CN118092029A - 一种显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板及显示装置，其中，所述显示面板包括显示区和边框区；边框区环绕所述显示区设置；边框区划分有信号补偿区，信号补偿区位于显示区第一侧；信号补偿区内设置有多组信号线，信号补偿区外的边框区设置有测试垫；多组信号线均对应不同的测试垫；每组信号线均包括输入线和输出线，输出线和所述输入线并排设置，输入线与对应的测试垫连接，输出线连接至显示区的像素电路；每组信号线至少在非端部位置设置有一连接段，输入线和输出线在连接段连接。本发明可有效降低显示面板CT测试过程中发生的假不良现象，提高了成品良率，降低了原材料成本。

Description

一种显示面板及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示器)产品大部分采用短路棒(ShortingBar)的方式进行CT(Cell Test，成盒测试)检测，即通过测试装置(CT Jig)连接至测试垫(CT Pad)的方式供信号。但是在测试过程中发现，针对同一显示面板进行CT检测的测试结果和实际的显示结果匹配性差，会出现较多的假不良现象，严重影响了成品良率，提高了原材料成本。

发明内容

鉴于上述问题，本发明提出了一种显示面板及显示装置，可有效降低显示面板CT测试过程中发生的假不良现象，提高了成品良率，降低了原材料成本。

第一方面，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种显示面板，所述显示面板包括显示区和边框区；所述边框区环绕所述显示区设置；所述边框区划分有信号补偿区，所述信号补偿区位于所述显示区第一侧；所述信号补偿区内设置有多组信号线，所述信号补偿区外的边框区设置有测试垫；所述多组信号线均对应不同的所述测试垫；每组所述信号线均包括输入线和输出线，所述输出线和所述输入线并排设置，所述输入线与对应的所述测试垫连接，所述输出线连接至所述显示区的像素电路；每组所述信号线至少在非端部位置设置有一连接段，所述输入线和所述输出线在连接段连接。

可选的，每组所述信号线的连接段为3个以上。

可选的，每组所述信号线的相邻两个连接段间距相同。

可选的，每组所述信号线的连接段为3个时，所述信号线的位置处、/>位置处和远端均设置所述连接段；所述信号线的远端为所述信号线上与对应的测试垫传输距离最远的端部。

可选的，每个所述连接段包括两个以上的连接部，所述连接部第一端导电连接所述输入线，所述连接部第二端导电连接所述输出线。

可选的，所述连接部为3个以上时，每相邻两个所述连接部之间的间距均相同。

可选的，所述连接部的数量为8个以上。

可选的，每组所述信号线的输入线和输出线之间的间距相同。

可选的，每组所述信号线的输入线和输出线电阻相同。

可选的，所述边框区还划分有第一连接区、第二连接区和测试区；所述测试区位于所述显示区的第二侧，所述第一连接区位于所述显示区的第三侧，所述第二连接区位于所述显示区的第四侧；所述显示区的第一侧和所述显示区的第二侧为相对的两侧，所述显示区的第三侧和所述显示区的第四侧为相对的两侧；所述测试垫设置在所述测试区，所述第一连接区和/或所述第二连接区内设置有连接线，所述测试垫通过所述连接线与对应的所述输入线连接。

可选的，所述测试区中的第一区域和第二区域均设置有测试垫，所述第一区域和所述第二区域分别位于所述测试区的两端；所述第一区域的测试垫通过所述第一连接区的连接线与对应的所述输入线连接，所述第二区域的测试垫通过所述第二连接区的连接线与对应的所述输入线连接。

