CN117664937A - 一种角激发荧光检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种角激发荧光检测装置，包括激发光源、机身、检测器、检测暗室，机身内设有至少一激发光通光孔，激发光通光孔相对于发射光通光孔倾斜设置，激发光源发出的激发光通过激发光通光孔倾斜照射至被检试样上，所述被检试样受激发射的发射光，经发射光通光孔及滤光片滤过特征光后照射检测器检测。以至少2个LED灯珠先后输出不同波长的特征激发光照射被检试样，获得其中对应物质的特征波长发射光，实现试样中至少2种待检物质的测定。对被检试样的激发光、发射光的导光分光，由激发光源、检测器、检测暗室与机身直接联结实现，比采用光纤联结导光分光的方式具有更高的激发‑发射效率，得到更好的检测效果，结构更紧凑，成本更低。

Description

一种角激发荧光检测装置

技术领域

本申请涉及荧光检测技术领域，尤其涉及一种角激发荧光检测装置。

背景技术

荧光检测已经广泛用于核酸、蛋白质、小分子化合物等物质的测定分析，对小分子化合物的荧光分析，是基于荧光光度或荧光探针的直接荧光分析方法，需要高灵敏、宽线性的多波长荧光检测手段。现有荧光检测产品，由于在紧凑结构、通用性、检测效果、自动化程度、成本等方面的兼顾性不足，综合性能相对较差，限制了荧光检测方法的应用和普及。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提出一种角激发荧光检测装置，以解决现有技术中荧光检测产品综合性能较差的问题。

基于上述目的，本申请提供了一种角激发荧光检测装置，包括：

检测暗室，所述检测暗室内放置有至少一被检试样；

机身，所述机身一端联结所述检测暗室，所述机身上设有与所述检测暗室相通的发射光通光孔和至少一激发光通光孔，至少一所述激发光通光孔相对于所述发射光通光孔倾斜设置；

激发光源，至少一所述激发光通光孔端部设有激发光源，所述激发光源发出的激发光通过至少一所述激发光通光孔倾斜照射至所述被检试样上，所述被检试样发出发射光至所述发射光通光孔内；

检测器，所述检测器设置于所述机身的远离所述检测暗室的一端，并与所述发射光通光孔相对设置，所述检测器接收所述发射光通光孔内的所述发射光。

可选地，所述激发光通光孔远离所述检测暗室的一端设有第一光源安装位，所述激发光源设置于所述第一光源安装位内。

可选地，所述激发光源包括发光部、聚光部和输出口，所述发光部设置于所述聚光部的光输入端，所述输出口设置于所述聚光部远离所述发光部的光输出端。

可选地，所述发光部为第一发光部，所述聚光部为缩束镜，所述第一发光部包括至少一组第一LED光源，所述缩束镜包括缩束透镜组，所述第一LED光源设置于所述缩束透镜组的光输入端。

可选地，所述第一发光部还包括至少一第一光源滤光片，所述第一光源滤光片设置于所述第一LED光源的发射端，并靠近所述缩束镜设置。

可选地，所述发光部为第二发光部，所述聚光部为第一准直镜，所述第二发光部包括第二LED光源，所述第二LED光源设置于所述第一准直镜的光输入端。

可选地，所述第二发光部还包括第二光源滤光片，所述第二光源滤光片设置于所述第二LED光源的发射端，并靠近所述第一准直镜设置。

可选地，所述机身上设有滤光轮空间，所述滤光轮空间内设有滤光片轮，所述滤光片轮上设有至少一滤光片；

所述滤光片轮可转动滤光片，至与所述发射光通光孔同轴设置。

可选地，所述发射光通光孔内设有第二准直镜。

可选地，所述检测暗室可以根据试样容器类型适配设置，试样容器可以是固定安装的流动检测池，也可以是检测池、检测杯、固相检测卡等可移动类型，在所述试样容器内容纳被检试样。

