CN117640023A - 杂讯测量装置以及杂讯测量方法 - Google Patents
杂讯测量装置以及杂讯测量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117640023A CN117640023A CN202311099532.0A CN202311099532A CN117640023A CN 117640023 A CN117640023 A CN 117640023A CN 202311099532 A CN202311099532 A CN 202311099532A CN 117640023 A CN117640023 A CN 117640023A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- noise
- digital signal
- communication
- unit
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 83
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 title abstract description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 81
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 5
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明提供杂讯测量装置以及杂讯测量方法。杂讯测量装置包括:通信布线,被配置在杂讯的测量对象;发送部,向所述通信布线发送规定的数字信号;接收部,从所述通信布线接收所述数字信号;检测部,检测所述接收部接收到的所述数字信号中发生的代码错误;以及输出部,输出有关所述检测部检测到的所述代码错误的信息。据此,可以不使用示波器等测量器而简单地测量杂讯的影响部位、且能够以任意测量部位作为测量对象有效率地测量广范围的杂讯影响。
Description
技术领域
本发明涉及杂讯测量装置以及杂讯测量方法。
背景技术
背景技术涉及的环境试验用的恒温恒湿装置例如公开于日本专利公开公报特开2014-66593号中。该恒温恒湿装置具备制冷装置、加热装置、除湿装置以及加湿装置作为用于调整试验室内的环境的电气设备。
此外,背景技术涉及的示波器例如公开于日本专利公报第2817179号中。
恒温恒湿装置等环境形成装置中,在出货前进行性能试验或出货后发生了故障等情况下,作业人员进行通过使用示波器或杂讯数据记录器等测量器来确定可能成为不良原因的杂讯的影响部位的作业。
但是,操作这些测量器需要专业知识,能够使用的作业人员有限。
此外,想要将这些测量器的探头设置在测量对象上,则需要改造基板或变更布线等,因此,在成品的故障分析等中有时可测量部位受到限定。
而且,用这些测量器只能进行局部测量,因此,无法有效率地测量广范围的杂讯影响。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可以不使用示波器等测量器而简单地测量杂讯的影响部位、且能够以任意测量部位作为测量对象有效率地测量广范围的杂讯影响的杂讯测量装置以及杂讯测量方法。
本发明第一方面涉及的环境形成装置包括:通信布线,被配置在杂讯的测量对象;发送部,向所述通信布线发送规定的数字信号;接收部,从所述通信布线接收所述数字信号;检测部,检测所述接收部接收到的所述数字信号中发生的代码错误;以及,输出部,输出有关所述检测部检测到的所述代码错误的信息。
根据本构成,检测部检测接收部接收到的数字信号中发生的代码错误,输出部输出有关检测部检测到的代码错误的信息。因此,可以不使用示波器等测量器而简单地测量杂讯的影响部位、且能够以任意测量部位作为对象有效率地测量广范围的杂讯影响。
本发明第二方面涉及的杂讯测量装置在第一方面涉及的杂讯测量装置中,还包括:电阻元件,其连接于所述通信布线与所述发送部之间。
根据本构成,通过在通信布线与发送部之间连接电阻元件,能够抑制数字信号的振幅,其结果,能够将减轻振铃等后的数字信号发送到通信布线,能够提高测量精度。
本发明第三方面涉及的杂讯测量装置在第二方面涉及的杂讯测量装置中,所述电阻元件的电阻值可变。
根据本构成,由于电阻元件的电阻值是可变的,因此,能够根据所需的测量灵敏度调整数字信号的振幅。
本发明第四方面涉及的杂讯测量装置在第一至第三的任一个方面涉及的杂讯测量装置中,还包括:绝缘电路,其连接于所述通信布线与所述接收部之间。
根据本构成,由于在通信布线与接收部之间连接有绝缘电路,因此,能够避免杂讯从测量对象向接收部传播。
本发明第五方面涉及的杂讯测量装置在第一至第四的任一个方面涉及的杂讯测量装置中,还包括:控制部,将所述发送部发送的所述数字信号的频率设定为可变。
根据本构成,由于发送部发送的数字信号的频率是可变的,因此,能够根据所需的测量灵敏度调整数字信号的振幅。
本发明第六方面涉及的杂讯测量方法包括以下步骤:向配置在杂讯的测量对象的通信布线发送规定的数字信号;从所述通信布线接收所述数字信号;检测接收到的所述数字信号中发生的代码错误;以及,输出有关检测到的所述代码错误的信息。
根据本方法,检测接收到的数字信号中发生的代码错误,并输出有关检测到的代码错误的信息。因此,可以不使用示波器等测量器而简单地测量杂讯的影响部位、且能够以任意测量部位作为对象有效率地测量广范围的杂讯影响。
根据本发明,可以不使用示波器等测量器而简单地测量杂讯的影响部位、且能够以任意测量部位作为测量对象有效率地测量广范围的杂讯影响。
附图说明
图1是简化表示本发明的实施方式涉及的杂讯测量装置的整体结构的图。
图2是简化表示通信部的结构的图。
图3是表示在杂讯的测量对象上配置通信布线的情况的图。
图4是表示数字信号的一部分的图。
具体实施方式
以下,使用附图详细地说明本发明的实施方式。另外,在不同的图中附上相同符号的要素表示相同或相应的要素。
图1是简化表示本发明的实施方式涉及的杂讯测量装置1的整体结构的图。杂讯测量装置1具备测量基板11、显示部12、存储部13、通信部14、连接器15以及通信布线16。将通信部14、连接器15以及通信布线16作为一个组,杂讯测量装置1可以仅具备一组,也可以具备多组。在具备多组的情况下,各组的通信标准可以相同,也可以如下述的例子那样不同。
测量基板11使用CPU等处理器而构成。作为通过处理器执行从计算机可读取的记录介质读出的程序而实现的功能,测量基板11具有显示控制部21、获取部22、控制部23、检测部24以及输出部25。关于各处理部的处理内容将在后面说明。
显示部12使用液晶显示器或有机EL显示器等而构成。另外,通过显示部12作为触摸面板式显示器而构成,显示部12可以兼用作用于用户输入设定信息等的输入部。
存储部13使用HDD、SSD或半导体存储器等而构成。另外,存储部13也可以使用SD卡等装卸自如的记录介质而构成。
通信部14使用对应规定的通信标准的通信模块而构成。在本实施方式的例子中,杂讯测量装置1具有多个(在该例子中为3个)通信部14A至14C。例如,通信部14A对应RS-232C的通信标准,通信部14B对应RS-485的通信标准,通信部14C对应UART的通信标准。因此,通过通信部14A至14C的选择,能够切换在使用杂讯测量装置1进行的杂讯测量处理中使用的通信标准。
通信部14A连接于连接器15A,连接器15A连接于通信布线16A。通信布线16A是对应通信部14A的通信标准(例如RS-232C)的通信电缆。
通信部14B连接于连接器15B,连接器15B连接于通信布线16B。通信布线16B是对应通信部14B的通信标准(例如RS-485)的通信电缆。另外,与RS-485相比,RS-232C更容易受杂讯的影响,因此,使用通信布线16A进行的杂讯测量与使用通信布线16B进行的杂讯测量相比,测量灵敏度更高。
通信部14C连接于连接器15C,连接器15C连接于通信布线16C。通信布线16C是例如对应通信部14C的通信标准(例如UART)的通信电路,形成在电路基板30上。电路基板30上形成有作为杂讯的测量对象的电路31,通信布线16C包围电路31的周围而形成。
图2是简化表示通信部14的结构的图。通信部14具备发送部41、接收部42、绝缘电路43以及电阻元件44。发送部41经由绝缘电路43、电阻元件44以及连接器15向通信布线16发送规定的数字信号。接收部42经由连接器15以及绝缘电路43从通信布线16接收所述数字信号。也就是说,通信布线16与通信部14呈环状连接,发送部41发送的数字信号经由通信布线16由接收部42接收。数字信号是例如二进制逻辑的0和1以规定字节数交替反复的脉冲列。电阻元件44是能够通过数字变更电阻值的可变电阻。绝缘电路43例如使用光耦合器而构成,将通信布线16与发送部41及接收部42之间电绝缘。
图3是表示在杂讯的测量对象50上配置通信布线16的情况的图。测量对象50是作为杂讯的测量对象的电气设备中认为受到杂讯的影响的测量部位。电气设备例如是环境试验装置或热处理装置等环境形成装置的构成部件。电气设备可能受各种杂讯的影响。杂讯可能成为环境形成装置的故障或不良的原因。杂讯包括作为电波而外来的高频杂讯、从电源线等混入的低频杂讯、或因静电而发生的单一杂讯等。通信布线16具有数米左右的长度,由作业人员沿着测量对象50的延伸方向并列安装或缠绕安装于作为测量对象50的例如电源线。另外,除了电源线等布线以外,通信布线16也可以并列安装或缠绕安装于开关电源或逆变器等设备。
使用杂讯测量装置1的杂讯测量处理例如在环境试验装置执行对对象物的环境试验的过程中进行。
参照图1进行说明。获取部22从杂讯测量装置1的外部经由LAN端口等数字通信端口(图略)获取输入到测量基板11的各种信息。获取部22获取的信息包含表示环境试验装置的运转状况的运转信息。运转信息包含例如表示构成环境试验装置的多个电气设备各自的驱动状况(例如运转或停止(on or off))的信息。此外,运转信息包含:表示环境试验装置所具备的多个测量设备(温度传感器、湿度传感器、或压力传感器等)各自的驱动状况的信息、或表示多个测量设备各自的测量结果(例如温度值、湿度值、或压力值)的信息。另外,获取部22也可以经由杂讯测量装置1的模拟通信端口(图略)来代替上述的数字通信端口而获取被输入的各种信息。
检测部24检测接收部42接收到的数字信号中发生的代码错误(code error)。检测部24例如检测代码错误的瞬时值及累积值并将其作为杂讯检测结果而输出。由于发送部41发送的数字信号的数据内容(也就是位结构(bit configuration))是已知的,因此,检测部24能够通过与已知的数据内容的比较来检测出代码错误。作为代码错误的检测方式,可以使用奇偶校验位法(parity bit method)、检验和法(checksum method)或CRC法等公知的错误检测方式。
控制部23控制通信部14及存储部13,此外,设定有关杂讯测量的各种信息。控制部23将获取部22获取到的运转信息以及检测部24的杂讯检测结果互相关联而存储在存储部13。控制部23也可以将表示由作业人员输入的杂讯测量部位等的杂讯测量条件的信息还与所述运转信息相关联而存储在存储部13。此外,控制部23根据由作业人员输入的测量灵敏度的期望值,设定发送部41发送的数字信号的频率、该数字信号的振幅、以及电阻元件44的电阻值的至少一个。
图4是表示发送部41发送的数字信号的一部分的图。控制部23设定发送部41发送的数字信号的频率(换句话说周期P)和/或该数字信号的振幅A。控制部23通过将其设定信息输入到发送部41,调整上述数字信号的周期P和/或振幅A。周期P越短,测量灵敏度就越高,此外,振幅A越小,测量灵敏度就越高。此外,控制部23通过设定电阻元件44的电阻值,并将其设定信息输入到电阻元件44,从而调整电阻元件44的电阻值。由于电阻元件44的电阻值越高,发送到通信布线16的数字信号的振幅A就越小,因此,测量灵敏度高。
输出部25输出表示检测部24检测到的杂讯测量结果的信息。该信息从输出部25输入到显示控制部21。显示控制部21生成表示杂讯测量结果的图像数据,并将该图像数据输入到显示部12。由此,表示杂讯测量结果的图像被显示在显示部12。
根据本实施方式,不像使用示波器的杂讯测量那样探头局部抵接于测量对象50,而是通信布线16沿着测量对象50的延伸方向在广范围并列安装或缠绕安装。并且,检测部24检测接收部42接收到的数字信号中发生的代码错误,输出部25输出有关检测部24检测到的代码错误的信息(杂讯测量结果)。因此,可以不使用示波器等测量器而简单地测量杂讯的影响部位、且能够以任意测量部位作为对象有效率地测量广范围的杂讯影响。此外,将通信布线16并列安装或缠绕安装于测量对象50上即可,不需要像示波器等那样为了将探头抵接于测量对象50而改造基板或变更布线等,因此能够简化杂讯测量作业。
此外,根据本实施方式,通过在通信布线16与发送部41之间连接电阻元件44,能够抑制数字信号的振幅。其结果,能够将减轻振铃等后的数字信号发送到通信布线16,能够提高测量精度。
此外,根据本实施方式,由于电阻元件44的电阻值是可变的,因此,能够根据所需的测量灵敏度调整数字信号的振幅。
此外,根据本实施方式,由于在通信布线16与接收部42之间连接有绝缘电路43,因此,能够避免杂讯从测量对象向接收部42传播。
此外,根据本实施方式,由于发送部41发送的数字信号的频率是可变的,因此,能够根据所需的测量灵敏度调整数字信号的振幅。
Claims (6)
1.一种杂讯测量装置,其特征在于包括:
通信布线,被配置在杂讯的测量对象;
发送部,向所述通信布线发送规定的数字信号;
接收部,从所述通信布线接收所述数字信号;
检测部,检测所述接收部接收到的所述数字信号中发生的代码错误;以及,输出部,输出有关所述检测部检测到的所述代码错误的信息。
2.根据权利要求1所述的杂讯测量装置,其特征在于还包括:
电阻元件,其连接于所述通信布线与所述发送部之间。
3.根据权利要求2所述的杂讯测量装置,其特征在于,
所述电阻元件的电阻值可变。
4.根据权利要求1所述的杂讯测量装置,其特征在于还包括:
绝缘电路,其连接于所述通信布线与所述接收部之间。
5.根据权利要求1所述的杂讯测量装置,其特征在于还包括:
控制部,将所述发送部发送的所述数字信号的频率设定为可变。
6.一种杂讯测量方法,其特征在于包括以下步骤:
向配置在杂讯的测量对象的通信布线发送规定的数字信号;
从所述通信布线接收所述数字信号;
检测接收到的所述数字信号中发生的代码错误;以及,
输出有关检测到的所述代码错误的信息。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2022-137113 | 2022-08-30 | ||
JP2022137113A JP2024033503A (ja) | 2022-08-30 | 2022-08-30 | ノイズ計測装置及びノイズ計測方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN117640023A true CN117640023A (zh) | 2024-03-01 |
Family
ID=87800724
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311099532.0A Pending CN117640023A (zh) | 2022-08-30 | 2023-08-29 | 杂讯测量装置以及杂讯测量方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP4332590A1 (zh) |
JP (1) | JP2024033503A (zh) |
CN (1) | CN117640023A (zh) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2817179B2 (ja) | 1989-04-07 | 1998-10-27 | 岩崎通信機株式会社 | デジタルストレージ・オシロスコープ |
US5265151A (en) * | 1991-07-26 | 1993-11-23 | General Datacomm, Inc. | Method of improving modem performance by controlling transmitted power of modem, and modem implementing the same |
JP2014066593A (ja) | 2012-09-26 | 2014-04-17 | Hitachi Appliances Inc | 恒温恒湿装置 |
-
2022
- 2022-08-30 JP JP2022137113A patent/JP2024033503A/ja active Pending
-
2023
- 2023-08-24 EP EP23193231.0A patent/EP4332590A1/en active Pending
- 2023-08-29 CN CN202311099532.0A patent/CN117640023A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP4332590A1 (en) | 2024-03-06 |
JP2024033503A (ja) | 2024-03-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6714021B2 (en) | Integrated time domain reflectometry (TDR) tester | |
US8432154B2 (en) | Multimeter having communications via measurement terminals and communication system for same | |
CN102369488B (zh) | 具有多个传感器的工业过程控制变送器 | |
CA2900474C (en) | Process temperature transmitter with improved sensor diagnostics | |
CN104459588A (zh) | 电流传感器测试系统和方法 | |
JP2010019842A (ja) | 測定データを得るための試験装置及び試験方法 | |
CN213069792U (zh) | 功耗监测装置 | |
EP3242143B1 (en) | Measurement apparatus | |
US6922062B2 (en) | Timing markers for the measurement and testing of the controlled impedance of a circuit board | |
CN117640023A (zh) | 杂讯测量装置以及杂讯测量方法 | |
WO2008042927A1 (en) | Open wire detection system and method | |
CN109298378A (zh) | 一种电能表自动化检定系统多功能检测方法及装置 | |
CN114964427A (zh) | 一种科里奥利质量流量计现场检测系统及检测方法 | |
RU2324899C2 (ru) | Способ измерения неэлектрических величин многоточечной измерительной системой с контролем функции преобразования и измерительная система для его осуществления | |
TWI721532B (zh) | 電路板故障診斷裝置及診斷方法 | |
CN117619472A (zh) | 环境形成装置 | |
CN113156208A (zh) | 一种自动检测设备 | |
US20110109334A1 (en) | Method for Detecting Component Defects of an Analog Signal Processing Circuit, Especially for a Measurement Transmitter | |
JP2004061448A (ja) | マルチドロップ配線故障検知方法およびマルチドロップ配線システム | |
KR20090065055A (ko) | 지그비 통신을 이용한 원격 무선 계측기 제어 시스템 | |
CN113625137B (zh) | 一种电气线路绝缘检测和诊断装置 | |
RU67725U1 (ru) | Многоканальное устройство для измерения параметров сигналов | |
KR19980079478A (ko) | 데이터 전송 에러 검출을 위한 방법 및 장치 | |
RU64384U1 (ru) | Устройство для измерения параметров сигнала | |
KR100476566B1 (ko) | 저 저항 측정기의 저항 측정 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication |