CN117681079A - 一种防泄漏gis开关壳体用表面处理装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，表面处理装置包括床身、主轴箱、三爪卡盘、移动机构、检测机构、打磨机构，主轴箱与床身紧固连接，三爪卡盘与主轴箱的输出端传动连接，移动机构与床身紧固连接，移动机构和三爪卡盘位于工件两侧，检测机构与移动机构紧固连接，打磨机构与移动机构紧固连接，主轴箱一侧设有控制系统，控制系统与检测机构电连接，床身靠近移动机构的一端设有辅助支撑，用来提高工件的温度性，主轴箱将转矩传递给三爪卡盘，进而带动工件旋转，进行加工，移动机构用于带动检测机构和打磨机构深入工件内部，对工件内壁的焊缝进行检测和打磨。

Description

一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置

技术领域

本发明涉及GIS壳体技术领域，具体为一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置。

背景技术

气体绝缘封闭组合电器（简称：GIS）内部充有一定压力的六氟化硫气体作为绝缘介质，具有良好的绝缘性能，被越来越广泛地用于电力系统中。由于SF6气体在电场均匀性较好时才具有较强的绝缘性能，因此工程中通常将GIS设计为同轴圆柱结构，保证内部为均匀电场。而GIS壳体直径与壳体内壁的表面状况对SF6电器的电性能有重要的影响，直接影响了GIS设备内部的电场的均匀或产生内部放电等现象，所以，在制作GIS壳体的时候要求如下：板材滚筒焊接GIS壳体的内表面要求磨光焊缝，一定要磨去鱼鳞纹，手摸感觉无扎手尖角为止，内壁光滑，以消除尖端放电现象。

在加工GIS壳体的过程中，因为涉及焊接等工艺，GIS壳体上会产生大量毛刺和划痕，而毛刺会导致尖端放电现象产生，严重影响了设备运行时的绝缘性能，所以在GIS壳体加工完成后，需要对其内壁进行打磨抛光，往往是通过人工进行打磨，但是由于GIS壳体内部人员难以进入，打磨不便，容易造成打磨不均匀的现象，打磨效率不高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：表面处理装置包括床身、主轴箱、三爪卡盘、移动机构、检测机构、打磨机构，主轴箱与床身紧固连接，三爪卡盘与主轴箱的输出端传动连接，移动机构与床身紧固连接，移动机构和三爪卡盘位于工件两侧，检测机构与移动机构紧固连接，打磨机构与移动机构紧固连接，主轴箱一侧设有控制系统，控制系统与检测机构电连接，床身靠近移动机构的一端设有辅助支撑。

床身放置的地面上为各机构提供稳定支撑，主轴箱为主要动力源，三爪卡盘将需要加工的工件稳定夹持，主轴箱将转矩传递给三爪卡盘，进而带动工件旋转，进行加工，移动机构用于带动检测机构和打磨机构深入工件内部，对工件内壁的焊缝进行检测和打磨，控制系统用于控制各机构的运动，并对检测机构测得的数据进行分析，从而针对需要打磨的位置进行精确定位打磨，来提高加工质量和效率，为了防止工件发生偏转，通过辅助支撑来提高工件的稳定性。

进一步的，移动机构包括立柱、电动推杆，立柱与床身紧固连接，立柱位于床身上远离三爪卡盘的一端，电动推杆与立柱紧固连接，电动推杆的输出端设有连接座，检测机构和打磨机构与连接座紧固连接。

立柱固定在床身上，为移动机构提供稳定的支撑，电动推杆为移动机构的主要动力源，电动推杆动作，带动连接座向GIS壳体的内部移动，从而带动检测机构和打磨机构进入GIS壳体的内部，而GIS壳体会在三爪卡盘的带动下转动，在电动推杆和三爪卡盘的共同作用下，检测机构和打磨机构会逐步扫过GIS壳体的内壁，完成检测和打磨。