可选地，所述检测暗室实施例内设有带滑块的试样载运器，所述试样载运器滑块可沿所述检测暗室的长度方向滑动，所述试样载运器滑块上放置所述被检试样的可移动试样容器。

从上面所述可以看出，本申请提供的一种角激发荧光检测装置，包括激发光源、检测暗室、机身和检测器，所述机身一端联结所述检测暗室，所述机身上设有与所述检测暗室相通的发射光通光孔和至少一激发光通光孔，至少一所述激发光通光孔相对于所述发射光通光孔倾斜设置，至少一所述激发光通光孔端部设有激发光源，所述激发光源发出的激发光通过至少一所述激发光通光孔倾斜照射至所述被检试样上，所述被检试样发出发射光至所述发射光通光孔内；所述检测器设置于所述机身的远离所述检测暗室的一端，并与所述发射光通光孔相对设置，所述检测器接收所述发射光通光孔内的所述发射光。激发光源、检测器、检测暗室与机身直接联结导光分光，比采用光纤联结导光分光的方式具有更高的激发-发射效率，得到更好的检测效果，结构更紧凑，成本更低。

激发光源发出的激发光通过激发光通光孔倾斜照射至被检试样上，所述被检试样受激发射的发射光，经发射光通光孔及滤光片滤过特征光后入射检测器检测，激发光光束与发射光光束之间形成夹角θ，10度≤θ≤80度，被检试样受光面积和发射光采样面积更大，比其它的激发-发射形式，光激发-发射效率更高，从而获得更好的检测灵敏度和稳定性。

LED光源具有体积小、单色性好、发散角窄、光密度高等特点，随着商业化提供的可细分功率、波长的LED光源品种越来越丰富，可用多个不同波长的LED光源构建多波长角激发荧光检测装置，即以至少2个LED光源先后输出不同波长的特征激发光照射被检试样，获得其中对应物质的特征波长发射光，实现试样中至少2种待检物质的测定，进而提升检测能力和应用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本申请或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例的一种角激发荧光检测装置示意图；

图2为本申请实施例的机身和检测暗室结构示意图；

图3为本申请实施例的激发光源结构示意图；

图4为本申请另一实施例的一种角激发荧光检测装置示意图；

图5为本申请另一实施例的机身和检测暗室结构示意图；

图6为本申请另一实施例的激发光源结构示意图。

附图中：

1、机身；2、激发光源；3、检测暗室；4、滤光片轮；5、驱动电机；6、检测器；7、第二准直镜；11、第一光源安装位；12、激发光通光孔；13、发射光通光孔；14、第二安装位；15、滤光轮空间；16、端盖；17、螺栓；21、第一发光部；22、缩束镜；23、输出口；24、光源电源；211、第一LED光源；212、第一光源滤光片；221、缩束透镜组；241、第一LED电源；242、第二LED电源；25、第二发光部；251、第二LED光源；252、第二光源滤光片；26、第一准直镜；261、准直镜片组；31、试样载运器；32、试样载运器滑块；33、试样容器；321、第一被检试样；322、第二被检试样；41、第一发射光滤光片；42、第二发射光滤光片。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本申请进一步详细说明。

需要说明的是，除非另外定义，本申请实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本申请所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

现有荧光检测产品，由于在紧凑结构、通用性、检测效果、自动化程度、成本等方面的兼顾性不足，综合性能相对较差，限制了荧光检测方法的应用和普及。

对荧光检测而言，检测装置的灵敏度、信噪比、稳定性等检测性能，主要影响因素有：1、光源强度与稳定性；2、被检试样的受光面积与被检试样的发射光采样面积；3、发射光光路中光学元件的吸收损耗。

现有的非角激发荧光检测技术中，二向色镜、Y型光纤分光是2种常用的激发光/发射光分光方法。Y型光纤分光方法的检测性能相对较差，一方面是由于较小的光纤截面积限制，使被检试样的受光面积与发射光采样面积都很小，另一方面是光纤的吸收损耗大。在单波长荧光检测应用中，二向色镜可以同时作为激发光和发射光的窄带滤光片使用，能够克服Y型光纤分光方法的技术缺陷；在使用单检测器且波长分离度不高的多波长荧光检测应用中，二向色镜只能作为分光光学器件，不能兼作窄带滤光片使用，就增加了发射光路的吸收损耗。光纤也常作为光源-试样间的激发光导光器件，较大的吸收损耗会降低光源的利用效率。使用二向色镜或光纤，还会提高检测装置设计、生产的复杂性，成本也会增加。

