CN117874399A - 空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明涉及建筑领域，公开了一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质，用于提高检测效率。空间净距的批量检测方法包括：获取目标检测任务，目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称，确定目标检测空间内与目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列，根据目标下部构件名称查询目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件，计算目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，目标空间净距序列与目标构件对序列对应。

Description

空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及建筑领域，尤其涉及一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在建筑领域，建筑绘图完成后需要对构件的空间位置进行分析，来判断建筑设计是否合理，帮助设计师发现设计上存在的问题。

当前，对于比较受关注的楼层层高、管道净空等净距检测，绘图工具Revit中设置了检测选项，可以通过设置的选项批量获得楼层层高和管道净空，但对于其他构件与楼板的净距检测或构件之间的净距检测只能进入相应空间的剖面，利用标注功能进行检测，无法批量得到，检测效率低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质，用于解决构件空间净距无法批量检测的问题，提高检测效率。

本发明第一方面提供了一种空间净距的批量检测方法方法，包括：获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件；计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

本发明第二方面提供了一种空间净距的批量检测装置，包括：获取模块，用于获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；第一确定模块，用于确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；查询模块，用于根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件；计算模块，用于计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

本发明第三方面提供了一种空间净距的批量检测设备，包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令；所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述空间净距的批量检测设备执行上述的空间净距的批量检测方法。

本发明的第四方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述的空间净距的批量检测方法。

本发明提供的技术方案中, 获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称，确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列，根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件，计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。本发明实施例中，获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称，基于上部构件名称确定匹配的上部构件，得到上部构件序列，根据下部构件名称识别上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到构件对序列，计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，实现构件之间空间净距的批量检测，提高检测效率。

附图说明

图1为本发明实施例中空间净距的批量检测方法的一个实施例示意图；

图2为本发明实施例中空间净距的批量检测方法的另一个实施例示意图；

图3为本发明实施例中空间净距的批量检测方法的另一个实施例示意图；

图4为本发明实施例中空间净距的批量检测装置的一个实施例示意图；

图5为本发明实施例中空间净距的批量检测装置的另一个实施例示意图；

图6为本发明实施例中空间净距的批量检测设备的一个实施例示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供了一种空间净距的批量检测方法、装置、设备及存储介质，用于提高检测效率。

本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等（如果存在）是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”或“具有”及其任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

为便于理解，下面对本发明实施例的具体流程进行描述，可以理解的是，本发明的执行主体可以为空间净距的批量检测装置，还可以是终端或者服务器，具体此处不做限定。本发明实施例以终端为执行主体为例进行说明。

请参阅图1，本发明实施例中空间净距的批量检测方法的一个实施例包括：

101、获取目标检测任务，目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

终端获取目标检测任务，目标检测任务为一个批量检测任务，目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称，目标检测空间为进行批量检测时覆盖的空间区域，例如一个房间、一层楼、一栋楼等，目标上部构件名称和目标下部构件名称均是指构件的族名称，例如结构梁、压顶梁、普通门等，“上部”与“下部”指代构件在竖直平面的上下位置关系，目标检测任务指示在目标检测空间内，对目标上部构件名称对应的上部构件与目标下部构件名称对应的下部构件进行批量净距检测，空间净距是指两个构件的外轮廓在竖直方向上的最小距离。

102、确定目标检测空间内与目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

例如，当目标检测空间为1号建筑、目标上部构件名称为“结构梁”时，终端识别1号建筑内族名称为“结构梁”的构件，得到1号建筑内的多个结构梁构件，每个结构梁构件均为上部构件，多个结构梁构件组成目标上部构件序列。

103、根据目标下部构件名称查询目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列；

终端遍历目标上部构件序列中的上部构件，基于每个上部构件向下扫描与目标下部构件名称匹配的下部构件，若扫描到对应的下部构件，则将上部构件和与上部构件对应的下部构件组成构件对，若没有扫描到，则将上部构件从目标上部构件序列中剔除，遍历结束后将得到的多个构件对组合为目标构件对序列，目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件。

104、计算目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列。

终端读取目标构件对序列中上部构件的底标高度值和下部构件的顶标高度值，计算每个构件对中上部构件的底标高度值与下部构件的顶标高度值之差，得到每个构件对对应的净距，每个构件对对应的净距构成目标空间净距序列，目标空间净距序列与目标构件对序列对应。

本发明实施例中，获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称，基于上部构件名称确定匹配的上部构件，得到上部构件序列，根据下部构件名称识别上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到构件对序列，计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，实现构件之间空间净距的批量检测，提高检测效率。

请参阅图2，本发明实施例中空间净距的批量检测方法的另一个实施例包括：

201、响应于净距检测指令，构建检测任务列表；

终端响应于净距检测指令，对净距检测指令进行解析，具体解析方式为先基于检测空间进行第一层级的划分，若一个检测空间内包含多个构件名称对，则继续基于构件名称对进行第二层级的划分，得到解析结果，解析结果包括至少一个检测空间以及每个检测空间对应的至少一个构件名称对，构件名称对包括两个构件名称，构件名称对中的两个构件名称用于指示待进行净距检测的两种构件。

例如，当净距检测指令为批量检测1号建筑中结构梁与普通门之间的净距、结构梁与防火门之间的净距以及2号建筑的2楼中压顶梁与建筑楼板之间的净距时，终端先基于建筑对净距检测指令进行第一层级划分，再在每个建筑空间中基于构件名称对进行第二层级的划分，解析结果如表1所示：

表1

终端调用预设的神经网络模型，通过神经网络模型将构件名称对中的两个构件名称进行位置区分，将构件名称对中的一个构件名称确定为上部构件名称，将另一个构件名称确定为下部构件名称，上部构件名称对应的构件在下部构件名称对应的构件上方。

可选的，预先设置位置级别表，在位置级别表中，构件名称的位置级别越高，构件名称对应的构件在实际建筑空间中的位置越靠上，终端查询构件名称对中两个构件名称对应的位置级别，将位置级别较高的构件名称确定为上部构件名称，将位置级别较低的构件名称确定为下部构件名称。

例如，当构件名称对中的两个构件名称为“结构梁”和“普通门”时，终端查询位置级别表中构件名称“结构梁”的位置级别为2级、构件名称“普通门”的位置级别为5级,，2级高于5级，因此，将构件名称“结构梁”确定为上部构件名称，将构件名称“普通门”确定为下部构件名称。

对表1中的每个构件名称对进行上部构件名称和下部构件名称的区分，结果如表2所示：

表2

终端根据至少一个检测空间和每个检测空间对应的至少一个构件名称对生成检测任务列表，检测任务列表中的每个检测任务包括检测空间、上部构件名称和下部构件名称。

具体的，终端将一个检测空间以及该检测空间中的一个结构名称对确定为一个检测任务，终端遍历至少一个检测空间和每个检测空间对应的至少一个构件名称对，得到检测任务列表。

例如，遍历表2中的2个检测空间以及每个检测空间中的结构名称对，得到如表3所示的检测任务列表：

表3

202、将检测任务列表中一个未被执行的检测任务确定为目标检测任务；

终端从检测任务列表中选取一个未被执行的检测任务作为待执行的目标检测任务，目标检测任务包括目标检测空间和目标构件名称对，目标构件名称对包括目标上部构件名称和目标下部构件名称。

203、获取目标检测任务，目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

例如，当终端将检测任务2确定为目标检测任务时，目标检测空间为1号建筑，目标构件名称对为“结构梁”和“防火门”。目标上部构件名称为 “结构梁”，目标下部构件名称为“防火门”。

204、确定目标检测空间内与目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

终端判断目标检测空间是否为预设的空间单元，空间单元为最小划分空间，常见的空间单元为房间，如卧室、厨房、大厅等，若目标检测空间为预设的空间单元，则获取目标检测空间的构件表，并从目标空间的构件表中筛选出与目标上部构件名称匹配的构件，得到目标上部构件序列。

若目标检测空间不为预设的空间单元，则将目标检测空间划分为至少两个空间单元，获取至少两个空间单元的构件表，分别从每个空间单元的构件表中筛选出与目标上部构件名称匹配的构件，得到至少两个子序列，至少两个子序列与至少两个空间单元一一对应，将至少两个子序列顺序连接，得到目标上部构件序列。

例如，当目标检测空间为1号建筑时，终端确定目标检测空间不为预设的空间单元，终端将1号建筑以空间单元为单位进行划分，得到包括厨房、客厅、卧室、阳台、地下室等多个空间单元。

将目标检测空间划分为两个或多个空间单元，分别确定每个空间单元中上部构件的子序列，再将多个子序列依次连接得到目标上部构件序列，使得每个空间单元的上部构件在目标上部构件序列中分段呈现，方便查询。

接下来说明如何根据目标上部构件序列中的上部构件查找下部构件。

205、将目标上部构件序列中的任意一个上部构件确定为目标上部构件；

目标上部构件序列中有多个上部构件，终端从中选择一个上部构件作为目标上部构件。

206、识别目标上部构件在水平方向上的外轮廓线；

终端调用目标检测空间对应的建筑模型，识别建筑模型中目标上部构件在水平方向上的轮廓线。

207、将外轮廓线沿竖直方向扫描，将扫描到的与目标下部构件名称匹配的构件确定为目标上部构件对应的目标下部构件；

终端从外轮廓线上选取多个预设间距的基准点，基于每个基准点沿竖直方向发射射线，若射线碰撞到与目标下部构件名称匹配的构件，则将碰撞到的构件确定为目标下部构件，若射线未碰撞到与目标下部构件名称匹配的构件，则从目标上部构件序列中选择另一个未被检测的上部构件作为新的目标上部构件，并重复步骤206-207，直至目标上部构件序列中的上部构件全部被检测。

由于并不是目标上部构件序列中的每个上部构件都存在与目标下部构件名称匹配的下部构件，因此，基于每个上部构件扫描对应的下部构件能够去除部分不需要进行测量的上部构件，提高检测的准确性和效率。

208、将目标上部构件和目标下部构件组建为一个构件对；

终端将目标上部构件和目标下部构件组建为一个构件对，该构件对为一对检测对象。

209、依次识别目标上部构件序列中其他上部构件对应的下部构件并组建构件对，得到目标构件对序列；

终端继续识别目标上部构件序列中其他上部构件对应的下部构件，若其他上部构件扫描到与之对应的下部构件，则组建为构件对，直至目标上部构件序列中的上部构件全部被检测，将得到的构件对依次排序，得到目标构件对序列。

210、计算目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列。

终端读取目标构件对序列的每个构件对中上部构件的底部标高和下部构件的顶部标高，计算目标构件对序列的每个构件对中上部构件的底部标高与下部构件的顶部标高之差，得到目标空间净距序列。

可选的，当上部构件的下边沿和下部构件的上边沿中至少有一个与水平线不平行时，识别上部构件下边沿中的最低点标高以及下部构件上边沿中的最高点标高，计算下边沿中的最低点标高与上边沿中的最高点标高之差，得到构件对的净距，根据目标构件对序列中全部构件对的净距生成目标空间净距序列。

本发明实施例中，获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称，基于上部构件名称确定匹配的上部构件，得到上部构件序列，基于上部构件序列中的每个上部构件扫描对应的下部构件，得到构件对序列，计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，实现构件之间空间净距的批量检测，提高检测效率。

请参阅图3，本发明实施例中空间净距的批量检测方法的另一个实施例包括：

301、获取目标检测任务，目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

302、确定目标检测空间内与目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

303、根据目标下部构件名称查询目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列；

304、计算目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列；

本实施例步骤301-304与步骤101-104相同，在此不再赘述。

305、根据目标检测空间、目标构件对序列和目标空间净距序列生成目标净距报告，并将目标空间净距序列的净距标注于建筑图纸上；

终端调用目标检测空间对应的建筑模型，识别目标构件对序列中每个构件对在建筑模型中所处的空间单元，根据构件对中的构件名称、构件对所处的空间单元、构件对对应的净距生成一条净距信息，目标构件对序列对应多条净距信息，根据多条净距信息生成目标净距报告。

调用目标检测空间的建筑图纸，将目标空间净距序列中的每个净距标注于建筑图纸的相应位置。

306、根据目标上部构件名称和目标下部构件名称确定目标阈值；

在建筑领域中，设计建筑图纸时对上部构件与下部构件之间的净距有限定，因此，预选设置构件净距阈值表，表4提供一个构件净距阈值表的示例如下：

表4

终端从构件净距阈值表中查询与目标上部构件名称和目标下部构件名称匹配的净距阈值，并将该净距阈值确定为目标阈值。

307、当目标空间净距序列中存在小于目标阈值的净距时，在目标净距报告上对小于目标阈值的净距进行标记。

当目标空间净距序列中存在小于目标阈值的净距时，终端确认需要对该净距需进行警示，此时终端将小于目标阈值的净距进行标记。

需要说明的是，净距阈值可以是一个具体的数值也可以是一个数值范围，根据实际需求进行设定，在此不做限制。当净距阈值为数值范围且目标空间净距序列中存在目标阈值范围之外的净距时，终端对该净距进行标记。

本发明实施例中，获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称，基于上部构件名称确定匹配的上部构件，得到上部构件序列，根据下部构件名称确定上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到构件对序列，计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，实现构件之间空间净距的批量检测，提高检测效率，生成目标净距报告，对目标净距报告中不符合要求的净距进行标记，将检测结果可视化，便于查阅。

上面对本发明实施例中空间净距的批量检测方法进行了描述，下面对本发明实施例中空间净距的批量检测装置进行描述，请参阅图4，本发明实施例中空间净距的批量检测装置一个实施例包括：

获取模块401，用于获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

第一确定模块402，用于确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

查询模块403，用于根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件；

计算模块404，用于计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

本发明实施例中，获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称，基于上部构件名称确定匹配的上部构件，得到上部构件序列，根据下部构件名称识别上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到构件对序列，计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，实现构件之间空间净距的批量检测，提高检测效率。

请参阅图5，本发明实施例中空间净距的批量检测装置的另一个实施例包括：

获取模块401，用于获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

第一确定模块402，用于确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

查询模块403，用于根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件；

计算模块404，用于计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

可选的，确定模块402具体用于：

判断所述目标检测空间是否为预设的空间单元；若是，则获取所述目标检测空间的构件表，并从所述目标空间的构件表中筛选出与所述目标上部构件名称匹配的构件，得到目标上部构件序列；若否，则将所述目标检测空间划分为至少两个空间单元；获取所述至少两个空间单元的构件表，分别从每个所述空间单元的构件表中筛选出与所述目标上部构件名称匹配的构件，得到至少两个子序列，所述至少两个子序列与所述至少两个空间单元一一对应；将所述至少两个子序列顺序连接，得到目标上部构件序列。

可选的，查询模块403具体用于：

将所述目标上部构件序列中的任意一个上部构件确定为目标上部构件；识别所述目标上部构件在水平方向上的外轮廓线；将所述外轮廓线沿竖直方向扫描，将扫描到的与所述目标下部构件名称匹配的构件确定为所述目标上部构件对应的目标下部构件；将所述目标上部构件和所述目标下部构件组建为一个构件对；依次识别所述目标上部构件序列中其他上部构件对应的下部构件并组建构件对，得到目标构件对序列。

可选的，计算模块404具体用于：

读取所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件的底部标高和下部构件的顶部标高；计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件的底部标高与下部构件的顶部标高之差，得到目标空间净距序列。

可选的，空间净距的批量检测装置还包括：

构建模块405，用于响应于净距检测指令，构建检测任务列表；

第二确定模块406，用于将所述检测任务列表中一个未被执行的检测任务确定为目标检测任务。

可选的，构建模块405具体用于：

响应于净距检测指令，对所述净距检测指令进行解析，得到解析结果，所述解析结果包括至少一个检测空间以及每个检测空间对应的至少一个构件名称对，构件名称对包括两个构件名称；将所述构件名称对中的一个构件名称确定为上部构件名称，将另一个构件名称确定为下部构件名称，所述上部构件名称对应的构件在所述下部构件名称对应的构件上方；根据所述至少一个检测空间和每个检测空间对应的至少一个构件名称对生成检测任务列表，所述检测任务列表中的每个检测任务包括检测空间、上部构件名称和下部构件名称。

可选的，空间净距的批量检测装置还包括：

生成模块407，用于根据所述目标检测空间、所述目标构件对序列和所述目标空间净距序列生成目标净距报告；

第三确定模块408，用于根据所述目标上部构件名称和目标下部构件名称确定目标阈值；

标记模块409，用于当所述目标空间净距序列中存在小于目标阈值的净距时，在所述目标净距报告上对所述小于目标阈值的净距进行标记。

本发明实施例中，获取检测任务中的上部构件名称和下部构件名称，基于上部构件名称确定匹配的上部构件，得到上部构件序列，根据下部构件名称确定上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到构件对序列，计算构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，实现构件之间空间净距的批量检测，提高检测效率，生成目标净距报告，对目标净距报告中不符合要求的净距进行标记，将检测结果可视化，便于查阅。

上面图4和图5从模块化功能实体的角度对本发明实施例中的空间净距的批量检测装置进行详细描述，下面从硬件处理的角度对本发明实施例中空间净距的批量检测设备进行详细描述。

图6是本发明实施例提供的一种空间净距的批量检测设备的结构示意图，该空间净距的批量检测设备600可因配置或性能不同而产生比较大的差异，可以包括一个或一个以上处理器（central processing units，CPU）610（例如，一个或一个以上处理器）和存储器620，一个或一个以上存储应用程序633或数据632的存储介质630（例如一个或一个以上海量存储设备）。其中，存储器620和存储介质630可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质630的程序可以包括一个或一个以上模块（图示没标出），每个模块可以包括对空间净距的批量检测设备600中的一系列指令操作。更进一步地，处理器610可以设置为与存储介质630通信，在空间净距的批量检测设备600上执行存储介质630中的一系列指令操作。

空间净距的批量检测设备600还可以包括一个或一个以上电源640，一个或一个以上有线或无线网络接口650，一个或一个以上输入输出接口660，和/或，一个或一个以上操作系统631，例如Windows Serve，Mac OS X，Unix，Linux，FreeBSD等等。本领域技术人员可以理解，图6示出的空间净距的批量检测设备结构并不构成对空间净距的批量检测设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

本发明还提供一种空间净距的批量检测设备，所述计算机设备包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机可读指令，计算机可读指令被处理器执行时，使得处理器执行上述各实施例中的所述空间净距的批量检测方法的步骤。本发明还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质可以为非易失性计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质也可以为易失性计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行所述空间净距的批量检测方法的步骤。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器（read-only memory，ROM）、随机存取存储器（random access memory，RAM）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种空间净距的批量检测方法，其特征在于，所述空间净距的批量检测方法包括：

获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件；

计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

2.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法，其特征在于，所述确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列，包括：

判断所述目标检测空间是否为预设的空间单元；

若是，则获取所述目标检测空间的构件表，并从所述目标检测空间的构件表中筛选出与所述目标上部构件名称匹配的构件，得到目标上部构件序列；

若否，则将所述目标检测空间划分为至少两个空间单元；

获取所述至少两个空间单元的构件表，分别从每个所述空间单元的构件表中筛选出与所述目标上部构件名称匹配的构件，得到至少两个子序列，所述至少两个子序列与所述至少两个空间单元一一对应；

将所述至少两个子序列顺序连接，得到目标上部构件序列。

3.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法，其特征在于，所述根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，包括

将所述目标上部构件序列中的任意一个上部构件确定为目标上部构件；

识别所述目标上部构件在水平方向上的外轮廓线；

将所述外轮廓线沿竖直方向扫描，将扫描到的与所述目标下部构件名称匹配的构件确定为所述目标上部构件对应的目标下部构件；

将所述目标上部构件和所述目标下部构件组建为一个构件对；

依次识别所述目标上部构件序列中其他上部构件对应的下部构件并组建构件对，得到目标构件对序列。

4.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法，其特征在于，所述计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，包括：

读取所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件的底部标高和下部构件的顶部标高；

计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件的底部标高与下部构件的顶部标高之差，得到目标空间净距序列。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的空间净距的批量检测方法，其特征在于，在所述获取目标检测任务之前，还包括：

响应于净距检测指令，构建检测任务列表；

将所述检测任务列表中一个未被执行的检测任务确定为目标检测任务。

6.根据权利要求5所述的空间净距的批量检测方法，其特征在于，所述响应于净距检测指令，构建检测任务列表，包括：

响应于净距检测指令，对所述净距检测指令进行解析，得到解析结果，所述解析结果包括至少一个检测空间以及每个检测空间对应的至少一个构件名称对，构件名称对包括两个构件名称；

将所述构件名称对中的一个构件名称确定为上部构件名称，将另一个构件名称确定为下部构件名称，所述上部构件名称对应的构件在所述下部构件名称对应的构件上方；

根据所述至少一个检测空间和每个检测空间对应的至少一个构件名称对生成检测任务列表，所述检测任务列表中的每个检测任务包括检测空间、上部构件名称和下部构件名称。

7.根据权利要求1所述的空间净距的批量检测方法，其特征在于，在所述计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列之后，还包括：

根据所述目标检测空间、所述目标构件对序列和所述目标空间净距序列生成目标净距报告，并将所述目标空间净距序列的净距标注于建筑图纸上；

根据所述目标上部构件名称和目标下部构件名称确定目标阈值；

当所述目标空间净距序列中存在小于目标阈值的净距时，在所述目标净距报告上对所述小于目标阈值的净距进行标记。

8.一种空间净距的批量检测装置，其特征在于，所述空间净距的批量检测装置包括：

获取模块，用于获取目标检测任务，所述目标检测任务包括目标检测空间、目标上部构件名称和目标下部构件名称；

第一确定模块，用于确定所述目标检测空间内与所述目标上部构件名称匹配的上部构件，得到目标上部构件序列；

查询模块，用于根据所述目标下部构件名称查询所述目标上部构件序列中每个上部构件对应的下部构件，得到目标构件对序列，所述目标构件对序列中的每个构件对包括上部构件和与上部构件对应的下部构件；

计算模块，用于计算所述目标构件对序列的每个构件对中上部构件与下部构件的净距，得到目标空间净距序列，所述目标空间净距序列与所述目标构件对序列对应。

9.一种空间净距的批量检测设备，其特征在于，所述空间净距的批量检测设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令；

所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述空间净距的批量检测设备执行如权利要求1-7中任意一项所述的空间净距的批量检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有指令，其特征在于，所述指令被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述空间净距的批量检测方法。