CN117675986A - 一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统，包括：测试采集模块，对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；测试分析模块，对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；测试平台，将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列，并获取到持续次数波动比值和中断次数波动比值，计算得到测试稳定值；影响采集模块，获取到测试环境数据、设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；影响共振模块，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；本发明对测试的环境和设备，与检测结果进行共振分析，判断其外界环境对测试结果的影响，有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性。

Description

一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统

技术领域

本发明涉及手机主板技术领域，具体涉及一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统。

背景技术

中国专利CN104601769B公开了一种手机主板自动化音频测试系统，包括待测手机板、辅助手机板和PC机，所述待测手机板和辅助手机板分别设有录、放音设备，所述PC机分别与所述待测手机板和辅助手机板相连，所述PC机控制所述待测手机板和辅助手机板相互录、放音并将录制的声音传递至所述PC机，所述PC机中设有音频分析模块，所述音频分析模块通过分析、比对所述录制的声音判断所述待测手机板的录、放音设备是否正常。

现有技术中，在对智能手机主板进行测试过程中，仅仅获取得到相应测试项目的具体检查数据，其不能对测试时的状态进行分析，所以难以判断测试所得到数据的准确程度，以及也难以分析出外界对测试结果的干扰程度，从而对手机主板的测试质量等级以及存在干扰的原因进行评价。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于智能手机主板的测试方法及测试系统，解决以下技术问题：在对智能手机主板进行测试过程中，仅仅获取得到相应测试项目的具体检查数据，其不能对测试时的状态进行分析，所以难以判断测试所得到数据的准确程度，以及也难以分析出外界对测试结果的干扰程度，从而对手机主板的测试质量等级以及存在干扰的原因进行评价。

本发明的目的可以通过以下技术方案实现：

一种用于智能手机主板的测试系统，包括：

测试采集模块，对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；测试运行数据包括：CPU频率值、内存值、存储容量值；

测试分析模块，基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；其中，项目差值包括CPU频率差值、内存差值、存储容量差值；检测结果包括检测通过和检测不通过；

测试平台，将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列，并获取到持续次数波动比值ZBc和中断次数波动比值ZBz，通过公式，计算得到测试稳定值ZW；其中，a1、a2均为权重系数；若测试稳定值ZW大于等于测试稳定阈值时，则生成测试不稳定信号；若测试稳定值ZW小于测试稳定阈值时，则生成测试稳定信号；

影响采集模块，获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；其中，测试环境数据包括环境温度值，设备数据包括设备电流值；环境设备信号包括环境合格信号、环境不合格信号、设备合格信号、设备不合格信号；

影响共振模块，获取同一测试次数中检测合格信号或检测不合格信号，以及环境合格信号或环境不合格信号，若同时得到检测合格信号和环境合格信号，或检测不合格信号和环境不合格信号，则生成环境共振信号；若同时得到检测合格信号和设备合格信号，或检测不合格信号和设备不合格信号，则生成设备共振信号；统计在多次重复测试中，出现环境共振信号和设备共振信号的次数，标记为共振影响值ZGy；

若共振影响值ZGy大于等于共振影响阈值时，则生成共振影响信号；

若共振影响值ZGy小于共振影响阈值时，则生成共振非影响信号。

作为本发明进一步的方案：测试采集模块，对每个项目进行持续多次重复测试，将测试次数标记为i。

作为本发明进一步的方案：测试分析模块，将CPU频率值与CPU频率标准值做差值计算，得到CPU频率差值；将内存值与内存标准值做差值计算，得到内存差值；将存储容量值与存储容量标准值做差值计算，得到存储容量差值；

若CPU频率差值大于等于CPU频率差阈值时，则生成CPU频率项不合格信号，若CPU频率差值小于CPU频率差阈值时，则生成CPU频率项合格信号；

若内存差值大于等于内存差阈值时，则生成内存项不合格信号，若内存差值小于内存差阈值时，则生成内存项合格信号；

若存储容量差值大于等于存储容量差阈值时，则生成存储容量项不合格信号，若存储容量差值小于存储容量差阈值时，则生成存储容量项合格信号。

作为本发明进一步的方案：若同时得到CPU频率项合格信号、内存项合格信号和存储容量项合格信号时，则生成检测合格信号，标记为检测通过，否则，则生成检测不合格信号，标记为检测不通过。