可选的，所述第一区域的测试垫与所述信号线一一对应，所述第二区域的测试垫与所述信号线一一对应。

可选的，所述信号线包括开关控制线和像素数据线，所述开关控制线的输入线和所述像素数据线的输入线均连接至对应的测试垫。

可选的，所述测试区中的第一区域和第二区域均设置有测试垫，所述第一区域和所述第二区域分别位于所述测试区的两端；所述像素数据线包括第一颜色数据线、第二颜色数据线和第三颜色数据线；所述第一颜色数据线的输入线的第一端，和所述第二颜色数据线的输入线的第一端，均连接至所述第一区域中对应的测试垫；所述第三颜色数据线的输入线的第二端和所述开关控制线的输入线的第二端，均连接至所述第二区域中对应的测试垫；所述输入线的第一端为靠近所述第一连接区的一端，所述输入线的第二端为靠近所述第二连接区的一端。

可选的，所述测试区中的第一区域和第二区域均设置有测试垫，所述第一区域和所述第二区域分别位于所述测试区的两端；所述像素数据线包括第一颜色数据线、第二颜色数据线、第三颜色数据线、第四颜色数据线、第五颜色数据线和第六颜色数据线；所述第一颜色数据线的输入线的第一端，所述第二颜色数据线的输入线的第一端，所述第三颜色数据线的输入线的第一端，和所述开关控制线的输入线的第一端，均连接至所述第一区域中对应的测试垫；所述第四颜色数据线的输入线的第二端，所述第五颜色数据线的输入线的第二端，所述第六颜色数据线的输入线的第二端，和所述开关控制线的输入线的第二端，均连接至所述第二区域中对应的测试垫；所述输入线的第一端为靠近所述第一连接区的一端，所述输入线的第二端为靠近所述第二连接区的一端。

第二方面，基于同一发明构思，本申请通过一实施例提供如下技术方案：

一种显示装置，包括前述第一方面中任一所述的显示面板。

本发明实施例中的显示面板包括显示区和边框区；边框区环绕所述显示区设置；边框区划分有信号补偿区，信号补偿区位于显示区第一侧；信号补偿区内设置有多组信号线，信号补偿区外的边框区设置有测试垫；多组信号线均对应不同的测试垫；每组信号线均包括输入线和输出线，输出线和所述输入线并排设置，输入线与对应的测试垫连接，从而可接收传入的测试信号；输出线连接至显示区的像素电路，从而将测试信号传输至显示区内部；每组信号线至少在非端部位置设置有一连接段，输入线和输出线在连接段连接，从而使得输入线可对输出线各位置的信号实现补偿。也就是说，当测试信号传入输入线时，可通过非端部位置的连接段传输至输出线，从而减小输出线各个位置的信号电压差，使得测试结果能够更好的匹配实际显示结果，从而降低了显示区发生显示不良的概率，提高了成品良率，降低了原材料成本。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中显示面板的第一种实施结构示意图；

图2为图1的显示面板测试画面异常的位置示意图；

图3为本发明实施例中显示面板的第二种实施结构示意图；

图4为本发明实施例中信号线的一补偿结构示意图；

图5为本发明实施例中信号线的连接段位置的设计示意图；

图6为本发明实施例中信号线的间隔位置的设计示意图；

图7为本发明实施例中信号线的又一补偿结构示意图；

图8为本发明实施例中转接孔位置的设计结构示意图；

图9为图8的A位置的截面示意图；

图10为本发明实施例中显示面板的第三种实施结构示意图；

图11为本发明实施例中显示面板的第四种实施结构示意图；

图12为图11中信号线第一端的设计示意图；

图13为图11中信号线第二端的设计示意图；

图14为本发明实施例中信号线第一端的静电释放环的设计示意图；

图15为本发明实施例中信号线第二端的静电释放环的设计示意图.

