产效率;二是提高准确率,由于人工检测效率较低,故在批量生产时一般以抽检形式进行筛查,这就会导致有不良品流出,而自动检测是100%检测,一旦发现不良品就报警。因此该系统对产品装配精度的检测有了质的改变,完全达到了预期效果,保证了品质,提高了效率。
可见,实施图3所描述的检测系统,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
此外,实施图3所描述的检测系统,能够对产品装配精度的检测有了质的改变,使背光源的装配精度达到预期效果,保证了品质,提高了效率。
实施例四
请参阅图4,图4是本发明实施例公开的另一种检测系统的结构示意图。其中,图4的检测系统是由图3的检测系统进行优化得到的。与图3的检测系统相比较,图4的检测系统还包括:
第一检测单元307,用于在第一确定单元根据灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度之后,检测第一组合装配精度是否满足第一组合装配标准。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,在第一确定单元306确定出背光源的第一组合装配精度之后,第一检测单元307可将该第一组合装配精度进行阈值对比,检测透镜和发光晶片之间的位置偏移是否超出了误差允许的范围内,若是,系统可发出不合格警告提示,并对该背光源进行不合格登记,以实现其良品率的保证。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,识别单元301还用于在第一检测单元307检测出第一组合装配精度满足第一组合装配标准时,识别出拍摄图像中的液晶屏边缘坐标。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,生成单元302还用于根据液晶屏边缘坐标,生成液晶屏坐标。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,第一计算单元303还用于在确定出液晶屏尺寸之后,利用第一计算公式,将液晶屏坐标和液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请中的第一计算公式可为三角函数公式,系统可将设定出一个虚拟液晶屏中心坐标(X,Y),并将虚拟液晶屏中心坐标(X,Y)和液晶屏坐标进行连接,以形成一个三角形关系,随后,第一计算单元303可利用三角函数公式,将液晶屏坐标以及液晶屏的长宽尺寸进行代入,以计算出虚拟液晶屏中心坐标(X,Y)的横纵坐标,以确定出液晶屏中心坐标与液晶屏边缘角度。
第三计算单元308,用于利用第二计算公式,将背光源中心坐标、背光源边缘角度、液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度进行代入,以分别计算出目标中心偏离值和目标边缘偏离值。
第二确定单元309,用于根据目标中心偏离值和目标边缘偏离值,确定出背光源的第二组合装配精度;其中,第二组合装配精度为背光源和液晶屏之间的装配精度。
与图3的检测系统相比较,图4的检测系统还包括:
第二检测单元310,用于第二确定单元309根据目标中心偏离值和目标边缘偏离值,确定出背光源的第二组合装配精度之后,检测第二组合装配精度是否满足第二组合装配标准。
提醒单元311,用于在第二检测单元310检测出第二组合装配精度是否满足第二组合装配标准时,发出不合格提醒信息。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,为实现装配精度的自动检测,系统要能自动获取衡量精度的两个指标。因此在检测系统中,通过两台摄像机分别对液晶屏和背光源的目标标示进行拍照,通过图像采集卡将图像信息传到计算机,计算机对图像进行处理,获得目标位置坐标,并自动计算中心坐标,得到目标中心偏离值和目标边缘偏离值。随后,系统可判断产品装配精度的好坏,出现不良品自动报警,提示取出不良品并进行设备调整。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,系统通过图像识别获取的背光源的四个边缘坐标和液晶屏的四个边缘坐标之后,可分别自动生成了背光源和液晶屏的坐标。随后,人工可输入当前所测的背光源和液晶屏的长度和宽度,就可利用第一计算公式和第二计算公式来计算得到目标中心偏离值和目标边缘偏离值。随后,系统可将该目标中心偏离值和目标边缘偏离值分别进行阈值对比,检测背光源和液晶屏之间的位置偏移是否超出了误差允许的范围内,若是,系统可发出不合格警告提示,并对该背光源进行不合格登记,随后系统可对所有被测对象进行合格计量统计,实现履历化管理。
与图3的检测系统相比较,图4的第二计算单元305包括:
第一计算子单元3051,用于计算出测量区域在初始位置坐标上的初始灰度值;其中,初始位置坐标中的横坐标为拍摄图像的图像宽度减去测量区域的测量宽度的差除以第一指定阈值来计算所得,初始位置坐标中的纵坐标为测量区域的第一列坐标。
第二计算子单元3052,用于计算出初始位置坐标的横坐标依次增加一个像素值后所对应的横坐标灰度值,以确定出测量区域在第一列坐标上所有的第一灰度值。
第一确定子单元3053,用于将初始位置坐标的纵坐标依次增加一个像素值,确定出测量区域的其他纵向坐标位置。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,第二计算子单元3052还用于计算出其他纵向坐标位置的横坐标依次增加一个像素值后所对应的其他横坐标灰度值,以确定出测量区域在其他纵向坐标位置上所有的第二灰度值。