作为本发明进一步的方案：持续次数波动比值的获取方式为：

获取到持续出现检测通过的次数最大值，以及持续出现检测通过的次数最小值，并分别标记为TCmax和TCmin，通过公式，计算得到持续次数波动比值ZBc；

中断次数波动比值的获取方式为：

获取到中断次数，标记为CD，通过公式，计算得到中断次数波动比值ZBz。

作为本发明进一步的方案：影响采集模块，若环境温度均值处于环境温度范围值时，则生成环境合格信号，若环境温度均值不处于环境温度范围值时，则生成环境不合格信号；

将得到的设备电流均值与设备电流范围值进行比较，若设备电流均值处于设备电流范围值时，则生成设备合格信号，若设备电流均值不处于设备电流范围值时，则生成设备不合格信号。

作为本发明进一步的方案：还包括：

评价模块，若同时得到测试稳定信号和共振非影响信号时，获取到检测通过的总次数，将检查通过的总次数除以测试总次数，得到测试表现值ZCB，并将测试表现值ZCB标记为主板表现值ZZ；

若同时得到测试稳定信号和共振影响信号时，通过公式，计算得到主板表现值ZZ；其中，BG为共振影响比，共振影响比的获取方式为：通过公式/>，计算得到共振影响比BG。

作为本发明进一步的方案：若同时得到测试不稳定信号和共振不影响信号时，表示手机主板自身运行差的问题，生成手机主板运行不稳定信号。

作为本发明进一步的方案：若主板表现值ZZ大于等于主板表现阈值时，则生成手机主板质量好信号；

若主板表现值ZZ小于主板表现阈值时，则生成手机主板质量差信号。

一种用于智能手机主板的测试方法，包括以下步骤：

步骤1：对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；

步骤2：基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；

步骤3：获取到多次重复测试的检测通过和检测不通过的情况，对检测稳定性进行判断，生成测试前提信号；

步骤4：获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；

步骤5：基于环境设备信号，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；

步骤6：基于测试稳定信号和测试不稳定信号，共振影响信号和共振非影响信号，对手机主板的质量进行评估。

本发明的有益效果：

（1）本发明通过对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；获取到多次重复测试的检测通过和检测不通过的情况，对检测稳定性进行判断，生成测试前提信号；本发明对手机主板的测试项目的差值进行一一比较分析，再由比较的信号结果进行交叉分析，判断是否通过测试，对手机主板多次测试结果进行稳定分析，判断当前测试得到的结果是否稳定，所以本发明不仅实现对测试结果进行稳定性进行监测，还有测试稳定的分析有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性；

（2）本发明获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；基于环境设备信号，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；本发明通过对测试的环境和设备，与检测结果进行共振分析，判断其外界环境对测试结果的影响，有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性；

（3）本发明基于测试稳定信号和测试不稳定信号，共振影响信号和共振非影响信号，对手机主板的质量进行评估，本发明结合测试平台和影响共振模块的信号，不仅可以判断测试手机主板的质量，还可以判断手机主板运行稳定情况，以及还可以判断测试环境或测试设备所测试的结果产生影响，便于进行调节外界因素，来提高后续对手机主板测试的精准度。

附图说明

下面结合附图对本发明作进一步的说明。

图1是本发明实施例1的系统框图；

图2是本发明实施例2的系统框图；

图3是本发明实施例3的系统框图；

图4是本发明实施例4的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

请参阅图1所示，本发明为一种用于智能手机主板的测试系统，包括：

测试采集模块，对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；

其中，运行项目包括但不限于：CPU频率、内存大小、存储容量；测试运行数据包括但不限于：CPU频率值、内存值、存储容量值；

在一些实施例中，采集模块，对手机主板的CPU频率、内存大小、存储容量项目进行测试，并对每个项目进行持续多次重复测试，将测试次数标记为i，并将依次得到测试的CPU频率值、内存值、存储容量值；

测试分析模块，基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；

其中，项目差值包括CPU频率差值、内存差值、存储容量差值；检测结果包括检测通过和检测不通过；

在一些实施例中，测试分析模块，获取到CPU频率值、内存值、存储容量值，以及手机主板的CPU频率标准值、内存标准值、存储容量标准值；

将CPU频率值与CPU频率标准值做差值计算，得到CPU频率差值；将内存值与内存标准值做差值计算，得到内存差值；将存储容量值与存储容量标准值做差值计算，得到存储容量差值；

将每次得到的CPU频率差值、内存差值、存储容量差值，分别与CPU频率差阈值、内存差阈值、存储容量差阈值；

若CPU频率差值大于等于CPU频率差阈值时，则生成CPU频率项不合格信号，若CPU频率差值小于CPU频率差阈值时，则生成CPU频率项合格信号；

若内存差值大于等于内存差阈值时，则生成内存项不合格信号，若内存差值小于内存差阈值时，则生成内存项合格信号；

若存储容量差值大于等于存储容量差阈值时，则生成存储容量项不合格信号，若存储容量差值小于存储容量差阈值时，则生成存储容量项合格信号；

将每次得到的CPU频率项不合格信号、CPU频率项合格信号、内存项不合格信号、内存项合格信号、存储容量项不合格信号和存储容量项合格信号进行交叉处理；

若同时得到CPU频率项合格信号、内存项合格信号和存储容量项合格信号时，则生成检测合格信号，标记为检测通过，否则，则生成检测不合格信号，标记为检测不通过；

需要说明的是，手机主板的CPU频率标准值、内存标准值、存储容量标准值是根据手机主板的型号预先设定的；

测试平台，获取到多次重复测试的检测通过和检测不通过的情况，对检测稳定性进行判断，生成测试前提信号；

其中，测试前提信号包括测试稳定信号和测试不稳定信号；

在一些实施例中，测试平台，将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列，并获取到持续次数波动比值ZBc和中断次数波动比值ZBz，通过公式，计算得到测试稳定值ZW；其中，a1、a2均为权重系数，a1+a2=1，a1取值为0.56，a2取值为0.44；

将得到的测试稳定值ZW与测试稳定阈值进行比较；

若测试稳定值ZW大于等于测试稳定阈值时，则生成测试不稳定信号；

若测试稳定值ZW小于测试稳定阈值时，则生成测试稳定信号；

其中，持续次数波动比值的获取方式为：

获取到持续出现检测通过的次数最大值，以及持续出现检测通过的次数最小值，并分别标记为TCmax和TCmin，通过公式，计算得到持续次数波动比值ZBc；

中断次数波动比值的获取方式为：

获取到中断次数（中断次数为在持续检测的次数中，间断性出现检测通过的次数，举例说明，若持续检测次数为6次，在第二次、第三次和第六次出现检测未通过，则该中断次数为2），标记为CD，通过公式，计算得到中断次数波动比值ZBz；

本发明实施例的技术方案：对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；获取到多次重复测试的检测通过和检测不通过的情况，对检测稳定性进行判断，生成测试前提信号；本发明实施例对手机主板的测试项目的差值进行一一比较分析，再由比较的信号结果进行交叉分析，判断是否通过测试，对手机主板多次测试结果进行稳定分析，判断当前测试得到的结果是否稳定，所以本发明实施例不仅实现对测试结果进行稳定性进行监测，还有测试稳定的分析，有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性。

实施例2

请参阅图2所示，本发明为一种用于智能手机主板的测试系统，包括：

影响采集模块，获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；

其中，测试环境数据包括环境温度值，设备数据包括设备电流值；环境设备信号包括环境合格信号、环境不合格信号、设备合格信号、设备不合格信号；

在一些实施例中，影响采集模块，获取到每次测试的实时环境温度值，将实时环境温度值进行均值计算，得到环境温度均值；以及获取到每次测试的实时设备电流值，将实时设备电流值进行均值计算，得到设备电流均值；

将得到的环境温度均值与环境温度范围值进行比较，若环境温度均值处于环境温度范围值时，则生成环境合格信号，若环境温度均值不处于环境温度范围值时，则生成环境不合格信号；

将得到的设备电流均值与设备电流范围值进行比较，若设备电流均值处于设备电流范围值时，则生成设备合格信号，若设备电流均值不处于设备电流范围值时，则生成设备不合格信号；

影响共振模块，基于环境设备信号，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；

其中，影响信号包括共振影响信号和共振非影响信号；

在一些实施例中，影响共振模块，获取同一测试次数中检测合格信号或检测不合格信号，以及环境合格信号或环境不合格信号，若同时得到检测合格信号和环境合格信号，或检测不合格信号和环境不合格信号，则生成环境共振信号，否则，生成环境不共振信号；

相同的，获取同一测试次数中检测合格信号或检测不合格信号，以及设备合格信号或设备不合格信号，若同时得到检测合格信号和设备合格信号，或检测不合格信号和设备不合格信号，则生成设备共振信号，否则，生成设备不共振信号；

统计在多次重复测试中，出现环境共振信号和设备共振信号的次数，标记为共振影响值ZGy，将共振影响值ZGy与共振影响阈值进行比较；

若共振影响值ZGy大于等于共振影响阈值时，则生成共振影响信号；

若共振影响值ZGy小于共振影响阈值时，则生成共振非影响信号；

本发明实施例的技术方案：获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；基于环境设备信号，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；本发明实施例通过对测试的环境和设备，与检测结果进行共振分析，判断其外界环境对测试结果的影响，有效保证后续对手机主板质量进行检测的准确性。

实施例3

请参阅图3所示，本发明为一种用于智能手机主板的测试系统，包括：

评价模块，基于测试稳定信号和测试不稳定信号，共振影响信号和共振非影响信号，对手机主板的质量进行评估；

在一些实施例中，评价模块，获取到测试平台的测试稳定信号和测试不稳定信号，以及影响共振模块的共振影响信号和共振非影响信号；

若同时得到测试稳定信号和共振非影响信号时，获取到检测通过的总次数，将检查通过的总次数除以测试总次数，得到测试表现值ZCB，并将测试表现值ZCB标记为主板表现值ZZ；

若同时得到测试稳定信号和共振影响信号时，通过公式，计算得到主板表现值ZZ；其中，BG为共振影响比，共振影响比的获取方式为：通过公式/>，计算得到共振影响比BG；

若同时得到测试不稳定信号和共振影响信号时，需要对测试环境或测试设备进行检查，来调节后续对手机主板测试的精准度；

若同时得到测试不稳定信号和共振不影响信号时，表示手机主板自身运行差的问题，生成手机主板运行不稳定信号；

将得到的主板表现值ZZ与主板表现阈值进行比较；

若主板表现值ZZ大于等于主板表现阈值时，则生成手机主板质量好信号；

若主板表现值ZZ小于主板表现阈值时，则生成手机主板质量差信号；

本发明实施例的技术方案：基于测试稳定信号和测试不稳定信号，共振影响信号和共振非影响信号，对手机主板的质量进行评估，本发明实施例结合测试平台和影响共振模块的信号，不仅可以判断测试手机主板的质量，还可以判断手机主板运行稳定情况，以及还可以判断测试环境或测试设备所测试的结果产生影响，便于进行调节外界因素，来提高后续对手机主板测试的精准度。

实施例4

请参阅图4所示，本发明为一种用于智能手机主板的测试方法，包括以下步骤：

步骤1：对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；

步骤2：基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；

步骤3：获取到多次重复测试的检测通过和检测不通过的情况，对检测稳定性进行判断，生成测试前提信号；

步骤4：获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；

步骤5：基于环境设备信号，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；

步骤6：基于测试稳定信号和测试不稳定信号，共振影响信号和共振非影响信号，对手机主板的质量进行评估。

上述公式均是去量纲取其数值计算，公式是由采集大量数据进行软件模拟得到最近真实情况的一个公式，公式中的预设参数由本领域的技术人员根据实际情况进行设置。

以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。

Claims (10)

1.一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，包括：

测试采集模块，对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；测试运行数据包括：CPU频率值、内存值、存储容量值；

测试分析模块，基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；其中，项目差值包括CPU频率差值、内存差值、存储容量差值；检测结果包括检测通过和检测不通过；

测试平台，将多次重复测试的检测通过和检测不通过按照测试顺序进行排列，并获取到持续次数波动比值ZBc和中断次数波动比值ZBz，通过公式，计算得到测试稳定值ZW；其中，a1、a2均为权重系数；若测试稳定值ZW大于等于测试稳定阈值时，则生成测试不稳定信号；若测试稳定值ZW小于测试稳定阈值时，则生成测试稳定信号；

影响采集模块，获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；其中，测试环境数据包括环境温度值，设备数据包括设备电流值；环境设备信号包括环境合格信号、环境不合格信号、设备合格信号、设备不合格信号；

影响共振模块，获取同一测试次数中检测合格信号或检测不合格信号，以及环境合格信号或环境不合格信号，若同时得到检测合格信号和环境合格信号，或检测不合格信号和环境不合格信号，则生成环境共振信号；若同时得到检测合格信号和设备合格信号，或检测不合格信号和设备不合格信号，则生成设备共振信号；统计在多次重复测试中，出现环境共振信号和设备共振信号的次数，标记为共振影响值ZGy；

若共振影响值ZGy大于等于共振影响阈值时，则生成共振影响信号；

若共振影响值ZGy小于共振影响阈值时，则生成共振非影响信号。

2.根据权利要求1所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，测试采集模块，对每个项目进行持续多次重复测试，将测试次数标记为i。

3.根据权利要求1所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，测试分析模块，将CPU频率值与CPU频率标准值做差值计算，得到CPU频率差值；将内存值与内存标准值做差值计算，得到内存差值；将存储容量值与存储容量标准值做差值计算，得到存储容量差值；

若CPU频率差值大于等于CPU频率差阈值时，则生成CPU频率项不合格信号，若CPU频率差值小于CPU频率差阈值时，则生成CPU频率项合格信号；

若内存差值大于等于内存差阈值时，则生成内存项不合格信号，若内存差值小于内存差阈值时，则生成内存项合格信号；

若存储容量差值大于等于存储容量差阈值时，则生成存储容量项不合格信号，若存储容量差值小于存储容量差阈值时，则生成存储容量项合格信号。

4.根据权利要求3所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，若同时得到CPU频率项合格信号、内存项合格信号和存储容量项合格信号时，则生成检测合格信号，标记为检测通过，否则，则生成检测不合格信号，标记为检测不通过。

5.根据权利要求1所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，持续次数波动比值的获取方式为：

获取到持续出现检测通过的次数最大值，以及持续出现检测通过的次数最小值，并分别标记为TCmax和TCmin，通过公式 ，计算得到持续次数波动比值ZBc；

中断次数波动比值的获取方式为：

获取到中断次数，标记为CD，通过公式，计算得到中断次数波动比值ZBz。

6.根据权利要求1所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，影响采集模块，若环境温度均值处于环境温度范围值时，则生成环境合格信号，若环境温度均值不处于环境温度范围值时，则生成环境不合格信号；

将得到的设备电流均值与设备电流范围值进行比较，若设备电流均值处于设备电流范围值时，则生成设备合格信号，若设备电流均值不处于设备电流范围值时，则生成设备不合格信号。

7.根据权利要求1所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，还包括：

评价模块，若同时得到测试稳定信号和共振非影响信号时，获取到检测通过的总次数，将检查通过的总次数除以测试总次数，得到测试表现值ZCB，并将测试表现值ZCB标记为主板表现值ZZ；

若同时得到测试稳定信号和共振影响信号时，通过公式，计算得到主板表现值ZZ；其中，BG为共振影响比，共振影响比的获取方式为：通过公式/>，计算得到共振影响比BG。

8.根据权利要求7所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，若同时得到测试不稳定信号和共振不影响信号时，生成手机主板运行不稳定信号。

9.根据权利要求8所述的一种用于智能手机主板的测试系统，其特征在于，若主板表现值ZZ大于等于主板表现阈值时，则生成手机主板质量好信号；

若主板表现值ZZ小于主板表现阈值时，则生成手机主板质量差信号。

10.一种用于智能手机主板的测试方法，其特征在于，该测试方法由上述权利要求1-9任一项所述的测试系统所执行，该测试方法包括以下步骤：

步骤1：对手机主板的运行项目进行测试，并得到测试运行数据；

步骤2：基于测试运行数据，计算分析得到项目差值，并对项目差值进行比较分析，得到每次的检测结果；

步骤3：获取到多次重复测试的检测通过和检测不通过的情况，对检测稳定性进行判断，生成测试前提信号；

步骤4：获取到测试环境数据，以及测试设备的设备数据，并分别进行比较，得到环境设备信号；

步骤5：基于环境设备信号，获取到检测合格信号或检测不合格信号，进行共振分析，得到影响信号；

步骤6：基于测试稳定信号和测试不稳定信号，共振影响信号和共振非影响信号，对手机主板的质量进行评估。