具体实施方式

以下，将参照附图来描述本公开的实施例。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本公开的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本公开的概念。

在附图中示出了根据本公开实施例的各种结构示意图。这些图并非是按比例绘制的，其中为了清楚表达的目的，放大了某些细节，并且可能省略了某些细节。图中所示出的各种区域、层的形状以及它们之间的相对大小、位置关系仅是示例性的，实际中可能由于制造公差或技术限制而有所偏差，并且本领域技术人员根据实际所需可以另外设计具有不同形状、大小、相对位置的区域/层。

在本公开的上下文中，当将一层/元件称作位于另一层/元件“上”时，该层/元件可以直接位于该另一层/元件上，或者它们之间可以存在居中层/元件。另外，如果在一种朝向中一层/元件位于另一层/元件“上”，那么当调转朝向时，该层/元件可以位于该另一层/元件“下”。

针对目前出现LCD类型的显示面板出现的假不良现象分析发现，随着产品尺寸的增大，检测线(后文实施例为信号线)的电阻也会不断增大。因此，检测信号从靠近测试垫的近端传输至远离测试垫的远端时，会发生明显的衰减和延迟增加大，导致近端和远端数据信号(Data)电压不同，从而出现显示不良的现象；例如，出现显示画面颜色不均匀。

请参阅图1所示的显示面板100，在3D Switch CT测试设计方案(每种颜色对应一条检测线110的方案)中。随着产品尺寸的增大，检测线110电阻也在增大，检测信号从近端传输至远端的衰减及延迟较大，导致近端和远端数据信号电压不同，显示面板100出现了显示不均的现象。例如，当D1，D2分别为接入红色和绿色对应的数据信号(DR、DG)的测试垫，D3为接入蓝色对应的数据信号(DB)的测试垫时，DR、DG从显示面板100的左侧供给，DB从显示面板100的右侧供给，导致左侧DR、DG输入强，右侧DB输入强，呈现左侧灰阶画面发黄，右侧灰阶画面发蓝的不良现象，如图2所示，其中，图2(A)为不良区域的位置示意图，图2(B)为不良区域的实际成像图；从而严重影响了成盒测试的正常检测判断；不仅如此，SW为接入开关信号的测试垫，开关信号在检测线110上也会出现不一致的情况造成传入数据信号时经过的开关晶体管开启程度不统一，最终也会影响成盒测试的正常检测判断。

因此，本发明针对分析出的上述原因带来的问题，提出了一种显示面板，该显示面板通过将信号线设置为输入线和输出线，输入线和输出线之间通过连接段连接，从而通过输入线对输出线各个位置的信号电压实现补偿，保证输出线各位置的信号电压基本相同，从而减轻或消除成盒测试的假不良现象，进而提升了测试良率，减少了资材浪费。当然本发明的实现原理也不仅限于应用在LCD类型的显示面板中。下面通过具体实施例的方式对本发明的整体构思及实现细节进行详细的阐述和说明。

请参阅图3和图4，在本实施例中提供了一种显示面板200，该显示面板200可包括显示区(Active Area，有效显示区)210和边框区220。边框区220环绕显示区210设置，也就是说，边框区220设置在显示区210的外围。

显示区210为显示面板200中显示图像的区域，该显示区210可包括阵列排布的子像素，每个子像素具有对应的像素电路，边框区220可用于布置走线和封边等。边框区220划分有信号补偿区221、测试区222、第一连接区223和第二连接区224。可以理解的，显示区210的形状可大致为方形，因此，显示区210具有两组相对的边缘。信号补偿区221可位于显示区210的第一侧，测试区222可位于显示区210的第二侧，第一连接区223可位于显示区210的第三侧，第二连接区224可位于显示区210的第四侧。显示区210的第一侧、第二侧、第三侧和第四侧均是指显示区210边缘外的位置，其中，显示区210的第一侧和显示区210的第二侧为相对的两侧，显示区210的第三侧和显示区210的第四侧为相对的两侧。

信号补偿区221设置有多组信号线221A，信号补偿区221外的边框区220设置有测试垫(CT Pad)201。每组信号线221A对应不同的测试垫201，并与对应的测试垫201连接；在进行测试的时候，从测试垫201输入信号即可传输至信号线221A。每组信号线221A均包括并排设置的输入线2211和输出线2212。