为了解决上述技术问题，本申请提供的一种角激发荧光检测装置，包括激发光源、检测暗室、机身和检测器，所述机身一端联结所述检测暗室，所述检测机身上设有与所述检测暗室相通的发射光通光孔和至少一激发光通光孔，至少一所述激发光通光孔相对于所述发射光通光孔倾斜设置，至少一所述激发光通光孔端部设有激发光源，所述激发光源发出的激发光通过至少一所述激发光通光孔倾斜照射至至少一所述被检试样上，所述被检试样发出发射光至所述发射光通光孔内；所述检测器设置于所述机身的远离所述检测暗室的一端，并与所述发射光通光孔相对设置，所述检测器接收所述发射光通光孔内的所述发射光。激发光源发出的激发光通过激发光通光孔倾斜照射至被检试样上，所述被检试样受激发射的发射光，经发射光通光孔及滤光片滤过特征光后入射检测器检测，激发光光束与发射光光束之间形成夹角θ，10度≤θ≤80度，被检试样受光面积和发射光采样面积更大，比其它的激发-发射形式，光激发-发射效率更高，从而获得更好的检测灵敏度和稳定性。激发光源、检测器、检测暗室与机身直接联结导光分光，比采用光纤联结导光分光的方式具有更高的导光效率，得到更好的检测性能，结构更紧凑，成本更低。生产更简便，更加节约材料和能源。

大功率LED光源具有体积小、单色性好、发散角窄、光密度高等特点，随着商业化提供的可细分功率、波长的LED光源品种越来越丰富，可用多个不同波长的LED光源构建多波长角激发荧光检测装置，即以至少2个LED光源先后输出不同波长的特征激发光照射被检试样，获得其中对应物质的特征波长发射光，实现试样中至少2种待检物质的测定，进而提升检测能力和应用范围。

以下结合附图来详细说明本申请的实施例。

参照图1和图2，本申请提供了一种角激发荧光检测装置，包括：

检测暗室3，所述检测暗室3内设置有至少一被检试样；

机身1，所述机身1一端联结所述检测暗室3，所述机身1上设有与所述检测暗室3相通的发射光通光孔13和至少一激发光通光孔12，至少一所述激发光通光孔12相对于所述发射光通光孔13倾斜设置，至少一所述激发光通光孔12端部设有激发光源2，所述激发光源2发出的激发光通过至少一所述激发光通光孔12倾斜照射至所述被检试样上，所述被检试样发出发射光至所述发射光通光孔13内；

检测器6，所述检测器6设置于所述机身1的远离所述检测暗室3的一端，并与所述发射光通光孔13相对设置，所述检测器6接收所述发射光通光孔13内的所述发射光。

具体地，通过激发光源2向检测暗室3内的被检试样发射倾斜的激发光，被检试样的待检物质受激发光激发发出发射光至发射光通光孔13内，并通过与发射光通光孔13对应的检测器6对发射光进行检测，实现了激发光与发射光以呈固定角度进行荧光检测，且实现了在密封环境内进行荧光检测，以使检测过程中不受外界光线的影响，提高检测效果。同时，由于机身1大小一定，通光面积与通光孔直径相关，通过设计较大直径的通光孔，可使照射在被检试样上激发光受光面积较大，使被检试样发出的发射光的面积较大，获得更多的发射光进行检测，从而提高了检测效果，由于没有二向色镜、光纤等增加光损耗的光学器件，可进一步提升检测性能。

在一些实施例中，如图1至图3所示，所述机身1上设有一个所述激发光通光孔12，所述激发光通光孔12远离所述检测暗室3的一端设有第一光源安装位11，所述激发光源2设置于所述第一光源安装位11内。

