CN118130895A - 一种配电柜监控方法和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电数据处理技术领域,提供一种配电柜监控方法和系统,方法包括:获取配电柜的实际频率,基于实际频率确定采样时间间隔,采样时间间隔为在一个周波内N次对配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔;获取对配电柜的M个通道的目标采样结果;基于通道校正系数对目标采样结果进行校正,得到配电柜的电量测量结果,通道校正系数反映采用目标转换器对校准通道和基准通道进行采样的结果之间的相位差,通道校正系数基于参考采样结果得到,参考采样结果为目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的,参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。本发明可以降低配电柜监控系统成本。
Description
技术领域
本发明涉及电数据处理技术领域,尤其涉及一种配电柜监控方法和系统。
背景技术
机房的配电柜通过引入交流或直流,配合UPS等设施将电能分类至各机柜,供各类功利负载使用,在各机柜中均需配置交流开关和配电柜监控系统,其中开关内部集成配电保护装置,可为用电侧提供多种保护,防止出现短路过载等故障后引发严重事故,配电柜监控系统实时测量交流进线/出线的电流、电压、频率、有功功率等电量值,为用电量统计分析提供数据依据,也可以实时检测电压波动,负荷变化等关键电量,确保各个支路的用电支路能够得到有效保障。
由于各机柜均需配置和集成上述配电保护设备和配电柜监控系统,数量较多且两类设备都要完成电流电压等电量的采集和计算,在功能上存在重叠,不但增加了配电柜监控系统的成本,还会占用额外的机房空间,设备运行时的功耗也会造成配电柜监控系统的整体用电量增加。独立的AD转换器可以实现保护测量功能,实现将配电保护装置和配电柜监控系统进行集约化,但是用于采样的AD转换器的采样率、内部AD数量、位数精度和性能对电量测量的同步性、准确性和实时性会产生较大影响,采样率高、精度高的AD转换器产品售价高,导致现有技术中配电柜监控系统的成本高。
发明内容
本发明提供配电柜监控方法和系统,用以解决现有技术中配电柜监控系统成本高的缺陷,实现降低配电柜监控系统成本。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:
一种配电柜监控方法,包括:
获取配电柜的实际频率,基于所述实际频率确定采样时间间隔,所述采样时间间隔为在一个周波内N次对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
获取对所述配电柜的M个通道的目标采样结果,所述目标采样结果为目标转换器基于所述采样时间间隔对所述配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,其中,所述通道校正系数反映采用所述目标转换器对所述校准通道和所述基准通道进行采样的结果之间的相位差,所述通道校正系数是基于参考采样结果得到的,所述参考采样结果为所述目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,所述参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。
根据本发明提供的一种配电柜监控方法,所述基于所述实际频率确定采样时间间隔,包括:
通过第一公式确定所述采样时间间隔,所述第一公式为:
;
其中,为所述采样时间间隔,/>为所述实际频率,N为对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,M为所述配电柜中通道的总个数。
根据本发明提供的一种配电柜监控方法,基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,包括:
对所述目标采样结果进行转换,得到所述配电柜的M个通道分别对应的目标工频向量;
基于所述校准通道对应的所述通道校正系数对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正,得到所述校准通道的电量测量结果。
根据本发明提供的一种配电柜监控方法,所述基于所述校准通道对应的通道校正系数对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正,包括:
基于第二公式对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正;
所述第二公式为:
;
其中,为校正后的所述校准通道的电量测量结果,/>为第一通道校正系数,为第二通道校正系数,/>,/>为所述校准通道对应的所述目标工频向量,/>、/>分别为所述校准通道对应的所述目标工频向量的实部与虚部,j为虚数单位。
根据本发明提供的一种配电柜监控方法,所述校准通道对应的所述通道校正系数通过如下过程得到:
对所述参考采样结果进行转换,得到M个通道分别对应的参考工频向量;
基于所述基准通道和所述校准通道对应的所述参考工频向量确定所述校准通道对应的所述通道校正系数。
根据本发明提供的一种配电柜监控方法,所述对所述参考采样结果进行转换之前,包括:
确定参考频率,基于所述参考频率确定所述参考时间间隔;
对M个通道施加频率为所述参考频率的同相位的额定激励量后,获取所述目标转换器基于所述参考时间间隔对M个通道进行采样得到的所述参考采样结果。
本发明还提供一种配电柜监控系统,包括:
采样间隔调整模块,用于获取配电柜的实际频率,基于所述实际频率确定采样时间间隔,所述采样时间间隔为在一个周波内N次对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
采样结果获取模块,用于获取对所述配电柜的M个通道的目标采样结果,所述目标采样结果为目标转换器基于所述采样时间间隔对所述配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
采样结果校正模块,用于基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,其中,所述通道校正系数反映采用所述目标转换器对所述校准通道和所述基准通道进行采样的结果之间的相位差,所述通道校正系数是基于参考采样结果得到的,所述参考采样结果为所述目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,所述参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔
本发明还提供一种电子设备,包括:存储器,用于存储计算机软件程序;处理器,用于读取并执行所述计算机软件程序,进而实现如上述任一种所述配电柜监控方法。
本发明还提供一种非暂态计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有计算机软件程序,所述计算机软件程序被处理器执行时实现如上述任一种所述配电柜监控方法。
本发明还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述配电柜监控方法。
本发明的有益效果是:通过基于通道校正系数对目标转换器基于采样时间间隔对配电柜的各个通道的目标采样结果进行校正,得到配电柜的电量测量结果,并且,通道校正系数是基于目标转换器采用参考时间间隔对配电柜进行采样得到的结果确定的,参考时间间隔和采样时间间隔均可以实现目标转换器在一个周波内N次对配电柜的各个通道进行依次采样,可以实现对目标转换器的采样结果进行准确校正,从而实现采用采样率低、位数精度较低的单AD转换器就可以实现对电量的准确测量,达到降低配电柜监控系统的成本的效果。
附图说明
图1是本发明提供的配电柜监控方法的流程示意图之一;
图2是本发明提供的配电柜监控方法的流程示意图之二;
图3是本发明提供的配电柜监控方法中参考时间间隔的示意图;
图4是本发明提供的配电柜监控方法中基准通道和校准通道的工频向量相角示意图;
图5是本发明提供的配电柜监控方法中采样时间间隔的示意图;
图6是本发明提供的配电柜监控系统的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的电子设备的实施例示意图;
图8为本发明实施例提供的计算机可读存储介质的实施例示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本申请的描述中,术语“例如”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“例如”的任何实施例不一定被解释为比其它实施例更优选或更具优势。为了使本领域任何技术人员能够实现和使用本发明,给出了以下描述。在以下描述中,为了解释的目的而列出了细节。应当明白的是,本领域普通技术人员可以认识到,在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本发明。在其它实例中,不会对公知的结构和过程进行详细阐述,以避免不必要的细节使本发明的描述变得晦涩。因此,本发明并非旨在限于所示的实施例,而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。
本发明提供的配电柜监控方法,可以是由配电柜监控系统中配电柜的处理器执行,该配电柜监控系统中设置有AD转换器,该处理器与AD转换器通信连接,可以读取AD转换器的采样结果。
如图1所示,本发明提供的配电柜监控方法包括步骤:
S110、获取配电柜的实际频率,基于实际频率确定采样时间间隔,采样时间间隔为在一个周波内N次对配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
S120、获取对配电柜的M个通道的目标采样结果,目标采样结果为目标转换器基于采样时间间隔对M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
S130、基于目标转换器的通道校正系数对目标采样结果进行校正,得到配电柜的电量测量结果,其中,通道校正系数反映采用目标转换器对校准通道和基准通道进行采样的结果之间的相位差,通道校正系数是基于参考采样结果得到的,参考采样结果为目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,参考时间间隔为在一个周波内N次M个通道进行依次采样的时间间隔。
在低压电气领域,大量的保护与配电柜监控系统需要检测三相交流电流电压等电量,并根据所检测的电量计算出回路中的电流电压有效值、有功功率、无功功率、功率因数等数值。对于保护来说,还需要通过所检测的电量计算出电流电压序分量、有功功率等作为专用保护的判据条件,因此,电流电压等电量的准确测量非常重要。
实现三相交流电量的准确测量计算有多种方案,为了降低成本,将保护测量统一由一个装置实现可减少电源、显示、信号采样等器件的使用。虽然AD转换器可以实现单个装置进行电量测量,但是SAR型并行采样AD、独立的电能量芯片、高采样率SAR型AD转换器等芯片作为信号采样的核心期间会增加装置的成本。
普通SAR型AD转换器拥有合适的位数精度、其采样率偏低,性能适中,虽然通过这种AD转换器对电流电压通道进行非同步采样计算可实现保护和测量功能,且价格低廉,但是这类AD转换器内部一般仅集成单AD,对用于保护测量功能的一些关键电量的计算效果较差,装置中使用的互感器、电阻电容等器件由于数字精度的限制,会造成通道间形成一定的相位偏差,根据转换器的采样结果计算各个电量值,会造成通道相位偏差,这些相位偏差叠加在一起时对三相功率、电能量、序分量等电量计算将产生较大的相位误差。
本发明提供的方法中,在目标转换器为低采样率的单AD转换器时,可以对其的采样结果进行校正,消除使用低采样率单AD转换器所带来的通道间的相位误差,包括装置内电阻电容、互感器等期间数值偏差造成的相位偏差。
如图2所示,本发明提供的方法中,预先确定采用目标转换器对M个通道(通道为电流电压通道)进行采样之间的相位补偿系数并存储,在实际对配电柜的M个通道进行采样后,基于相位补偿系数进行补偿,得到准确的电量数据。
下面先对M个通道中各个通道的相位补偿系数的获取过程进行说明。
对于M个通道,选择一个作为基准通道,其余的为校准通道,基准通道可以为第一个通道,也可以是其他通道,下面以第一个通道为基准通道为例进行说明。对于频率为的三相交流供电系统,一个周波N个采样点(采样点的个数可以基于转换器的性能以及实际需求确定),那么,设计目标转换器的采样定时器的时间间隔为/>,即每隔/>时长启动目标转换器对所有通道开始逐一采样,对于用于M个电流电压通道的低压装置,设计通道的参考采样时间间隔为/>,即在第K次采样的/>时间间隔中,每隔/>时间对一个通道进行采样,直至所有通道采样完成,此时第K次采样结束,如图3所示。
本发明提供的方法中,在对配电柜进行实际测量之前,提前确定基于目标转换器对M个通道间采样时各个通道之间的相位偏差,并得到各个校准通道对应的通道校正系数,在配电柜实际运行时,基于已经得到的通道校正系数为校准通道的实际采样结果进行校正,可以降低测量时的校正计算量。
校准通道对应的通道校正系数通过如下过程得到:
对参考采样结果进行转换,得到各个通道分别对应的参考工频向量;
基于基准通道和校准通道对应的参考工频向量确定校准通道对应的通道校正系数。
目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行采样,得到各个通道的参考采样结果,对参考采样结果进行DFT计算,得到基准通道和校准通道分别对应的参考工频向量:
表示基准通道对应的参考工频向量,/>表示校准通道H(/>)对应的参考工频向量,/>、/>分别为/>和/>的实部,/>、/>分别为/>和/>的虚部。那么校准通道H相对于基准通道的整体相位偏差可由下式表述:
其中,即为校准通道H领先基准通道的相位角,具体原理如图4所示。上式可以变形为:
为了方便在实际测量时的计算,将和/>存储作为通道校正系数。
目标转换器对各个通道的采样结果的通道校正系数的确定过程可以是目标转换器在配电柜运行过程中进行的,即在配电柜初始上电时,可以进行通道校正系数的确定过程(这样参考时间间隔基于配电柜上电时的频率确定)。也可以是在配电柜运行之前进行,这样可以在配电柜监控系统(包括目标转换器和执行本发明提供的方法的处理器)被设置在配电柜之前(例如配电柜监控系统出厂前)执行。也就是说,对参考采样结果进行转换之前,包括:
确定参考频率,基于参考频率确定参考时间间隔;
对M个通道施加频率为参考频率的同相位的额定激励量后,获取目标转换器基于参考时间间隔对各个通道进行采样得到的参考采样结果。
在配电柜监控系统未被设置在配电柜时或配电柜监控系统被设置在配电柜后但是配电柜暂未上电时,可以通过高精度电流电压发生器,向M个通道施加频率为参考频率的额定激励量,并基于参考频率设置目标转换器的参考时间间隔,目标转换器基于该参考时间间隔对M个通道进行采样,得到参考采样结果。
各个校准通道的通道校正系数在确定后被存储,在对配电柜的电量进行实际测量时,根据实际频率确定采样时间间隔。在实时测量配电柜(测量系统)的精确频率的过程中,如果发生频率有变化,电流电压信号的周期发生改变,此时应调整采样时间间隔,确保一个周期的采样点数量和时间间隔都是相等的,同时由于采样时间变化,通道间隔时间也跟随变化,保证各通道之间的采样间隔时间所表征的相位偏差与频率变化前是相同的。
基于实际频率确定采样时间间隔,包括:
通过下式确定采样时间间隔:
;
其中,为采样时间间隔,/>为实际频率,N为对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,M为配电柜中通道的总个数。
本发明提供的方法中确定采样时间间隔的方式,可以确保一个周期的采样点数量和时间间隔是相等的,这样,各通道之间的采样间隔时间所表征的相位偏差与在确定通道校正系数时的相位偏差是相同的。考虑到电力系统频率变化一般不超过2Hz,通道间电阻电容、互感器等器件数值偏差造成的相位偏差可认为随频率波动不变,因此对于已经离线计算存储好的通道校正系数完全可修正各通道向量间的相位偏差。
也就是说,当实际频率相较于参考频率产生变化时,采样时间间隔随实际频率进行动态变化,但是最终结果可以保证在每个采样周期内对每个通道的采样时间间隔相等,如图5所示。
基于目标转换器的通道校正系数对目标采样结果进行校正,得到配电柜的电量测量结果,包括:
对目标采样结果进行转换,得到配电柜的M个通道分别对应的目标工频向量;
基于校准通道对应的通道校正系数对校准通道对应的目标工频向量进行校正,得到校准通道的电量测量结果。
本发明通过的方法,通过实施测量配电柜频率,动态调整采样时间间隔和通道间隔时间,保证DFT计算的工频向量值不会因频率变化产生计算误差,也确保通道校正系数所表征的通道相位偏差不会因为频率变化发生改变,预先存储的通道校正系数不需要根据频率变化进行调整,大幅简化了各通道DFT计算后的工频向量实时相位修正,计算量小,方便实现。
具体地,基于校准通道对应的通道校正系数对校准通道对应的目标工频向量进行校正,包括:
基于下式对校准通道对应的目标工频向量进行校正:
;
其中,为校正后的校准通道H的电量测量结果,/>为第一通道校正系数,为第二通道校正系数,/>,/>为校准通道对应的目标工频向量,/>、/>分别为校准通道对应的目标工频向量的实部与虚部,j为虚数单位。
对目标工频向量进行校正的公式的推导过程如下:
将代入上式可得:/>,对该式进行进一步展开得到:
从对目标工频向量进行校正的工时中的和/>就是预先确定并存储的通道校正系数,因此通道简单的几次乘加运算即可完全对校准通道的目标工频向量的相位修正。考虑到低压供电系统的电流和电压信号都是周期稳态信号,各校准通道相对于基准通道的相位误差消除后,相当于在基准通道采样时同步将所有通道进行了AD采样,达到了同步AD采样的效果,可以消除使用低采样率单AD转换器所带来的通道间的相位误差,包括装置内电阻电容、互感器等期间数值偏差造成的相位偏差。
修正完成的向量能大幅较少回路功率、功率因素、线电压、正负零序分量、电能量等电量的测量误差,为低压保护配电柜监控系统提供低成本、高性能的实施方法。
本发明提供的方法,对各通道进行预先校准,利用校准系数对各通道向量进行相位修正,并考虑系统频率变化对相位修正的影响,可以有效消除通道间的相位偏差。在每个通道的通道校正系数提前进行计算存储,通道校正过程尽管计算量稍大,但只需要在装置出厂或被安装至配电柜上后做一次,正常运行根据频率变化适时调整采样定时器间隔,并根据DFT计算得到的工频向量进行相位补偿,正常运行时的计算量仅是计算定时器时间的一次除法和修正通道数据的几次乘加运算。并且可以对所有采样通道进行修正,由此可计算出功率、功率因素、线电压、正负零序分量等多种电量,运用广泛。
下面对本发明提供的配电柜监控系统进行描述,下文描述的配电柜监控系统与上文描述的配电柜监控方法可相互对应参照。
可选的,如图6所示,图6是本发明提供的配电柜监控系统的结构示意图,该系统包括:
采样间隔调整模块610,用于获取配电柜的实际频率,基于实际频率确定采样时间间隔,采样时间间隔为在一个周波内N次对配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
采样结果获取模块620,用于获取对配电柜的各个通道的目标采样结果,目标采样结果为目标转换器基于采样时间间隔对配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
采样结果校正模块630,用于基于目标转换器的通道校正系数对目标采样结果进行校正,得到配电柜的电量测量结果,其中,通道校正系数反映采用目标转换器对校准通道和基准通道进行采样的结果之间的相位差,通道校正系数是基于参考采样结果得到的,参考采样结果为目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。
本实施例通过基于通道校正系数对目标转换器基于采样时间间隔对配电柜的各个通道的目标采样结果进行校正,得到配电柜的电量测量结果,并且,通道校正系数是基于目标转换器采用参考时间间隔对配电柜进行采样得到的结果确定的,参考时间间隔和采样时间间隔均可以实现目标转换器在一个周波内N次对配电柜的各个通道进行依次采样,可以实现对目标转换器的采样结果进行准确校正,从而实现采用采样率低、位数精度较低的单AD转换器就可以实现对电量的准确测量,达到降低配电柜监控系统的成本的效果。
在本申请实施例中,采样间隔调整模块610还用于:
通过第一公式确定所述采样时间间隔,所述第一公式为:
;
其中,为所述采样时间间隔,/>为所述实际频率,N为对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,M为所述配电柜中通道的总个数。
在本申请实施例中,采样结果校正模块630还用于:
对所述目标采样结果进行转换,得到所述配电柜的M个通道分别对应的目标工频向量;
基于所述校准通道对应的所述通道校正系数对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正,得到所述校准通道的电量测量结果。
在本申请实施例中,采样结果校正模块630还用于:
基于第二公式对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正;
所述第二公式为:
;
其中,为校正后的所述校准通道的电量测量结果,/>为第一通道校正系数,为第二通道校正系数,/>,/>为所述校准通道对应的所述目标工频向量,/>、/>分别为所述校准通道对应的所述目标工频向量的实部与虚部,j为虚数单位。
在本申请实施例中,采样结果校正模块630还用于:
对所述参考采样结果进行转换,得到M个通道分别对应的参考工频向量;
基于所述基准通道和所述校准通道对应的所述参考工频向量确定所述校准通道对应的所述通道校正系数。
在本申请实施例中,采样结果校正模块630还用于:
确定参考频率,基于所述参考频率确定所述参考时间间隔;
对M个通道施加频率为所述参考频率的同相位的额定激励量后,获取所述目标转换器基于所述参考时间间隔对M个通道进行采样得到的所述参考采样结果。
请参阅图7,图7为本发明实施例提供的电子设备的实施例示意图。如图7所示,本发明实施例提了一种电子设备700,包括存储器710、处理器720及存储在存储器710上并可在处理器720上运行的计算机程序711,处理器720执行计算机程序711时实现以下步骤:
获取配电柜的实际频率,基于所述实际频率确定采样时间间隔,所述采样时间间隔为在一个周波内N次对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
获取对所述配电柜的M个通道的目标采样结果,所述目标采样结果为目标转换器基于所述采样时间间隔对所述配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,其中,所述通道校正系数反映采用所述目标转换器对所述校准通道和所述基准通道进行采样的结果之间的相位差,所述通道校正系数是基于参考采样结果得到的,所述参考采样结果为所述目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,所述参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。
请参阅图8,图8为本发明实施例提供的计算机可读存储介质的实施例示意图。如图8所示,本实施例提供了一种计算机可读存储介质800,其上存储有计算机程序811,该计算机程序811被处理器执行时实现如下步骤:
获取配电柜的实际频率,基于所述实际频率确定采样时间间隔,所述采样时间间隔为在一个周波内N次对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
获取对所述配电柜的M个通道的目标采样结果,所述目标采样结果为目标转换器基于所述采样时间间隔对所述配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,其中,所述通道校正系数反映采用所述目标转换器对所述校准通道和所述基准通道进行采样的结果之间的相位差,所述通道校正系数是基于参考采样结果得到的,所述参考采样结果为所述目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,所述参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。
需要说明的是,在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详细描述的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式计算机或者其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包括这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种配电柜监控方法,其特征在于,包括:
获取配电柜的实际频率,基于所述实际频率确定采样时间间隔,所述采样时间间隔为在一个周波内N次对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
获取对所述配电柜的M个通道的目标采样结果,所述目标采样结果为目标转换器基于所述采样时间间隔对所述配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,其中,所述通道校正系数反映采用所述目标转换器对所述校准通道和所述基准通道进行采样的结果之间的相位差,所述通道校正系数是基于参考采样结果得到的,所述参考采样结果为所述目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,所述参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。
2.根据权利要求1所述的配电柜监控方法,其特征在于,所述基于所述实际频率确定采样时间间隔,包括:
通过第一公式确定所述采样时间间隔,所述第一公式为:
;
其中,为所述采样时间间隔,/>为所述实际频率,N为对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,M为所述配电柜中通道的总个数。
3.根据权利要求1所述的配电柜监控方法,其特征在于,所述基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,包括:
对所述目标采样结果进行转换,得到所述配电柜的M个通道分别对应的目标工频向量;
基于所述校准通道对应的所述通道校正系数对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正,得到所述校准通道的电量测量结果。
4.根据权利要求3所述的配电柜监控方法,其特征在于,所述基于所述校准通道对应的通道校正系数对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正,包括:
基于第二公式对所述校准通道对应的所述目标工频向量进行校正;
所述第二公式为:
;
其中,为校正后的所述校准通道的电量测量结果,/>为第一通道校正系数,为第二通道校正系数,/>,/>为所述校准通道对应的所述目标工频向量,/>、/>分别为所述校准通道对应的所述目标工频向量的实部与虚部,j为虚数单位。
5.根据权利要求3所述的配电柜监控方法,其特征在于,所述校准通道对应的所述通道校正系数通过如下过程得到:
对所述参考采样结果进行转换,得到M个通道分别对应的参考工频向量;
基于所述基准通道和所述校准通道对应的所述参考工频向量确定所述校准通道对应的所述通道校正系数。
6.根据权利要求5所述的配电柜监控方法,其特征在于,所述对所述参考采样结果进行转换之前,包括:
确定参考频率,基于所述参考频率确定所述参考时间间隔;
对M个通道施加频率为所述参考频率的同相位的额定激励量后,获取所述目标转换器基于所述参考时间间隔对M个通道进行采样得到的所述参考采样结果。
7.一种配电柜监控系统,用于实现如权利要求1-6任一项所述的配电柜监控方法,其特征在于,包括:
采样间隔调整模块,用于获取配电柜的实际频率,基于所述实际频率确定采样时间间隔,所述采样时间间隔为在一个周波内N次对所述配电柜的M个通道进行依次采样的时间间隔,N为正整数;
采样结果获取模块,用于获取对所述配电柜的M个通道的目标采样结果,所述目标采样结果为目标转换器基于所述采样时间间隔对所述配电柜的M个通道的电量数据进行采样得到的,M个通道包括基准通道和校准通道;
采样结果校正模块,用于基于所述目标转换器的通道校正系数对所述目标采样结果进行校正,得到所述配电柜的电量测量结果,其中,所述通道校正系数反映采用所述目标转换器对所述校准通道和所述基准通道进行采样的结果之间的相位差,所述通道校正系数是基于参考采样结果得到的,所述参考采样结果为所述目标转换器基于参考时间间隔对M个通道进行依次采样得到的数据,所述参考时间间隔为在一个周波内N次对M个通道进行依次采样的时间间隔。
8.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至6任一项所述配电柜监控方法。
9.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述配电柜监控方法。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述配电柜监控方法。
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---|---|---|---|
CN202410557784.1A CN118130895A (zh) | 2024-05-08 | 2024-05-08 | 一种配电柜监控方法和系统 |
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CN118130895A true CN118130895A (zh) | 2024-06-04 |
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Citations (3)
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---|---|---|---|---|
CN108631782A (zh) * | 2018-05-11 | 2018-10-09 | 国蓉科技有限公司 | 一种基于多通道高速adc相位自校正方法 |
CN113720222A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-30 | 山西宇翔信息技术有限公司 | 无线电引信及其相位校正方法、平台及可读存储介质 |
CN117452053A (zh) * | 2023-09-22 | 2024-01-26 | 中宝电气有限公司 | 一种电力系统多回路高速切换采样方法与装置 |
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2024
- 2024-05-08 CN CN202410557784.1A patent/CN118130895A/zh active Pending
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