CN117790349A - Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片检测领域，显示Pcs缺陷复检界面，并从MES系统获取电测不良的Pcs编号信息；响应于接收到对Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于电测不良的Pcs编号信息确定物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；响应于接收到对目标缺陷Pcs的选择操作，根据目标缺陷Pcs是否为电测不良，在缺陷展示区内显示电测不良信息或目标缺陷图像。该方案可以结合电测不良信息对Pcs进行缺陷检测，选择性的过滤电测不良Pcs的缺陷检测，提高整体复检效率。

Description

Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请实施例涉及芯片检测领域，特别涉及一种Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在半导体芯片生产工艺中，在基板上通过数控定位冲压形成各种特定形状的Pcs颗粒板，Pcs是组成PCB的最小组成颗粒或最小组成单位，该区域中包括若干电子元器件。但由于生产工艺、机器精度和外界因素等影响，导致Pcs颗粒冲压生产过程中不可避免的产生瑕疵、瑕点和缺陷等，因此需要对缺陷点进行识别和筛选。而在实际的Pcs检测中不仅需要对缺陷点进行视觉检测，还需要进行电测，即元器件和线路的电路测试，以确保功能正常。

传统的Pcs颗粒检测大多都是将电路测试和视觉检测分开执行，因为这一过程需要对出现功能不良或缺陷的Pcs进行转运分投。电测不良的和存在视觉缺陷的Pcs都需要进行打标报废，但这一中间运转过程中视觉缺陷检测时不能确信哪一个属于电测不良的废品，这就必须进行多次分类转运分别打标报废，这样就需要准备多套打标机和产线，且严重拖慢Pcs的复检效率。

发明内容

本申请实施例提供一种Pcs电测不良缺陷显示方法、装置、设备及存储介质，解决人工复检打标效率低下的问题。

一方面，本申请提供一种Pcs电测不良缺陷显示方法，所述方法包括：

显示Pcs颗粒缺陷复检界面，并从制造执行系统MES中获取电测不良的Pcs编号信息；所述Pcs缺陷复检界面包含全景物料展示区和缺陷展示区，所述全景物料展示区显示线扫相机采集的物料全景图，所述缺陷展示区显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像；

响应于接收到对所述Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于所述电测不良的Pcs编号信息确定所述物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；

响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息；其中，当选中的所述目标Pcs为电测不良Pcs时，在所述缺陷展示区内显示所述电测不良Pcs的电测不良信息；当选中的所述目标Pcs为缺陷Pcs时，在所述缺陷展示区内显示从所述缺陷Pcs中识别和提取的所有目标缺陷图像。

另一方面，本申请提供一种Pcs电测不良缺陷显示装置，所述装置包括：

第一显示模块，用于显示Pcs颗粒缺陷复检界面，并从制造执行系统MES中获取电测不良的Pcs编号信息；所述Pcs缺陷复检界面包含全景物料展示区和缺陷展示区，所述全景物料展示区显示线扫相机采集的物料全景图，所述缺陷展示区显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像；

缺陷检测模块，用于响应于接收到对所述Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于所述电测不良的Pcs编号信息确定所述物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；

第二显示模块，用于响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息；其中，当选中的所述目标Pcs为电测不良Pcs时，在所述缺陷展示区内显示所述电测不良Pcs的电测不良信息；当选中的所述目标Pcs为缺陷Pcs时，在所述缺陷展示区内显示从所述缺陷Pcs中识别和提取的所有目标缺陷图像。

又一方面，本申请提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现上述方面所述的Pcs电测不良缺陷显示方法。

又一方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现上述方面所述的Pcs电测不良缺陷显示方法。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：将视觉缺陷检测过程和电测不良检测结合，在复检阶段自主选择过滤或不过滤电测不良Pcs，从而只对电测正常的Pcs进行缺陷检测。在复检图像构建全景物料展示区和缺陷展示区，在全景物料展示区显示整体的物料图像，根据选中的目标Pcs在缺陷展示区显示缺陷Pcs的所有缺陷图像，或者显示电测不良Pcs的电测不良信息，在确定报废Pcs颗粒行打标标记。该方案可利用可视化效果对电测正常颗粒进行筛选和缺陷检测，可有效减少缺陷检测的Pcs图像，提高缺陷检测效率。同时对于电测不良Pcs进行收录和复检提示，便于芯片颗粒报废标记