输入线2211与对应的测试垫201连接，输出线2212连接至显示区210的像素电路，也即输出线2212连接至显示区210的内部。每组信号线221A至少在非端部位置设置有至少一个连接段2213，输入线2211在连接段2213与输出线2212连接。当测试信号传入输入线2211时，可通过非端部位置的连接段2213传输至输出线2212，从而减小输出线2212各个位置的信号电压差，使得测试结果能够更好的匹配实际显示结果，从而降低了显示区210发生显示不良的概率，提高了成品良率，降低了原材料成本。

另外，还需要说明的是，本实施例中将信号线221A设置为输入线2211和输出线2212，并增加对应的连接段，不会增加掩膜版步骤；因此，实现本实施例结构的过程中几乎不会增加工艺成本。

为了保证良好的导电连接，连接段2213可设置多个连接部2215；例如，每个连接段2213可设置两个以上的连接部2215，连接部2215的第一端导电连接输入线2211，连接部2215的第二端导电连接输出线2212。当连接部2215为3个以上时，可将连接部2215均匀设置在连接段2213内，例如，每两个相邻连接部2215之间的间距相同，从而保证输出线2212各个位置之间的信号尽可能一致。具体的，每个连接段2213设置的连接部2215可为3个、6个、8个、10个、12个、14个等等，不做限制。连接部2215沿输出线2212长度方向的宽度可为12μm左右，如图5所示(图示中未标注单位)，例如，可为10μm、12μm、14μm等等；图5中示出了连接部2215沿输出线2212长度方向的宽度为12μm。相邻两个连接部2215之间的间距宽度可为14μm左右，如图5所示，例如，可为10μm、12μm、14μm、16μm、18μm等等；图5中示出了相邻两个连接部2215之间的间距宽度为14μm。

在一些实现方式中，每个连接段2213可设置8个以上的连接部2215，例如，可为9个、10个、12个、14个、16个等等，这样可保证输入线2211和输出线2212之间可具备良好的连接，并且避免带来过大的电阻导致传入输出线2212的信号出现降压。

进一步的，输入线2211和输出线2212的线宽可设置为相同，或基本相同，可保证输入线2211和输出线2212各自的电阻一致。也可在制造时控制输入线2211的电阻和输出线2212的电阻相同，从而提高输出线2212各个位置的信号一致性。

还可将输入线2211和输出线2212之间的间距设置为相同；也即，输入线2211和输出线2212可相互平行设置。因为在实际工艺过程中不可能达到理想的平行状态，因此输入线2211和输出线2212之间的走向可呈基本平行设置，从而避免输入线2211和输出线2212之间的信号相互干扰，并保证输出线2212各个位置的信号基本一致。

示例性的，请参阅图6(图示中未标注单位)，输出线2212和输入线2211的线宽可均设置为16μm左右，另外还可为13μm、14μm、16μm、17μm、18μm等等；输出线2212和输入线2211之间的间距可为8μm左右，另外还可为5μm、7μm、8μm、9μm、10μm、11μm等等。每组信号线221A之间的间距也可为16μm左右，另外还可为13μm、14μm、16μm、17μm、18μm等等。从而可保证输入线2211和输出线2212各个位置的电阻保持一致，从而保证输出线2212各个位置的信号一致或基本一致，使得测试结果更加匹配实际显示结果。

每组信号线221A的连接段2213的数量的可为1个，也可为多个。

例如，当一组信号线221A的连接段2213的数量为一个时，可将连接段2213设置在信号线221A中间位置。具体的，可将连接段2213设置在信号线221A的位置处，也可以是大致设置在信号线221A的/>位置处；当输出线2212接收到信号时，可避免信号从一端完全传输到另一端，造成两端信号产生较大的压差。

再例如，当一组信号线221A的连接段2213的数量为2个时，可将连接段2213设置在，或大致设置在信号线221A的位置处和/>位置处，如图7所示，从而保证输出线2212各个位置的信号能够尽可能保持一致。

在一些实现方式中，可将每组信号线221A的连接段2213为3个以上，此时，每组信号线221A的相邻两个连接段2213间距相同。可尽可能避免信号从输入线2211到输出线2212后出现压降，保证准确的测试结果。

例如，每组信号线221A的连接段2213为3个时，连接段2213可设置在，或大致设置在信号线221A的位置处、/>位置处和远端，如图4所示；其中，信号线221A的远端为信号线221A上与对应的测试垫201传输距离最远的端部，换句话说，若输入线2211的第一端连接至对应的测试垫201，则输入线2211的第二端对应于信号线221A的远端。可以理解的，若/>位置处的连接段2213和/>位置处的连接段2213之间为第一间距，若/>位置处的连接段2213和远端位置处的连接段2213之间为第二间距，则第一间距和第二间距可相同。

再例如，每组信号线221A的连接段2213为5个时，连接段2213可设置在，或大致设置在信号线221A的位置处、/>位置处、/>位置处、/>位置处和远端，从而提高输出线2212各位置信号电压的一致性。其他数量的连接段2213的实现例，可依据上述示例类比实现。

请参阅图8和图9，输出线2212上可设置对应的转接孔23，从而通过该转接孔23连接至显示区210的内部像素电路。可以理解的，信号线221A可通过栅极金属21形成，接入显示区210内部的走线可通过源漏(S/D)金属形成。因此，可在输出线2212的栅极金属21和源漏金属22的连接位置设置转接孔23，转接孔23穿透栅极绝缘层(Gate insulator，GI)24，栅极金属21可通过转接孔23与源漏金属22形成接触，从而可将信号传入显示面板200内。进一步的，每个连接位置还可设置两个转接孔23，这样可提高连接可靠性，保证良好的导电接触。

测试垫201可设置在测试区222。可从第一连接区223和/或第二连接区224进行走线，以将测试垫201与信号线221A进行连接；换句话说，测试垫201设置在测试区222，第一连接区223和/或第二连接区224内设置有连接线，测试垫201通过连接线与对应的输入线2211连接。连接线可通过栅极金属实现走线，在测试垫201的位置可采用过孔的方式与测试垫201形成导电接触。下面通过示例说明：

示例1：

测试区222中的第一区域2221和第二区域2222均设置有测试垫201，第一区域2221和第二区域2222分别位于测试区222的两端。因此，第一区域2221的测试垫201通过第一连接区223的连接线与对应的输入线2211连接，第二区域2222的测试垫201通过第二连接区224的连接线与对应的输入线2211连接。这样能够保证具备足够的空间布置测试垫201，并且减少走线的长度。

进一步的，每组信号线221A的输入线2211的两端的均可连接测试垫201，这样可从输入线2211的两端同时传输信号，避免在输入线2211上产生近端或远端。也就是说，第一区域2221的测试垫201与信号线221A一一对应，第二区域2222的测试垫201也与信号线221A一一对应，每组信号线221A对应的两个测试垫201可接入相同的测试信号。进一步的，输入线2211和输出线2212之间的连接段2213还可对称设置，这样每组信号线221A接入信号的传输路径长度几乎相同，从而可尽可能的保证输出线2212上各个位置的信号一致。

信号线221A可包括开关控制线和像素数据线，开关控制线的输入线2211和像素数据线的输入线2211均连接至对应的测试垫201。像素数据线用于给显示区210的像素驱动电路传输数据信号，在像素数据线进入显示区210内时可通过一开关晶体管进行控制，该开关晶体管的导通或截止可通过开关控制线进行控制。也就是说，开关晶体管的栅极可连接至开关控制线，同样的，要保证开关晶体管的开启程度一致，也需要保证开关控制线各位置的信号一致，避免对传输显示区210内的数据信号的电压产生影响。

例如，在3D Switch Test产品(每种颜色对应一条测试信号线221A的产品)中，像素数据线可包括第一颜色数据线、第二颜色数据线和第三颜色数据线。第一颜色数据线、第二颜色数据线和第三颜色数据线可分别为红色数据线、绿色数据线和蓝色数据线。第一颜色数据线的输入线2211、第二颜色数据线的输入线2211、第三颜色数据线的输入线2211和开关控制线的输入线2211中，所有输入线2211的两端均可连接对应的测试垫201；其中，输入线2211靠近第一连接区223的一端通过第一连接区223连接第一区域2221的测试垫201，输入线2211靠近第二连接区224的一端通过第二连接区224连接第二区域2222的测试垫201。从而保证每组信号的输出线2212上各位置的信号能够一致。

再如，请参阅图10，在6D Switch Test产品(每种颜色对应两条测试信号线221A的产品)中，像素数据线包括第一颜色数据线、第二颜色数据线、第三颜色数据线、第四颜色数据线、第五颜色数据线和第六颜色数据线，第一区域2221内的一组分别对应测试垫201标号为D1、D2、D3、D4、D5、D6、SW，全部从第一连接区223传输信号；第二区域2221内的一组也分别对应测试垫201标号也为D1、D2、D3、D4、D5、D6、SW，全部从第二连接区224传输信号。进一步的，6条数据线可形成两组(组B1和组B2)，并且每组数据线均对应为红色数据线、绿色数据线和蓝色数据线。如第一颜色数据线和第四颜色数据线可均为红色数据线，第二颜色数据线和第五颜色数据线可均为绿色数据线，第三颜色数据线和第六颜色数据线可均为蓝色数据线。同样的，第一颜色数据线的输入线2211、第二颜色数据线的输入线2211、第三颜色数据线的输入线2211、第四颜色数据线的输入线2211、第五颜色数据线的输入线2211、第六颜色数据线的输入线2211和开关控制线的输入线2211中，所有输入线2211的两端均可连接对应的测试垫201；其中，数据线靠近第一连接区223的一端通过第一连接区223连接第一区域2221的测试垫201，靠近第二连接区224的一端通过第二连接区224连接第二区域2222的测试垫201。从而保证每组信号的输出线2212上各位置的信号能够一致。

示例2：

请继续参阅图3，该示例中，测试区222中的第一区域2221和第二区域2222均设置有测试垫201，第一区域2221和所述第二区域2222分别位于测试区222的两端，在图3中，第一区域2221内的一组分别对应测试垫201标号为D1、D2；第一区域2221内的一组分别对应测试垫201标号为D3、SW。像素数据线可包括第一颜色数据线、第二颜色数据线和第三颜色数据线。第一颜色数据线、第二颜色数据线和第三颜色数据线可分别为红色数据线、绿色数据线和蓝色数据线。

与前述示例1不同的是，第一颜色数据线的输入线2211的第一端，和第二颜色数据线的输入线2211的第一端，均连接至第一区域2221中对应的测试垫201；第三颜色数据线的输入线2211的第二端和开关控制线的输入线2211的第二端，均连接至第一区域2221中对应的测试垫201。输入线2211的第一端为靠近第一连接区223的一端，输入线2211的第二端为靠近第二连接区224的一端。该种实现方式可很好的应用于3D Switch Test产品中，这样可使得两端的布线对称，可占用更少的边框区220，并且也保证了各条输出线2212的信号均实现了补偿。

示例3：

请参阅图11，该示例中，测试区222中的第一区域2221和第二区域2222均设置有测试垫201，第一区域2221和所述第二区域2222分别位于测试区222的两端。像素数据线包括第一颜色数据线、第二颜色数据线、第三颜色数据线、第四颜色数据线、第五颜色数据线和第六颜色数据线。其中，6条数据线可形成两组(组B1和组B2)，并且每组数据线均对应为红色数据线、绿色数据线和蓝色数据线。在图11中，第一区域2221内的一组分别对应测试垫201标号为D1、D2、D3、SW；第二区域2222内的一组分别对应测试垫201标号为D4、D5、D6、SW。例如，第一颜色数据线和第四颜色数据线可均为红色数据线，第二颜色数据线和第五颜色数据线可均为绿色数据线，第三颜色数据线和第六颜色数据线可均为蓝色数据线。

与前述示例1不同的是，第一颜色数据线的输入线2211的第一端，第二颜色数据线的输入线2211的第一端，第三颜色数据线的输入线2211的第一端，和开关控制线的输入线2211的第一端，均连接至所述第一区域2221中对应的测试垫201，设计图(layout)的连接结构如图12所示，D1、D2、D3、SW对应的信号输入。第四颜色数据线的输入线2211的第二端，第五颜色数据线的输入线2211的第二端，第六颜色数据线的输入线2211的第二端，和开关控制线的输入线2211的第二端，均连接至第二区域2222中对应的测试垫201，设计图(layout)的连接结构如图13所示，D4、D5、D6、SW对应的信号输入。其中，输入线2211的第一端为靠近第一连接区223的一端，输入线2211的第二端为靠近第二连接区224的一端。这种情况下，6条输入线2211可分为两组分别从第一连接区223和第二连接区224连接对应的测试垫201，减少边框区220的占用面积。

另外，该种实现方式中也具有开关控制线，由于此时的像素数据线为偶数条，像素数据线加上开关控制线为奇数条；则可在开关控制线的输入线2211两端均连接对应的测试垫201，从而充分利用边框区220走线，同时提高开关控制线的输出线2212上的信号一致性。该种实现方式可很好的应用于6D Switch Test产品中，这样可使得两端的布线对称，充分利用边框区220面积，并且也保证了各条输出线2212的信号均实现了补偿。

在上述的各个示例中，还可针对只有一端接入信号的输入线2211进行如下设置：至少在输入线2211的远端设置连接段2213。这样保证输出线2212上的远端位置的信号也能够得到有效补偿。

在一些实现方式中，第一连接区223和第二连接区224中的连接线与信号线221A之间还可设置用于消除静电的ESD(Electro-Static discharge，静电释放)环，降低静电带来的风险。如图14和图15所示，在图14中示出了6D Switch Test产品中并且以图11的结构实现时，第一连接区223的连接线通过ESD环208后接入信号线221A；在图15中示出了6DSwitch Test产品中并且以图11的结构实现时，第二连接区224的连接线通过ESD环209后接入信号线221A。

该ESD环的具体结构可参照现有技术实现。可以理解的，针对任一静电释放环而言，其输入端可连接至对应的连接线，其输出端可连接至信号线221A的输入线2211。

需要说明的是，在本实施例中的图1～图8，图10～图15均为示出显示面板200中各个结构的平面位置关系，阐述的各个结构或走线所在的膜层可参照现有设计方案进行理解，此处不再赘述。

综上所述，本发明实施例中提供的一种显示面板200，其中的每组信号线221A至少在非端部位置设置有至少一个连接段2213，输入线2211在连接段2213与输出线2212连接。当测试信号传入输入线2211时，可通过非端部位置的连接段2213传输至输出线2212，从而减小输出线2212各个位置的信号电压差，使得测试结果能够更好的匹配实际显示结果，从而降低了显示区210发生显示不良的概率，提高了成品良率，降低了原材料成本。

基于同一发明构思，在本发明的又一实施例中还提供了一种显示装置，包括前述实施例中任一所述的显示面板200。该显示装置可以是便携式的显示器、平板电脑、手机、笔记本电脑、电视等具备显示功能的电子设备。

需要说明的是，本实施例提供的一种显示装置，其中显示面板200的结构可参照前述结构实施例，所产生的有益效果已在前述关于显示面板200的实施例中进行阐述，具体可参见前述关于显示面板200的实施例，本实施例中不再赘述。

在以上的描述中，对于显示面板200各层的构图、刻蚀等技术细节并没有做出详细的说明。但是本领域技术人员应当理解，可以通过各种技术手段，来形成所需形状的层、区域等。另外，为了形成同一结构，本领域技术人员还可以设计出与以上描述的方法并不完全相同的方法。另外，尽管在以上分别描述了各实施例，但是这并不意味着各个实施例中的措施不能有利地结合使用。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (16)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括显示区和边框区；所述边框区环绕所述显示区设置；所述边框区划分有信号补偿区，所述信号补偿区位于所述显示区第一侧；所述信号补偿区内设置有多组信号线，所述信号补偿区外的边框区设置有测试垫；

所述多组信号线均对应不同的所述测试垫；每组所述信号线均包括输入线和输出线，所述输出线和所述输入线并排设置，所述输入线与对应的所述测试垫连接，所述输出线连接至所述显示区的像素电路；每组所述信号线至少在非端部位置设置有一连接段，所述输入线和所述输出线在连接段连接。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每组所述信号线的连接段为3个以上。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，每组所述信号线的相邻两个连接段间距相同。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每组所述信号线的连接段为3个时，所述信号线的位置处、/>位置处和远端均设置所述连接段；所述信号线的远端为所述信号线上与对应的测试垫传输距离最远的端部。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每个所述连接段包括两个以上的连接部，所述连接部第一端导电连接所述输入线，所述连接部第二端导电连接所述输出线。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述连接部为3个以上时，每相邻两个所述连接部之间的间距均相同。

7.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述连接部的数量为8个以上。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每组所述信号线的输入线和输出线之间的间距相同。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每组所述信号线的输入线和输出线电阻相同。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述边框区还划分有第一连接区、第二连接区和测试区；所述测试区位于所述显示区的第二侧，所述第一连接区位于所述显示区的第三侧，所述第二连接区位于所述显示区的第四侧；所述显示区的第一侧和所述显示区的第二侧为相对的两侧，所述显示区的第三侧和所述显示区的第四侧为相对的两侧；

所述测试垫设置在所述测试区，所述第一连接区和/或所述第二连接区内设置有连接线，所述测试垫通过所述连接线与对应的所述输入线连接。

11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述测试区中的第一区域和第二区域均设置有测试垫，所述第一区域和所述第二区域分别位于所述测试区的两端；

所述第一区域的测试垫通过所述第一连接区的连接线与对应的所述输入线连接，所述第二区域的测试垫通过所述第二连接区的连接线与对应的所述输入线连接。

12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，所述第一区域的测试垫与所述信号线一一对应，所述第二区域的测试垫与所述信号线一一对应。

13.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述信号线包括开关控制线和像素数据线，所述开关控制线的输入线和所述像素数据线的输入线均连接至对应的测试垫。

14.根据权利要求13所述的显示面板，其特征在于，所述测试区中的第一区域和第二区域均设置有测试垫，所述第一区域和所述第二区域分别位于所述测试区的两端；所述像素数据线包括第一颜色数据线、第二颜色数据线和第三颜色数据线；

所述第一颜色数据线的输入线的第一端，和所述第二颜色数据线的输入线的第一端，均连接至所述第一区域中对应的测试垫；

所述第三颜色数据线的输入线的第二端和所述开关控制线的输入线的第二端，均连接至所述第二区域中对应的测试垫；

所述输入线的第一端为靠近所述第一连接区的一端，所述输入线的第二端为靠近所述第二连接区的一端。

15.根据权利要求13所述的显示面板，其特征在于，所述测试区中的第一区域和第二区域均设置有测试垫，所述第一区域和所述第二区域分别位于所述测试区的两端；所述像素数据线包括第一颜色数据线、第二颜色数据线、第三颜色数据线、第四颜色数据线、第五颜色数据线和第六颜色数据线；

所述第一颜色数据线的输入线的第一端，所述第二颜色数据线的输入线的第一端，所述第三颜色数据线的输入线的第一端，和所述开关控制线的输入线的第一端，均连接至所述第一区域中对应的测试垫；

所述第四颜色数据线的输入线的第二端，所述第五颜色数据线的输入线的第二端，所述第六颜色数据线的输入线的第二端，和所述开关控制线的输入线的第二端，均连接至所述第二区域中对应的测试垫；

所述输入线的第一端为靠近所述第一连接区的一端，所述输入线的第二端为靠近所述第二连接区的一端。

16.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1～15中任一所述的显示面板。