获取子单元3054,根据第一灰度值和第二灰度值,获取测量区域的灰度曲线。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,若拍摄图像的像素宽度为N,测量区域的像素宽度为M,那么从测量区域图像的第一列开始,系统可采用Opencv的灰度值计算函数先求出计算坐标((M-N)/2,0)处的灰度值,其次再横坐标依次增加一个像素,获得对应坐标的灰度值,进而计算出测量区域图像的第一列所对应的每一个灰度值,随后,系统可开始计算第二列所对应的每一个灰度值,依此类推,进而完成测量区域内的每一坐标点对应的灰度值,以得到相应方向灰度随坐标变化的曲线。
与图3的检测系统相比较,图4的第一确定单元306包括:
第二确定子单元3061,用于在将灰度曲线的水平偏移量以第一指定幅度进行增加之后,若偏移后的灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值不变的情况,确定出发光晶片和光学透镜之间存在水平偏移的装配精度偏差。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,第二确定子单元3061还用于在将灰度曲线的高度偏移量以第二指定幅度进行增加之后,若偏移后的灰度曲线出现两峰值同向增大且峰值不变、曲线中健谷值增加的情况,确定出发光晶片和光学透镜之间存在高度偏移的装配精度偏差;
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,第二确定子单元3061还用于在将灰度曲线的偏转角度以第三指定幅度进行增加之后,若偏转后的灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值增加的情况,确定出发光晶片和光学透镜之间存在角度偏移的装配精度偏差。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,本申请的灰度曲线与组合装配精度之间具有以下对应关系:与无缺陷时的灰度曲线相比,当发光晶片和光学透镜之间存在水平偏移时,那么灰度曲线会出现曲线不对称,曲线两峰值差值较大,曲线谷值不变的情况;当发光晶片和光学透镜之间存在高度偏移时,那么灰度曲线会出现曲线对称,曲线两峰上移的情况;当发光晶片和光学透镜之间存在角度偏移时,那么灰度曲线会出现曲线不对称,曲线两峰值差值较大,曲线谷值增加的情况。
与图3的检测系统相比较,图4的第一计算单元303包括:
第三计算子单元3031,用于在将背光源坐标和背光源中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将背光源坐标和背光源尺寸进行代入,分别计算出背光源边缘角度、背光源坐标与背光源中心坐标的距离长度,以确定出背光源中心坐标。
作为一种可选的实施方式,在本发明实施例中,第三计算子单元3031还用于在将液晶屏坐标和液晶屏中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将液晶屏坐标和液晶屏尺寸进行代入,分别计算出液晶屏边缘角度、液晶屏坐标与液晶屏中心坐标的距离长度,以确定出液晶屏中心坐标。
可见,实施图4所描述的另一种检测系统,能够提高测量准确性及作业效率,增强品质可靠性。
此外,实施图4所描述的另一种检测系统,能够实现了自动化对背光源装配精度的检测,有效的提升了背光源装配精度检测的精确度和效率。
实施例五
请参阅图5,图5是本发明实施例公开的另一种检测系统的结构示意图。
如图5,该检测系统可以包括:
存储有可执行程序代码的存储器501;
与存储器501耦合的处理器502;
其中,处理器502调用存储器501中存储的可执行程序代码,执行图1~图2任意一种背光源装配精度检测方法。
本发明实施例公开一种计算机可读存储介质,其存储计算机程序,其中,该计算机程序使得计算机执行图1~图2任意一种背光源装配精度检测方法。
本发明实施例还公开一种计算机程序产品,其中,当计算机程序产品在计算机上运行时,使得计算机执行如以上各方法实施例中的方法的部分或全部步骤。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,存储介质包括只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存储器(Random Access Memory,RAM)、可编程只读存储器(Programmable Read-only Memory,PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory,EPROM)、一次可编程只读存储器(One-time Programmable Read-Only Memory,OTPROM)、电子抹除式可复写只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)、只读光盘(CompactDisc Read-Only Memory,CD-ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
以上对本发明实施例公开的一种背光源装配精度检测方法及检测系统进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (4)
1.一种背光源装配精度检测方法,其特征在于,包括:
识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标;
根据所述背光源边缘坐标,生成背光源坐标;
在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度;