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种Pcs电测不良缺陷显示系统的场景示意图；

图2是本申请实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示方法的流程图；

图3是一种可能的复检打标界面的示意图；

图4是在全景物料显示区标注显示以及在实时打标区显示打标画面的界面示意图；

图5是在切换打标模式且完成复检后弹出确认框的界面示意图；

图6是在复检打标界面显示缺陷图像列表的界面示意图；

图7示出了本申请实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示装置的结构框图；

图8示出了本申请一个示例性实施例提供的计算机设备的结构框图；

图9示出了本申请实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示装置的结构框图；

图10示出了本申请一个示例性实施例提供的计算机设备的结构框图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

图1是本申请实施例提供的一种Pcs电测不良缺陷显示系统的场景示意图，该系统包括控制Pcs缺陷复检的计算机设备、线扫相机、打标机和转运设备等。可选的，打标机和线扫相机可以为一体机设备。线扫相机部分负责扫描物料基板，获得物料全景图，也就是整个基板所有Pcs颗粒的正面和反面图像，将其传送到计算机设备进行复检和打标。此外，该复检系统(计算机设备)还接入MES系统，MES(Manufacturing Execution System)即制造执行系统，是面向车间生产的管理系统。MESA对MES的定义为：在产品从工单发出到成品完工的过程中，制造执行系统起到传递信息以优化生产活动的作用。在生产过程中，借助实时精确的信息、MES引导、发起、响应，报告生产活动。作出快速的响应以应对变化,减少无附加价值的生产活动，提高操作及流程的效率。MES提升投资回报、净利润水平、改善现金流和库存周转速度、保证按时出货。MES保证了整个企业内部及供应商间生产活动关键任务信息的双向流动。计算机设备在缺陷复检阶段从MES系统获取电测不良的Pcs编号信息。电测不良的Pcs编号信息是在电测阶段对物料板进行电路测试过程识别到的不良Pcs的编号。对于出现这类缺陷的Pcs理论上应当被打标报废，所以不需要在对其进行视觉缺陷检测。

计算机设备运行该复检系统，且带有显示器设备，显示器显示有Pcs缺陷复检界面，用于人工复检和打标过程的可视化操作。

图2是本申请实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示方法的流程图，包括如下步骤：

步骤201，显示Pcs缺陷复检界面，并从MES系统获取电测不良的Pcs编号信息。

Pcs缺陷复检界面是图1中计算机设备搭载系统的显示界面，因为要实现可视化打标和复检操作，所以操作员只需通过计算机设备即可完成联动操作。

参考图3示出的Pcs缺陷复检界面300的界面示意图，该Pcs缺陷复检界面300至少包括有全景物料展示区310和缺陷展示区320。计算机设备通过接收线扫相机扫描的物料基板的物料全景图，并在该缺陷展示区310进行显示。显示的物料全景图中分布有若干Pcs颗粒，且是经过MES系统测试的。缺陷展示区320则是用来显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像，缺陷图像的数量可以包含多个，如以四宫格或九宫格的形式列出。

步骤202，响应于接收到对Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于电测不良的Pcs编号信息确定物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像。

图3中还在Pcs缺陷复检界面示出了电测检测控件330(即电测开关)，该电测检测控件用于开启或关闭电测同步。前述说道，MES系统测试物料板中电测不良Pcs，对于检测到的则记录对应的Pcs编号信息和电测不良信息，该信息用于在缺陷展示区内进行展示，供复检员查阅和复检。

在计算机获取到这些数据信息后，可以用来确定后物料板中存在电测不良的Pcs，实现定向过滤，也就是只针对电测正常的Pcs进行视觉缺陷检测，对于电测不良的Pcs则可以跳过复检，因为复检系统的图像识别是高精度识别，减少输入的待测Pcs图像可以减小系统负荷，提高复检效率。对于电测正常的Pcs通过复检图像算法等步骤检测其中是否存在缺陷点，并从Pcs图像中抠取出缺陷图像。对于缺陷检测正常的Pcs图像，则正常通过验收，无需在Pcs缺陷复检界面中显示。

当然，当复检员未开启电测开关时，则系统不考虑电测数据，默认对物料全景图中所有的Pcs图像进行缺陷检测。

步骤203，响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在缺陷展示区内展示目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息。

带有视觉缺陷点的Pcs和电测不良Pcs都属于需要复检的颗粒，且在复检确认了则进行打标报废，如确认报废则使用打标机打穿颗粒或在颗粒板上激光刻蚀标记等，以免坏板流入后续产线。对于这些待检测的Pcs颗粒都是需要复检的，因而这一阶段系统就根据复检员的选择操作进行复检图像显示，系统在接收到对其中目标Pcs的选择操作时，根据Pcs编号信息确定其所有的缺陷图像，并在缺陷展示区内展示。而对于电测不良Pcs，因为不需要进行视觉缺陷检测，所以不存在缺陷图像，所以只需要在缺陷展示区显示电测不良信息即可。

具体的参见图4，因为缺陷检测是需要对物料全景图分割提取所有Pcs图像，然后将Pcs有选择性的进行缺陷识别，所以可以在缺陷预览展示区420内展示所有待检Pcs的Pcs预览图440(包括不良Pcs和带缺陷点的缺陷Pcs)，该Pcs预览图根据全景物料展示区410内的物料全景图识别获取。当点击其中的一个确定的目标Pcs时，即在缺陷预览展示区420内显示其对应的检测情况，例如选中的目标Pcs是不良Pcs时，则在缺陷展示区420内显示电测不良Pcs的电测不良信息450。

综上所述，本申请将视觉缺陷检测过程和电测不良检测结合，在复检阶段自主选择过滤或不过滤电测不良Pcs，从而只对电测正常的Pcs进行缺陷检测。在复检图像构建全景物料展示区和缺陷展示区，在全景物料展示区显示整体的物料图像，根据选中的目标Pcs在缺陷展示区显示缺陷Pcs的所有缺陷图像，或者显示电测不良Pcs的电测不良信息，在确定报废Pcs颗粒行打标标记。该方案可利用可视化效果对电测正常颗粒进行筛选和缺陷检测，可有效减少缺陷检测的Pcs图像，提高缺陷检测效率。同时对于电测不良Pcs进行收录和复检提示，便于芯片颗粒报废标记。

在一些实施例中，缺陷检测过程主要是物料全景图像中包含的Pcs颗粒进行视觉检测，例如文字漏印、器件缺失、摆放位置偏离或器件外表脏污损毁等。线扫相机整体扫描的全景图像素极高，而缺陷检测是以Pcs颗粒为单位检测，所需这一过程需要对全景图像切割成单个的Pcs图像，每个Pcs图像对应一个Pcs颗粒。在缺陷检测时以缺陷点为单位获取缺陷图像。例如一个缺陷Pcs中包含“器件脏污”和“文字漏印”两个缺陷，则分别截图出两张缺陷图像，每张图像都生成缺陷信息。可选的，还可以在缺陷图像中标注或框选缺陷内容。

上述缺陷检测还需要考虑缺陷开关的开启状态。当缺陷开关处于开启状态时，则该过程在切割出所有的Pcs图像后，根据电测不良的Pcs编号信息过滤，将电测正常的Pcs图像输入检测模型进行检测。当电测开关处于关闭状态时，则不考虑电测因素，默认将所有Pcs图像输入缺陷检测模型进行检测。

对于输入缺陷检测且成功识别到缺陷点的缺陷Pcs，对应的图像为缺陷Pcs图像，从缺陷Pcs图像提取出的为缺陷图像(完整Pcs图像中包含缺陷点的部分区域)。为了能够在缺陷展示区中展示缺陷图像的同时知悉缺陷具体内容，还需要建立缺陷图像列表和缺陷标签。缺陷图像列表中存储所有检测和提取到的缺陷图像，而缺陷标签则和缺陷图像一一对应，记录识别的缺陷信息，如pcs编号信息、在物料全景图中的坐标信息、缺陷点类型和置信度值大小等。特别说明的是，每个缺陷图像都生成有对应的缺陷标签。

当计算机设备接收到对缺陷图像列表中目标Pcs的选择操作时，在缺陷展示区进行展示，这一过程可以调取切换界面，基于调出缺陷图像列表并选择缺陷图像来实现。

上述步骤是关闭电测开关的情况下的显示逻辑，当开启电测开关后，其检测逻辑如下：

A，获取电测不良Pcs的不良Pcs图像，基于电测不良信息和坐标信息生成缺陷标签；

B，基于不良Pcs图像和所有缺陷图像生成复检图像列表；

该步骤将物料全景图像中的所有Pcs图像裁剪，对其中含有缺陷点和电测不良的Pcs图像集合成复检图像列表，该列表可以在缺陷展示区中以Pcs预览图的形式显示，即图4中的Pcs预览图440。

C，当选中复检图像列表中的缺陷图像时，在缺陷展示区内展示目标Pcs的缺陷图像和缺陷信息；

D，当选中复检图像列表中的不良Pcs图像时，在缺陷展示区内展示电测不良Pcs的电测不良信息。

上述部分就是以缺陷展示区的显示方式进行描述，在一些实施例中，Pcs缺陷复检界面的全景物料展示区同样可以在复检过程中联动显示。

1，当线扫相机联动计算机设备的缺陷复检操作过程，且计算机设备在接收到对目标Pcs的选择操作时，会提取到该缺陷标签，将其发送到线扫相机。线扫相机根据缺陷标签中的坐标信息定位到目标位置，这一过程是线扫相机和计算机设备联动实时显示画面，通过调焦调距等手段移动到目标Pcs位置处，这样就可以在原本显示物料全景图的位置实时显示目标Pcs的图像。与此同时，在缺陷展示区则展示从目标Pcs图像中拾取到的所有缺陷图像。

参见图5，在全景物料显示区中视野正中心定位到pcs正中间，和缺陷展示区的所有缺陷图像形成对照，便于复检员进行复核。当然，图5是以选中的目标Pcs为缺陷Pcs进行展示的，当选中的目标Pcs为电测不良Pcs时，则在缺陷展示区中显示缺陷不良信息，如图6所示。

2，当线扫相机不联动计算机设备的缺陷复检操作过程，且计算机设备在接收到对目标Pcs的选择操作时，并不是将其发送到线扫相机，而是直接根据坐标信息定位目标Pcs在物料全景图中的位置，并生成定位光标。参见图7所示，在线扫相机不联动的情况下定位目标Pcs的界面示意图。相反的，参见图8，在选中的目标Pcs是缺陷Pcs时，则在全景物料图中并未目标Pcs的同时在缺陷展示区显示电测不良信息。

上述检测显示方案均以Pcs为单位显示缺陷图像和电测不良信息。在一些实施例中，还可以在缺陷展示区中显示缺陷预览图，该缺陷预览图从复检图像列表中获取，具体包括电测不良Pcs图像和带有缺陷的缺陷图。当复检员选中至少一个缺陷预览图时，在缺陷展示界面显示对应图像缺陷图像或电测不良信息。复检图像列表中的图像分为Pcs排序或面次排序，当以Pcs排序时，缺陷展示以Pcs为单位依次显示正面和反面的缺陷图像。即对于出现缺陷点的缺陷Pcs，轮流展正面的缺陷图像，然后展示反面缺陷图像(或者先反面后正面，当经由一面存在缺陷时仅展示一面的缺陷图)，当一个Pcs展示完成后，继续显示下一个Pcs的缺陷图像，依次类推。当然这个顺序中夹杂不良Pcs图像时，显示电测不良信息。

当以Pcs面次排序时，根据Pcs编号连续展示所有Pcs正面的缺陷图像，再连续展示所有Pcs反面的缺陷图像。当然，先集中显示反面后显示正面同理。例如Pcs001正面、Pcs005正面、Pcs008电测不良信息、Pcs011正面、Pcs001反面、Pcs009反面的顺序执行。

综上，上述的计算机设备与线扫相机的不同联动状态对应出不同的显示方案，可以适应各种工矿环境下的复检操作，且电测不良Pcs的过滤检测可以减少缺陷检测的数据量，在实际生产中大幅提高复检效率。

图9示出了本申请实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示装置的结构框图，所述装置用于计算机设备，所述装置包括：

第一显示模块910，用于显示Pcs缺陷复检界面，并从MES系统获取电测不良的Pcs编号信息；所述Pcs缺陷复检界面包含全景物料展示区和缺陷展示区，所述全景物料展示区用于显示线扫相机采集的物料全景图，所述缺陷展示区用于显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像；

缺陷检测模块920，用于响应于接收到对所述Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于电测不良的Pcs编号信息确定所述物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；

第二显示模块930，用于响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息；其中，当选中的所述目标Pcs为电测不良Pcs时，在所述缺陷展示区内显示所述电测不良Pcs的电测不良信息；当选中的所述目标Pcs为缺陷Pcs时，在所述缺陷展示区内显示从所述缺陷Pcs中识别和提取的所有目标缺陷图像。

此外，本申请还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现上述方面所述的Pcs电测不良缺陷显示方法。

此外，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现上述方面所述的Pcs电测不良缺陷显示方法。

本申请实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示装置，可以应用于如上述实施例中提供的Pcs电测不良缺陷显示方法，相关细节参考上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

需要说明的是，本申请实施例中提供的Pcs电测不良缺陷显示装置在进行卡规操作时，仅以上述各功能模块/功能单元的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块/功能单元完成，即将Pcs电测不良缺陷显示装置的内部结构划分成不同的功能模块/功能单元，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述方法实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示方法的实施方式与本实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示装置的实施方式属于同一构思，本实施例提供的Pcs电测不良缺陷显示装置的具体实现过程详见上述方法实施例，这里不再赘述。

图10示出了本申请一个示例性实施例提供的计算机设备的结构框图。是桌上型计算机、笔记本电脑、掌上电脑以及云端服务器等计算机设备。该计算机设备可以包括，但不限于，处理器和存储器。其中，处理器和存储器可以通过总线或者其他方式连接。其中，处理器可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)、嵌入式神经网络处理器(Neural-network Processing Unit，NPU)或者其他专用的深度学习协处理器、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。

处理器可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－ProgrammableGate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器1701也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central Processing Unit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器可以集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器还可以包括AI(ArtificialIntelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。

存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本申请上述实施方式中的方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施方式中的方法。存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

在一些实施例中，计算机设备还可选包括有：外围设备接口和至少一个外围设备。处理器、存储器和外围设备接口之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与外围设备接口相连。具体地，外围设备包括：射频电路、显示屏、键盘中的至少一种。

外围设备接口可被用于将I/O(Input/Output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器和存储器。在一些实施例中，处理器、存储器和外围设备接口被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器、存储器和外围设备接口中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。

显示屏用于显示UI(User Interface，用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏是触摸显示屏时，显示屏还具有采集在显示屏的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器进行处理。此时，显示屏还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘，也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中，显示屏可以为一个，设置在计算机设备的前面板；在另一些实施例中，显示屏可以为至少两个，分别设置在计算机设备的不同表面或呈折叠设计；在另一些实施例中，显示屏可以是柔性显示屏，设置在计算机设备的弯曲表面上或折叠面上。甚至，显示屏还可以设置成非矩形的不规则图形，也即异形屏。显示屏可以采用LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示屏)、OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)等材质制备。

电源用于为计算机设备中的各个组件进行供电。电源可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源包括可充电电池时，该可充电电池可以是有线充电电池或无线充电电池。有线充电电池是通过有线线路充电的电池，无线充电电池是通过无线线圈充电的电池。该可充电电池还可以用于支持快充技术。

本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构并不构成对计算机设备的限定，可以包括比图示更多或更少的组件，或者组合某些组件，或者采用不同的组件布置。

本申请实施例还公开一种计算机可读存储介质。具体来说，计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述方法实施方式中的方法。本领域技术人员可以理解，实现本申请上述实施方式方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施方式的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。

本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (10)

1.一种Pcs电测不良缺陷显示方法，其特征在于，所述方法包括：

显示Pcs颗粒缺陷复检界面，并从制造执行系统MES中获取电测不良的Pcs编号信息；所述Pcs缺陷复检界面包含全景物料展示区和缺陷展示区，所述全景物料展示区显示线扫相机采集的物料全景图，所述缺陷展示区显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像；

响应于接收到对所述Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于所述电测不良的Pcs编号信息确定所述物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；

响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息；其中，当选中的所述目标Pcs为电测不良Pcs时，在所述缺陷展示区内显示所述电测不良Pcs的电测不良信息；当选中的所述目标Pcs为缺陷Pcs时，在所述缺陷展示区内显示从所述缺陷Pcs中识别和提取的所有目标缺陷图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述电测检测控件处于开启状态时，过滤其中的电测不良Pcs且不显示缺陷图像；当所述电测检测控件处于关闭状态时，对所述物料全景图中所有的Pcs图像进行缺陷检测，并在选中带有缺陷的目标Pcs时，直接在所述缺陷展示区内显示对应的目标缺陷图像。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，缺陷检测包括：

从所述物料全景图中提取Pcs图像并根据所述电测检测控件的开关状态进行缺陷检测；其中，缺陷Pcs中包含至少一个缺陷点，每个缺陷点对应一个缺陷图像；

基于识别的缺陷图像构建缺陷图像列表和缺陷标签；其中的缺陷标签与缺陷图像一一对应，所述缺陷标签包括pcs编号信息和在所述物料全景图中的坐标信息；

响应于接收到对所述缺陷图像列表中目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区进行展示。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当线扫相机联动缺陷复检操作时，响应于接收到对所述目标Pcs的选择操作，在所述全景物料展示区显示所述目标Pcs的实时图像；其中，线扫相机接收缺陷标签，基于所述缺陷标签中的坐标信息定位到所述目标Pcs，并移动到目标位置进行扫描回传。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当线扫相机不联动缺陷复检操作时，响应于接收到对所述目标Pcs的选择操作，基于缺陷标签定位在所述物料全景图中的坐标位置，并生成定位光标。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，当所述电测检测控件为开启状态，获取所述电测不良Pcs的不良Pcs图像，基于电测不良信息和坐标信息生成所述缺陷标签；

基于不良Pcs图像和所有缺陷图像生成复检图像列表；

当选中所述复检图像列表中的缺陷图像时，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像和缺陷信息；

当选中所述复检图像列表中的不良Pcs图像时，在所述缺陷展示区内展示所述电测不良Pcs的电测不良信息，且在线扫相机联动缺陷复检操作时，在所述全景物料展示区显示所述电测不良Pcs的实时图像，或在线扫相机不联动缺陷复检操作时，在所述物料全景图中的定位所述电测不良Pcs。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述复检图像列表中的图像分为Pcs排序或面次排序，当以Pcs排序时，缺陷展示以Pcs为单位依次显示正面和反面的缺陷图像；当以Pcs面次排序时，根据Pcs编号连续展示所有Pcs正面的缺陷图像，再连续展示所有Pcs反面的缺陷图像；当其中检测到电测不良Pcs时，显示电测不良信息。

8.一种Pcs电测不良缺陷显示装置，其特征在于，所述装置包括：

第一显示模块，用于显示Pcs缺陷复检界面，并从制造执行系统MES中获取电测不良的Pcs编号信息；所述Pcs缺陷复检界面包含全景物料展示区和缺陷展示区，所述全景物料展示区显示线扫相机采集的物料全景图，所述缺陷展示区显示从Pcs颗粒上识别的缺陷图像；

缺陷检测模块，用于响应于接收到对所述Pcs缺陷复检界面中电测检测控件的选择操作，基于所述电测不良的Pcs编号信息确定所述物料全景图中的电测不良Pcs，并对电测正常Pcs进行缺陷检测，确定其中的缺陷Pcs并提取缺陷图像；

第二显示模块，用于响应于接收到对目标Pcs的选择操作，在所述缺陷展示区内展示所述目标Pcs的缺陷图像或电测不良信息；其中，当选中的所述目标Pcs为电测不良Pcs时，在所述缺陷展示区内显示所述电测不良Pcs的电测不良信息；当选中的所述目标Pcs为缺陷Pcs时，在所述缺陷展示区内显示从所述缺陷Pcs中识别和提取的所有目标缺陷图像。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的Pcs电测不良缺陷显示方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一所述的Pcs电测不良缺陷显示方法。