进一步的，检测机构包括第一推杆，第一推杆与连接座紧固连接，第一推杆远离连接座的一端设有旋转气缸，旋转气缸的输出端设有固定座，固定座上设有毛刺检测组件和缝隙检测组件，毛刺检测组件和缝隙检测组件与控制系统电连接。

第一推杆用来带动检测机构贴近工件内壁，对内壁进行检测，GIS壳体在焊接时有环形焊缝和直线焊缝，针对这两种焊缝，通过旋转气缸来带动检测机构转动，来保证检测机构与焊缝的贴合度，在打磨前，通过毛刺检测组件对焊缝处的凸起进行检测，再通过控制系统控制打磨机构进行精确打磨，打磨完成后，通过缝隙检测组件对焊缝的缺陷进行检测定位，提高加工效率。

进一步的，毛刺检测组件包括检测块和护罩，护罩与固定座紧固连接，护罩开口朝向工件，护罩内设有若干检测块，检测块与控制系统电连接。

在第一推杆的带动下，毛刺检测组件贴近到工件表面，控制系统为工件接上检测电源的正极，为检测块接上负极，这样在工件和检测块之间就会形成电场，护罩可为橡胶材质，可避免在检测时刮花工件，在电场作用下，工件表面曲率大的地方（如尖锐、细小物的顶端），等电位面密，电场强度剧增，致使它附近的空气被电离而产生放电的现象，而毛刺为尖锐状，电场会使毛刺尖端附近的空气分子发生电离，变成带电的等离子体，等离子体中所带电荷性质与尖端电荷相同，就会与毛刺尖端产生相互排斥的作用，从而推动毛刺尖端附近的空气流动，就会给毛刺位置的检测块推动力，就可通过布置在护罩内的若干检测块用来检测这一推动力来判断毛刺的位置，并且毛刺越高，距离检测块就越近，对检测块的推力就越大。

进一步的，若干检测块包括外壳、滑动块、反射板，滑动块与外壳滑动连接，反射板与外壳转动连接，外壳内远离滑动块的一端设有激光源，外壳内壁远离激光源的一侧覆盖有光敏电阻层，光敏电阻层与控制系统电连接，滑动块上偏心设有推动杆，推动杆与反射板的底面抵接。

外壳用来保护检测块，滑动块在工件毛刺尖端放电的作用下，会沿外壳内腔向上移动，带动推动杆上移，使得反射板沿外壳发生相对转动，因为推动杆偏心设置，所以反射板会发生偏转，因为尖端放电产生的推动力较小，难以检测，所以通过激光源和反射板的配合，通过光线的反射来放大滑动块的位移，反射后的光线照射在光敏电阻层上，照射位置的电阻会减小，控制系统可根据光敏电阻层上电阻变化位置，来判断出毛刺的高低，光敏电阻层上的电阻变化处的位置距离激光源的距离越远，毛刺越高。

进一步的，滑动块靠近工件的一侧覆盖有导电层，导电层与控制系统电连接。

考虑到尖端放电产生的推动力较小，为了保证检测精准度，滑动块可采用轻质塑料材质，降低整体重量，但是塑料不导电，无法产生检测电场，所以通过在滑动块靠近工件的一侧覆盖金属材质的导电层，导电层可连通控制系统的检测电源负极，与工件之间形成检测电场。

进一步的，打磨机构包括第二推杆、打磨头、集尘器，第二推杆与连接座紧固连接，打磨头与第二推杆的输出端紧固连接，集尘器与连接座紧固连接，集尘器的进气端朝向打磨头，集尘器的出气端与缝隙检测组件连通。

在毛刺检测组件检测完毛刺的位置和高度后，打磨机构工作，第二推杆动作，带动打磨头贴近需要打磨的位置，打磨头启动开始打磨，为了防止打磨碎屑飞溅，通过集尘器将打磨时产生的碎屑进行收集，并通过软管将碎屑输送到缝隙检测组件进行再利用。

