CN117809730A - 一种ddr dimm故障快速分析设备及方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种DDR DIMM故障快速分析设备及方法，涉及故障检测技术领域，包括供电单元、采样单元以及上位机；采样单元包括分压电阻以及ADC芯片；分压电阻的一端与供电单元连接，分压电阻的另一端分别与ADC芯片以及信号引脚连接；ADC芯片与上位机连接。通过采样单元能够准确采集信号引脚的电压信息，再由上位机基于电压信息判断信号引脚是否存在故障，并在存在故障时，输出故障信息，从而用户能够一目了然的知道是哪个信号引脚出现故障；设备结构简单，设备成本较低，同时，上位机直接输出故障信息，用户无需具备专业知识即可知晓哪个信号引脚出现故障，对于人员的专业性要求较低，进一步地，对于使用场景没有限制，可以在生产中使用。

Description

一种DDR DIMM故障快速分析设备及方法

技术领域

本申请涉及故障检测技术领域，尤其涉及一种DDR DIMM故障快速分析设备及方法。

背景技术

DDR内存全称是DDR SDRAM(Double Data Rate SDRAM，双倍速率SDRAM)。DIMM(Dual-Inline-Memory-Modules，双列直插式存储模块)，简称内存条。通常作为计算机的随机存储器使用，由于近年来电子信息产品发展迅速，计算机、服务器等产品的大量应用，对内存条的需求也大量增加。在生产上对不良品的管控要求也越来越高。于是相关专用的分析设备也逐渐开始应用。

当前在DIMM存储领域较为常见的故障分析方式有以下几种：

(1)专用ET设备，该设备为专用定制化设备。具备内存条复杂测试功能。ET设备上具备DDR控制器，可以接受GUI指令，执行测试pattern组合，可以对DIMM进行固件烧录，电气性能测量，可以对内存进行指令话操作等；

(2)简易分析夹具，通过电源串联LED灯，对DIMM的金手指管脚加压的方式，观察LED灯亮度，快速定位故障管脚；

(3)人工分析，使用万用表、示波器等工具，逐个信号测量，对不良品进行分析。

现有技术的缺点：

(1)使用专用ET设备进行分析，该设备功能较为完整，但价格昂贵，需要根据产品定制开发，维护要求较高，主要用于研发专业化故障分析时使用，无法在生产中大量使用；

(2)简易分析夹具，实现简单，易操作，但需要人为观察上百颗LED灯亮度，容易误判；LED灯本身存在亮度差别，且每个LED老化速度不一样，会导致误判；只能检测信号连通情况，无法得到实际数值；无法检测电源情况；

(3)人工分析，对人员专业性要求较高，要求能读懂原理，通过相应的图纸找到相应点位进行测量，并且要能够判断相应的结果是否正确，分析效率低，不适合在生产中采用。

发明内容

本申请实施例所要解决的技术问题是如何提供一种可以在生产中使用的，低成本，对于人员专业性要求低，可以对内存条快速分析定位不良位置的分析工具。

为了解决上述问题，第一方面，本申请实施例提出一种DDR DIMM故障快速分析设备，用于检测DIMM模块，所述DIMM模块包括信号引脚，所述DDR DIMM故障快速分析设备包括供电单元、采样单元以及上位机；所述采样单元包括分压电阻以及ADC芯片；所述分压电阻的一端与所述供电单元连接，所述分压电阻的另一端分别与所述ADC芯片以及所述信号引脚连接；所述ADC芯片与所述上位机连接；其中，所述上位机接收所述ADC芯片采集的所述信号引脚的电压信息；基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障，若所述信号引脚存在故障，发出故障告警信息。

其进一步的技术方案为，所述DDR DIMM故障快速分析设备还包括数据接口单元，所述数据接口单元包括数据转换芯片以及USB接口，所述ADC芯片与所述数据转换芯片连接，所述数据转换芯片与所述USB接口连接，所述USB接口与所述上位机连接。