具体地，如图1和图2所示，激发光通光孔12远离检测暗室3的一端设有用于安装激发光源2的第一光源安装位11，激发光源2安装于第一光源安装位11内，用于向检测暗室3内的被检试样发射激发光。其中，激发光通光孔12端部与发射光通光孔13端部连通，发射光通光孔13相对于检测机身1的长度方向设置，并与被检试样相对应。激发光通光孔12与发射光通光孔13端部可形成θ夹角，其中，10度≤θ≤80度，以实现激发光源2从激发光通光孔12向检测暗室3内的被检试样发射倾斜激发光，被检试样受激发光激发后发出发射光至发射光通光孔13内，发射光贯穿发射光通光孔13后照射至检测器6接收端，通过检测器6对发射光进行检测，实现了激发光与发射光以呈固定角度进行荧光检测，且实现了在密封环境内进行荧光检测，以使检测过程中不受外界光线的影响，提高检测效果。并且该装置灵敏度更高，稳定性更好。

在本实施例中，如图3所示，所述激发光源2包括发光部、聚光部和输出口23，所述发光部设置于所述聚光部的光输入端，所述输出口23设置于所述聚光部远离所述发光部的光输出端。

进一步地，所述发光部为第一发光部21，所述聚光部为缩束镜22，所述第一发光部21包括至少一组第一LED光源211，所述缩束镜22包括缩束透镜组221，所述第一LED光源211设置于所述缩束透镜组221的光输入端。

具体地，如图3所示，示例性的，发光部为第一发光部21，第一发光部21包括一组第一LED光源211，一组第一LED光源211包括两个LED灯，每个LED灯均连接有对应的光源电源24，第一LED电源241用于控制第一LED灯，第二LED电源242用于控制第二LED灯。聚光部为缩束镜22，缩束镜22包括缩束透镜组221，第一LED灯与第二LED灯种类不同，均照射于缩束透镜组221上，并贯穿缩束透镜组221后通过输出口23发射出激发光，激发光贯穿激发光通光孔12后照射于检测暗室3的被检试样。通过对光源电源的控制，第一LED和第二LED灯先后输出不同波长的特征激发光照射被检试样，可先后分别获得其中对应物质的特征波长发射光，实现试样中至少2种待检物质的测定，进而提升检测能力和应用范围。

在本实施例中，所述第一发光部21还包括至少一第一光源滤光片212，所述第一光源滤光片212设置于所述第一LED光源211的发射端，并靠近所述缩束镜22设置。

具体地，如图3所示，第一光源滤光片212包括两个，每个第一光源滤光片212设置于第一LED光源211的发射端，以使第一LED光源211发出的激发光通过第一光源滤光片212进行滤光，减少激发光的非特异性影响，以便于更加特异性的激发光照射被检试样，增加荧光检测的特异性。

在一些实施例中，如图4至图6所示，所述机身1上设有两个所述激发光通光孔12，每个所述所述激发光通光孔12远离所述检测暗室3的一端设有第一光源安装位11，所述激发光源2设有两个，每个激发光源2设置于对应的所述第一光源安装位11内。

具体地，如图4和图5所示，每个激发光通光孔12远离检测暗室3的一端设有用于安装激发光源2的第一安装位11，激发光源2安装于第一光源安装位11内，用于向检测暗室3内的被检试样发射激发光。其中，激发光通光孔12分散设置于发射光通光孔13的两侧，每个激发光通光孔12端部与发射光通光孔13端部连通，发射光通光孔13相对于机身1的长度方向设置，并与被检试样相对应。每个激发光通光孔12与发射光通光孔13端部可形成θ夹角，其中，10度≤θ≤80度，以实现激发光源2从激发光通光孔12向检测暗室3内的被检试样发射倾斜激发光，被检试样受激发光激发后发射发射光至发射光通光孔13内，发射光贯穿发射光通光孔13后照射至检测器6接收端，通过检测器6对发射光进行检测，实现了激发光与发射光以呈固定角度进行荧光检测，且实现了在密封环境内进行荧光检测，以使检测过程中不受外界光线的影响，提高检测效果。

在本实施例中，如图6所示，所述激发光源2包括发光部、准直部，所述发光部设置于所述准直部的光输入端。

进一步地，所述发光部为第二发光部25，所述准直部为第一准直镜26，所述第二发光部25包括第二LED光源251，所述第二LED光源251设置于所述第一准直镜26的光输入端。