进一步的，缝隙检测组件包括保护罩、连接盒，保护罩和连接盒与固定座紧固连接，保护罩内设有电磁铁、分离盒和检测相机，连接盒内设有螺旋管和磁化磁铁，螺旋管套设在磁化磁铁上，螺旋管的进口与集尘器的出气端连通，螺旋管的出口与分离盒连通，分离盒内设有隔板，隔板位于螺旋管的出口，隔板将分离盒内腔分为第一腔室和第二腔室，第一腔室的出口朝向工件。

在打磨完成后，通过缝隙检测组件对打磨后的焊缝位置进行检测，来对焊缝处的缺陷进行检测，保护罩可在第一推杆的带动下贴近工件，为检测提供相对密闭的环境，连接盒用来保护螺旋管，打磨时产生的碎屑在进入到螺旋管内后，会沿螺旋轨迹移动，在离心力的作用下，重量大的碎屑会位于螺旋管的外侧，重量小的碎屑会位于螺旋管的内侧，再通过设置在螺旋管出口处的隔板就可将大碎屑和小碎屑分离，大碎屑汇入第二腔室内，小碎屑汇入第一腔室内，并且螺旋管可延长碎屑的移动路径，使得碎屑在磁化磁铁的作用下得到充分的磁化，通过电磁铁来磁化工件，如果磁化处有缺陷，其磁导率很小、磁阻很大，使磁路中的磁通发生畸变其感应线会发生变化，部分磁通直接通过缺陷或从材料内部绕过缺陷，还有部分磁通会泄露到材料表面的空间中，从而在材料表面缺陷处形成漏磁场，而被磁化的小碎屑经过第一腔室流入保护罩内，磁化的碎屑会聚集到漏磁场处形成明显印记，检测相机可识别工件表面的印记，控制系统分析检测相机的信息，就可判断出工件表面缺陷的位置。

进一步的，螺旋管的螺径逐渐缩小。

因为大碎屑自身重量较大，难以被磁场吸附，所以流入的碎屑重量要尽可能的小，通过将螺旋管的螺径逐渐缩小，管内的碎屑流速会逐渐增大，从而提高分离效果，来保证检测的准确。

与现有技术相比，本发明所达到的有益效果是：本发明通过在工件和检测块之间通检测电场，利用工件表面曲率大的地方，等电位面密，电场强度剧增，致使它附近的空气被电离而产生放电的现象，而毛刺为尖锐状，电场会使毛刺尖端附近的空气分子发生电离，变成带电的等离子体，等离子体中所带电荷性质与尖端电荷相同，就会与毛刺尖端产生相互排斥的作用，从而推动毛刺尖端附近的空气流动，就会给毛刺位置的检测块推动力，就可通过布置在护罩内的若干检测块用来检测这一推动力来自动判断毛刺的位置，提高打磨精度。

通过反射板和偏心设置的推动杆配合，利用光线的反射来放大滑动块的位移，反射后的光线照射在光敏电阻层上，照射位置的电阻会减小，控制系统可根据光敏电阻层上电阻变化位置，来判断出毛刺的高低，光敏电阻层上的电阻变化处的位置距离激光源的距离越远，毛刺越高，精确识别毛刺的高度，提高打磨效果。

通过螺旋管和磁化磁铁的配合，将打磨产生的碎屑磁化和分离，选取适合大小的磁化碎屑与电磁铁配合，利用漏磁场现象，对GIS壳体内的缺陷进行精确定位，将打磨产生的碎屑进行了再利用。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是本发明的总体结构示意图；

图2是本发明的移动机构结构示意图；

图3是图2的局部A向放大图；

图4是本发明的检测机构结构示意图；

图5是本发明的毛刺检测组件和缝隙检测组件示意图；

图6是本发明的检测块结构示意图；

图7是本发明的螺旋管结构示意图；

图8是检测块内光路示意图；

图中：1-床身、11-辅助支撑、2-主轴箱、3-三爪卡盘、4-移动机构、41-立柱、42-电动推杆、43-连接座、5-检测机构、51-第一推杆、52-旋转气缸、53-毛刺检测组件、531-检测块、5311-外壳、5312-滑动块、5313-反射板、5314-激光源、5315-光敏电阻层、5316-推动杆、5317-导电层、532-护罩、54-缝隙检测组件、541-保护罩、542-连接盒、543-电磁铁、544-分离盒、5441-第一腔室、5442-第二腔室、545-螺旋管、546-磁化磁铁、547-检测相机、548-隔板、55-固定座、6-打磨机构、61-第二推杆、62-打磨头、63-集尘器、7-控制系统。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供技术方案：

如图1、图2所示，表面处理装置包括床身1、主轴箱2、三爪卡盘3、移动机构4、检测机构5、打磨机构6，主轴箱2与床身1紧固连接，三爪卡盘3与主轴箱2的输出端传动连接，移动机构4与床身1紧固连接，移动机构4和三爪卡盘3位于工件两侧，检测机构5与移动机构4紧固连接，打磨机构6与移动机构4紧固连接，主轴箱2一侧设有控制系统7，控制系统7与检测机构5电连接，床身1靠近移动机构4的一端设有辅助支撑11。

床身1放置的地面上为各机构提供稳定支撑，主轴箱2为主要动力源，三爪卡盘3将需要加工的工件稳定夹持，主轴箱2将转矩传递给三爪卡盘3，进而带动工件旋转，进行加工，移动机构4用于带动检测机构5和打磨机构6深入工件内部，对工件内壁的焊缝进行检测和打磨，控制系统7用于控制各机构的运动，并对检测机构5测得的数据进行分析，从而针对需要打磨的位置进行精确定位打磨，来提高加工质量和效率，为了防止工件发生偏转，通过辅助支撑11来提高工件的稳定性。

如图1、图2所示，移动机构4包括立柱41、电动推杆42，立柱41与床身1紧固连接，立柱41位于床身1上远离三爪卡盘的一端，电动推杆42与立柱41紧固连接，电动推杆42的输出端设有连接座43，检测机构5和打磨机构6与连接座43紧固连接。

立柱41固定在床身1上，为移动机构4提供稳定的支撑，电动推杆42为移动机构4的主要动力源，电动推杆42动作，带动连接座43向GIS壳体的内部移动，从而带动检测机构5和打磨机构6进入GIS壳体的内部，而GIS壳体会在三爪卡盘3的带动下转动，在电动推杆42和三爪卡盘3的共同作用下，检测机构5和打磨机构6会逐步扫过GIS壳体的内壁，完成检测和打磨。

如图2、图3、图4所示，检测机构5包括第一推杆51，第一推杆51与连接座43紧固连接，第一推杆51远离连接座43的一端设有旋转气缸52，旋转气缸52的输出端设有固定座55，固定座55上设有毛刺检测组件53和缝隙检测组件54，毛刺检测组件53和缝隙检测组件54与控制系统7电连接。

第一推杆51用来带动检测机构5贴近工件内壁，对内壁进行检测，GIS壳体在焊接时有环形焊缝和直线焊缝，针对这两种焊缝，通过旋转气缸52来带动检测机构5转动，来保证检测机构5与焊缝的贴合度，在打磨前，通过毛刺检测组件53对焊缝处的凸起进行检测，再通过控制系统7控制打磨机构6进行精确打磨，打磨完成后，通过缝隙检测组件54对焊缝的缺陷进行检测定位，提高加工效率。

如图4、图5所示，毛刺检测组件53包括检测块531和护罩532，护罩532与固定座55紧固连接，护罩532开口朝向工件，护罩532内设有若干检测块531，检测块531与控制系统7电连接。

在第一推杆51的带动下，毛刺检测组件53贴近到工件表面，控制系统7为工件接上检测电源的正极，为检测块531接上负极，这样在工件和检测块531之间就会形成电场，护罩532可为橡胶材质，可避免在检测时刮花工件，在电场作用下，工件表面曲率大的地方（如尖锐、细小物的顶端），等电位面密，电场强度剧增，致使它附近的空气被电离而产生放电的现象，而毛刺为尖锐状，电场会使毛刺尖端附近的空气分子发生电离，变成带电的等离子体，等离子体中所带电荷性质与尖端电荷相同，就会与毛刺尖端产生相互排斥的作用，从而推动毛刺尖端附近的空气流动，就会给毛刺位置的检测块531推动力，就可通过布置在护罩532内的若干检测块531用来检测这一推动力来判断毛刺的位置，并且毛刺越高，距离检测块531就越近，对检测块531的推力就越大。

如图5、图6、图8所示，若干检测块531包括外壳5311、滑动块5312、反射板5313，滑动块5312与外壳5311滑动连接，反射板5313与外壳5311转动连接，外壳5311内远离滑动块5312的一端设有激光源5314，外壳5311内壁远离激光源5314的一侧覆盖有光敏电阻层5315，光敏电阻层5315与控制系统7电连接，滑动块5312上偏心设有推动杆5316，推动杆5316与反射板5313的底面抵接。

外壳5311用来保护检测块531，滑动块5312在工件毛刺尖端放电的作用下，会沿外壳5311内腔向上移动，带动推动杆5316上移，使得反射板5313沿外壳5311发生相对转动，因为推动杆5316偏心设置，所以反射板5313会发生偏转，因为尖端放电产生的推动力较小，难以检测，所以通过激光源5314和反射板5313的配合，通过光线的反射来放大滑动块5312的位移，反射后的光线照射在光敏电阻层5315上，照射位置的电阻会减小，控制系统7可根据光敏电阻层5315上电阻变化位置，来判断出毛刺的高低，光敏电阻层5315上的电阻变化处的位置距离激光源5314的距离越远，毛刺越高。

如图6所示，滑动块5312靠近工件的一侧覆盖有导电层5317，导电层5317与控制系统7电连接。

考虑到尖端放电产生的推动力较小，为了保证检测精准度，滑动块5312可采用轻质塑料材质，降低整体重量，但是塑料不导电，无法产生检测电场，所以通过在滑动块5312靠近工件的一侧覆盖金属材质的导电层5317，导电层5317可连通控制系统7的检测电源负极，与工件之间形成检测电场。

如图3所示，打磨机构6包括第二推杆61、打磨头62、集尘器63，第二推杆61与连接座43紧固连接，打磨头62与第二推杆61的输出端紧固连接，集尘器63与连接座43紧固连接，集尘器63的进气端朝向打磨头62，集尘器63的出气端与缝隙检测组件54连通。

在毛刺检测组件53检测完毛刺的位置和高度后，打磨机构6工作，第二推杆61动作，带动打磨头62贴近需要打磨的位置，打磨头62启动开始打磨，为了防止打磨碎屑飞溅，通过集尘器63将打磨时产生的碎屑进行收集，并通过软管将碎屑输送到缝隙检测组件54进行再利用。

如图4、图5所示，缝隙检测组件54包括保护罩541、连接盒542，保护罩541和连接盒542与固定座55紧固连接，保护罩541内设有电磁铁543、分离盒544和检测相机547，连接盒542内设有螺旋管545和磁化磁铁546，螺旋管545套设在磁化磁铁546上，螺旋管545的进口与集尘器63的出气端连通，螺旋管545的出口与分离盒544连通，分离盒544内设有隔板548，隔板548位于螺旋管545的出口，隔板548将分离盒544内腔分为第一腔室5441和第二腔室5442，第一腔室5441的出口朝向工件。

在打磨完成后，通过缝隙检测组件54对打磨后的焊缝位置进行检测，来对焊缝处的缺陷进行检测，保护罩541可在第一推杆51的带动下贴近工件，为检测提供相对密闭的环境，连接盒542用来保护螺旋管545，打磨时产生的碎屑在进入到螺旋管545内后，会沿螺旋轨迹移动，在离心力的作用下，重量大的碎屑会位于螺旋管545的外侧，重量小的碎屑会位于螺旋管545的内侧，再通过设置在螺旋管545出口处的隔板548就可将大碎屑和小碎屑分离，大碎屑汇入第二腔室5442内，小碎屑汇入第一腔室5441内，并且螺旋管545可延长碎屑的移动路径，使得碎屑在磁化磁铁546的作用下得到充分的磁化，通过电磁铁543来磁化工件，如果磁化处有缺陷，其磁导率很小、磁阻很大，使磁路中的磁通发生畸变其感应线会发生变化，部分磁通直接通过缺陷或从材料内部绕过缺陷，还有部分磁通会泄露到材料表面的空间中，从而在材料表面缺陷处形成漏磁场，而被磁化的小碎屑经过第一腔室5441流入保护罩541内，磁化的碎屑会聚集到漏磁场处形成明显印记，检测相机547可识别工件表面的印记，控制系统7分析检测相机547的信息，就可判断出工件表面缺陷的位置。

如图5、图7所示，螺旋管545的螺径逐渐缩小。

因为大碎屑自身重量较大，难以被磁场吸附，所以流入的碎屑重量要尽可能的小，通过将螺旋管545的螺径逐渐缩小，管内的碎屑流速会逐渐增大，从而提高分离效果，来保证检测的准确。

本发明的工作原理：首先将工件通过三爪卡盘3和辅助支撑11的配合，将工件固定在本装置上，随着主轴箱2输出动力，GIS壳体会在三爪卡盘3的带动下转动，在电动推杆42和三爪卡盘3的共同作用下，检测机构5和打磨机构6会逐步扫过GIS壳体的内壁，完成检测和打磨，在第一推杆51的带动下，毛刺检测组件53贴近到工件表面，控制系统7为工件接上检测电源的正极，为检测块531接上负极，这样在工件和检测块531之间就会形成电场，护罩532可为橡胶材质，可避免在检测时刮花工件，在电场作用下，工件表面曲率大的地方（如尖锐、细小物的顶端），等电位面密，电场强度剧增，致使它附近的空气被电离而产生放电的现象，而毛刺为尖锐状，电场会使毛刺尖端附近的空气分子发生电离，变成带电的等离子体，等离子体中所带电荷性质与尖端电荷相同，就会与毛刺尖端产生相互排斥的作用，从而推动毛刺尖端附近的空气流动，就会给毛刺位置的检测块531推动力，就可通过布置在护罩532内的若干检测块531用来检测这一推动力来判断毛刺的位置，并且毛刺越高，距离检测块531就越近，对检测块531的推力就越大，并通过激光源5314和反射板5313的配合，通过光线的反射来放大滑动块5312的位移，反射后的光线照射在光敏电阻层5315上，照射位置的电阻会减小，控制系统7可根据光敏电阻层5315上电阻变化位置，来判断出毛刺的高低，光敏电阻层5315上的电阻变化处的位置距离激光源5314的距离越远，毛刺越高，GIS壳体内的毛刺检测完成后，控制系统7控制打磨机构6进行精确打磨，通过螺旋管545和磁化磁铁546的配合，将打磨产生的碎屑磁化和分离，选取适合大小的磁化碎屑用于缺陷处的检测，对GIS壳体内的缺陷进行定位，为进一步的加工做好准备。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，其特征在于：所述表面处理装置包括床身（1）、主轴箱（2）、三爪卡盘（3）、移动机构（4）、检测机构（5）、打磨机构（6），所述主轴箱（2）与床身（1）紧固连接，所述三爪卡盘（3）与主轴箱（2）的输出端传动连接，所述移动机构（4）与床身（1）紧固连接，移动机构（4）和三爪卡盘（3）位于工件两侧，所述检测机构（5）与移动机构（4）紧固连接，所述打磨机构（6）与移动机构（4）紧固连接，所述主轴箱（2）一侧设有控制系统（7），所述控制系统（7）与检测机构（5）电连接，所述床身（1）靠近移动机构（4）的一端设有辅助支撑（11）；

所述检测机构（5）包括第一推杆（51），所述第一推杆（51）与连接座（43）紧固连接，所述第一推杆（51）远离连接座（43）的一端设有旋转气缸（52），所述旋转气缸（52）的输出端设有固定座（55），所述固定座（55）上设有毛刺检测组件（53）和缝隙检测组件（54），所述毛刺检测组件（53）和缝隙检测组件（54）与控制系统（7）电连接；

所述毛刺检测组件（53）包括检测块（531）和护罩（532），所述护罩（532）与固定座（55）紧固连接，所述护罩（532）开口朝向工件，所述护罩（532）内设有若干检测块（531），所述检测块（531）与控制系统（7）电连接；

若干所述检测块（531）包括外壳（5311）、滑动块（5312）、反射板（5313），所述滑动块（5312）与外壳（5311）滑动连接，所述反射板（5313）与外壳（5311）转动连接，所述外壳（5311）内远离滑动块（5312）的一端设有激光源（5314），所述外壳（5311）内壁远离激光源（5314）的一侧覆盖有光敏电阻层（5315），所述光敏电阻层（5315）与控制系统（7）电连接，所述滑动块（5312）上偏心设有推动杆（5316），所述推动杆（5316）与反射板（5313）的底面抵接。

2.根据权利要求1所述的一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，其特征在于：所述移动机构（4）包括立柱（41）、电动推杆（42），所述立柱（41）与床身（1）紧固连接，立柱（41）位于床身（1）上远离三爪卡盘（3）的一端，所述电动推杆（42）与立柱（41）紧固连接，电动推杆（42）的输出端设有连接座（43），所述检测机构（5）和打磨机构（6）与连接座（43）紧固连接。

3.根据权利要求1所述的一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，其特征在于：所述滑动块（5312）靠近工件的一侧覆盖有导电层（5317），所述导电层（5317）与控制系统（7）电连接。

4.根据权利要求3所述的一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，其特征在于：所述打磨机构（6）包括第二推杆（61）、打磨头（62）、集尘器（63），所述第二推杆（61）与连接座（43）紧固连接，所述打磨头（62）与第二推杆（61）的输出端紧固连接，所述集尘器（63）与连接座（43）紧固连接，集尘器（63）的进气端朝向打磨头（62），集尘器（63）的出气端与缝隙检测组件（54）连通。

5.根据权利要求4所述的一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，其特征在于：所述缝隙检测组件（54）包括保护罩（541）、连接盒（542），所述保护罩（541）和连接盒（542）与固定座（55）紧固连接，所述保护罩（541）内设有电磁铁（543）、分离盒（544）和检测相机（547），所述连接盒（542）内设有螺旋管（545）和磁化磁铁（546），所述螺旋管（545）套设在磁化磁铁（546）上，螺旋管（545）的进口与集尘器（63）的出气端连通，螺旋管（545）的出口与分离盒（544）连通，所述分离盒（544）内设有隔板（548），所述隔板（548）位于螺旋管（545）的出口，隔板（548）将分离盒（544）内腔分为第一腔室（5441）和第二腔室（5442），所述第一腔室（5441）的出口朝向工件。

6.根据权利要求5所述的一种防泄漏GIS开关壳体用表面处理装置，其特征在于：所述螺旋管（545）的螺径逐渐缩小。