从所述背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个所述测量区域的像素宽度均为一致;
利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线;
根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度;
所述根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度之后,所述方法还包括:
检测所述第一组合装配精度是否满足第一组合装配标准;若是,识别出所述拍摄图像中的液晶屏边缘坐标;
根据所述液晶屏边缘坐标,生成液晶屏坐标;
在确定出液晶屏尺寸之后,利用所述第一计算公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度;
利用第二计算公式,将所述背光源中心坐标、所述背光源边缘角度、所述液晶屏中心坐标和所述液晶屏边缘角度进行代入,以分别计算出目标中心偏离值和目标边缘偏离值;
根据所述目标中心偏离值和所述目标边缘偏离值,确定出所述背光源的第二组合装配精度;其中,所述第二组合装配精度为所述背光源和液晶屏之间的装配精度;
所述利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线,包括:
计算出所述测量区域在初始位置坐标上的初始灰度值;其中,所述初始位置坐标中的横坐标为所述拍摄图像的图像宽度减去所述测量区域的测量宽度的差除以第一指定阈值来计算所得,所述初始位置坐标中的纵坐标为所述测量区域的第一列坐标;
计算出所述初始位置坐标的横坐标依次增加一个像素值后所对应的横坐标灰度值,以确定出所述测量区域在所述第一列坐标上所有的第一灰度值;
将所述初始位置坐标的纵坐标依次增加一个像素值,确定出所述测量区域的其他纵向坐标位置;
计算出其他纵向坐标位置的横坐标依次增加一个像素值后所对应的其他横坐标灰度值,以确定出所述测量区域在所述其他纵向坐标位置上所有的第二灰度值;
根据所述第一灰度值和所述第二灰度值,获取所述测量区域的灰度曲线;
所述根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度,包括:
在将所述灰度曲线的水平偏移量以第一指定幅度进行增加之后,若偏移后的所述灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值不变的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在水平偏移的装配精度偏差;
在将所述灰度曲线的高度偏移量以第二指定幅度进行增加之后,若偏移后的所述灰度曲线出现两峰值同向增大且峰值不变、曲线中健谷值增加的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在高度偏移的装配精度偏差;
在将所述灰度曲线的偏转角度以第三指定幅度进行增加之后,若偏转后的所述灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值增加的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在角度偏移的装配精度偏差;
所述在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度,包括:
在将所述背光源坐标和所述背光源中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,分别计算出所述背光源边缘角度、所述背光源坐标与所述背光源中心坐标的距离长度,以确定出所述背光源中心坐标;
所述在确定出液晶屏尺寸之后,利用所述第一计算公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度,包括:
在将所述液晶屏坐标和所述液晶屏中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,分别计算出所述液晶屏边缘角度、所述液晶屏坐标与所述液晶屏中心坐标的距离长度,以确定出所述液晶屏中心坐标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标中心偏离值和所述目标边缘偏离值,确定出所述背光源的第二组合装配精度之后,所述方法还包括:
检测所述第二组合装配精度是否满足第二组合装配标准;若否,发出不合格提醒信息。
3.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:
识别单元,用于识别出拍摄图像中的背光源边缘坐标;
生成单元,用于根据所述背光源边缘坐标,生成背光源坐标;
第一计算单元,用于在确定出背光源尺寸之后,利用第一计算公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,以计算出背光源中心坐标和背光源边缘角度;
划分单元,用于从所述背光源中心坐标分别沿不同的指定角度划分出多个测量区域;其中,多个所述测量区域的像素宽度均为一致;
第二计算单元,用于利用灰度值计算函数求出每一所述测量区域的灰度值,以获得相应的灰度曲线;
第一确定单元,用于根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度;其中,所述第一组合装配精度为发光晶片和光学透镜之间的装配精度;
所述检测系统还包括:
第一检测单元,用于在第一确定单元根据所述灰度曲线,确定出背光源的第一组合装配精度之后,检测所述第一组合装配精度是否满足第一组合装配标准;
所述识别单元,还用于在第一检测单元检测出所述第一组合装配精度满足第一组合装配标准时,识别出所述拍摄图像中的液晶屏边缘坐标;
所述生成单元,还用于根据所述液晶屏边缘坐标,生成液晶屏坐标;
所述第一计算单元,还用于在确定出液晶屏尺寸之后,利用所述第一计算公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,以计算出液晶屏中心坐标和液晶屏边缘角度;
第三计算单元,用于利用第二计算公式,将所述背光源中心坐标、所述背光源边缘角度、所述液晶屏中心坐标和所述液晶屏边缘角度进行代入,以分别计算出目标中心偏离值和目标边缘偏离值;
第二确定单元,用于根据所述目标中心偏离值和所述目标边缘偏离值,确定出所述背光源的第二组合装配精度;其中,所述第二组合装配精度为所述背光源和液晶屏之间的装配精度;
所述第二计算单元包括:
第一计算子单元,用于计算出所述测量区域在初始位置坐标上的初始灰度值;其中,所述初始位置坐标中的横坐标为所述拍摄图像的图像宽度减去所述测量区域的测量宽度的差除以第一指定阈值来计算所得,所述初始位置坐标中的纵坐标为所述测量区域的第一列坐标;
第二计算子单元,用于计算出所述初始位置坐标的横坐标依次增加一个像素值后所对应的横坐标灰度值,以确定出所述测量区域在所述第一列坐标上所有的第一灰度值;
第一确定子单元,用于将所述初始位置坐标的纵坐标依次增加一个像素值,确定出所述测量区域的其他纵向坐标位置;
所述第二计算子单元,还用于计算出其他纵向坐标位置的横坐标依次增加一个像素值后所对应的其他横坐标灰度值,以确定出所述测量区域在所述其他纵向坐标位置上所有的第二灰度值;
获取子单元,根据所述第一灰度值和所述第二灰度值,获取所述测量区域的灰度曲线;
所述第一确定单元包括:
第二确定子单元,用于在将所述灰度曲线的水平偏移量以第一指定幅度进行增加之后,若偏移后的所述灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值不变的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在水平偏移的装配精度偏差;
所述第二确定子单元,还用于在将所述灰度曲线的高度偏移量以第二指定幅度进行增加之后,若偏移后的所述灰度曲线出现两峰值同向增大且峰值不变、曲线中健谷值增加的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在高度偏移的装配精度偏差;
所述第二确定子单元,还用于在将所述灰度曲线的偏转角度以第三指定幅度进行增加之后,若偏转后的所述灰度曲线出现不对称、两峰值反向线性变化且峰值差越来越大、曲线中健谷值增加的情况,确定出所述发光晶片和所述光学透镜之间存在角度偏移的装配精度偏差;
所述第一计算单元包括:
第三计算子单元,用于在将所述背光源坐标和所述背光源中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将所述背光源坐标和所述背光源尺寸进行代入,分别计算出所述背光源边缘角度、所述背光源坐标与所述背光源中心坐标的距离长度,以确定出所述背光源中心坐标;
所述第三计算子单元,还用于在将所述液晶屏坐标和所述液晶屏中心坐标构成一个三角形之后,利用三角函数公式,将所述液晶屏坐标和所述液晶屏尺寸进行代入,分别计算出所述液晶屏边缘角度、所述液晶屏坐标与所述液晶屏中心坐标的距离长度,以确定出所述液晶屏中心坐标。
4.一种检测系统,其特征在于,所述检测系统包括:
存储有可执行程序代码的存储器;
与所述存储器耦合的处理器;
所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码,执行权利要求1-2任一项所述的背光源装配精度检测方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211738541.5A CN116224632B (zh) | 2022-12-30 | 2022-12-30 | 一种背光源装配精度检测方法及检测系统 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202211738541.5A CN116224632B (zh) | 2022-12-30 | 2022-12-30 | 一种背光源装配精度检测方法及检测系统 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116224632A CN116224632A (zh) | 2023-06-06 |
CN116224632B true CN116224632B (zh) | 2024-05-28 |
Family
ID=86586485
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202211738541.5A Active CN116224632B (zh) | 2022-12-30 | 2022-12-30 | 一种背光源装配精度检测方法及检测系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116224632B (zh) |
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---|---|
CN116224632A (zh) | 2023-06-06 |
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Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant |