CN118118022B - 测试机多通道数模转换器校准方法、装置、设备和介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种测试机多通道数模转换器校准方法、装置、设备、存储介质和计算机程序产品，该方法包括：获取各测试通道的测试数据组，并根据测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组；依次遍历有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到有效测试通道的最小绝对差偏移值；根据有效测试通道的测试数据组、目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定有效测试通道的有效测试数据组。通过依次进行有效通道筛选和有效数据筛选，对相应的数模转换器进行二阶曲线拟合，可以更精确的表征数模转换器的特性，提高了校准准确度。
Description
技术领域
本申请涉及半导体测试技术领域，特别是涉及一种测试机多通道数模转换器校准方法、装置、设备和介质。
背景技术
半导体自动化测试，指的是利用自动测试设备（Automatic Test Equipment，ATE）对被测器件（Device Under Test，DUT）的各项参数指标进行检测，剔除残次品以控制半导体器件的出厂品质。在实际的应用中，为确保准确检测被测器件的参数，需要对测试机的相关器件进行校准。
传统的测试机数模转换器（DAC）校准方法，是对数模转换器设置两个不同的编码值时，获取数模转换器的输出电压，然后根据获取的两组数据进行一阶线性拟合，完成对数模转换器的校准，无法准确体现数模转换器的特性，存在校准准确度低的缺点。
发明内容
基于此，有必要针对上述问题，提供一种可提高校准准确度的测试机多通道数模转换器校准方法、装置、设备、存储介质和计算机程序产品。
本申请第一方面提供一种测试机多通道数模转换器校准方法，测试机的各测试通道均包括数模转换器和模数转换器，根据目标输出电压对所述数模转换器设置编码值后，所述数模转换器输出电压至对应的模数转换器；该方法包括：
获取各测试通道的测试数据组，并根据所述测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组；其中，所述测试数据组包括两个以上测试节点的数据，每个测试节点的数据为根据同一个目标输出电压对所有测试通道的数模转换器设置编码值时，对各所述测试通道的模数转换器进行数据采集得到；
依次遍历所述有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值；
根据所述有效测试通道的测试数据组、所述目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对所述有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定所述有效测试通道的有效测试数据组；
根据所述有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准。
在其中一个实施例中，各测试通道的数模转换器为根据预期数值范围进行参数采集，生成多段二阶曲线并分析满足硬件特性要求的数模转换器；所述二阶曲线表征数模转换器设置的编码值与输出电压的对应关系，且各段所述二阶曲线中选择至少一个电压值作为目标输出电压。
在其中一个实施例中，所述预期数值范围分为多段小区间范围；根据预期数值范围进行参数采集，生成多段二阶曲线分析满足硬件特性要求的数模转换器，包括：
获取数模转换器在设置不同编码值时的输出电压，根据编码值以及对应的输出电压生成多段二阶曲线；其中，每段所述二阶曲线涵盖对应一所述小区间范围的端点；若各段二阶曲线中，设置的编码值均位于相应二阶曲线的单调递增区间内，则数模转换器满足硬件特性要求。
在其中一个实施例中，所述预期数值范围包括最大电压值和最小电压值，所述测试节点的数据包括模数转换器输入电压；所述根据所述测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组，包括：
若当前测试通道的测试数据组中，第一个测试节点的模数转换器输入电压小于所述最小电压值，且最后一个测试节点的模数转换器输入电压大于所述最大电压值，则当前测试通道的测试数据组为有效测试通道的测试数据组。
在其中一个实施例中，所述依次遍历所述有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值，包括：
依次遍历所述有效测试通道中，每一个测试节点的模数转换器输入电压，记录相邻两个测试节点的电压差值；根据所述电压差值中的最小值计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值。
在其中一个实施例中，所述根据所述有效测试通道的测试数据组、所述目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对所述有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定所述有效测试通道的有效测试数据组，包括：
根据当前有效测试通道的测试数据组中各测试节点的数据，以及所述最小绝对差偏移值确定相应目标输出电压的筛选范围，若各所述目标输出电压均在对应的筛选范围内，则当前有效测试通道的测试数据组，为有效测试通道的有效测试数据组。
在其中一个实施例中，所述根据所述有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准，包括：根据所述有效测试通道的有效测试数据组，确定对应数模转换器的各段二阶曲线的函数表达式参数，完成对应数模转换器的校准。
本申请第二方面提供一种测试机多通道数模转换器校准装置，测试机的各测试通道均包括数模转换器和模数转换器，根据目标输出电压对所述数模转换器设置编码值后，所述数模转换器输出电压至对应的模数转换器；该装置包括：
通道筛选模块，用于获取各测试通道的测试数据组，并根据所述测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组；其中，所述测试数据组包括两个以上测试节点的数据，每个测试节点的数据为根据同一个目标输出电压对所有测试通道的数模转换器设置编码值时，对各所述测试通道的模数转换器进行数据采集得到；
数据处理模块，用于依次遍历所述有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值；
数据筛选模块，用于根据所述有效测试通道的测试数据组、所述目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对所述有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定所述有效测试通道的有效测试数据组；
曲线拟合模块，用于根据所述有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准。
本申请第三方面提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法的步骤。
本申请第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
本申请第五方面提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
上述测试机多通道数模转换器校准方法、装置、设备、存储介质和计算机程序产品，在获取各测试通道的测试数据组后，根据测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组。依次遍历有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到有效测试通道的最小绝对差偏移值。根据有效测试通道的测试数据组、目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定有效测试通道的有效测试数据组。根据有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准。通过依次进行有效通道筛选和有效数据筛选，根据筛选得到的有效测试通道的有效测试数据组，对相应的数模转换器进行二阶曲线拟合，可以更精确的表征数模转换器的特性，提高了校准准确度。
附图说明
图1为一个实施例中测试机多通道数模转换器校准方法的流程图；
图2为一个实施例中测试机多通道结构示意图；
图3为一个实施例中测试机多通道数模转换器校准装置的结构框图；
图4为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
在一个实施例中，提供了一种测试机多通道数模转换器校准方法，测试机的各测试通道均包括数模转换器（DAC）和模数转换器（ADC），根据目标输出电压对数模转换器设置编码值（Code）后，数模转换器输出电压至对应的模数转换器。首先通过外部器件对测试通道中的模数转换器进行校准，然后利用校准后的模数转换器对数模转换器输出的电压进行转换得到相应的编码值，根据模数转换器的输出编码值确定测试数据组，然后进行通道筛选和数据筛选，最后结合筛选后的数据进行二次曲线拟合，完成对应数模转换器的校准。如图1所示，该方法包括：
步骤S110：获取各测试通道的测试数据组，并根据测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组。其中，测试数据组包括两个以上测试节点的数据，每个测试节点的数据为根据同一个目标输出电压对所有测试通道的数模转换器设置编码值时，对各测试通道的模数转换器进行数据采集得到。
其中，测试机可包括两个或更多的测试通道，如图2所示，以测试机包括测试通道TEST_CH0、测试通道TEST_CH1、测试通道TEST_CH2和测试通道TEST_CH3为例，各测试通道分别设置有数模转换器DAC0、数模转换器DAC1、数模转换器DAC2和数模转换器DAC3，根据设置的编码值分别输出电压InputVol_0、电压InputVol_1、电压InputVol_2和电压InputVol_3，各电压经过硬件链路后输送至对应的模数转换器, 模数转换器根据接收的输入电压输出相应的编码值，以用作进行通道筛选和数据筛选，校准对应的数模转换器。需要说明的是，各测试通道可以是分别设置一个模数转换器，在对各模数转换器完成校准后，利用校准后的模数转换器校准对应的数模转换器；各测试通道也可以是共用一个模数转换器，将该模数转换器的不同输入端分别与对应测试通道的数模转换器连接，对该模数转换器完成校准后，再利用校准后的模数转换器对各测试通道的数模转换器进行校准。
由于模数转换器是校准过的，其输入电压与输出编码值的对应关系是已知的。因此，在得到模数转换器的输出编码值后，可以根据输入电压与输出编码值的对应关系，将模数转换器输出编码值转换为模数转换器输入电压，作为对应测试通道的测试数据组中的数据。可以理解，在其他实施例中，也可以是直接将模数转换器输出编码值作为测试数据组中的数据，后续处理中再转换成模数转换器输入电压进行数据分析。为便于理解，以下均以测试数据组包含模数转换器输入电压进行解释说明。
具体地，在根据同一个目标输出电压对各测试通道的数模转换器设置编码值后，数模转换器的输出电压经过校准后的模数转换器进行转换，得到模数转换器输出编码值，进而转换成模数转换器输入电压后作为一个测试节点的数据。同样的，在根据另外一个相同的目标输出电压对各通道的数模转换器设置编码值后，再次得到模数转换器输出编码值，进而转换成模数转换器输入电压后作为另一个测试节点的数据。以此类推，完成所有测试节点的数据采集。由于不同数模转换器之间的差异是比较小的，通过按照同一个目标输出电压来设置各测试通道中数模转换器的编码值，使得各数模转换器的编码值虽然会存在差异，但偏差不会过大，由此可减少各测试通道的数据差异，降低数据处理复杂度。
在一个实施例中，各测试通道的数模转换器为根据预期数值范围进行参数采集，生成多段二阶曲线并分析满足硬件特性要求的数模转换器。其中，二阶曲线表征数模转换器设置的编码值与输出电压的对应关系，且各段二阶曲线中选择至少一个电压值作为目标输出电压。
预期数值范围的具体取值并不唯一，可根据数模转换器的实际性能进行选择，例如，测试数据组包含模数转换器输入电压时，预期数值范围可以是设置为[-2V，5.5V]，也可以是设置成其他电压范围。通过结合预期数值范围，对各数模转换器进行参数采集生成多段二阶曲线，分析各数模转换器是否满足硬件特性要求。其中，可以是先对所有数模转换器进行硬件特性分析后，将满足硬件特性要求的数模转换器应用到测试机中构建各测试通道。
进一步地，预期数值范围分为多段小区间范围；根据预期数值范围进行参数采集，生成多段二阶曲线分析满足硬件特性要求的数模转换器，包括：获取数模转换器在设置不同编码值时的输出电压，根据编码值以及对应的输出电压生成多段二阶曲线；其中，每段二阶曲线涵盖对应一小区间范围的端点。若各段二阶曲线中，设置的编码值均位于相应二阶曲线的单调递增区间内，则数模转换器满足硬件特性要求。
具体地，可以是将预期数值范围分为多段连续小区间范围，以预期数值范围设置为[-2V,5.5V]为例，则预期数值范围可分为[-2V，0V）、[0V，3V）、[3V，5.5V]三个小区间范围。在实际场景下，需保证数模转换器的设定编码值范围为[0,65535]，与输出电压[-2v,5.5v]的总体趋势为递增。通过对数模转换器设置多个编码值，采集得到相应的输出电压值，选择三个或更多个测量值（包含编码值和对应的输出电压值）为一组进行分段，将所有测量值分成三组，根据每组的测量值生成一段以编码值为横轴，电压值为纵轴的二阶曲线，且需要满足每段二阶曲线包含对应小区间范围的端点。进一步地，利用二阶曲线特性（即y=ax2+bx+c的最值点为x=-b/2a）找出每段二阶曲线的单调递增区间，若每段二阶曲线所对应选取的编码值，都落入对应二阶曲线的单调递增区间内，则数模转换器满足硬件特性要求。
在确定满足硬件特性要求的数模转换器后，下一步就是针对满足硬件特性要求的数模转换器，获取其所在测试通道的测试数据组进行通道筛选和数据筛选，根据筛选后的数据分析数模转换器多段二阶曲线的函数表达式参数（例如y=ax2+bx+c中的a、b、c），完成对数模转换器的二阶曲线校准。可以理解，对于不满足硬件特性要求的数模转换器，则不进行后续的二阶曲线校准流程。
进一步地，对于满足硬件特性要求的数模转换器，可以从不同数模转换器各段二阶曲线的共同区间中，选取至少一个电压值作为目标输出电压，对所有测试通道中满足硬件特性要求的数模转换器进行编码值设置，并采集校准后的模数转换器的输出编码值，转换得到一个测试节点的数据。根据各测试通道所有测试节点的数据得到测试数据组后，结合设定的预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组。
在一个实施例中，预期数值范围包括最大电压值和最小电压值，测试节点的数据包括模数转换器输入电压。步骤S110包括：若当前测试通道的测试数据组中，第一个测试节点的模数转换器输入电压小于最小电压值，且最后一个测试节点的模数转换器输入电压大于最大电压值，则当前测试通道的测试数据组为有效测试通道的测试数据组。
具体地，分别将各测试通道作为当前测试通道，如果满足第一个测试节点的模数转换器输入电压小于最小电压值，而且满足最后一个测试节点的模数转换器输入电压大于最大电压值，即采集到的模数转换器输入电压范围覆盖预期数值范围的端点，则当前测试通道符合通道筛选要求，即当前测试通道的测试数据组为有效测试通道的测试数据组。可以理解，对于不符合通道筛选要求的测试通道，所对应的数模转换器不进行后续的二阶曲线校准流程。
步骤S120：依次遍历有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到有效测试通道的最小绝对差偏移值。其中，对于每一个有效测试通道，将测试数据组中各测试节点的模数转换器输入电压进行两两相互比较，确定有效测试通道的最小绝对差偏移值。
在一个实施例中，步骤S120包括：依次遍历有效测试通道中，每一个测试节点的模数转换器输入电压，记录相邻两个测试节点的电压差值；根据电压差值中的最小值计算得到有效测试通道的最小绝对差偏移值。具体地，依次遍历有效测试通道每一个测试节点的模数转换器输入电压，将后一个电压数据减去前一个电压数据，记录两个相邻测试节点的电压差值。获取所有电压差值中的最小值MinDifVal，计算出有效测试通道的最小绝对差偏移值dSectionOffset= MinDifVal/a，其中，a为经验值，可根据实际情况进行设置，本实施例中，a为5。
步骤S130：根据有效测试通道的测试数据组、目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定有效测试通道的有效测试数据组。
目标输出电压不同，采集到的对应测试节点的数据也会不同。结合在不同目标输出电压下，有效测试通道中各测试节点的数据，以及有效测试通道的最小绝对差偏移值，可以对所有有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定有效测试通道的有效测试数据组。在一个实施例中，步骤S130包括：根据当前有效测试通道的测试数据组中各测试节点的数据，以及最小绝对差偏移值确定相应目标输出电压的筛选范围，若各目标输出电压均在对应的筛选范围内，则当前有效测试通道的测试数据组，为有效测试通道的有效测试数据组。
以其中一个有效测试通道作为当前有效测试通道，其测试数据组包括模数转换器输入电压：std_val1，std_val2，…，std_valn，std_valn表示第n个测试节点的模数转换器输入电压。当前有效测试通道中每一个测试节点对应的目标输出电压为note_valx(x=1，2，…，n)，最小绝对差偏移值为dSectionOffset。若针对于每一个目标输出电压note_valx，均满足：
std_valx-dSectionOffset<note_valx<std_valx+dSectionOffset(x=1，2，…，n)，则当前有效测试通道的测试数据组符合数据筛选要求，是有效测试数据组。可以理解，对于测试数据组符不符合数据筛选要求的有效测试通道，所对应的数模转换器也不进行后续的二阶曲线校准流程。
步骤S140：根据有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准。在完成通道筛选和数据筛选，确定有效测试通道的有效测试数据组后，根据有效测试数据组进行二阶曲线拟合，对数模转换器完成校准。在一个实施例中，步骤S140包括：根据有效测试通道的有效测试数据组，确定对应数模转换器的各段二阶曲线的函数表达式参数，完成对应数模转换器的校准。具体地，根据有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，可以确定该有效测试通道，所对应数模转换器的各段二次曲线的函数表达式参数（例如y=ax2+bx+c中的a、b、c），完成对应数模转换器的校准。校准后的二次曲线用作后续使用过程中，根据实际所需电压对数模转换器进行编码值设置。此外，对于不满足硬件特性要求的数模转换器，不符合通道筛选要求的测试通道所对应的数模转换器，以及不符合数据筛选要求的有效测试通道所对应的数模转换器，都可以进行相关的记录，后续可用作进行异常分析。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的试机多通道数模转换器校准方法的试机多通道数模转换器校准装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个试机多通道数模转换器校准装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于试机多通道数模转换器校准方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种测试机多通道数模转换器校准装置，测试机的各测试通道均包括数模转换器和模数转换器，根据目标输出电压对数模转换器设置编码值后，数模转换器输出电压至对应的模数转换器。如图3所示，该装置包括：通道筛选模块110、数据处理模块120、数据筛选模块130和曲线拟合模块140，其中：
通道筛选模块110，用于获取各测试通道的测试数据组，并根据测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组；其中，测试数据组包括两个以上测试节点的数据，每个测试节点的数据为根据同一个目标输出电压对所有测试通道的数模转换器设置编码值时，对各测试通道的模数转换器进行数据采集得到。
数据处理模块120，用于依次遍历有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到有效测试通道的最小绝对差偏移值。
数据筛选模块130，用于根据有效测试通道的测试数据组、目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定有效测试通道的有效测试数据组。
曲线拟合模块140，用于根据有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准。
在一个实施例中，预期数值范围分为多段小区间范围。该装置还包括硬件特性分析模块，硬件特性分析模块用于获取数模转换器在设置不同编码值时的输出电压，根据编码值以及对应的输出电压生成多段二阶曲线；其中，每段二阶曲线涵盖对应一小区间范围的端点；若各段二阶曲线中，设置的编码值均位于相应二阶曲线的单调递增区间内，则数模转换器满足硬件特性要求。
在一个实施例中，预期数值范围包括最大电压值和最小电压值，通道筛选模块110用于若当前测试通道的测试数据组中，第一个测试节点的模数转换器输入电压小于最小电压值，且最后一个测试节点的模数转换器输入电压大于最大电压值，则当前测试通道的测试数据组为有效测试通道的测试数据组。
在一个实施例中，数据处理模块120用于依次遍历有效测试通道中，每一个测试节点的模数转换器输入电压，记录相邻两个测试节点的电压差值；根据电压差值中的最小值计算得到有效测试通道的最小绝对差偏移值。
在一个实施例中，数据筛选模块130用于根据当前有效测试通道的测试数据组中各测试节点的数据，以及最小绝对差偏移值确定相应目标输出电压的筛选范围，若各目标输出电压均在对应的筛选范围内，则当前有效测试通道的测试数据组，为有效测试通道的有效测试数据组。
在一个实施例中，曲线拟合模块140用于根据有效测试通道的有效测试数据组，确定对应数模转换器的各段二阶曲线的函数表达式参数，完成对应数模转换器的校准。
上述测试机多通道数模转换器校准装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是终端，其内部结构图可以如图4所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC（近场通信）或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种测试机多通道数模转换器校准方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图4中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，还提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法的步骤。
在一个实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
在一个实施例中，还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random Access Memory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccess Memory，DRAM）等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种测试机多通道数模转换器校准方法，其特征在于，测试机的各测试通道均包括数模转换器和模数转换器，根据目标输出电压对所述数模转换器设置编码值后，所述数模转换器输出电压至对应的模数转换器；该方法包括：
获取各测试通道的测试数据组，并根据所述测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组；其中，所述测试数据组包括两个以上测试节点的数据，每个测试节点的数据为根据同一个目标输出电压对所有测试通道的数模转换器设置编码值时，对各所述测试通道的模数转换器进行数据采集得到；
依次遍历所述有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值；
根据所述有效测试通道的测试数据组、所述目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对所述有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定所述有效测试通道的有效测试数据组；
根据所述有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准；
其中，所述预期数值范围包括最大电压值和最小电压值，所述测试节点的数据包括模数转换器输入电压；所述根据所述测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组，包括：若当前测试通道的测试数据组中，第一个测试节点的模数转换器输入电压小于所述最小电压值，且最后一个测试节点的模数转换器输入电压大于所述最大电压值，则当前测试通道的测试数据组为有效测试通道的测试数据组；
所述根据所述有效测试通道的测试数据组、所述目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对所述有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定所述有效测试通道的有效测试数据组，包括：根据当前有效测试通道的测试数据组中各测试节点的数据，以及所述最小绝对差偏移值确定相应目标输出电压的筛选范围，若各所述目标输出电压均在对应的筛选范围内，则当前有效测试通道的测试数据组，为有效测试通道的有效测试数据组。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，各测试通道的数模转换器为根据预期数值范围进行参数采集，生成多段二阶曲线并分析满足硬件特性要求的数模转换器；所述二阶曲线表征数模转换器设置的编码值与输出电压的对应关系，且各段所述二阶曲线中选择至少一个电压值作为目标输出电压。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预期数值范围分为多段小区间范围；根据预期数值范围进行参数采集，生成多段二阶曲线分析满足硬件特性要求的数模转换器，包括：
获取数模转换器在设置不同编码值时的输出电压，根据编码值以及对应的输出电压生成多段二阶曲线；其中，每段所述二阶曲线涵盖对应一所述小区间范围的端点；若各段二阶曲线中，设置的编码值均位于相应二阶曲线的单调递增区间内，则数模转换器满足硬件特性要求。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，利用二阶曲线特性找出每段二阶曲线的单调递增区间，若每段二阶曲线所对应选取的编码值，都落入对应二阶曲线的单调递增区间内，则数模转换器满足硬件特性要求。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述依次遍历所述有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值，包括：
依次遍历所述有效测试通道中，每一个测试节点的模数转换器输入电压，记录相邻两个测试节点的电压差值；根据所述电压差值中的最小值计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，获取所有电压差值中的最小值MinDifVal，计算出所述有效测试通道的最小绝对差偏移值dSectionOffset= MinDifVal/a，其中，a为经验值。
7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准，包括：根据所述有效测试通道的有效测试数据组，确定对应数模转换器的各段二阶曲线的函数表达式参数，完成对应数模转换器的校准。
8.一种测试机多通道数模转换器校准装置，其特征在于，测试机的各测试通道均包括数模转换器和模数转换器，根据目标输出电压对所述数模转换器设置编码值后，所述数模转换器输出电压至对应的模数转换器；该装置包括：
通道筛选模块，用于获取各测试通道的测试数据组，并根据所述测试数据组和预期数值范围进行通道筛选，确定有效测试通道的测试数据组；其中，所述测试数据组包括两个以上测试节点的数据，每个测试节点的数据为根据同一个目标输出电压对所有测试通道的数模转换器设置编码值时，对各所述测试通道的模数转换器进行数据采集得到；
数据处理模块，用于依次遍历所述有效测试通道的测试数据组中，每一个测试节点的数据，计算得到所述有效测试通道的最小绝对差偏移值；
数据筛选模块，用于根据所述有效测试通道的测试数据组、所述目标输出电压以及对应的最小绝对差偏移值，对所述有效测试通道的测试数据组进行数据筛选，确定所述有效测试通道的有效测试数据组；
曲线拟合模块，用于根据所述有效测试通道的有效测试数据组进行二阶曲线拟合，完成对应数模转换器的校准；
其中，所述预期数值范围包括最大电压值和最小电压值，所述测试节点的数据包括模数转换器输入电压；所述通道筛选模块用于若当前测试通道的测试数据组中，第一个测试节点的模数转换器输入电压小于所述最小电压值，且最后一个测试节点的模数转换器输入电压大于所述最大电压值，则当前测试通道的测试数据组为有效测试通道的测试数据组；
所述数据筛选模块用于根据当前有效测试通道的测试数据组中各测试节点的数据，以及所述最小绝对差偏移值确定相应目标输出电压的筛选范围，若各所述目标输出电压均在对应的筛选范围内，则当前有效测试通道的测试数据组，为有效测试通道的有效测试数据组。
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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