其进一步的技术方案为，所述供电单元包括第一DC-DC单元，所述第一DC-DC单元与所述分压电阻连接，且用于与DC电源连接。

其进一步的技术方案为，所述第一DC-DC单元与所述ADC芯片连接。

其进一步的技术方案为，所述供电单元还包括第二DC-DC单元，所述第二DC-DC单元与所述DIMM模块连接，且用于与DC电源连接。

其进一步的技术方案为，所述第一DC-DC单元包括第一使能引脚，所述数据转换芯片与所述第一DC-DC单元的使能引脚连接；

所述第二DC-DC单元包括第二使能引脚，所述数据转换芯片与所述第二DC-DC单元的第二使能引脚连接。

其进一步的技术方案为，所述数据转换芯片与所述DIMM模块连接。

其进一步的技术方案为，所述ADC芯片内置温度传感器。

第二方面，本申请提出一种DDR DIMM故障快速分析方法，所述方法应用于如第一方面所述的DDR DIMM故障快速分析设备中的上位机，所述方法包括：

接收所述ADC芯片采集的所述信号引脚的电压信息；

基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障；

若所述信号引脚存在故障，发出故障告警信息。

其进一步的技术方案为，所述电压信息包括电压值，所述基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障，包括：

判断所述信号引脚的电压值是否在预设的电压范围内；

若所述所述信号引脚的电压值不在预设的电压范围内，判定所述信号引脚存在故障。

与现有技术相比，本申请实施例所能达到的技术效果包括：

本申请实施例的技术方案中，通过采样单元能够准确采集DIMM模块的信号引脚的电压信息，再由上位机基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障，并在存在故障时，输出故障信息，从而用户能够一目了然的知道是哪个信号引脚出现故障，提高了故障判定的准确性，设备结构简单，设备成本较低，同时，上位机直接输出故障信息，用户无需具备专业知识即可知晓哪个信号引脚出现故障，对于人员的专业性要求较低，进一步地，对于使用场景没有限制，可以在生产中使用。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。

图1为本申请实施例提出的一种DDR DIMM故障快速分析设备的结构框图；

图2为本申请实施例提出的一种DDR DIMM故障快速分析设备的电路框图。

附图标记

DIMM模块10、供电单元20、采样单元30、数据接口单元40、上位机50、ADC芯片31、分压电阻R、数据转换芯片41、USB接口42、第一DC-DC单元21、DC电源22、第二DC-DC单元23、第一使能引脚En1、第二使能引脚En2。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，附图中类似的组件标号代表类似的组件。显然，以下将描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本申请实施例说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请实施例。如在本申请实施例说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

参见图1-2，本申请实施例提出一种DDR DIMM故障快速分析设备，用于检测DIMM模块10，所述DIMM模块10包括信号引脚，所述DDR DIMM故障快速分析设备包括供电单元20、采样单元30以及上位机50；所述采样单元30包括分压电阻R以及ADC芯片31。

DIMM模块10包括插槽，插槽内设有金手指，金手指上设有多个信号引脚。

所述分压电阻R的一端与所述供电单元20连接，所述分压电阻R的另一端分别与所述ADC芯片31以及所述信号引脚连接。可以理解地，分压电阻R的数量可以是多个，分压电阻R的数量与信号引脚的数量相同，二者一一对应连接。分压电阻R的电阻值可以是150Ω，本申请不具体限定。

每个信号引脚处均存在阻抗，因此ADC芯片31采集到经过分压电阻R分压后的电压，得到信号引脚的电压信息。电压信息包括电压值。若信号引脚没有故障，则信号引脚的电压值应当在预设的电压范围内，所述电压范围由本领域技术人员预先测定，本申请不具体限定。

所述ADC芯片31与所述上位机50连接，用于将采集到的所述信号引脚的电压信息发送给上位机50。上位机50可以具体为PC(计算机)。

相应地，上位机50用于执行本申请实施例提出的一种DDR DIMM故障快速分析方法，所述方法包括如下步骤S1-S3：

S1接收所述ADC芯片31采集的所述信号引脚的电压信息。

具体实施中，ADC芯片31采集的所述信号引脚的电压信息，并将所述信号引脚的电压信息发送给上位机50，上位机50相应接收所述信号引脚的电压信息。所述电压信息包括电压值。

S2基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障。

具体实施中，所述电压信息包括电压值。上位机50判断所述信号引脚的电压值是否在预设的电压范围内；若所述所述信号引脚的电压值不在预设的电压范围内，判定所述信号引脚存在故障；若所述所述信号引脚的电压值在预设的电压范围内，判定所述信号引脚不存在故障。

需要说明的是，所述电压范围由本领域技术人员预先测定，本申请不具体限定。

S3若所述信号引脚存在故障，发出故障告警信息。

具体实施中，如果所述所述信号引脚存在故障，发出故障告警信息。例如，通过显示装置发出故障告警信息，即展示存在故障的信号引脚的信息，使得用户能够一目了然的知道是那个引脚出现故障了，提高了故障判定的准确性。

本申请实施例的技术方案中，通过采样单元30能够准确采集DIMM模块10的信号引脚的电压信息，再由上位机50基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障，并在存在故障时，输出故障信息，从而用户能够一目了然的知道是哪个信号引脚出现故障，提高了故障判定的准确性，设备结构简单，设备成本较低，同时，上位机50直接输出故障信息，用户无需具备专业知识即可知晓哪个信号引脚出现故障，对于人员的专业性要求较低，进一步地，对于使用场景没有限制，可以在生产中使用。

进一步地，所述DDR DIMM故障快速分析设备还包括数据接口单元40。数据接口单元40用于实现ADC芯片31与上位机50之间的信号适配。所述数据接口单元40包括数据转换芯片41以及USB接口42。

所述ADC芯片31与所述数据转换芯片41连接，所述数据转换芯片41与所述USB接口42连接，所述USB接口42与所述上位机50连接。数据转换芯片41可实现ADC芯片31与上位机50之间的信号转换。例如，数据转换芯片41可具体为USB转I2C芯片，所述USB转I2C芯片负责上位机50与ADC芯片31的桥接，能够实现ADC芯片31的I2C信号与上位机50的USB信号的相互转换。

同时，所述数据转换芯片41与所述DIMM模块10连接，数据转换芯片41具体为USB转I2C芯片，负责上位机50与述DIMM模块10的桥接，即可以实现DIMM模块10的I2C信号与上位机50的USB信号的相互转换。上位机50单元可以通过USB对DIMM模块10进行固件升级和更新。

ADC芯片31采用16通道16位精度的模数转换芯片，该芯片采样精度高，内置温度传感器对采样结果进行补偿，采样稳定可靠。ADC芯片31使用I2C接口进行数据通讯，方便与上位机50通讯。ADC芯片31负责采样DIMM模块10各信号引脚的电压信息，并通过I2C进行上报。

进一步地，所述供电单元20包括第一DC-DC单元21，所述第一DC-DC单元21与所述分压电阻R连接，且用于与DC电源22(直流电源)连接。

第一DC-DC单元21用于实现直流电压的转换，可将DC电源22的电压转换为适配于采样单元30的电压，例如为3V。

所述第一DC-DC单元21包括第一使能引脚En1，所述数据转换芯片41与所述第一DC-DC单元21的使能引脚连接。通过第一使能引脚En1能够控制第一DC-DC单元21开启或者关断。

进一步地，所述第一DC-DC单元21与所述ADC芯片31连接，用于为所述ADC芯片31供电。

进一步地，所述供电单元20还包括第二DC-DC单元23，所述第二DC-DC单元23与所述DIMM模块10连接，且用于与DC电源22连接。

第二DC-DC单元23用于实现直流电压的转换，可将DC电源22的电压转换为适配于DIMM模块10的电压。

所述第二DC-DC单元23包括第二使能引脚En2，所述数据转换芯片41与所述第二DC-DC单元23的第二使能引脚En2连接。通过第二使能引脚En2能够控制第二DC-DC单元23开启或者关断。

供电单元20采用高精度直流稳压DC-DC为系统进行供电，系统供电不受外部DC输入的波动干扰，保证系统供电稳定可靠。供电单元20可以为DIMM模块10提供其所需的工作电源；供电单元20可以为分压电阻R提供稳定的电压，并为ADC芯片31提供稳定电源输入。

参见图2，本申请实施例提出的DDR DIMM故障快速分析设备的故障检测原理如下：

(1)DDR DIMM故障快速分析设备由DC输入接直流电源进行供电，通过USB接口42接PC进行上位机50通讯。

(2)首先由PC通过USB转I2C芯片的GPIO接口控制第二DC-DC单元23关闭，控制第一DC-DC单元21打开。此时，第一DC-DC单元21输出的电压为3V，即点图2中①位置的电压为3V。

(3)第一DC-DC单元21输出3V电压经过分压电阻R与DIMM模块10的信号引脚连接，ADC芯片31采集到的电压是由分压电阻R与信号引脚对地阻抗的分压得到的；

(4)ADC芯片31采集到的电压信息经USB转I2C芯片传送数据给上位机50；

(5)上位机50对电压信息进行解析，得到信号引脚的电压，即点图2中②位置的电压；

(6)在上位机50软件上做数据处理，将信号引脚的电压与预设的电压范围进行比较，如果在预设的电压范围内，认定为此信号引脚正常，如果不在预设的电压范围内，则认为此信号引脚异常，进行异常上报；

(7)针对DIMM模块10金手指上所有信号引脚做如上操作，则可以分析出异常的信号引脚的位置，再有针对性的进行维修。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不应理解为必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，尚且本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

以上所述，为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，用于检测DIMM模块，所述DIMM模块包括信号引脚，所述DDR DIMM故障快速分析设备包括供电单元、采样单元以及上位机；所述采样单元包括分压电阻以及ADC芯片；所述分压电阻的一端与所述供电单元连接，所述分压电阻的另一端分别与所述ADC芯片以及所述信号引脚连接；所述ADC芯片与所述上位机连接；其中，所述上位机接收所述ADC芯片采集的所述信号引脚的电压信息；基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障，若所述信号引脚存在故障，发出故障告警信息。

2.根据权利要求1所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，还包括数据接口单元，所述数据接口单元包括数据转换芯片以及USB接口，所述ADC芯片与所述数据转换芯片连接，所述数据转换芯片与所述USB接口连接，所述USB接口与所述上位机连接。

3.根据权利要求2所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，所述供电单元包括第一DC-DC单元，所述第一DC-DC单元与所述分压电阻连接，且用于与DC电源连接。

4.根据权利要求3所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，所述第一DC-DC单元与所述ADC芯片连接。

5.根据权利要求3所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，所述供电单元还包括第二DC-DC单元，所述第二DC-DC单元与所述DIMM模块连接，且用于与DC电源连接。

6.根据权利要求3所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，所述第一DC-DC单元包括第一使能引脚，所述数据转换芯片与所述第一DC-DC单元的使能引脚连接；

所述第二DC-DC单元包括第二使能引脚，所述数据转换芯片与所述第二DC-DC单元的第二使能引脚连接。

7.根据权利要求2所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，所述数据转换芯片与所述DIMM模块连接。

8.根据权利要求2所述的DDR DIMM故障快速分析设备，其特征在于，所述ADC芯片内置温度传感器。

9.一种DDR DIMM故障快速分析方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求1-8任一项所述的DDR DIMM故障快速分析设备中的上位机，所述方法包括：

接收所述ADC芯片采集的所述信号引脚的电压信息；

基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障；

若所述信号引脚存在故障，发出故障告警信息。

10.根据权利要求9所述的DDR DIMM故障快速分析方法，其特征在于，所述电压信息包括电压值，所述基于所述信号引脚的电压信息判断所述信号引脚是否存在故障，包括：

判断所述信号引脚的电压值是否在预设的电压范围内；

若所述所述信号引脚的电压值不在预设的电压范围内，判定所述信号引脚存在故障。