具体地，如图6所示，示例性的，发光部为第二发光部25，第二发光部25包括一个第二LED光源251，第二LED光源251采用LED灯，LED灯连接有第三电源243，用于控制第二LED光源251的关闭或打开。第一准直镜26包括准直镜片组261，LED灯照射于准直镜片组261上，并贯穿准直镜片组261发射出激发光，激发光贯穿激发光通光孔12后照射于检测暗室3的被检试样。

在本实施例中，所述第二发光部25还包括第二光源滤光片252，所述第二光源滤光片252设置于所述第二LED光源251的发射端，并靠近所述第一准直镜26设置。

在一些实施例中，所述机身1上设有滤光轮空间15，所述滤光轮空间15内设有滤光片轮4，所述滤光片轮4上设有至少一发射光滤光片；

所述滤光片轮4可转动至少一所述发射光滤光片，至与所述发射光通光孔13同轴且相对设置。

具体地，如图1、图2、图4和图5所示，滤光轮空间15与发射光通光孔13相通，滤光轮空间15内安装有滤光片轮4，机身1位于滤光轮空间15远离发射光通光孔13的一侧设有可拆卸的端盖16，端盖16上位于检测机身1的外部设有驱动电机5，驱动电机5的转轴贯穿端盖16后与滤光片轮4连接。滤光片轮4上设有第一发射光滤光片41和第二发射光滤光片42，其中一个发射光滤光片与发射光通光孔13对应，当驱动电机5驱动滤光片轮4转动时，可将另一个发射光滤光片与发射光通光孔13对应，这样，可以实现更换不同的发射光滤光片进行滤光，以便检测器6根据需求检测到不同的发射光，使检测应用更加丰富。

其中，发射光滤光片用于滤过检测器6所需要检测的特征发射光，发射光滤光片可以将与发射光同时照射向检测器6上的其他非特征光进行剔除，以使检测器6只检测特征发射光，增强特征发射光的检测信噪比。

在一些实施例中，所述发射光通光孔13内设有第二准直镜7。

具体地，如图1和图4所示，第二准直镜7用于对发射光进行汇聚准直，可实现发射光能够准确的照射于检测器6的接收端，更好的实现检测效果。

所述检测暗室3可以根据试样容器类型适配设置，试样容器可以是固定安装的流动检测池，也可以是检测池、检测杯、固相检测卡等可移动类型，在所述试样容器内容纳被检试样。

在一些实施例中，所述检测暗室3内设有试样载运器31，所述试样载运器滑块32沿所述检测暗室3的长度方向滑动，所述试样载运器滑块32上放置所述被检试样的试样容器33。

具体地，如图1和图4所示，检测暗室3内设有试样载运器31，试样载运器31上设有电动的试样载运器滑块32，电动的试样载运器滑块32在电机驱动下，可实现在检测暗室3内外移动，以使试样容器33伸出检测暗室3进行更换，操作方便。其中，试样容器33通过电动的试样载运器滑块32在电机的驱动下移动，进行检测时，可使不同的被检试样与发射光通光孔13对应，如图1所示，试样容器33移动，可使第一被检试样321或者第二被检试样322与发射光通光孔13相对，其中，被检试样中2种以上的特定待检物质，分别用不同波长的特征激发光照射被检试样，从而获得其中对应物质的特征波长发射光，实现在一个试样或者多个试样中测定多种待检物质，从而提升检测能力、效率和应用范围。

本申请的实施例还可以以下方式进一步描述：

例如，使用具有两个LED发光光源的激发光源2，其机身1上设有一个激发光通光孔12，激发光通光孔12远离检测暗室3的一端设有用于安装激发光源2的第一光源安装位11，激发光源2安装于第一光源安装位11内，用于向检测暗室3内的被检试样发射激发光。通过控制第一LED电源241来控制第一LED灯关闭或打开，控制第二LED电源242来控制第二LED灯关闭或打开，第一LED灯和/或第二LED灯照射于缩束透镜组221上，并贯穿缩束透镜组221后通过输出口23发射出激发光，激发光依次贯穿激发光通光孔12照射于检测暗室3的被检试样，以实现激发光源发射出多种倾斜光，实现不同波长的特征光进行角激发荧光检测，实现试样中多种物质的测定。

再例如，使用具有一个LED发光光源的激发光源2，其机身1上设有两个所述激发光通光孔12，每个所述所述激发光通光孔12远离所述检测暗室3的一端设有第一光源安装位11，所述激发光源2设有两个，每个激发光源2设置于对应的所述第一光源安装位11内，用于向检测暗室3内的被检试样发射激发光。通过控制两个第三LED电源243，来控制两个LED灯，LED灯照射于准直镜片组261上，并贯穿准直镜片组261后输出激发光，激发光贯穿激发光通光孔12后照射于检测暗室3的被检试样，以实现激发光源发射出多种倾斜光，实现不同波长的特征光进行角激发荧光检测，实现试样中多种物质的测定。

上述两个实施例，在经过缩束镜22或者第一准直镜26对LED灯的光源进行缩束准直，准直后的平行光光斑直径大于等于2mm，小于等于20mm；用第二准直镜7汇聚准直被检试样的发射光，再经滤光片入射检测器6。其中，检测器6可以采用光电倍增管、CMOS、CCD等不同类型的光电检测器件。

需要说明的是，上述对本申请的一些实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于上述实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本申请的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本申请的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合。

尽管已经结合了本申请的具体实施例对本申请进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。

本申请实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本申请实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种角激发荧光检测装置，其特征在于，包括：

检测暗室(3)，所述检测暗室(3)内设置有至少一被检试样；

机身(1)，所述机身(1)一端联结所述检测暗室(3)，所述机身(1)上设有与所述检测暗室(3)相通的发射光通光孔(13)和至少一激发光通光孔(12)，至少一所述激发光通光孔(12)相对于所述发射光通光孔(13)倾斜设置，至少一所述激发光通光孔(12)端部设有激发光源(2)，所述激发光源(2)发出的激发光通过至少一所述激发光通光孔(12)倾斜照射至所述被检试样上，所述被检试样发出发射光至所述发射光通光孔(13)内；

检测器(6)，所述检测器(6)设置于所述机身(1)的远离所述检测暗室(3)的一端，并与所述发射光通光孔(13)相对设置，所述检测器(6)接收所述发射光通光孔(13)内的所述发射光。

2.根据权利要求1所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述激发光通光孔(12)远离所述检测暗室(3)的一端设有第一光源安装位(11)，所述激发光源(2)设置于所述第一光源安装位(11)内。

3.根据权利要求1所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述激发光源(2)包括发光部、聚光部和输出口，所述发光部设置于所述聚光部的光输入端，所述输出口设置于所述聚光部远离所述发光部的光输出端。

4.根据权利要求3所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述发光部为第一发光部(21)，所述聚光部为缩束镜(22)，所述第一发光部(21)包括至少一组第一LED光源(211)，所述缩束镜(22)包括缩束透镜组(221)，所述第一LED光源(211)设置于所述缩束透镜组(221)的光输入端。

5.根据权利要求4所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述第一发光部(21)还包括至少一第一光源滤光片(212)，所述第一光源滤光片(212)设置于所述第一LED光源(211)的发射端，并靠近所述缩束镜(22)设置。

6.根据权利要求3所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述发光部为第二发光部(25)，所述聚光部为第一准直镜(26)，所述第二发光部(25)包括第二LED光源(251)，所述第二LED光源(251)设置于所述第一准直镜(26)的光输入端。

7.根据权利要求6所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述第二发光部(25)还包括第二光源滤光片(252)，所述第二光源滤光片(252)设置于所述第二LED光源(251)的发射端，并靠近所述第一准直镜(26)设置。

8.根据权利要求1所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述机身(1)上设有滤光轮空间(15)，所述滤光轮空间(15)内设有滤光片轮(4)，所述滤光片轮(4)上设有至少一滤光片；

所述滤光片轮(4)可转动滤光片，至与所述发射光通光孔(13)同轴设置。

9.根据权利要求1所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述发射光通光孔(13)内设有第二准直镜(7)。

10.根据权利要求1所述的一种角激发荧光检测装置，其特征在于，所述检测暗室(3)内设有带试样载运器滑块(32)的试样载运器(31)，所述试样载运器滑块沿所述检测暗室(3)的长度方向滑动，在所述试样载运器滑块(32)上放置所述可移动试样容器(33)。